【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及芯片測試數據，具體為一種基于大數據分析的芯片測試數據管理系統及方法。
技術介紹
1、在標準的制造過程中，芯片要經過嚴格的制造和測試階段。該過程的每個階段都有可能挖掘有價值的信息，這些信息可以防止任何受損的芯片經歷整個過程。及早發現問題不僅可以在制造和測試過程中節省資金，還有助于防止將有缺陷的產品運送給客戶，并可能導致使用過程中的災難性故障；所以芯片在從生產到包裝成完整裝置的過程中需要大量的測試環節，但是對于一些量級比較大的芯片只能做到抽樣檢測不能完整的將所有流水線上的芯片進行一一檢測，所以在抽樣檢測存在異常測試數據時，往往需要人工去分析復檢異常芯片對應的檢測流程或其他同批次的芯片，來判斷最終造成異常的原因；所以給芯片制造生產過程帶來了阻力，容易造成生產環節滯后、效率降低等問題的發生。
技術實現思路
1、本專利技術的目的在于提供一種基于大數據分析的芯片測試數據管理系統及方法，以解決上述
技術介紹
中提出的問題。
2、為了解決上述技術問題，本專利技術提供如下技術方案：一種基于大數據分析的芯片測試數據管理方法，包括以下分析步驟：
3、步驟s100：標記以芯片和包含芯片的裝置為測試對象的所有測試環節，基于事件記錄先后順序將測試環節進行序列化；將序列化后的測試環節以封裝操作為分界點，封裝前的測試環節標記為第一測試環節，封裝后的測試環節標記為第二測試環節；
4、步驟s200：基于第一測試環節和第二測試環節，獲取環節對應的測試數據，對比分析兩測試環節
5、步驟s300：提取測試數據圖譜中對應為抽樣屬性的測試環節以及相應的測試數據存儲至歷史待分析數據庫中，在歷史待分析數據庫中存在異常測試數據時，分析異常測試數據在測試數據圖譜關聯關系中的離散值；
6、步驟s400：獲取歷史數據庫中記錄異常測試數據對應芯片排查結果，排查結果包含排查原因和排查范圍；基于排查結果和離散值構建對應測試環節的測試數據管理模型；
7、步驟s500：當實時芯片抽樣檢測結果為異常時傳輸響應信號，觸發模型分析流程并基于輸出結果進行預警響應。
8、進一步的，對比分析兩測試環節的測試數據確定數據追溯的唯一性，包括以下分析步驟：
9、獲取序列化后的首個測試環節記錄的所有芯片為主體芯片，遍歷第一測試環節和第二測試環節確定以主體芯片或增值芯片為測試對象的數據鏈，數據鏈是指由主體芯片或增值芯片為結構中心、測試環節為連接鏈以及每一測試環節對應的測試數據、測試結果為數據點所構成；
10、增值芯片是指基于主體芯片增加物理結構或電學結構變化的芯片；
11、結構中心為連接指向源、通過連接鏈指向數據點；相同主體芯片或增值芯片對應不同測試環節時由同一連接指向源對應不同連接鏈指向不同數據點；同一測試環節測試包含芯片的裝置中芯片不唯一時由不同連接指向源對應相同連接鏈指向同一數據點；
12、第一測試環節對應的數據鏈為第一數據鏈，第二測試環節對應的數據鏈為第二數據鏈；
13、當第二數據鏈中包含不同連接指向源對應相同連接鏈時，輸出第二測試環節與第一測試環節數據追溯不唯一；當第二數據鏈中不包含連接指向源對應相同連接鏈時，輸出第二測試與第一測試環節數據追溯唯一。
14、因為在組裝前每一測試環節的測試都是針對芯片獨立個體，不會存在同一測試環節包含芯片裝置芯片不唯一的情況，所以在本申請中默認第一測試環節中的數據鏈均是以主體芯片或增值芯片為單一主體的鏈。
15、進一步的，基于分析結果建立對應測試環節的測試數據圖譜，包括以下步驟：
16、當數據追溯唯一時，第一測試環節和第二測試環節均以數據鏈的形式構成測試數據圖譜的主體結構，設置主體芯片為測試數據圖譜的中心節點，以對應主體芯片上生成的增值芯片為次級節點，中心節點與次級節點依據增值芯片的生成順序按序連接；構成以芯片為節點鏈、對應芯片的數據鏈為主體結構的第一測試數據圖譜；
17、當數據追溯不唯一時，第一測試環節仍以上述方式構成數據圖譜，第二測試環節以測試環節為測試數據圖譜的中心節點，中心節點按照測試環節的事件記錄順序依次連接成節點鏈，節點鏈與測試環節對應的數據鏈構成第二測試環節的第二測試數據圖譜。
18、構建測試數據圖譜有利于管理人員對于測試數據的追溯以及分析，可以有效且快速的查詢測試數據的位置以及清晰了解測試數據與之可能存在管理的其他數據。
19、進一步的，步驟s300包括以下步驟：
20、步驟s310：獲取異常測試數據對應的異常測試值，關聯關系是指在測試數據圖譜中與異常測試數據對應數據鏈相同的同類測試數據、與異常測試數據所屬同一連接指向源對應不同連接鏈數據點的同源異類測試數據、以及與異常測試數據所屬同一連接鏈對應不同連接指向源記錄數據點的異源同類測試數據；
21、分析三種類型的測試數據可以全面覆蓋異常測試數據在測試數據圖譜中的關聯關系，包含了同批次的比較、同芯片不同測試的比較以及不同芯片相同測試的比較，可以有效的基于數據分析得到異常測試值的差異關系。
22、步驟s320：當異常測試數據記錄于第一測試數據圖譜中，利用公式：
23、
24、計算與異常測試數據存在關聯關系的第i種測試數據的離散值；qi＝{q1,q2,q3}，q1表示同類測試數據對應的離散值，q2表示同源異類測試數據對應的離散值，q3表示異源同類測試數據對應的離散值；ai表示第i種測試數據對應測試環節的異常測試值，表示第i種測試數據中的測試值的最大值；表示第i種測試數據中的第j個測試數據值，ni表示第i種測試數據記錄測試值的個數；
25、步驟s330：當異常測試數據記錄于第二測試數據圖譜中，除去同源異類測試數據按照上述同樣方式計算對應測試數據的離散值。除去同源異類測試數據是因為當存在包含芯片的裝置時，芯片的型號和個數是無法確定的所以只能以裝置整體進行相同測試環節和同批次數據的分析來驗證異常測試數據發生的可能原因。
26、進一步的，步驟s400包括以下：
27、排查原因包括獨立芯片異常、批次芯片異常和測試環節異常；排查范圍是指對應批次芯片存在異常時所排查的芯片個數；
28、當異常測試數據記錄于第一測試數據圖譜中，分別提取排查原因為獨立芯片異常、批次芯片異常和測試環節異常對應的三種測試數據離散值并進行由小到大的排序生成第一序列、第二序列和第三序列；
29、標記每一序列中首個離散值對應的測試數據類型為目標數據類型；
30、當三個序列對應的目標數據類型均不同時，構建測試數據管理模型z1，
31、
32、其中e1、e2和e3分別表示排查原因為獨立芯片異常、批次芯片異常和測試環節異常，表示計算異常數據對本文檔來自技高網...
【技術保護點】
1.一種基于大數據分析的芯片測試數據管理方法，其特征在于，包括以下分析步驟：
2.根據權利要求1所述的一種基于大數據分析的芯片測試數據管理方法，其特征在于：所述對比分析兩測試環節的測試數據確定數據追溯的唯一性，包括以下分析步驟：
3.根據權利要求2所述的一種基于大數據分析的芯片測試數據管理方法，其特征在于：所述基于分析結果建立對應測試環節的測試數據圖譜，包括以下步驟：
4.根據權利要求3所述的一種基于大數據分析的芯片測試數據管理方法，其特征在于：所述步驟S300包括以下步驟：
5.根據權利要求4所述的一種基于大數據分析的芯片測試數據管理方法，其特征在于：所述步驟S400包括以下：
6.根據權利要求5所述的一種基于大數據分析的芯片測試數據管理方法，其特征在于：所述觸發模型分析流程并基于輸出結果進行預警響應，包括以下步驟：
7.應用權利要求1-6中任一項所述的一種基于大數據分析的芯片測試數據管理方法的芯片測試數據管理系統，其特征在于，包括測試環節分類模塊、測試數據譜圖構建模塊、離散值分析模塊、測試數據管理模型構建
8.根據權利要求7所述的芯片測試數據管理系統，其特征在于：所述測試數據圖譜構建模塊包括數據追溯唯一性判斷單元、結構分析單元和測試數據圖譜輸出單元；
9.根據權利要求7所述的芯片測試數據管理系統，其特征在于：所述離散值分析模塊包括關聯關系查找單元和離散值計算單元；
10.根據權利要求7所述的芯片測試數據管理系統，其特征在于：所述測試數據管理模型構建模塊包括序列生成單元、目標數據類型確定單元和模型分析單元；
...【技術特征摘要】
1.一種基于大數據分析的芯片測試數據管理方法，其特征在于，包括以下分析步驟：
2.根據權利要求1所述的一種基于大數據分析的芯片測試數據管理方法，其特征在于：所述對比分析兩測試環節的測試數據確定數據追溯的唯一性，包括以下分析步驟：
3.根據權利要求2所述的一種基于大數據分析的芯片測試數據管理方法，其特征在于：所述基于分析結果建立對應測試環節的測試數據圖譜，包括以下步驟：
4.根據權利要求3所述的一種基于大數據分析的芯片測試數據管理方法，其特征在于：所述步驟s300包括以下步驟：
5.根據權利要求4所述的一種基于大數據分析的芯片測試數據管理方法，其特征在于：所述步驟s400包括以下：
6.根據權利要求5所述的一種基于大數據分析的芯片測試數據管理方法，其特征在于：所述...
【專利技術屬性】
技術研發人員：袁永斌，
申請(專利權)人：上海源斌電子科技有限公司，
類型：發明
國別省市：
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