本發明專利技術屬于高壓測試技術領域，具體涉及一種無電源快速檢測接觸的高壓測試系統及測試方法，包括：控制模塊，與所述控制模塊電性連接的繼電器模塊；所述繼電器模塊通過觸點模塊連接待測件；所述繼電器模塊適于接通控制模塊與觸點模塊，以使得觸點模塊與控制模塊之間形成回路；實現了在傳統的接觸檢查上移除了電源和導通反應元件，通過控制模塊發送并接收特制的脈沖或者調制波信號，實現了體積更小，速度更快的接觸檢查。
【技術實現步驟摘要】
本專利技術屬于高壓測試，具體涉及一種無電源快速檢測接觸的高壓測試系統及測試方法。
技術介紹
1、相關技術的高壓測試儀器中的接觸檢查功能多是對待測件接觸點施加電壓或者電流，中央控制元件通過adc采樣電壓或者電流來判斷待測件是否接觸良好，還有一部分接觸檢查功能是對待測件接觸點施加電壓，將施加的電壓通過導通反應元件轉換為電平信號，由中央控制元件檢測電平信號來判斷待測件是否接觸良好。以上兩種類型的接觸檢查，都需要穩定的電壓源或者電流源，要么需要進行數模轉換采樣，要么將電壓轉換為電平信號，由中央控制元件采樣或者檢測，電路復雜，而且有轉換過程，所需要的時間也比較長。需要導通反應元件轉換電平信號以進行檢測的方法中，電源對檢測電路供電，利用導通反應元件將電壓轉換為電平信號，再由中央控制元件檢測電平信號，以此來進行接觸點檢查測試，此種方法需要導通反應元件將電壓轉換為電平信號，轉換時間從微秒到毫秒不等（一般光耦開關頻率為10khz-100khz，即100μs-10μs），也浪費不少時間，而且，現在很多機器是多通道儀器，例如某臺儀器為12800通道，每個通道檢測通斷時間為50μs，則全部檢查完畢需要640ms，而人眼對幀率的感知是20ms，可以很明顯的感到速度的延時，更多通道需要更多的時間，影響生產效率。
2、因此，基于上述技術問題需要設計一種新的無電源快速檢測接觸的高壓測試系統及測試方法。
技術實現思路
1、本專利技術的目的是提供一種無電源快速檢測接觸的高壓測試系統及測試方法。
>2、為了解決上述技術問題，本專利技術提供了一種無電源快速檢測接觸的高壓測試系統，包括：3、控制模塊，與所述控制模塊電性連接的繼電器模塊；
4、所述繼電器模塊通過觸點模塊連接待測件；
5、所述繼電器模塊適于接通控制模塊與觸點模塊，以使得觸點模塊與控制模塊之間形成回路。
6、進一步，所述繼電器模塊包括：第一繼電器；
7、所述第一繼電器包括兩個引腳，所述第一繼電器其中一個引腳連接所述控制模塊的輸出引腳，另一個引腳連接觸點模塊。
8、進一步，所述繼電器模塊還包括：第二繼電器；
9、所述第二繼電器至少包括三個引腳；
10、所述第二繼電器分別與所述控制模塊的輸入引腳、所述觸點模塊和高壓模塊連接。
11、進一步，所述觸點模塊包括若干觸點，以及觸點均連接有對應的正繼電器和負繼電器；
12、所述正繼電器連接所述第一繼電器；
13、所述負繼電器連接所述第二繼電器。
14、進一步，當需要檢測觸點通道是否良好時，將第一繼電器閉合，以及將第二繼電器調整至使得控制模塊的輸入引腳與觸電模塊連接。
15、進一步，當需要檢測一個觸點的通道時，將觸點對應的正繼電器和負繼電器閉合。
16、進一步，當檢測觸點通道是否良好時，控制模塊發出信號通過相應觸點的通道后再由控制模塊接收，若控制模塊接收到信號則判斷相應觸點的通道良好。
17、進一步，在需要進行高壓測試時，通過調整第二繼電器使得觸電模塊與高壓模塊連接。
18、另一方面，本專利技術還提供一種采用上述無電源快速檢測接觸的高壓測試系統的測試方法，包括：
19、通過繼電器模塊接通控制模塊與觸點模塊，以使得觸點模塊與控制模塊之間形成回路。
20、進一步，當需要檢測觸點通道是否良好時，將第一繼電器閉合，以及將第二繼電器調整至使得控制模塊的輸入引腳與觸電模塊連接；
21、當需要檢測一個觸點的通道時，將觸點對應的正繼電器和負繼電器閉合；
22、控制模塊發出信號通過相應觸點的通道后再由控制模塊接收，若控制模塊接收到信號則判斷相應觸點的通道良好。
23、本專利技術的有益效果是，本專利技術通過控制模塊，與所述控制模塊電性連接的繼電器模塊；所述繼電器模塊通過觸點模塊連接待測件；所述繼電器模塊適于接通控制模塊與觸點模塊，以使得觸點模塊與控制模塊之間形成回路；實現了在傳統的接觸檢查上移除了電源和導通反應元件，通過控制模塊發送并接收特制的脈沖或者調制波信號，實現了體積更小，速度更快的接觸檢查。
24、本專利技術的其他特征和優點將在隨后的說明書中闡述，并且，部分地從說明書中變得顯而易見，或者通過實施本專利技術而了解。本專利技術的目的和其他優點在說明書以及附圖中所特別指出的結構來實現和獲得。
25、為使本專利技術的上述目的、特征和優點能更明顯易懂，下文特舉較佳實施例，并配合所附附圖，作詳細說明如下。
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【技術保護點】
1.一種無電源快速檢測接觸的高壓測試系統，其特征在于，包括：
2.如權利要求1所述的無電源快速檢測接觸的高壓測試系統，其特征在于：
3.如權利要求2所述的無電源快速檢測接觸的高壓測試系統，其特征在于：
4.如權利要求3所述的無電源快速檢測接觸的高壓測試系統，其特征在于：
5.如權利要求4所述的無電源快速檢測接觸的高壓測試系統，其特征在于：
6.如權利要求5所述的無電源快速檢測接觸的高壓測試系統，其特征在于：
7.如權利要求6所述的無電源快速檢測接觸的高壓測試系統，其特征在于：
8.如權利要求7所述的無電源快速檢測接觸的高壓測試系統，其特征在于：
9.一種如權利要求1所述無電源快速檢測接觸的高壓測試系統采用的測試方法，其特征在于，包括：
10.如權利要求9所述的測試方法，其特征在于：
【技術特征摘要】
1.一種無電源快速檢測接觸的高壓測試系統，其特征在于，包括：
2.如權利要求1所述的無電源快速檢測接觸的高壓測試系統，其特征在于：
3.如權利要求2所述的無電源快速檢測接觸的高壓測試系統，其特征在于：
4.如權利要求3所述的無電源快速檢測接觸的高壓測試系統，其特征在于：
5.如權利要求4所述的無電源快速檢測接觸的高壓測試系統，其特征在于：
【專利技術屬性】
技術研發人員：申寧夏，趙浩華，孫伯樂，高志齊，劉瑜，劉亞國，
申請(專利權)人：常州同惠電子股份有限公司，
類型：發明
國別省市：
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