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    一種用于單晶硅棒電阻率測試的定位裝置制造方法及圖紙

    技術編號:41078503 閱讀:19 留言:0更新日期:2024-04-25 10:32
    本技術公開了一種用于單晶硅棒電阻率測試的定位裝置,涉及單晶硅棒測試技術領域。包括固定臺和定位板;固定臺的頂部設有通孔,通孔用于固定單晶硅棒的頭料或尾料;定位板水平放置于頭料或尾料的待測截面上,定位板的中心位置設有第一測試孔,第一測試孔的四周設置有四個第二測試孔,第一測試孔用于定位待測截面的圓心位置,第二測試孔用于定位待測截面直徑的四分之一位置。本技術通過固定臺對單晶硅棒進行固定,通過定位板上的第一測試孔和第二測試孔定位待測單晶硅棒的電阻率測試點,無需再利用尺子定位,既可以提高測試效率,又可以保持測試點位固定,避免人為差異引起的測試誤差,從而提高測試數據的可靠性和重現性。

    【技術實現步驟摘要】

    本技術涉及單晶硅棒測試,具體涉及一種用于單晶硅棒電阻率測試的定位裝置


    技術介紹

    1、太陽能電池組件制造過程中,直拉法拉制的單晶硅棒在冷卻后需要進行內參測試,其中電阻率測試是測試中十分重要的一部分。由于拉直過程中單晶硅棒頭部受惰性氣體及熔體內揮發物擾動影響,底部受石英坩堝和石墨熱場揮發物影響,導致單晶硅棒的頭料和尾料含雜質較多,使得單晶硅棒頭料和尾料電阻率較大。因此,在直拉法拉制單晶硅棒時通常對頭尾兩部分進行電阻率測試。

    2、目前單晶硅棒的頭料和尾料電阻率測試中,需要先將頭料和尾料切片后進行腐蝕,再由操作員用尺子定位原片的中心點和直徑四分之一處進行電阻率的測試。測試過程中,由于每次均需要借助尺子測量圓片中心點和直徑四分之一處,操作費時、測試效率低,且由于測量差異導致數據穩定性和重現性存在波動。因此亟需設計一種能夠提高單晶硅棒電阻率測試效率,提高數據穩定性和重現性的定位裝置。


    技術實現思路

    1、本技術主要目的在于提供一種用于單晶硅棒電阻率測試的定位裝置,以解決現有技術存在的問題。

    2、為解決上述技術問題,本技術采取了如下技術方案:

    3、一種用于單晶硅棒電阻率測試的定位裝置,包括固定臺和定位板;

    4、所述固定臺的頂部設有通孔,所述通孔用于固定單晶硅棒的頭料或尾料;

    5、所述定位板水平放置于頭料或尾料的待測截面上,所述定位板的中心位置設有第一測試孔,所述第一測試孔的四周設置有四個第二測試孔,所述第一測試孔用于定位待測截面的圓心位置,所述第二測試孔用于定位待測截面直徑的四分之一位置。

    6、進一步的,所述固定臺包括框架和面板,所述面板固定設置于所述框架的頂部,所述通孔位于所述面板的中心位置。

    7、進一步的,所述通孔與所述單晶硅棒的頭料或尾料過盈配合,所述通孔為圓孔或正多邊形孔。

    8、進一步的,所述框架采用鋼材質,所述框架的高度為700mm,所述面板采用木材質,所述面板的厚度大于20mm。

    9、進一步的,所述定位板為正方形,所述正方形的對角線長度與待測截面圓的直徑相等。

    10、進一步的,所述第一測試孔設置于所述定位板的對角線交點處,四個所述第二測試孔分布在所述定位板的對角線交點至四個角連線的中間點。

    11、進一步的,所述第一測試孔為圓形孔或方形孔,所述第二測試孔為圓形孔或方形孔。

    12、進一步的,所述圓形孔的孔徑或所述方形孔內切圓的孔徑均為50mm。

    13、進一步的,所述定位板采用塑料材質。

    14、與現有技術相比,本技術具有以下有益效果:

    15、通過固定臺對單晶硅棒進行固定,使得頭料或尾料的待測截面水平朝上,通過定位板上的第一測試孔和第二測試孔定位待測單晶硅棒的電阻率測試點,無需再利用尺子定位,既可以提高測試效率,又可以保持測試點位固定,避免人為差異引起的測試誤差,從而提高測試數據的可靠性和重現性。

    本文檔來自技高網...

    【技術保護點】

    1.一種用于單晶硅棒電阻率測試的定位裝置,其特征在于,包括固定臺和定位板;

    2.如權利要求1所述的一種用于單晶硅棒電阻率測試的定位裝置,其特征在于,所述固定臺包括框架和面板,所述面板固定設置于所述框架的頂部,所述通孔位于所述面板的中心位置。

    3.如權利要求2所述的一種用于單晶硅棒電阻率測試的定位裝置,其特征在于,所述通孔與所述單晶硅棒的頭料或尾料過盈配合,所述通孔為圓孔或正多邊形孔。

    4.如權利要求2所述的一種用于單晶硅棒電阻率測試的定位裝置,其特征在于,所述框架采用鋼材質,所述框架的高度為700mm,所述面板采用木材質,所述面板的厚度大于20mm。

    5.如權利要求1所述的一種用于單晶硅棒電阻率測試的定位裝置,其特征在于,所述定位板為正方形,所述正方形的對角線長度與待測截面圓的直徑相等。

    6.如權利要求5所述的一種用于單晶硅棒電阻率測試的定位裝置,其特征在于,所述第一測試孔設置于所述定位板的對角線交點處,四個所述第二測試孔分布在所述定位板的對角線交點至四個角連線的中間點。

    7.如權利要求5所述的一種用于單晶硅棒電阻率測試的定位裝置,其特征在于,所述第一測試孔為圓形孔或方形孔,所述第二測試孔為圓形孔或方形孔。

    8.如權利要求7所述的一種用于單晶硅棒電阻率測試的定位裝置,其特征在于,所述圓形孔的孔徑或所述方形孔內切圓的孔徑均為50mm。

    9.如權利要求5所述的一種用于單晶硅棒電阻率測試的定位裝置,其特征在于,所述定位板采用塑料材質。

    ...

    【技術特征摘要】

    1.一種用于單晶硅棒電阻率測試的定位裝置,其特征在于,包括固定臺和定位板;

    2.如權利要求1所述的一種用于單晶硅棒電阻率測試的定位裝置,其特征在于,所述固定臺包括框架和面板,所述面板固定設置于所述框架的頂部,所述通孔位于所述面板的中心位置。

    3.如權利要求2所述的一種用于單晶硅棒電阻率測試的定位裝置,其特征在于,所述通孔與所述單晶硅棒的頭料或尾料過盈配合,所述通孔為圓孔或正多邊形孔。

    4.如權利要求2所述的一種用于單晶硅棒電阻率測試的定位裝置,其特征在于,所述框架采用鋼材質,所述框架的高度為700mm,所述面板采用木材質,所述面板的厚度大于20mm。

    5.如權利要求1所述的一種用于單晶硅棒電阻率測試的定位裝置,其特征...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:趙龍王兆峰馬文會萬小涵
    申請(專利權)人:曲靖晶龍電子材料有限公司
    類型:新型
    國別省市:

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