【技術實現步驟摘要】
本申請涉及光電，具體涉及一種光電器件的后處理方法、后處理裝置及可讀存儲介質。
技術介紹
1、隨著量子點發光二極管(qled)、有機發光二極管(oled)等器件的飛速發展，其在固態照明和顯示領域具有巨大的應用潛力。但器件性能達不到理想量產要求，嚴重制約著器件的實際應用。目前器件在制備之后，首先會出現器件的正向老化(即正老化)表征，即短時間存儲后器件性能具有一定改善，包括光電性能的提升，器件工作壽命的增加等。因此，利用器件正向老化的特征對器件進行后處理，能夠獲取性能更高的器件。
2、但如何基于正向老化對器件進行后處理，制備性能較好的器件，則成為本領域亟待解決的技術問題。
技術實現思路
1、本申請提供一種光電器件的后處理方法、后處理裝置及可讀存儲介質，旨在制備性能較好的器件。
2、一方面，本申請提供一種光電器件的后處理方法，所述方法包括：獲取待處理光電器件的初始參數；根據所述初始參數，確定所述待處理光電器件的后處理參數；根據所述后處理參數對所述待處理光電器件進行后處理；其中，所述后處理參數包括處理方式、后處理環境參數以及處理時間。
3、在一些實施例中，根據所述初始參數，確定所述待處理光電器件的后處理參數，包括：將所述初始參數輸入已訓練的后處理參數預測模型，得到所述待處理光電器件的后處理參數；其中，所述后處理參數預測模型基于機器學習模型及樣本集進行訓練得到；所述樣本集包括樣本器件的種類參數、后處理參數、以及與所述種類參數和所述后處理參數對應的性能參數。<...
【技術保護點】
1.一種光電器件的后處理方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的后處理方法，其特征在于，根據所述初始參數，確定所述待處理光電器件的后處理參數，包括：
3.根據權利要求2所述的后處理方法，其特征在于，所述獲取待處理光電器件的初始參數，包括：
4.根據權利要求3所述的后處理方法，其特征在于，所述獲取待處理光電器件的初始參數，還包括：
5.根據權利要求4所述的后處理方法，其特征在于，所述處理方式包括靜置處理；和/或
6.根據權利要求3所述的后處理方法，其特征在于，所述獲取所述待處理光電器件的種類參數，包括：
7.根據權利要求2所述的后處理方法，其特征在于，所述將所述初始參數輸入已訓練的后處理參數預測模型，得到所述待處理光電器件的后處理參數之前，包括：
8.根據權利要求7所述的后處理方法，其特征在于，所述對已進行后處理的每一個所述樣本器件進行測試，并獲取每一個所述樣本器件的所述性能參數，包括：
9.根據權利要求8所述的后處理方法，其特征在于，所述對所述樣本器件進行微波輻照，并獲取所述
10.根據權利要求7所述的后處理方法，其特征在于，所述基于所述溫度變化獲取所述樣本器件的所述內部含水量之后，還包括：
11.根據權利要求10所述的后處理方法，其特征在于，所述根據所述內部含水量、所述發光性能參數以及所述壽命參數確定所述性能參數，包括：
12.根據權利要求1所述的后處理方法，其特征在于，所述根據所述后處理參數對所述待處理光電器件進行后處理之后，還包括：
13.一種光電器件的后處理裝置，其特征在于，包括：
14.一種光電器件的后處理裝置，其特征在于，包括：
15.根據權利要求14所述的裝置，其特征在于，還包括：
16.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質中存儲有程序指令，所述程序指令被處理器執行時實現權利要求1至12中任一項所述的光電器件的后處理方法。
...【技術特征摘要】
1.一種光電器件的后處理方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的后處理方法，其特征在于，根據所述初始參數，確定所述待處理光電器件的后處理參數，包括：
3.根據權利要求2所述的后處理方法，其特征在于，所述獲取待處理光電器件的初始參數，包括：
4.根據權利要求3所述的后處理方法，其特征在于，所述獲取待處理光電器件的初始參數，還包括：
5.根據權利要求4所述的后處理方法，其特征在于，所述處理方式包括靜置處理；和/或
6.根據權利要求3所述的后處理方法，其特征在于，所述獲取所述待處理光電器件的種類參數，包括：
7.根據權利要求2所述的后處理方法，其特征在于，所述將所述初始參數輸入已訓練的后處理參數預測模型，得到所述待處理光電器件的后處理參數之前，包括：
8.根據權利要求7所述的后處理方法，其特征在于，所述對已進行后處理的每一個所述樣本器件進行測試，并獲取每一個所述樣本器件的所述性能參數，包括：
9.根...
【專利技術屬性】
技術研發人員：洪佳婷，敖資通，王勁，賀曉光，黃子健，黃盼寧，
申請(專利權)人：深圳市TCL高新技術開發有限公司，
類型：發明
國別省市：
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