【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及芯片電源負載測試領域，尤其涉及一種芯片電源負載自動測試系統和方法。
技術介紹
1、pmu是power?management?unit的縮寫，中文名稱為電源管理單元，用于控制芯片電源功能的微控制器。
2、繼電器是一種電控制器件，可以給予規定輸入量并保持足夠長的時間，在電氣輸出電路中使被控量發生預定的階躍變化。
3、電源負載測試用于測試各種正常狀態和極限條件下的電源性能。
4、電子負載是通過控制內部功率(mosefet)或晶體管的導通量，依靠功率管的耗散功率消耗電能的設備，它能夠準確檢測出負載電壓，精確調整負載電流，同時可以實現模擬負載短路等情況。
5、trim：微調；芯片測試過程中需要設計對芯片ldo(low?dropout?regulator-低壓差穩壓器)功能進行trim微調,即微調ldo的輸出。
6、現有的電源負載測試，正常測試的情況是測試該電源在不同負載情況下的電流、電壓情況，如果還要測試極限條件下的電源性能需要用到電子負載。在進行一些正常條件下的測試時，因為有多路電源或管腳需要測試并且有多種負載情況，需要多次接線更換負載等，小批量測試時會浪費大量的人力物力，如果選擇上機臺進行測試，價錢又會貴很多。
7、因此，有必要提出一種新的技術方案。
技術實現思路
1、為解決現有技術中存在的技術問題，本專利技術公開了一種芯片電源負載自動測試系統和方法。
2、一方面，本專利技術提供一種芯片電源
3、所述上位機，其用于發出控制命令并接受測試數據并生成測試數據文檔；
4、所述芯片載板，其用于根據控制命令配置芯片信息并輸出待測電源給負載測試板；
5、所述負載測試板，其用于接收待測電源并根據控制命令將待測電源接入對應負載上；
6、所述電壓源表和電流源表，其分別用于對接入到對應負載上的待測電源進行負載測試，并將測試數據發送給所述上位機。
7、進一步地，所述芯片載板包括芯片載板mcu、芯片、電源和上下拉電路，芯片載板mcu和芯片分別通過串口與上位機連接，
8、所述電源分別與芯片載板mcu、上下拉電路和芯片電連接，所述上下拉電路的一側與芯片載板mcu連接，另一側與芯片配置管腳連接，芯片載板mcu用于根據控制命令控制上下拉電路中的上拉電阻和下拉電阻來配置芯片的配置管腳并輸出芯片的待測電源。
9、進一步地，所述負載測試板包括負載測試板mcu、多路選通器、多個單路選通器、自帶負載、電壓源表和電流源表，所述負載測試板mcu通過串口與上位機連接，
10、其中一部分單路選通器與至少一個待測電源連接，其中另一部分單路選通器與至少一個自帶負載連接，負載測試板mcu通過控制所述多路選通器的開合使待測電源與對應負載斷開或連通，電壓源表通過電壓源表接口連接于待測電源與對應負載的電路上，電壓源表對接入對應負載上的待測電源進行電壓測試，所述電流源表通過電流源表接口連接于多路選通器的兩端，電流源表對接入對應負載上的待測電源進行電流測試，得到電流測量數據。
11、進一步地，所述電路選通器為繼電器，所述多路選通器為雙刀雙置繼電器。
12、進一步地，所述負載測試板上還設置有電子負載接口，待測電源通過電子負載接口與外接電子負載連接，負載測試板mcu根據上位機的控制命令判斷待測電源是否使用電子負載；若判斷待測電源使用電子負載，則上位機發送啟動測試命令，負載測試板根據啟動測試命令將待測電源接入電子負載；若判斷待測電源不使用電子負載，則上位機發送開始測試信號，負載測試板根據開始測試信號將待測電源接入自帶負載。
13、另一方面，本專利技術還提供一種芯片電源負載自動測試方法，所述方法包括：
14、上位機發出控制命令；
15、芯片載板根據控制命令配置芯片信息并輸出待測電源給負載測試板；
16、負載測試板接收待測電源并根據上位機的控制命令配置待測電源和負載，將待測電源接入對應負載上；
17、電壓源表根據控制命令對接入對應負載上的待測電源進行電壓測試，得到電壓測量數據，并將電壓測試數據發生給上位機，電流源表根據控制命令對接入對應負載上的待測電源進行電流測試，得到電流測量數據，并將電流測試數據發生給上位機；
18、所述上位機接收所述測試數據并生成測試文檔。
19、進一步地，芯片載板根據控制命令配置芯片信息并輸出待測電源給負載測試板，具體包括：芯片載板判斷上位機是否發出待配置信息，若是，芯片載板則根據待配置信息來進行配置芯片的配置管腳，否則，芯片載板根據默認配置信息來進行配置芯片的配置管腳。
20、進一步地，芯片載板mcu根據上位機發出的控制命令還配置芯片電源trim值，具體為：芯片載板mcu調整芯片電源trim值。
21、進一步地，負載測試板mcu根據上位機的控制命令配置待測試電源和負載，使待測電源連接到對應負載上，還包括：
22、負載測試板mcu確定待測電源是否使用電子負載；
23、若確定待測電源使用電子負載，則上位機發送啟動測試命令；
24、負載測試板mcu根據啟動測試命令將待測電源接入電子負載；
25、若確定待測電源不使用電子負載，則上位機發送開始測試信號，負載測試板mcu根據開始測試信號將待測電源接入自帶負載。
26、進一步地，所述上位機發出控制命令之前還包括自檢，具體步驟如下：
27、上位機運行python自檢腳本，上位機通過識別uart和串口來識別芯片載板、負載測試板、電源源表、電流源表和電子負載；
28、若識別無誤，則上位機發出芯片載板自檢命令，芯片載板根據芯片載板自檢命令進行自檢；
29、若芯片載板自檢正常，則上位機發出負載測試板自檢命令，負載測試板根據負載測試板自檢命令進行自檢；若芯片載板自檢有誤，則上位機立即將對應板卡復位信號拉死并發出板卡問題警告；
30、若負載測試板自檢正常，則上位機對電壓源表、電流源表和電子負載進行識別，若識別成功，則上位機判斷電壓源表、電流源表和電子負載是否滿足測試條件，若是，則上位機等待開始測試；若負載測試板自檢有誤，則上位機立即將對應板卡復位信號拉死并發出板卡問題警告；若上位機判斷電壓源表、電流源表和電子負載不滿足測試條件，則上位機發出設備問題警告。
31、本專利技術的芯片電源負載自動測試的方法，只需要將芯片安裝在芯片載板上，自檢完成后，在python中開始測試，python就會根據寫好的python測試對應電源并將測試數據發送出來，完成后更換下一個芯片，再繼續測試，節省了大量的人力和時間成本，并且測試項、待測電源、測試時間等都可以通過修改pyt本文檔來自技高網...
【技術保護點】
1.一種芯片電源負載自動測試系統，其特征在于，其包括上位機、芯片載板、負載測試板、電壓源表、電流源表和電子負載，所述上位機通過串口分別與芯片載板、芯片、負載測試板、電壓源表、電流源表和電子負載通訊連接，
2.根據權利要求1所述的芯片電源負載自動測試系統，其特征在于，所述芯片載板包括芯片載板MCU、芯片、電源和上下拉電路，芯片載板MCU和芯片分別通過串口與上位機連接，
3.根據權利要求1所述的芯片電源負載自動測試系統，其特征在于，所述負載測試板包括負載測試板MCU、多路選通器、多個單路選通器、自帶負載、電壓源表和電流源表，所述負載測試板MCU通過串口與上位機連接，
4.根據權利要求3所述的芯片電源負載自動測試系統，其特征在于，所述電路選通器為繼電器，所述多路選通器為雙刀雙置繼電器。
5.根據權利要求3所述的芯片電源負載自動測試系統，其特征在于，所述負載測試板上還設置有電子負載接口，待測電源通過電子負載接口與外接電子負載連接，負載測試板MCU根據上位機的控制命令判斷待測電源是否使用電子負載；若判斷待測電源使用電子負載，則上位機發送啟動測
6.一種芯片電源負載自動測試方法，其特征在于，所述方法包括：
7.根據權利要求6所述的芯片電源負載自動測試方法，其特征在于，
8.根據權利要求6所述的芯片電源負載自動測試方法，其特征在于，
9.根據權利要求6所述的芯片電源負載自動測試方法，其特征在于，
10.根據權利要求6所述的芯片電源負載自動測試方法，其特征在于，所述上位機發出控制命令之前還包括自檢，具體步驟如下：
...【技術特征摘要】
1.一種芯片電源負載自動測試系統，其特征在于，其包括上位機、芯片載板、負載測試板、電壓源表、電流源表和電子負載，所述上位機通過串口分別與芯片載板、芯片、負載測試板、電壓源表、電流源表和電子負載通訊連接，
2.根據權利要求1所述的芯片電源負載自動測試系統，其特征在于，所述芯片載板包括芯片載板mcu、芯片、電源和上下拉電路，芯片載板mcu和芯片分別通過串口與上位機連接，
3.根據權利要求1所述的芯片電源負載自動測試系統，其特征在于，所述負載測試板包括負載測試板mcu、多路選通器、多個單路選通器、自帶負載、電壓源表和電流源表，所述負載測試板mcu通過串口與上位機連接，
4.根據權利要求3所述的芯片電源負載自動測試系統，其特征在于，所述電路選通器為繼電器，所述多路選通器為雙刀雙置繼電器。
5.根據權利要求3所述的芯片電源負載自動測試系統，其特征在...
【專利技術屬性】
技術研發人員：張磊，曹成元，
申請(專利權)人：上海芯聯芯智能科技有限公司，
類型：發明
國別省市：
還沒有人留言評論。發表了對其他瀏覽者有用的留言會獲得科技券。