【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及顯示，尤其涉及一種顯示面板異常分析方法及分析系統(tǒng)。
技術(shù)介紹
1、顯示面板的制備過程中，包括多個制備工序，例如，陣列制程、模組封裝制程等，任一工藝制程或者設(shè)計方面的不規(guī)范均可能導(dǎo)致顯示面板出現(xiàn)不良問題。
2、顯示面板出廠前需要不同的實驗驗證，在測試時驅(qū)動異常不良時常發(fā)生，現(xiàn)有技術(shù)中，通常是分析人員直接對不良顯示面板進(jìn)行實物分析，缺乏固定的分析流程，不同類型的不良通常需要不同的分析方式，這對分析人員的經(jīng)驗要求較高，若分析人員經(jīng)驗不足，所需的分析時間較長，而且失敗率較高。
技術(shù)實現(xiàn)思路
1、本專利技術(shù)實施例提供了一種顯示面板異常分析方法及分析系統(tǒng)，能夠快速分析不良顯示面板的不良類型，解決對分析人員的經(jīng)驗要求較高，分析時間較長的問題，提高不良解析成功的概率。
2、根據(jù)本專利技術(shù)的一方面，提供了一種顯示面板異常分析方法，包括：
3、獲取不良顯示面板；
4、對所述不良顯示面板進(jìn)行驅(qū)動畫面檢查，判斷是否顯示預(yù)設(shè)畫面；
5、若否，獲取所述不良顯示面板的第一測試結(jié)果；
6、根據(jù)所述第一測試結(jié)果及分析邏輯表，確定第二測試指引；
7、根據(jù)所述第二測試指引，確定所述不良顯示面板的不良原因；
8、其中，所述分析邏輯表包括在生產(chǎn)測試過程中與所述第一測試結(jié)果對應(yīng)的多個分類，以及所述分類和不良原因的對應(yīng)關(guān)系。
9、可選的，獲取所述不良顯示面板的第一測試結(jié)果，包括：
10、對所述不
11、若是，對故障驅(qū)動電路進(jìn)行示波器測定，得到對應(yīng)測試波形。
12、可選的，在對所述不良顯示面板進(jìn)行半邊驅(qū)動分析，確認(rèn)是否為半邊驅(qū)動故障之后，還包括：
13、若否，對所有驅(qū)動電路進(jìn)行示波器測定，得到對應(yīng)測試波形。
14、可選的，在對所述不良顯示面板進(jìn)行驅(qū)動畫面檢查，判斷是否顯示預(yù)設(shè)畫面之后，還包括：
15、若是，獲取所述預(yù)設(shè)畫面對應(yīng)的異常顯示區(qū)；
16、根據(jù)所述異常顯示區(qū)確定對應(yīng)的模組異常部；
17、對所述模組異常部進(jìn)行阻抗測定，根據(jù)阻抗測定結(jié)果確定異常tab區(qū)域；
18、對所述異常tab區(qū)域進(jìn)行修理；
19、獲取tab區(qū)域修理后所述不良顯示面板的顯示畫面，判斷異常是否消失；
20、若是，判定異常原因為tab異常。
21、可選的，在獲取tab區(qū)域修理后所述不良顯示面板的顯示畫面，判斷異常是否消失之后，還包括：
22、若否，獲取所述不良顯示面板的第一測試結(jié)果。
23、可選的，所述預(yù)設(shè)畫面為線缺陷畫面。
24、可選的，在對所述不良顯示面板進(jìn)行驅(qū)動畫面檢查，判斷是否顯示預(yù)設(shè)畫面之前，還包括：
25、對所述不良顯示面板進(jìn)行外觀檢查，判斷所述不良顯示面板是否有破損；
26、若是，判斷不良原因為面板破損。
27、可選的，在對所述不良顯示面板進(jìn)行外觀檢查，判斷所述不良顯示面板是否有破損之后，還包括：
28、若否，對面板器件進(jìn)行更換，判斷不良原因。
29、可選的，所述不良顯示面板為過載保護(hù)導(dǎo)致驅(qū)動異常的顯示面板。
30、根據(jù)本專利技術(shù)的另一方面，提供了一種顯示面板異常分析系統(tǒng)，包括：
31、信賴性檢測模塊，用于獲取不良顯示面板；
32、畫面驅(qū)動模塊，用于對所述不良顯示面板進(jìn)行驅(qū)動畫面檢查；
33、測試模塊，用于判斷是否顯示預(yù)設(shè)畫面，并在判定結(jié)果為否時獲取所述不良顯示面板的第一測試結(jié)果；
34、不良分析模塊，用于根據(jù)所述第一測試結(jié)果及分析邏輯表，確定第二測試指引，并根據(jù)所述第二測試指引，確定所述不良顯示面板的不良原因；
35、其中，所述分析邏輯表包括在生產(chǎn)測試過程中與所述第一測試結(jié)果對應(yīng)的多個分類，以及所述分類和不良原因的對應(yīng)關(guān)系。
36、本專利技術(shù)實施例提供的顯示面板異常分析方法，先獲取不良顯示面板；然后對不良顯示面板進(jìn)行驅(qū)動畫面檢查，判斷是否顯示預(yù)設(shè)畫面；若無顯示畫面，則獲取不良顯示面板的第一測試結(jié)果；再根據(jù)第一測試結(jié)果及分析邏輯表，確定第二測試指引，其中分析邏輯表包括在生產(chǎn)測試過程中與第一測試結(jié)果對應(yīng)的多個分類，以及分類和不良原因的對應(yīng)關(guān)系；最后根據(jù)第二測試指引，確定不良顯示面板的不良原因，從而能夠快速分析不良顯示面板的不良類型，解決對分析人員的經(jīng)驗要求較高，分析時間較長的問題，提高不良解析成功的概率。
37、應(yīng)當(dāng)理解，本部分所描述的內(nèi)容并非旨在標(biāo)識本專利技術(shù)的實施例的關(guān)鍵或重要特征，也不用于限制本專利技術(shù)的范圍。本專利技術(shù)的其它特征將通過以下的說明書而變得容易理解。
本文檔來自技高網(wǎng)...【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
1.一種顯示面板異常分析方法，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板異常分析方法，其特征在于，獲取所述不良顯示面板的第一測試結(jié)果，包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的顯示面板異常分析方法，其特征在于，在對所述不良顯示面板進(jìn)行半邊驅(qū)動分析，確認(rèn)是否為半邊驅(qū)動故障之后，還包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板異常分析方法，其特征在于，在對所述不良顯示面板進(jìn)行驅(qū)動畫面檢查，判斷是否顯示預(yù)設(shè)畫面之后，還包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的顯示面板異常分析方法，其特征在于，在獲取TAB區(qū)域修理后所述不良顯示面板的顯示畫面，判斷異常是否消失之后，還包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的顯示面板異常分析方法，其特征在于，所述預(yù)設(shè)畫面為線缺陷畫面。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板異常分析方法，其特征在于，在對所述不良顯示面板進(jìn)行驅(qū)動畫面檢查，判斷是否顯示預(yù)設(shè)畫面之前，還包括：
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的顯示面板異常分析方法，其特征在于，在對所述不良顯示面板進(jìn)行外觀檢查，判斷所述不良顯示面板是否有破損之后，還包括
9.根據(jù)權(quán)利要求1～8任一所述的顯示面板異常分析方法，其特征在于，所述不良顯示面板為過載保護(hù)導(dǎo)致驅(qū)動異常的顯示面板。
10.一種顯示面板異常分析系統(tǒng)，其特征在于，包括：
...【技術(shù)特征摘要】
1.一種顯示面板異常分析方法，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板異常分析方法，其特征在于，獲取所述不良顯示面板的第一測試結(jié)果，包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的顯示面板異常分析方法，其特征在于，在對所述不良顯示面板進(jìn)行半邊驅(qū)動分析，確認(rèn)是否為半邊驅(qū)動故障之后，還包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板異常分析方法，其特征在于，在對所述不良顯示面板進(jìn)行驅(qū)動畫面檢查，判斷是否顯示預(yù)設(shè)畫面之后，還包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的顯示面板異常分析方法，其特征在于，在獲取tab區(qū)域修理后所述不良顯示面板的顯示畫面，判斷異常是否消失之后，...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：馮展豪，
申請(專利權(quán))人：樂金顯示光電科技中國有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
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