【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專(zhuān)利技術(shù)涉及治具模塊檢測(cè)領(lǐng)域，具體涉及一種igbt模塊插針高度檢測(cè)機(jī)構(gòu)及其檢測(cè)裝置及其檢測(cè)方法。
技術(shù)介紹
1、igbt模塊是由mosfet和雙極性晶體管復(fù)合而成的一種器件，既具有mosfet驅(qū)動(dòng)功率小和開(kāi)關(guān)速度快的優(yōu)點(diǎn)，又具有雙極型器件飽和壓降低而容量大的優(yōu)點(diǎn)，在現(xiàn)代電力電子技術(shù)中，尤其是在較高頻率的大、中功率應(yīng)用中占據(jù)了主導(dǎo)地位。igbt模塊的封裝形式有各種類(lèi)型，不同類(lèi)型的封裝形式有不同的應(yīng)用場(chǎng)景。部分igbt模塊封裝需要將端子彎折，以便更好地與電纜連接。
2、igbt模塊上需要裝載若干個(gè)插針，安裝后，需要通過(guò)檢測(cè)設(shè)備來(lái)對(duì)插針的高度進(jìn)行檢測(cè)，判斷插針的高度是否一致。現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)于插針的檢測(cè)是通過(guò)攝像頭拍攝，然后通過(guò)檢測(cè)系統(tǒng)識(shí)別，但是這種方式對(duì)攝像頭的清晰度，以及識(shí)別系統(tǒng)的精準(zhǔn)度都有高要求，整體設(shè)備裝配的成本太高，因此，設(shè)計(jì)一種igbt模塊插針高度檢測(cè)機(jī)構(gòu)及其檢測(cè)裝置及其檢測(cè)方法是必要的。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本專(zhuān)利技術(shù)的目的是提供一種igbt模塊插針高度檢測(cè)機(jī)構(gòu)及其檢測(cè)裝置及其檢測(cè)方法，以解決上述問(wèn)題。
2、為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本專(zhuān)利技術(shù)提供了一種igbt模塊插針高度檢測(cè)機(jī)構(gòu)，包括：光源組件和顯影組件，所述光源組件和所述顯影組件分別設(shè)置在待測(cè)工件的兩側(cè)；以及
3、所述光源組件的發(fā)光面朝向所述顯影組件設(shè)置，且待測(cè)工件位于所述光源組件的光路上；其中
4、待測(cè)工件裝載插針后，所述光源組件照射待測(cè)工件，以使待測(cè)工件的陰影投影到所述顯影組件上
5、進(jìn)一步地，待測(cè)工件、所述顯影組件與所述光源組件的光路位于同一直線(xiàn)上。
6、進(jìn)一步地，待測(cè)工件、所述光源組件和所述顯影組件高度相同。
7、進(jìn)一步地，所述光源組件包括照射燈，所述照射燈朝向所述顯影組件設(shè)置。
8、進(jìn)一步地，所述顯影組件包括顯影盒，所述顯影盒朝向所述照射燈的一側(cè)設(shè)置有投影屏。
9、此外，本專(zhuān)利技術(shù)還提供了一種插針高度檢測(cè)裝置，使用如上文所述的igbt模塊插針高度檢測(cè)機(jī)構(gòu)，包括：支撐架，所述支撐架上適于安裝igbt模塊，所述igbt模塊上適于裝載插針，所述igbt模塊插針高度檢測(cè)機(jī)構(gòu)安裝在所述支撐架上，且所述照射燈和所述顯影盒分別位于所述igbt模塊的兩側(cè)。
10、進(jìn)一步地，所述支撐架包括安裝板，所述安裝板的兩端分別設(shè)置有固定架和定位架，所述照射燈和所述顯影盒分別安裝在所述固定架和所述定位架上。
11、進(jìn)一步地，所述固定架呈l形，所述固定架的短邊一側(cè)開(kāi)設(shè)有配合槽，所述固定架的長(zhǎng)邊一側(cè)開(kāi)設(shè)有裝配槽；
12、所述安裝板的底部開(kāi)設(shè)有若干配合孔，所述配合孔與所述配合槽相對(duì)應(yīng)；
13、所述照射燈的一側(cè)開(kāi)設(shè)有若干裝配孔，所述裝配孔與所述裝配槽相對(duì)應(yīng)。
14、進(jìn)一步地，所述定位架與所述安裝板垂直設(shè)置，所述定位架的底部開(kāi)設(shè)有若干支撐槽，所述安裝板的側(cè)壁開(kāi)設(shè)有若干支撐孔，所述支撐孔與所述支撐槽相對(duì)應(yīng)；
15、所述顯影盒的兩側(cè)短邊分別設(shè)置有固定孔，所述定位架的兩側(cè)分別開(kāi)設(shè)有若干調(diào)節(jié)孔，所述固定孔與所述調(diào)節(jié)孔相對(duì)應(yīng)。
16、此外，本專(zhuān)利技術(shù)還提供了一種插針高度檢測(cè)方法，使用如上文所述的插針高度檢測(cè)裝置，s1、在支撐架上放置igbt模塊，打開(kāi)照射燈；
17、s2、投影屏上顯示igbt模塊上的第一視角的插針高度投影，并通過(guò)相機(jī)拍攝得到t1；
18、s3、將igbt模塊旋轉(zhuǎn)90°；
19、s4、投影屏上顯示igbt模塊上的第二視角的插針高度投影，并通過(guò)相機(jī)拍攝得到t2；
20、s5、將igbt模塊旋轉(zhuǎn)90°；
21、s6、投影屏上顯示igbt模塊上的第三視角的插針高度投影，并通過(guò)相機(jī)拍攝得到t3；
22、s7、將igbt模塊旋轉(zhuǎn)90°；
23、s8、投影屏上顯示igbt模塊上的第三視角的插針高度投影，并通過(guò)相機(jī)拍攝得到t4；
24、s9、s9、視覺(jué)檢測(cè)t1-t4。
25、相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)，本專(zhuān)利技術(shù)具有以下有益效果：通過(guò)設(shè)置光源組件和顯影組件，并使igbt模塊位于光源組件的光路上，使得光源組件啟動(dòng)時(shí)，可將igbt模塊的陰影投射在顯影組件上，從而方便通過(guò)投影觀(guān)察igbt模塊的插針的高度，進(jìn)而判斷插針是否合格。
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1.一種IGBT模塊插針高度檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，包括：
2.如權(quán)利要求1所述的IGBT模塊（4）插針高度檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，
3.如權(quán)利要求1所述的IGBT模塊（4）插針高度檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，
4.如權(quán)利要求1所述的IGBT模塊（4）插針高度檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，
5.如權(quán)利要求1所述的IGBT模塊（4）插針高度檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，
6.一種插針高度檢測(cè)裝置，使用如權(quán)利要求1-5所述的IGBT模塊插針高度檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，包括：
7.如權(quán)利要求6所述的插針高度檢測(cè)裝置，其特征在于，
8.如權(quán)利要求7所述的插針高度檢測(cè)裝置，其特征在于，
9.如權(quán)利要求8所述的插針高度檢測(cè)裝置，其特征在于，
10.一種插針高度檢測(cè)方法，使用如權(quán)利要求9所述的插針高度檢測(cè)裝置，其特征在于，
【技術(shù)特征摘要】
1.一種igbt模塊插針高度檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，包括：
2.如權(quán)利要求1所述的igbt模塊（4）插針高度檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，
3.如權(quán)利要求1所述的igbt模塊（4）插針高度檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，
4.如權(quán)利要求1所述的igbt模塊（4）插針高度檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，
5.如權(quán)利要求1所述的igbt模塊（4）插針高度檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，
...【專(zhuān)利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：袁文卿，唐光明，李昂，徐慶慶，
申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人：常州科瑞爾科技有限公司，
類(lèi)型：發(fā)明
國(guó)別省市：
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