【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本申請(qǐng)屬于集成電路設(shè)計(jì)領(lǐng)域，特別涉及一種用于集成電路的驗(yàn)證裝置與方法。
技術(shù)介紹
1、隨著近年來(lái)芯片集成度的提高以及集成電路尺寸的不斷增加，為應(yīng)對(duì)各種復(fù)雜的情況，集成電路的仿真速度越來(lái)越慢，仿真時(shí)間也越來(lái)越長(zhǎng)，由此在驗(yàn)證方面所耗費(fèi)的時(shí)間成本不斷提高。在這種環(huán)境背景下，如何縮短驗(yàn)證周期，降低芯片驗(yàn)證所耗費(fèi)的時(shí)間成本逐漸成為設(shè)計(jì)過(guò)程中需要重點(diǎn)考慮的因素之一。
2、對(duì)于芯片接口的驗(yàn)證，傳統(tǒng)接口仿真的方法是基于數(shù)據(jù)總線與驗(yàn)證平臺(tái)之間的一一對(duì)應(yīng)關(guān)系實(shí)現(xiàn)的，即從總線輸入特定激勵(lì)信號(hào)一直驗(yàn)證到驗(yàn)證平臺(tái)產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的輸出來(lái)實(shí)現(xiàn)，從而驗(yàn)證邏輯功能和時(shí)序信號(hào)的無(wú)誤性。然而，該種方式每次都需要重新產(chǎn)生激勵(lì)，接口仿真的覆蓋度較低具有唯一性，無(wú)法在不同的項(xiàng)目中重復(fù)使用，接口仿真的規(guī)范化程度較低。
3、針對(duì)上述問(wèn)題，本申請(qǐng)?zhí)岢鲎詣?dòng)遍歷生成激勵(lì)的接口驗(yàn)證平臺(tái)構(gòu)建方法及電子設(shè)備。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、為了解決所述現(xiàn)有技術(shù)的不足，本申請(qǐng)?zhí)峁┝俗詣?dòng)遍歷生成激勵(lì)的接口驗(yàn)證平臺(tái)構(gòu)建方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)的接口仿真存在的仿真覆蓋度較低、代碼的繼承度不足的技術(shù)問(wèn)題，該方法構(gòu)建的目標(biāo)數(shù)據(jù)庫(kù)中的庫(kù)文件可以運(yùn)用在多種不同的項(xiàng)目中，降低了不同項(xiàng)目在接口仿真所耗費(fèi)的時(shí)間成本，提高了接口仿真的兼容性和適應(yīng)性，從而加快項(xiàng)目的開(kāi)發(fā)速度。
2、本申請(qǐng)一方面公開(kāi)了一種用于集成電路的驗(yàn)證方法，其包括：s1：獲取項(xiàng)目文件，基于所述項(xiàng)目文件獲取驗(yàn)證信息與原始數(shù)據(jù)庫(kù)文件；s2：基于所述驗(yàn)證信息與所述原始數(shù)據(jù)庫(kù)文件之間的映射關(guān)
3、在一實(shí)施例中，所述驗(yàn)證信息包括傳輸特征信息，其中，所述傳輸特征信息包括以下至少一種信息：接口類(lèi)型、數(shù)據(jù)傳輸位寬以及指令操作位寬。
4、在一實(shí)施例中，所述方法還包括：遍歷所述驗(yàn)證信息相對(duì)應(yīng)的硬件描述代碼，獲取所述傳輸特征信息，進(jìn)而生成所述驗(yàn)證平臺(tái)。
5、在一實(shí)施例中，通過(guò)所述驗(yàn)證指令集中的驗(yàn)證指令來(lái)調(diào)用所述任務(wù)模版集和所述傳輸數(shù)據(jù)集，生成所述測(cè)試激勵(lì)，其中，所述驗(yàn)證指令與所述驗(yàn)證信息中擬驗(yàn)證功能對(duì)應(yīng)的驗(yàn)證需求相關(guān)聯(lián)。在一實(shí)施例中，所述方法還包括：調(diào)用所述驗(yàn)證任務(wù)模版集，通過(guò)構(gòu)造所述驗(yàn)證指令集中的指令和所述驗(yàn)證傳輸數(shù)據(jù)集中的數(shù)據(jù)的多個(gè)組合，生成所述測(cè)試用例；以及通過(guò)所述測(cè)試用例，對(duì)所述接口進(jìn)行驗(yàn)證，以生成驗(yàn)證結(jié)果。
6、在一實(shí)施例中，所述步驟s2還包括：基于所述驗(yàn)證信息確定驗(yàn)證所需的變量，所述變量包括驗(yàn)證指令位寬和傳輸數(shù)據(jù)位寬；基于所述變量，判斷所述原始數(shù)據(jù)庫(kù)文件中是否包含與所述變量相對(duì)應(yīng)的信息，并基于判斷結(jié)果來(lái)確定所述驗(yàn)證數(shù)據(jù)庫(kù)。
7、在一實(shí)施例中，所述方法還包括：識(shí)別所述驗(yàn)證指令，并基于所述驗(yàn)證指令位寬來(lái)確定所述原始數(shù)據(jù)庫(kù)文件中的原始指令集是否包含所述驗(yàn)證指令，其中，所述原始數(shù)據(jù)庫(kù)包括所述原始指令集、原始傳輸數(shù)據(jù)集以及原始任務(wù)模版集；若是，則基于所述原始指令集確定所述驗(yàn)證指令集，其中，所述驗(yàn)證指令集中的指令數(shù)量小于等于所述原始指令集的指令數(shù)量，若否，則更新所述原始指令集，并基于更新后的原始指令集確定所述驗(yàn)證指令集。
8、在一實(shí)施例中，所述方法還包括：基于所述驗(yàn)證指令集與所述原始任務(wù)模版集之間的映射關(guān)系，來(lái)確定所述驗(yàn)證任務(wù)模版集，進(jìn)而確定所述驗(yàn)證傳輸數(shù)據(jù)集。
9、本申請(qǐng)另一方面公開(kāi)了一種電子設(shè)備，其包括：存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器上并可在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)上述任意一項(xiàng)所述的方法。
10、本申請(qǐng)另一方面公開(kāi)了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有一個(gè)或者多個(gè)程序，所述一個(gè)或者多個(gè)程序可被一個(gè)或者多個(gè)處理器執(zhí)行，以實(shí)現(xiàn)上述任意一項(xiàng)所述的方法。
本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
1.一種用于集成電路的驗(yàn)證方法，其特征在于，所述方法包括：
2.如權(quán)利要求1所述的驗(yàn)證方法，其特征在于，所述驗(yàn)證信息包括傳輸特征信息，其中，所述傳輸特征信息包括以下至少一種信息：接口類(lèi)型、數(shù)據(jù)傳輸位寬以及指令操作位寬。
3.如權(quán)利要求2所述的驗(yàn)證方法，其特征在于，還包括：
4.如權(quán)利要求3所述的驗(yàn)證方法，其特征在于，
5.如權(quán)利要求4所述的驗(yàn)證方法，其特征在于，還包括：
6.如權(quán)利要求2所述的驗(yàn)證方法，其特征在于，所述步驟S2還包括：
7.如權(quán)利要求6所述的驗(yàn)證方法，其特征在于，所述方法還包括：
8.如權(quán)利要求7所述的驗(yàn)證方法，其特征在于，
9.一種驗(yàn)證設(shè)備，其特征在于，所述驗(yàn)證設(shè)備包括：存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器上并可在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至8中任意一項(xiàng)所述的方法。
10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有一個(gè)或者多個(gè)程序，所述一個(gè)或者多個(gè)程序可被一個(gè)或者多個(gè)處理器執(zhí)行，以實(shí)現(xiàn)如權(quán)
...【技術(shù)特征摘要】
1.一種用于集成電路的驗(yàn)證方法，其特征在于，所述方法包括：
2.如權(quán)利要求1所述的驗(yàn)證方法，其特征在于，所述驗(yàn)證信息包括傳輸特征信息，其中，所述傳輸特征信息包括以下至少一種信息：接口類(lèi)型、數(shù)據(jù)傳輸位寬以及指令操作位寬。
3.如權(quán)利要求2所述的驗(yàn)證方法，其特征在于，還包括：
4.如權(quán)利要求3所述的驗(yàn)證方法，其特征在于，
5.如權(quán)利要求4所述的驗(yàn)證方法，其特征在于，還包括：
6.如權(quán)利要求2所述的驗(yàn)證方法，其特征在于，所述步驟s2還包括：
7...
【專(zhuān)利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：周勇，李明，
申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人：合肥市山海半導(dǎo)體技術(shù)有限公司，
類(lèi)型：發(fā)明
國(guó)別省市：
還沒(méi)有人留言評(píng)論。發(fā)表了對(duì)其他瀏覽者有用的留言會(huì)獲得科技券。