【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及醫療器械的，具體地，是一種用于將分析物自動化的供給自動化分析系統的分析物供給系統的控制方法。
技術介紹
1、目前，體外免疫診斷的主要方法包括化學發光法和多重液相芯片分析法，這兩種方法都需要采用特定的檢測設備進行檢測。為了提高檢測效率，人們開始研究可以實現化學發光法和多重液相芯片分析法的自動化檢測設備，通過自動化檢測設備實現檢測的自動化操作以提高檢測效率。
2、然而，由于化學發光法和多重液相芯片分析法的檢測設備不相同，而一些樣本既需要進行化學發光分析又需要進行多重液相芯片分析時，醫療機構需要購置兩種不同的檢測設備，導致檢測成本增加。為此，中國專利技術專利申請cn115060886a提供了一種自動分析系統，該系統通過標記物質分析樣本中是否存在目標物質的自動分析系統，可以實現同時使用化學發光法和多重液相芯片分析法兩種方法完成對樣本的檢測與分析。
3、上述系統設置有一個試劑轉盤，在試劑轉盤的周向邊沿周向依次設有多個試劑加載位，試劑轉盤由外到內設置有一環一環的多排試劑孔位，成倍增加了放置第一試劑、第二試劑、樣本稀釋液的試劑孔位，提高試劑的同步容納量，提高同步檢測數量，進而可提高檢測效率。另外，上述系統還設置有孵育轉盤，孵育轉盤沿其周向由外到內可分為外環和內環，在孵育轉盤外環上設有外層孵育混勻工作位，內環上設有內層孵育混勻工作位，試劑轉盤位于孵育轉盤的內環的內側，孵育轉盤和試劑轉盤二者的旋轉中心重合，孵育轉盤的直徑大于試劑轉盤的直徑，使得該系統非常緊湊，減小了整個系統所占用的空間。
4、然而
技術實現思路
1、本專利技術的第一目的是提供一種能夠提高樣本檢測效率的分析物供給系統。
2、本專利技術的第二目的是提供一種實現對上述分析物供給系統有效控制以提高檢測效率的控制方法。
3、為實現本專利技術的第一目的，本專利技術提供的分析物供給系統包括預處理模塊、孵育混勻模塊、磁分離模塊以及第一抓取模塊、第二抓取模塊、取樣模塊，取樣模塊用于將分析物從預處理模塊移動至孵育混勻模塊，第一抓取模塊用于將分析物在孵育混勻模塊與磁分離模塊之間移動，第二抓取模塊用于將分析物從磁分離模塊移動至檢測模塊；并且，該分析物供給系統還設置有控制模塊，控制模塊用于：獲取當前分析物的預設孵育混勻時長，并根據預設孵育混勻時長與孵育混勻模塊的單圈轉動時長的關系確定當前分析物的實際孵育混勻時長，依據實際孵育混勻時長確定第一抓取模塊將分析物從孵育混勻模塊移動至磁分離模塊的時間；和/或獲取當前分析物的預設磁分離時長，根據預設磁分離時長與磁分離模塊的單圈轉動時長的關系確定當前分析物的實際磁分離時長，依據實際磁分離時長確定第二抓取模塊將分析物從磁分離模塊移動至檢測模塊的時間。
4、由上述方案可見，針對每一份放入到系統的待測分析物，根據初始設定的預設孵育混勻時長以及孵育混勻模塊的單圈轉動時長來確定當前的分析物的實際需要的孵育混勻時長。這樣，對于實際孵育混勻時長較短的分析物，可以僅僅在孵育混勻模塊內停留一圈的時間，對于實際孵育混勻時長較長的分析物，則可以在孵育混勻模塊內停留兩圈、三圈時間。通過合理設置各個樣本在孵育混勻內的停留時間，使得孵育混勻模塊的各個工位得到充分利用，也使得孵育混勻模塊的各個工作位的利用率更高，從而提升樣本的整體檢測效率。
5、相同的，針對樣本的分離操作，也是根據初始設定的預設磁分離時長以及磁分離模塊的單圈轉動時長來確定當前的分析物的實際需要的磁分離時長，從而避免實際磁分離時間較短的分析物在磁分離模塊中停留時間過長而導致檢測效率過低的問題。
6、一個優選的方案是，孵育混勻模塊具有兩層以上的孵育混勻工作位；和/或磁分離模塊具有兩層以上的磁分離工作位。
7、由此可見，孵育混勻模塊、磁分離模塊設置兩層以上的工作位，可以提高孵育混勻模塊、磁分離模塊能夠提供的工作位的數量，并且，針對實際孵育混勻時長、實際磁分離時長較長樣本，可以將這些樣本移入其它層的孵育混勻工作位或者磁分離工作位，避免影響實際孵育混勻時長、實際磁分離時長較短樣本的移出操作。
8、進一步的方案是，孵育混勻模塊具有孵育混勻轉盤，磁分離模塊具有磁分離轉盤，孵育混勻轉盤與磁分離轉盤同軸設置。
9、由于孵育混勻轉盤與磁分離轉盤同軸設置，使得分析物供給系統更加緊湊，占用空間更小。
10、為實現上述的第二目的，本專利技術提供的分析物供給系統的控制方法中，該分析物供給系統包括預處理模塊、孵育混勻模塊、磁分離模塊以及第一抓取模塊、第二抓取模塊、取樣模塊，取樣模塊用于將分析物從預處理模塊移動至孵育混勻模塊，第一抓取模塊用于將分析物在孵育混勻模塊與磁分離模塊之間移動，第二抓取模塊用于將分析物從磁分離模塊移動至檢測模塊：該方法包括：獲取當前分析物的預設孵育混勻時長，并根據預設孵育混勻時長與孵育混勻模塊的單圈轉動時長的關系確定當前分析物的實際孵育混勻時長，依據實際孵育混勻時長確定第一抓取模塊將分析物從孵育混勻模塊移動至磁分離模塊的時間；和/或獲取當前分析物的預設磁分離時長，根據預設磁分離時長與磁分離模塊的單圈轉動時長的關系確定當前分析物的實際磁分離時長，依據實際磁分離時長確定第二抓取模塊將分析物從磁分離模塊移動至檢測模塊的時間。
11、由上述方案可見，針對每一份待測分析物，根據實際情況設定相應的實際孵育混勻時長、實際磁分離時長，可以避免針對所有的分析物設定相同的孵育混勻時長、磁分離時長，使得分析物在孵育混勻模塊、磁分離模塊內停留時間最小化，提升分析物的整體檢測效率。
12、優選的方案是，根據預設孵育混勻時長與孵育混勻模塊的單圈轉動時長的關系確定當前分析物的實際孵育混勻時長包括：根據預設孵育混勻時長計算分析物在孵育混勻模塊中反應時間對應的第一預設步數，如第一預設步數小于或等于孵育混勻模塊的單圈格數，則將實際孵育混勻時長設定為孵育混勻模塊從混勻外圈移入位旋轉至混勻外圈移出位的時長；如第一預設步數大于孵育混勻模塊的單圈格數，則計算第一預設步數與孵育混勻模塊的單圈格數的第一差值，以第一差值與孵育混勻模塊的單圈格數的比值確定分析物在孵育混勻模塊中額外旋轉圈數，將實際孵育混勻時長設定為旋轉圈數與孵育混勻模塊的單圈轉動時長的乘積。優選的，計算實際孵育混勻時長時，所使用的旋轉圈數是額外旋轉圈數加1，以反映實際的旋轉圈數。
13、由此可見，以孵育混勻模塊的單圈格數作為基準確定分析物需要在孵育混勻模塊內停留一圈還是多圈，一方面能夠根據不同分析物的情況設定合理的實際孵育混勻時長，避免分析物在孵育混勻模塊內本文檔來自技高網...
【技術保護點】
1.分析物供給系統，包括：
2.根據權利要求1所述的分析物供給系統，其特征在于：
3.根據權利要求1或2所述的分析物供給系統，其特征在于：
4.分析物供給系統的控制方法，該分析物供給系統具有預處理模塊、孵育混勻模塊、磁分離模塊以及第一抓取模塊、第二抓取模塊、取樣模塊，所述取樣模塊用于將分析物從所述預處理模塊移動至所述孵育混勻模塊，所述第一抓取模塊用于將所述分析物在孵育混勻模塊與所述磁分離模塊之間移動，所述第二抓取模塊用于將所述分析物從所述磁分離模塊移動至檢測模塊：
5.根據權利要求4所述的分析物供給系統的控制方法，其特征在于：
6.根據權利要求4或5所述的分析物供給系統的控制方法，其特征在于：
7.根據權利要求6所述的分析物供給系統的控制方法，其特征在于：
8.根據權利要求7所述的分析物供給系統的控制方法，其特征在于：
9.根據權利要求8所述的分析物供給系統的控制方法，其特征在于：
10.根據權利要求4或5所述的分析物供給系統的控制方法，其特征在于：
11.根據
...【技術特征摘要】
1.分析物供給系統，包括：
2.根據權利要求1所述的分析物供給系統，其特征在于：
3.根據權利要求1或2所述的分析物供給系統，其特征在于：
4.分析物供給系統的控制方法，該分析物供給系統具有預處理模塊、孵育混勻模塊、磁分離模塊以及第一抓取模塊、第二抓取模塊、取樣模塊，所述取樣模塊用于將分析物從所述預處理模塊移動至所述孵育混勻模塊，所述第一抓取模塊用于將所述分析物在孵育混勻模塊與所述磁分離模塊之間移動，所述第二抓取模塊用于將所述分析物從所述磁分離模塊移動至檢測模塊：
5.根據...
【專利技術屬性】
技術研發人員：羅全勝，向裕，柳邦源，劉明，
申請(專利權)人：珠海麗珠試劑股份有限公司，
類型：發明
國別省市：
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