【技術實現步驟摘要】
本公開涉及芯片，具體而言，涉及一種芯片測試方法、裝置、計算機設備及存儲介質。
技術介紹
1、隨著人工智能技術的發展，越來越多的人工智能(artificial?intelligence，ai)模型走入了人們的日常生活，為了能夠使得ai模型能夠應用于不同的場景中，往往需要根據具體的應用場景下的樣本數據對ai模型進行訓練。
2、相關技術中，由于ai模型在訓練時的計算量較大，因此會采用專門用于進行ai訓練的ai加速芯片(以下簡稱ai芯片)對ai模型進行訓練，從而提高模型的訓練速度，而不同的ai芯片的各項性能往往是不同的，因此如何對ai芯片進行更為全面的測試成為了該領域內亟待解決的問題。
技術實現思路
1、本公開實施例至少提供一種芯片測試方法、裝置、計算機設備及存儲介質。
2、第一方面，本公開實施例提供了一種芯片測試方法，包括：
3、獲取待測芯片對應的待測計算庫的測試配置信息；其中，所述測試配置信息中包含與所述待測計算庫中的算子對應的測試用例；
4、在所述測試配置信息對應的測試環境中，根據測試用例對所述待測計算庫中的算子進行功能測試，得到用于表征所述待測芯片在執行各算子時計算準確度的功能測試結果；
5、在所述測試配置信息對應的測試環境中，根據測試用例對所述待測計算庫中通過功能測試的目標算子進行性能測試，得到用于表征所述待測芯片在執行各目標算子時計算速度的性能測試結果；
6、基于所述功能測試結果和性能測試結果，確定所述待測
7、這樣，根據測試用例對待測芯片的待測計算庫中的待測算子進行功能測試，得到用于表征計算準確度的功能測試結果，再根據測試用例對所述待測計算庫中通過功能測試的目標算子進行性能測試，得到用于表征所述待測芯片在執行各目標算子時計算速度的性能測試結果，從而可以根據得到的各待測芯片分別對應的功能測試結果和性能測試結果，以實現對待測芯片進行全面的測試。通過對待測芯片進行功能測試和性能測試，可以得到待測芯片更為全面的測試結果，以便于選擇更為合適的目標芯片；另一方面，先進行功能測試然后對通過功能測試的目標算子進行性能測試，可以節約性能測試的測試時間，提高芯片測試效率。
8、一種可能的實施方式中，所述待測芯片為兩個以上，所述方法還包括：
9、基于各待測芯片對應的待測計算庫的測試結果，從各待測芯片中確定目標芯片。
10、一種可能的實施方式中，所述在所述測試配置信息對應的測試環境中，根據測試用例對所述待測計算庫中的算子進行功能測試，包括：
11、針對所述待測計算庫中的任一待測算子，在所述測試配置信息對應的測試環境中通過目標接口調用所述待測算子，并在調用成功的情況下，根據該算子對應的測試用例對所述算子進行功能測試。
12、這樣，通過設置目標接口對待測算子進行調用，可以實現對待測算子的兼容性測試，并實現對待測算子的提前篩選，從而減少后續進行測試時使用的待測算子的數量，提高后續進行功能測試和性能測試時的測試效率。
13、一種可能的實施方式中，所述方法包括根據以下步驟進行功能測試：
14、針對所述待測計算庫中的任一待測算子，在所述測試配置信息對應的測試環境中，基于所述待測芯片和所述待測算子對應的測試用例，確定所述待測算子對應的測試輸出結果；
15、基于各待測算子分別對應的測試輸出結果和標準輸出結果，確定所述待測芯片對應的功能測試結果；其中，所述標準輸出結果為標準芯片執行待測算子后得到的。
16、一種可能的實施方式中，所述基于各待測算子分別對應的測試輸出結果和標準輸出結果，確定所述待測芯片對應的功能測試結果，包括：
17、針對所述待測計算庫中的任一待測算子，基于所述待測芯片在執行所述待測算子時的輸入數據的數據類型，確定所述待測算子對應的測試通過標準；其中，所述測試通過標準用于表征在測試通過的情況下，測試輸出結果與標準輸出結果之間的最大差異值；
18、基于各待測算子分別對應的測試輸出結果、標準輸出結果以及測試通過標準，確定所述待測芯片對應的功能測試結果。
19、一種可能的實施方式中，所述功能測試結果包含用于表征待測芯片對各算子支持程度的功能分數；
20、所述基于各待測算子分別對應的測試輸出結果、標準輸出結果以及測試通過標準，確定所述待測芯片對應的功能測試結果，包括：
21、基于各待測算子分別對應的測試輸出結果、標準輸出結果以及測試通過標準，確定各待測算子分別對應的測試用例通過率；
22、基于各待測算子分別對應的測試用例通過率和各待測算子分別對應的測試結果權重，確定所述待測芯片的功能分數。
23、一種可能的實施方式中，所述方法包括根據以下步驟進行性能測試：
24、針對所述待測計算庫中的任一目標算子，在所述測試配置信息對應的測試環境中，基于所述待測芯片、所述目標算子對應的測試用例以及預設的第一執行次數，確定所述待測芯片每次執行該目標算子對應的測試用例時的測試耗時；
25、基于各目標算子分別對應的測試耗時和標準耗時，確定所述待測芯片對應的性能測試結果；其中，所述標準耗時為標準芯片執行目標算子對應的測試用例后得到的。
26、一種可能的實施方式中，在基于所述待測芯片、該目標算子對應的測試用例以及預設的第一執行次數，確定所述待測芯片每次執行該目標算子對應的測試用例時的測試耗時之前，所述方法還包括：
27、基于所述待測芯片、所述目標算子對應的測試用例以及預設的第二執行次數，對所述待測芯片進行測試準備處理；其中，所述第二執行次數小于所述第一執行次數。
28、這樣，通過第二執行次數對待測芯片進行熱身，并在熱身完成后使用第一執行次數對目標算子進行性能測試，可以得到更為接近待測芯片在真實工況下的性能表現，從而得到更為準確的性能測試結果。
29、一種可能的實施方式中，所述基于各目標算子分別對應的測試耗時和標準耗時，確定所述待測芯片對應的性能測試結果，包括：
30、針對所述待測計算庫中的任一目標算子，根據所述目標算子對應的測試通過標準對所述目標算子對應的測試耗時進行篩選，確定符合測試通過標準的目標測試耗時；
31、基于各目標算子分別對應的目標測試耗時和標準耗時，確定所述待測芯片對應的性能測試結果。
32、一種可能的實施方式中，所述基于所述功能測試結果和性能測試結果，確定所述待測芯片對應的待測計算庫的測試結果，包括：
33、針對所述待測計算庫中的任一目標算子，基于該目標算子對應的功能測試結果和性能測試結果確定該目標算子對應的測試分數；
34、基于各目標算子分別對應的測試結果權重對各目標算子對應的測試分數進行加權求和處理，得到所述待測芯片對應的待測計算庫的測試結果；其中，各目標算子分別對應的測試結果權重為基于等級測試結果確定的。...
【技術保護點】
1.一種芯片測試方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述待測芯片為兩個以上，所述方法還包括：
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述在所述測試配置信息對應的測試環境中，根據測試用例對所述待測計算庫中的算子進行功能測試，包括：
4.根據權利要求1～3任一所述的方法，其特征在于，所述方法包括根據以下步驟進行功能測試：
5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于各待測算子分別對應的測試輸出結果和標準輸出結果，確定所述待測芯片對應的功能測試結果，包括：
6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述功能測試結果包含用于表征待測芯片對各算子支持程度的功能分數；
7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法包括根據以下步驟進行性能測試：
8.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，在基于所述待測芯片、該目標算子對應的測試用例以及預設的第一執行次數，確定所述待測芯片每次執行該目標算子對應的測試用例時的測試耗時之前，所述方法還包括：
9.根據權利要求
10.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述功能測試結果和性能測試結果，確定所述待測芯片對應的待測計算庫的測試結果，包括：
11.根據權利要求10所述的方法，其特征在于，所述方法還包括根據以下步驟確定待測算子的等級測試結果：
12.一種芯片測試裝置，其特征在于，包括：
13.一種計算機設備，其特征在于，包括：處理器、存儲器和總線，所述存儲器存儲有所述處理器可執行的機器可讀指令，當計算機設備運行時，所述處理器與所述存儲器之間通過總線通信，所述機器可讀指令被所述處理器執行時執行如權利要求1至11任一所述的芯片測試方法的步驟。
14.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，該計算機可讀存儲介質上存儲有計算機程序，該計算機程序被處理器運行時執行如權利要求1至11任一所述的芯片測試方法的步驟。
...【技術特征摘要】
1.一種芯片測試方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述待測芯片為兩個以上，所述方法還包括：
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述在所述測試配置信息對應的測試環境中，根據測試用例對所述待測計算庫中的算子進行功能測試，包括：
4.根據權利要求1～3任一所述的方法，其特征在于，所述方法包括根據以下步驟進行功能測試：
5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于各待測算子分別對應的測試輸出結果和標準輸出結果，確定所述待測芯片對應的功能測試結果，包括：
6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述功能測試結果包含用于表征待測芯片對各算子支持程度的功能分數；
7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法包括根據以下步驟進行性能測試：
8.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，在基于所述待測芯片、該目標算子對應的測試用例以及預設的第一執行次數，確定所述待測芯片每次執行該目標算子對應的測試用例時的測試...
【專利技術屬性】
技術研發人員：王磊，楊樺桉，王志宏，劉葉楓，張行程，
申請(專利權)人：北京市商湯科技開發有限公司，
類型：發明
國別省市：
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