【技術實現(xiàn)步驟摘要】
本申請涉及攝像，具體涉及一種光學透鏡移動檢測裝置、光學防抖方法、對焦馬達、攝像模組以及電子設備。
技術介紹
1、目前，攝像模組通常需要具備對焦檢測以及光學防抖功能。其中，對焦檢測是指通過檢測光學透鏡在光學系統(tǒng)的光軸方向上來移動距離，以便于攝像設備進行對焦調節(jié)并獲取清晰的圖像。光學防抖是指通過光學透鏡(或攝像模組)在垂直于光軸方向上的移動，補償攝像過程中因設備抖動而發(fā)生的位移量，從而避免因設備抖動而造成圖像模糊的現(xiàn)象。
2、由于對焦檢測過程中光學透鏡的移動方向與光學防抖過程中光學透鏡的移動方向不同，因此攝像模組需要保證對焦檢測過程中不受光學防抖而導致光學透鏡移動的影響。
技術實現(xiàn)思路
1、本申請?zhí)峁┮环N光學透鏡移動檢測裝置、光學防抖方法、對焦馬達、攝像模組以及電子設備，旨在解決目前攝像模組對焦檢測過程受到光學防抖影響的技術問題。
2、第一方面，本申請?zhí)峁┮环N光學透鏡移動檢測裝置，光學透鏡移動檢測裝置用于檢測光學透鏡沿光軸方向的移動距離，包括：
3、第一檢測電容以及第二檢測電容；
4、檢測電路，檢測電路被配置為檢測第一檢測電容以及第二檢測電容的第一總電容值；
5、第一檢測電容的第一極板與第二檢測電容的第一極板相互電連接，第一檢測電容的第二極板與檢測電路的第一輸入端連接，第二檢測電容的第二極板與檢測電路的第二輸入端連接；
6、第一檢測電容的第一極板以及第二檢測電容的第一極板隨光學透鏡移動，第一檢測電容的第二極板以及第
7、其中，當光學透鏡沿光軸的方向移動時，第一總電容值隨光學透鏡的移動而改變；當光學透鏡沿垂直于光軸的方向移動時，第一總電容值保持不變。
8、在一些實施例中，第一檢測電容與第二檢測電容分別位于光軸相對的兩側，且第一檢測電容以及第二檢測電容的極板與光軸方向平行；
9、當光學透鏡沿光軸方向移動時，第一檢測電容以及第二檢測電容的極板正對面積隨光學透鏡的移動而改變；
10、當光學透鏡沿垂直于光軸的方向移動時，第一檢測電容以及第二檢測電容的極板間距之和保持不變，且第一檢測電容與第二檢測電容的極板正對面積相等。
11、在一些實施例中，第一檢測電容以及第二檢測電容的極板與光軸方向垂直；
12、當光學透鏡沿垂直于光軸的方向移動時，第一檢測電容以及第二檢測電容的極板正對面積保持不變。
13、在一些實施例中，光學透鏡移動檢測裝置還包括第一參考電容以及第二參考電容；
14、檢測電路還被配置為檢測第一參考電容與第二參考電容的的第二總電容值；
15、其中，第一檢測電容、第二檢測電容、第一參考電容以及第二參考電容的介電常數(shù)在光學透鏡的移動過程中保持相等，且第二總電容值在光學透鏡的移動過程中保持不變。
16、在一些實施例中，第一參考電容的第一極板與第二參考電容的第一極板相互電連接；
17、第一參考電容的第二極板與檢測電路的第一輸入端連接，第二參考電容的第二極板與檢測電路的第二輸入端連接。
18、在一些實施例中，第一參考電容與第二參考電容分別位于光軸相對的兩側，且第一參考電容以及第二參考電容的極板與光軸方向平行；
19、當光學透鏡沿光軸方向移動時，第一參考電容以及第二參考電容的極板正對面積保持不變；
20、當光學透鏡沿垂直于光軸的方向移動時，第一參考電容以及第二參考電容的極板間距之和保持不變，且第一參考電容與第二參考電容的極板正對面積相等。
21、在一些實施例中，檢測電路包括第一全差分運算放大器；
22、第一檢測電容的第二極板與第一全差分運算放大器的第一輸入端連接，第二檢測電容的第二極板與第一全差分運算放大器的第二輸入端連接。
23、在一些實施例中，檢測電路還包括第一電荷注入電路以及第二電荷注入電路；
24、第一電荷注入電路被配置為向第一檢測電容的第二極板注入第一預設量的第一電荷，第二電荷注入電路被配置為向第二檢測電容的第二極板注入第二預設量的第二電荷；
25、第一電荷的極性與第二電荷的極性相反，且第一預設量與第二預設量相等。
26、在一些實施例中，檢測電路還包括第二全差分運算放大器；
27、第一參考電容的第二極板與第二全差分運算放大器的第一輸入端連接，第二參考電容的第二極板與第二全差分運算放大器的第二輸入端連接。
28、在一些實施例中，檢測電路還包括第三電荷注入電路以及第四電荷注入電路；
29、第三電荷注入電路被配置為向第一參考電容的第二極板注入第三預設量的第三電荷，第四電荷注入電路被配置為向第二參考電容的第二極板注入第四預設量的第四電荷；
30、第三電荷的極性與第四電荷的極性相反，且第三預設量與第四預設量相等。
31、第二方面，本申請?zhí)峁┮环N光學防抖方法，所述方法應用如第一方面所述的光學透鏡移動檢測裝置。
32、第三方面，本申請?zhí)峁┮环N對焦馬達，包括如第一方面所述的光學透鏡移動檢測裝置。
33、第四方面，本申請?zhí)峁┮环N攝像模組，包括如第三方面所述的對焦馬達。
34、第五方面，本申請?zhí)峁┮环N電子設備，包括第四方面所述的攝像模組。
35、本申請將第一檢測電容的第一極板與第二檢測電容的第一極板相互電連接，使得第一檢測電容與第二檢測電容串聯(lián)，由于第一檢測電容的第二極板與檢測電路的第一輸入端連接，第二檢測電容的第二極板與檢測電路的第二輸入端連接，并且第一檢測電容的第二極板與第二檢測電容的第二極板保持固定，因此檢測電路連接的是兩個固定的極板，從而避免檢測電路需要分別連接一個固定的極板以及一個移動的極板，最終導致光學透鏡的移動距離檢測方案難以實現(xiàn)以及成本高昂的現(xiàn)象。
36、同時，當光學透鏡沿光軸的方向移動時，由于第一總電容值隨光學透鏡的移動而改變，因此可以通過第一檢測電容以及第二檢測電容的第一總電容值計算光學透鏡的移動距離，從而實現(xiàn)攝像模組的對焦檢測功能；而當光學透鏡沿垂直于光軸的方向移動時，由于第一總電容值保持不變，因此可以避免在攝像模組進行光學防抖時影響攝像模組對焦檢測的現(xiàn)象，從而實現(xiàn)了攝像模組對焦檢測與光學防抖的解耦，進而無需獨立設計攝像模組的對焦移動機構以及光學防抖機構，并最終有利于攝像模組結構的簡化。
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1.一種光學透鏡移動檢測裝置，所述光學透鏡移動檢測裝置用于檢測光學透鏡沿光軸方向的移動距離，其特征在于，包括：
2.如權利要求1所述的光學透鏡移動檢測裝置，其特征在于，所述第一檢測電容與所述第二檢測電容分別位于所述光軸相對的兩側，且所述第一檢測電容以及所述第二檢測電容的極板與所述光軸方向平行；
3.如權利要求1所述的光學透鏡移動檢測裝置，其特征在于，所述第一檢測電容以及所述第二檢測電容的極板與所述光軸方向垂直；
4.如權利要求1所述的光學透鏡移動檢測裝置，其特征在于，所述光學透鏡移動檢測裝置還包括第一參考電容以及第二參考電容；
5.如權利要求4所述的光學透鏡移動檢測裝置，其特征在于，所述第一參考電容的第一極板與所述第二參考電容的第一極板相互電連接；
6.如權利要求5所述的光學透鏡移動檢測裝置，其特征在于，所述第一參考電容與所述第二參考電容分別位于所述光軸相對的兩側，且所述第一參考電容以及所述第二參考電容的極板與所述光軸方向平行；
7.如權利要求1所述的光學透鏡移動檢測裝置，其特征在于，所述檢測電路包括第一全差
8.如權利要求7所述的光學透鏡移動檢測裝置，其特征在于，所述檢測電路還包括第一電荷注入電路以及第二電荷注入電路；
9.如權利要求4所述的光學透鏡移動檢測裝置，其特征在于，所述檢測電路還包括第二全差分運算放大器；
10.如權利要求9所述的光學透鏡移動檢測裝置，其特征在于，所述檢測電路還包括第三電荷注入電路以及第四電荷注入電路；
11.一種光學防抖方法，其特征在于，所述方法應用如權利要求1至10任一項所述的光學透鏡移動檢測裝置。
12.一種對焦馬達，其特征在于，包括如權利要求1至10任一項所述的光學透鏡移動檢測裝置。
13.一種攝像模組，其特征在于，包括如權利要求12所述的對焦馬達。
14.一種電子設備，其特征在于，包括如權利要求13所述的攝像模組。
...【技術特征摘要】
1.一種光學透鏡移動檢測裝置，所述光學透鏡移動檢測裝置用于檢測光學透鏡沿光軸方向的移動距離，其特征在于，包括：
2.如權利要求1所述的光學透鏡移動檢測裝置，其特征在于，所述第一檢測電容與所述第二檢測電容分別位于所述光軸相對的兩側，且所述第一檢測電容以及所述第二檢測電容的極板與所述光軸方向平行；
3.如權利要求1所述的光學透鏡移動檢測裝置，其特征在于，所述第一檢測電容以及所述第二檢測電容的極板與所述光軸方向垂直；
4.如權利要求1所述的光學透鏡移動檢測裝置，其特征在于，所述光學透鏡移動檢測裝置還包括第一參考電容以及第二參考電容；
5.如權利要求4所述的光學透鏡移動檢測裝置，其特征在于，所述第一參考電容的第一極板與所述第二參考電容的第一極板相互電連接；
6.如權利要求5所述的光學透鏡移動檢測裝置，其特征在于，所述第一參考電容與所述第二參考電容分別位于所述光軸相對的兩側，且所述第一參考電容以及所述第二參考電容...
【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：劉覽琦，姜琿，柯毅，
申請(專利權)人：武漢市聚芯微電子有限責任公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
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