具有可伸縮的絕緣套筒的測試導線探針制造技術

本發明專利技術涉及具有可標引的探針針尖的測試探針。在一個實施例中，絕緣套筒從測試探針延伸，并且圍繞暴露的探針針尖的一部分。絕緣套筒相對于探針針尖可移動，并且可以標引至少兩個位置。例如，絕緣套筒鎖止入第一位置，以提供從絕緣套筒暴露的探針針尖的第一長度，并且絕緣套筒鎖止入第二位置，以提供從絕緣套筒暴露的探針針尖的第二長度。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術通常涉及測試工具導線探針，尤其涉及一個或多個關于具有可調整長度的探針針尖的測試探針的實施例。
技術介紹
測試工具，例如萬用表、電壓表、示波器等、用于測量各種電子設備中的電參數。圖1示例了典型的測試工具100。測試工具100具有測試探針102，該探針耦合至測試工具100的輸入/輸出104。測試探針102具有測試導線106，該測試導線具有耦合至測試工具100的輸入/輸出104的第一端部108以及耦合至探針體112的第二端部110。探針體112包括針尖114，其耦合至將要測量或測試的設備(未示出)的測試點(未示出)。本領域技術人員將清楚的是，第二測試探針(未示出)，例如接地接頭，可以耦合至輸入/輸出105。 通常，不同長度的測試探針針尖用于不同的測試應用中。在過去，為了滿足不同長度探針針尖的需求，各種具有不同探針針尖長度的測試探針組件與測試工具一起使用。例如，使用者可以具有兩套測試探針， 一套探針具有較長長度的探針針尖，另一套具有較短的探針針尖。滿足不同長度探針的需求的另一種方法是使用可從探針手柄或主體上移除的探針針頭。因此，不用替換整個探針組件，只要替換探針針尖。然而，這些解決方案都要求使用者不得不管理兩套測試探針，或者整個測試探針組件或者測試探針針尖。通常，測試探針位于阻塞的位置，并且當切換不同的探針時，具有多個測試探針或探針針尖可能導致對使用者的問題。例如，使用者可能在攜帶額外的探針時有困難，或裝置可能將使用者置于麻煩的境地，以致更換探針困難。此外，因為有分開的測試探針，使用者可能會將探針放錯位置、掉落或遺失，以致當需要時，不能獲得適當的探針或探針針尖。 然而，最近，測試探針已經被設計得帶探針針尖，該探針針尖在探針手柄或主體內可滑動。因此，當需要不同長度探針針尖時，不用替換整個探針組件，探針針尖滑入或滑出探針體，并且以所需的長度鎖止在適當的位置。例如，當需要更長的探針針尖時，可以松開將探針針尖固定在探針體內的鎖止機構，以使得探針針尖能自由地在探針體內移動。使用者可以隨后滑動探針針尖，以使得探針針尖的更大部分從探針體暴露，并且將探針針尖鎖止在適當的位置。因此，不用替換探針組件或探針針尖，單個探針針尖可以用作變長度的探針針尖。當需要長的探針長度時，探針針尖滑出探針體，以使得更多的探針針尖從探針體延伸。當需要短的探針長度時，一些暴露的探針針尖滑回到探針體內，以使得更少的探針針尖從探針體延伸。因此，單個探針針尖提供多功能性，并且使用者不需要攜帶具有不同長度的探針。 近來，已經開發了安全標準，以限制暴露的探針針尖的長度。尤其，國際電子技術委員會(IEC)，在技術委員會(TC66)的指導下，形成涉及稱之為IEC-61010-031的測試探針的測試和測量裝置的安全標準。該標準詳細說明了對各種測試應用的測試探針針尖的需要。例如，安全標準詳細說明了在工業應用中使用的探針的暴露金屬針尖的長度，稱之為種類III(CAT III)與種類IV(CAT IV)安裝，在長度上必須小于4mm。低能量應用的探針針尖，例如在家庭應用或種類II(CAT II)安裝中使用的，在長度上必須小于18mm。具有在長度上有18mm暴露金屬的探針針尖非常重要，因為這使得使用者易于將探針針尖插入標準壁插座內以快速和精確地測量，這用4mm的探針針尖是不可能的。對于存在高能的工業應用(CAT III與CAT IV)，減少的4mm的探針針尖對于輔助降低電弧風險與電弧閃光危險是非常重要的，這在CAT II環境中不成問題。 因此，當使用上述可滑動的探針針尖時，使用者將不知道探針針尖的暴露長度是否處于指定的長度以滿足安全標準，除非每次在探針針尖的暴露長度上進行測量，調整探針針尖長度。這需要使用者攜帶測量工具，并且導致耗費時間的第二步驟。盡管使用者可以暴露一部分探針針尖，該部分探針針尖明顯少于以上論述的安全標準所需的，并且不必進行測量，大部分應用需要在安全標準之下允許的整個量。例如，在家庭應用中，使用者需要探針針尖非常接近18mm的最大長度，因為其允許使用者將探針針尖插入標準壁插座內。 因此，需要具有可調整長度的探針針尖的測試探針，該測試探針標引預定長度。此外，需要可調整的探針針尖，該探針針尖向使用者傳達暴露的探針針尖的長度。
技術實現思路
本專利技術的實施例指向與測試和測量裝置使用的測試探針，并且更具體地，一個或多個實施例涉及具有探針針尖的測試探針，該探針針尖具有對至少兩個位置可標引的長度。在本專利技術的一方面中，測試探針包括具有主區段與第一端部的導體元件，第一端部由導電針尖限定。測試探針進一步包括圍繞導體元件的主區段的一部分的絕緣元件。測試探針進一步包括定位于絕緣元件與導體元件之間的絕緣套筒。絕緣套筒可以被機械地耦合至絕緣元件，以使得絕緣套筒相對于導體元件軸向運動。 在本專利技術的另一方面中，測試探針包括在第一端部處具有開口的絕緣元件。絕緣元件的內表面包括至少一個突起。測試探針進一步包括定位于絕緣元件的開口中的絕緣套筒。絕緣套筒具有至少一個槽，其與至少一個突起中的相應的一個對齊。測試探針進一步包括從絕緣套筒的第一端部延伸的導體元件。導體元件具有限定第一端部的導電針尖。 本專利技術的另一方面包括用于調整從絕緣元件暴露的探針針尖的長度的方法。該方法包括提供從測試探針延伸的絕緣套筒的第一長度，并且通過測試探針中的物理特性，從第一長度至第二長度改變絕緣套筒從測試探針延伸的長度。第二長度為距第一長度的特定距離。附圖說明圖1為根據現有技術的測試工具的示意圖。圖2A為根據本專利技術的-一個實施例的測試探針的示意圖。圖2B為根據本專利技術的-一個實施例的測試探針的示意圖。圖3A為根據本專利技術的-一個實施例的測試探針的橫截面示意圖。圖3B為根據本專利技術的-一個實施例的測試探針的橫截面示意圖。圖4A為根據本專利技術的-一個實施例的絕緣套筒的等角示意圖。圖4B為根據本專利技術的-一個實施例的絕緣套筒的等角示意圖。圖5A為根據本專利技術的-一個實施例的探針體的頂部分的等角示意圖。 圖5B為根據本專利技術的一個實施例的探針體的頂部分的橫截面示意圖。 圖5C為根據本專利技術的一個實施例的探針體的頂部分的示意圖。具體實施例方式本專利技術的實施例指向與測試和測量裝置使用的測試探針，并且更具體地，一個或多個實施例涉及具有探針針尖的測試探針，該探針針尖具有對至少兩個位置可標引的長度。在某些實施例中，測試探針包括標引多個位置的可伸縮絕緣套筒。可以使用機械系統、光學系統、或其任何組合來標引絕緣套筒。以下列出一些細節，以提供對本專利技術的實施例的足夠理解。然而，對本領域技術人員而言，應該清楚的是，本專利技術的各種實施例可以在沒有這些特定細節的情況下實施。 圖2A與2B為根據本專利技術的一個實施例的測試探針200的示意圖。圖2A與2B中的測試探針200包括探針針尖202與探針體204。探針針尖202由導電材料制成，并且被配置成設置得與電設備(未示出)的測試點(未示出)電通信。探針體204由絕緣材料制成。探針體204與探針針尖202被配置成耦合于測試導線。測試導線被配置成耦合于測試工具(未示出)的輸入/輸出。 探針體204包括手柄部分206與頂部分208。手柄部分206可以被耦合于測試導線。頂部分208可以包括鼻端210、護指件212、以及頸圈214本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種測試探針，包括：導體元件，具有主區段與第一端部，所述第一端部由導電針尖限定；絕緣元件，圍繞所述導體元件的所述主區段的一部分；以及絕緣套筒，定位于所述絕緣元件與所述導體元件之間，所述絕緣套筒機械地耦合于所述絕緣元件，以使得所述絕緣套筒相對于所述導體元件軸向運動。

【技術特征摘要】
US 2009-1-22 12/358,144一種測試探針，包括導體元件，具有主區段與第一端部，所述第一端部由導電針尖限定；絕緣元件，圍繞所述導體元件的所述主區段的一部分；以及絕緣套筒，定位于所述絕緣元件與所述導體元件之間，所述絕緣套筒機械地耦合于所述絕緣元件，以使得所述絕緣套筒相對于所述導體元件軸向運動。2. 根據權利要求1所述的測試探針，其中，所述機械耦合包括所述絕緣元件的內表面 上的突起，所述突起與所述絕緣套筒上的槽對齊。3. 根據權利要求2所述的測試探針，其中，旋轉所述絕緣元件，使得所述突起將所述絕 緣套筒從第一位置移動至第二位置。4. 根據權利要求2所述的測試探針，其中，所述槽具有在第一端部處的第一凹槽以及 在第二端部處的第二凹槽。5. 根據權利要求4所述的測試探針，其中，當所述突起被定位于所述第一凹槽或所述 第二凹槽中時，需要比當所述突起被定位于所述槽中時更大的力，來相對于所述絕緣套筒 旋轉所述絕緣元件。6. 根據權利要求1所述的測試探針，其中，所述絕緣元件具有與第二絕緣元件上的標 記部分對齊的開口 ，所述標記部分描述了從所述絕緣套筒的端部暴露的所述導體元件的長 度，或從所述絕緣套筒的端部暴露的所述導體元件的長度的種類安全等級。7. —種測試探針，包括絕緣元件，具有在第一端部處的開口 ，所述絕緣元件的內表面包括至少一個突起； 絕緣套筒，定位于所述絕緣元件的開口內，所述絕緣套筒具有至少一個槽，該槽與至少一個突起中的相應的一個對齊；導體元件，從所述絕緣套筒的第一端部延伸，所述導體元件具有限定第一端部的導電針尖。8. 根據權利要求7所述的測試探針，其中，相對于所述絕緣套筒旋轉所述絕緣元件，以 使得所述絕緣套筒相對于所述導體元件滑動。9. 根據權利要求7所述的測試探針，其中，所述至少一個槽為螺旋線。10. 根據權利要求9所述的測試探針，其中，所述螺旋線包括在第一端部處的第一凹槽 與在第二端部處的第二凹槽。11. 根據權利要求io所述...

【專利技術屬性】
技術研發人員：SC彼得里克，
申請(專利權)人：弗盧克公司，
類型：發明
國別省市：US[美國]