【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及l(fā)ed晶圓測試校正，尤其涉及一種led晶圓亮度的測試裝置及測試方法。
技術(shù)介紹
1、目前l(fā)ed晶圓測試校正方法是先取不同波長的芯片晶粒進行封裝，再用全積分球?qū)Ψ庋b燈珠取值，并以此數(shù)值為標準制作標準方片，最后用標準方片校準各測試機臺。
2、當前為了提升測試效率，測試機普遍使用半積分球來模擬全積分球收光測試(半積分球收光角度約為30°，全積分球收光角度360°)。現(xiàn)行的校準方法只大致解決了機臺與機臺間的差異，沒有考慮led芯片測試時芯片的形狀、排列方式和位置對半積分球收光的影響，所以當芯片的形狀、排列方式和位置不同時都會對測試機測得的亮度數(shù)據(jù)產(chǎn)生影響，導致測試機測試的芯片亮度和封裝后燈珠測試的實際亮度數(shù)據(jù)k值不一致的問題。
3、基于此，提出一種led晶圓亮度的測試裝置及測試方法。
技術(shù)實現(xiàn)思路
1、本專利技術(shù)的目的在于：為了解決上述問題，而提出的一種led晶圓亮度的測試裝置及測試方法。
2、為了實現(xiàn)上述目的，本專利技術(shù)采用了如下技術(shù)方案：
3、一種led晶圓亮度的測試裝置，包括固定框，所述固定框一側(cè)通過連接塊連接有電機板，所述電機板上連接有電機箍，所述電機箍上連接有旋轉(zhuǎn)電機，所述固定框上連接有測試臺，所述測試臺上連接有載盤，所述測試臺上連接有測試架，所述測試架上連接有橢圓架，所述橢圓架上滑動連接有切換軸，所述切換軸下端連接有連接盤，所述連接盤外側(cè)連接有封裝片；
4、所述測試架上連接有復位彈簧，所述復位彈簧另一端連
5、所述測試架上連接有連通架，所述連通架上連接有對接彈簧，所述對接彈簧上端連接有連通筒，所述連通筒下端連接有接線端子，所述切換軸一側(cè)設置有用以帶動封裝片位移至載盤上方的牽引機構(gòu)。
6、優(yōu)選地，所述牽引機構(gòu)包括牽引架，所述固定框內(nèi)固定連接有水平滑桿，所述水平滑桿上滑動連接有豎直架，所述豎直架通過移動滾輪連接有平移架，所述牽引架一端連接在平移架上，所述平移架一端連接有升降塊，所述升降塊一側(cè)連接有用以帶動led芯片移動的放置件，所述豎直架一側(cè)連接有用以帶動豎直架移動的驅(qū)動件。
7、優(yōu)選地，所述測試臺上連接有連接架，所述連接架上連接有限位軌，所述牽引架滑動連接在限位軌上。
8、優(yōu)選地，所述固定框上開設有滑槽，所述豎直架兩端連接有移動滾輪，所述移動滾輪滾動接觸在滑槽上。
9、優(yōu)選地，所述驅(qū)動件包括指針條，所述指針條連接在旋轉(zhuǎn)電機輸出端，所述指針條上開設有滑軌槽，所述電機板一側(cè)連接有滑軌塊，所述滑軌槽上連接有夾持塊，所述夾持塊上連接有撥動軸，所述撥動軸上連接有滑環(huán)，所述固定框上連接有豎直滑桿，所述豎直滑桿上連接有水平架。
10、優(yōu)選地，所述豎直架上滑動連接有滑套，所述滑套上連接有勾架，所述勾架滑動連接在水平架，所述滑套套設在撥動軸。
11、優(yōu)選地，所述放置件包括吸盤，所述吸盤上端連接有搖把，所述搖把上連接有微型泵，所述固定框上方設置有升降軌，所述升降軌通過升降桿連接在水平架上，所述升降軌上連接有牽引軸，所述升降軌上滑動連接有平移條，所述平移條上連接有塊軌和連接管，所述搖把與牽引軸之間連接有牽引條。
12、一種led晶圓亮度的測試方法，包括以下步驟：
13、s1:以led芯片圓心為坐標，由內(nèi)向外將led?cot芯片劃分為若干個區(qū)域，區(qū)域數(shù)對應封裝片的個數(shù)；
14、s2:將不同波長的芯片晶粒進行封裝成圓片，將圓片置于遠離連接盤的載盤上，隨后啟動旋轉(zhuǎn)電機，利用旋轉(zhuǎn)電機通過多結(jié)構(gòu)連動帶動吸盤將芯片轉(zhuǎn)移至另一載盤上；
15、s3:依靠牽引架拉動封裝片覆蓋在芯片上方，此時連通筒上端與連接盤連通，實現(xiàn)對芯片的亮度測試，測試完成后，依靠吸盤轉(zhuǎn)移芯片，此時封裝片依靠棘齒完成結(jié)構(gòu)旋轉(zhuǎn)，將下一不同遮蓋范圍的封裝片旋轉(zhuǎn)至待測區(qū)域，帶動下次吸盤轉(zhuǎn)移芯片至載盤上完成下一區(qū)域的亮度測試；
16、s4：在芯片完成全部封裝片的區(qū)域測試時，取下芯片即可，通過不同區(qū)域的亮度數(shù)據(jù)計算led晶圓芯片整體的亮度數(shù)據(jù)。
17、綜上所述，由于采用了上述技術(shù)方案，本專利技術(shù)的有益效果是：
18、1、本申請通過采用封裝片，利用封裝片能夠?qū)ed芯片上的不同區(qū)域進行遮蓋，使得在進行亮度測試時，能夠只對芯片上對應區(qū)域的亮度進行測試，避免芯片不同區(qū)域亮度差異，影響整體的亮度數(shù)據(jù)，使得芯片的測試更加精準，且測試過程依靠設備獨立完成，避免人工操作造成外界光進入設備內(nèi)，影響亮度測試精度，采用新的測試校正方法測試亮度與封裝燈珠測試亮度之間的差值可控制在±3%以內(nèi)。
19、2、本申請通過采用倒齒條結(jié)構(gòu)，利用倒齒條與棘齒之間對接，使得在切換軸移動時會發(fā)生轉(zhuǎn)動，能夠?qū)⑾乱环庋b片旋轉(zhuǎn)至待測位置上，通過牽引架一端的鉤狀結(jié)構(gòu)拉動切換軸移動，完成對載盤上芯片的亮度測試，隨著牽引架取消對切換軸的拉動，切換軸在復位彈簧作用下恢復初始位置，此時結(jié)構(gòu)發(fā)生旋轉(zhuǎn)，保證芯片能夠依次在不同封裝片下完成不同區(qū)域的亮度測試。
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1.一種LED晶圓亮度的測試裝置，包括固定框（1），其特征在于，所述固定框（1）一側(cè)通過連接塊（21）連接有電機板（23），所述電機板（23）上連接有電機箍（22），所述電機箍（22）上連接有旋轉(zhuǎn)電機（17），所述固定框（1）上連接有測試臺（7），所述測試臺（7）上連接有載盤（25），所述測試臺（7）上連接有測試架（18），所述測試架（18）上連接有橢圓架（43），所述橢圓架（43）上滑動連接有切換軸（45），所述切換軸（45）下端連接有連接盤（20），所述連接盤（20）外側(cè)連接有封裝片（19）；
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種LED晶圓亮度的測試裝置，其特征在于，所述牽引機構(gòu)包括牽引架（11），所述固定框（1）內(nèi)固定連接有水平滑桿（3），所述水平滑桿（3）上滑動連接有豎直架（5），所述豎直架（5）通過移動滾輪（6）連接有平移架（10），所述牽引架（11）一端連接在平移架（10）上，所述平移架（10）一端連接有升降塊（12），所述升降塊（12）一側(cè)連接有用以帶動LED芯片移動的放置件，所述豎直架（5）一側(cè)連接有用以帶動豎直架（5）移動的驅(qū)動件。
3.根據(jù)權(quán)利
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種LED晶圓亮度的測試裝置，其特征在于，所述固定框（1）上開設有滑槽（2），所述豎直架（5）兩端連接有移動滾輪（6），所述移動滾輪（6）滾動接觸在滑槽（2）上。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種LED晶圓亮度的測試裝置，其特征在于，所述驅(qū)動件包括指針條（34），所述指針條（34）連接在旋轉(zhuǎn)電機（17）輸出端，所述指針條（34）上開設有滑軌槽（36），所述電機板（23）一側(cè)連接有滑軌塊（33），所述滑軌槽（36）上連接有夾持塊（35），所述夾持塊（35）上連接有撥動軸（32），所述撥動軸（32）上連接有滑環(huán)（37），所述固定框（1）上連接有豎直滑桿（4），所述豎直滑桿（4）上連接有水平架（30）。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種LED晶圓亮度的測試裝置，其特征在于，所述豎直架（5）上滑動連接有滑套（31），所述滑套（31）上連接有勾架（38），所述勾架（38）滑動連接在水平架（30），所述滑套（31）套設在撥動軸（32）。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種LED晶圓亮度的測試裝置，其特征在于，所述放置件包括吸盤（39），所述吸盤（39）上端連接有搖把（27），所述搖把（27）上連接有微型泵（26），所述固定框（1）上方設置有升降軌（14），所述升降軌（14）通過升降桿（24）連接在水平架（30）上，所述升降軌（14）上連接有牽引軸（29），所述升降軌（14）上滑動連接有平移條（13），所述平移條（13）上連接有塊軌（15）和連接管（16），所述搖把（27）與牽引軸（29）之間連接有牽引條（28）。
8.一種LED晶圓亮度的測試方法，其特征在于，包括以下步驟：
...【技術(shù)特征摘要】
1.一種led晶圓亮度的測試裝置，包括固定框（1），其特征在于，所述固定框（1）一側(cè)通過連接塊（21）連接有電機板（23），所述電機板（23）上連接有電機箍（22），所述電機箍（22）上連接有旋轉(zhuǎn)電機（17），所述固定框（1）上連接有測試臺（7），所述測試臺（7）上連接有載盤（25），所述測試臺（7）上連接有測試架（18），所述測試架（18）上連接有橢圓架（43），所述橢圓架（43）上滑動連接有切換軸（45），所述切換軸（45）下端連接有連接盤（20），所述連接盤（20）外側(cè)連接有封裝片（19）；
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種led晶圓亮度的測試裝置，其特征在于，所述牽引機構(gòu)包括牽引架（11），所述固定框（1）內(nèi)固定連接有水平滑桿（3），所述水平滑桿（3）上滑動連接有豎直架（5），所述豎直架（5）通過移動滾輪（6）連接有平移架（10），所述牽引架（11）一端連接在平移架（10）上，所述平移架（10）一端連接有升降塊（12），所述升降塊（12）一側(cè)連接有用以帶動led芯片移動的放置件，所述豎直架（5）一側(cè)連接有用以帶動豎直架（5）移動的驅(qū)動件。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種led晶圓亮度的測試裝置，其特征在于，所述測試臺（7）上連接有連接架（8），所述連接架（8）上連接有限位軌（9），所述牽引架（11）滑動連接在限位軌（9）上。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種led晶圓亮度的測試裝置，其特征在于，所述固定框（1）上開設有滑槽（2），所述豎直架（5）兩端連接有移...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：仲奕，張應，張鵬飛，余益民，王國宏，謝義成，
申請(專利權(quán))人：揚州中科半導體照明有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
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