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    用于檢測功率轉(zhuǎn)換器的DC總線電容器的老化的方法技術(shù)

    技術(shù)編號:41753901 閱讀:15 留言:0更新日期:2024-06-21 21:37
    一種通過確定其電容C的最小值C<subgt;lim</subgt;來估計轉(zhuǎn)換器(1)的DC鏈路電容器(3)的剩余使用壽命的方法,在該最小值C<subgt;lim</subgt;下轉(zhuǎn)換器的性能被認(rèn)為是不足的,該方法包括:使用減小的電容器值(140,150,240,250)實(shí)現(xiàn)包括電機(jī)驅(qū)動模型和電容器模型的實(shí)時模型(130,230),以計算足以將DC電壓紋波、電機(jī)電流紋波、速度紋波或轉(zhuǎn)矩紋波中的至少一個保持在指定值以下的預(yù)測最小電容C<subgt;lim</subgt;;使用所述電容器的老化曲線C<subgt;curve</subgt;計算電容器具有基于老化曲線C<subgt;curve</subgt;的估計電容的時間T<subgt;actual</subgt;和電容器將具有預(yù)測最小電容C<subgt;lim</subgt;的時間T<subgt;lim</subgt;之間的時間差,并估計所述電容器的剩余使用壽命T<subgt;actual</subgt;?T<subgt;lim</subgt;(120)。

    【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

    本專利技術(shù)涉及功率轉(zhuǎn)換器和由該功率轉(zhuǎn)換器供電的電機(jī)和泵等設(shè)備的維護(hù),并基于在所述轉(zhuǎn)換器的壽命期間測量電容器的老化,提供具有dc總線電容器的功率轉(zhuǎn)換器的剩余使用壽命(以下也稱為rul)的估計。


    技術(shù)介紹

    1、dc總線電容器是dc鏈路功率轉(zhuǎn)換器的關(guān)鍵功能部件,但由于其對工作電壓和溫度的老化敏感性,它們也是故障的主要原因。老化電容器的電容會隨著時間的推移而降低,其等效串聯(lián)電阻(以下稱為esr)會隨著時間的推移而增加。經(jīng)驗(yàn)?zāi)P陀糜诠烙嬰娙萜鲏勖褂脺y量的電壓和溫度作為輸入。通過將操作環(huán)境作為輸入并使用通用模型,可以提供被定義為電容器臨界故障的潛在壽命終止的預(yù)測。然而,這種前饋方法不能預(yù)測由于老化模型精度誤差導(dǎo)致的老化電容器引起的漂移。因此,在預(yù)測到轉(zhuǎn)換器的壽命終止事件之前,dc鏈路電容器老化的dc鏈路應(yīng)用可能變得不穩(wěn)定。因此,這種老化電容器可能產(chǎn)生電流和電壓紋波,在電容器達(dá)到其完全故障模式(開路或閉路)之前,這些紋波會降低由功率轉(zhuǎn)換器供電的設(shè)備的操作。


    技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

    1、鑒于這種情況,本專利技術(shù)涉及一種通過確定其電容c的最小值clim來估計轉(zhuǎn)換器的dc鏈路電容器的剩余使用壽命的方法,在該最小值clim下,轉(zhuǎn)換器的性能被視為不足,該方法包括:

    2、使用減小的電容器值(140,150,240,250)實(shí)現(xiàn)包括電機(jī)驅(qū)動模型和電容器模型的實(shí)時模型(130,230),以計算足以將dc電壓紋波、電機(jī)電流紋波、速度紋波或轉(zhuǎn)矩紋波中的至少一個保持在指定值以下的預(yù)測最小電容clim;

    <p>3、利用所述電容器的老化曲線ccurve計算電容器具有基于老化曲線ccurve的估計電容的時間tactual和電容器將具有預(yù)測最小電容clim的時間tlim之間的時間差,并估計所述電容器的剩余使用壽命tactual-tlim。

    4、在可以替換或組合實(shí)施例中:

    5、該方法可包括在初始化階段通過所述dc鏈路電容器的估計值的電容計算初始化所述老化曲線,以提供所述老化曲線ccurve的初始部分,并使用所述電容器的老化特性計算所述老化曲線ccurve的剩余部分。

    6、所述電容計算可包括:

    7、測量dc鏈路電容器上游的電壓源處的電壓vsrc和電流isrc;

    8、測量所述dc鏈路電容器下游的電壓vdc,并且測量電流idc或者測量輸出功率pout,并且計算所述dc鏈路電容器下游的輸入功率pdc,該輸入功率等于輸出功率pout加上轉(zhuǎn)換器損耗ploss;

    9、基于所述dc鏈路電容器下游的所述電壓vdc、電流idc或輸入功率pdc,計算所述電容器的電容值的估計。

    10、優(yōu)選地,ploss通過已知的函數(shù)ploss=f(pout)來識別。

    11、在優(yōu)選實(shí)施例中,所述電機(jī)驅(qū)動模型包括性能標(biāo)準(zhǔn)pc,包括但不限于dc電壓振蕩幅度和電機(jī)控制質(zhì)量,其中所述電機(jī)驅(qū)動模型針對不同的系統(tǒng)條件、系統(tǒng)參數(shù)和系統(tǒng)輸入電源和負(fù)載進(jìn)行模擬,以根據(jù)遞減的電容值連續(xù)評估該性能標(biāo)準(zhǔn),并定義所述最小可接受電容clim。

    12、不同條件可包括電網(wǎng)阻抗值rdc、ldc,其在驅(qū)動模型中預(yù)定義或由用戶預(yù)定義,并基于應(yīng)用負(fù)載分布和歷史。

    13、不同條件還可包括電網(wǎng)阻抗rdc,ldc,對應(yīng)于通常負(fù)載或最差情況下的電網(wǎng)阻抗rdc,ldc,具有最大額定電網(wǎng)阻抗和最大負(fù)載。

    14、該方法可進(jìn)一步包括:

    15、基于所述測量計算所述dc鏈路電容器的esr,

    16、考慮到所述dc鏈路電容器的所述esr,實(shí)現(xiàn)修改的電機(jī)驅(qū)動模型和電容器模型,以計算允許受控系統(tǒng)穩(wěn)定性的最小電容clim和最小esr?esrlim,

    17、確定所述電容器的esr曲線esrcurve,

    18、計算(220)實(shí)際電容和預(yù)測最小電容clim之間的時間差以及實(shí)際esr和預(yù)測最小esr?esrlim之間的差,以考慮所述最小電容和最小esr之一的第一次出現(xiàn)來估計所述電容器的剩余使用壽命。

    19、所述老化曲線ccurve可基于ca(t)=eαt+β形式的電容器老化模型。

    20、該方法還可包括通過電容觀測器進(jìn)一步跟蹤電容值cactual,該電容觀測器在轉(zhuǎn)換器操作的瞬態(tài)條件下被激活。

    21、該方法還可包括使用所述電容值cactual與曲線初始化后獲得的電容器曲線ccurve的電容器cageing的比較來計算所述電容器的溫度。

    本文檔來自技高網(wǎng)
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    【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】

    1.一種通過確定轉(zhuǎn)換器(1)的DC鏈路電容器(3)的電容C的最小值Clim來估計DC鏈路電容器(3)的剩余使用壽命的方法,在該最小值Clim下,轉(zhuǎn)換器的性能被認(rèn)為是不足的,該方法包括:

    2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,包括在初始化階段期間通過所述DC鏈路電容器(3)的估計值的電容計算來初始化(100,110)所述老化曲線,以提供所述老化曲線Ccurve的初始部分,并且使用所述電容器的老化特性來計算所述老化曲線Ccurve的剩余部分。

    3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其中所述電容計算包括:

    4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其中通過已知函數(shù)Ploss=f(Pout)來識別Ploss。

    5.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法,其中所述電機(jī)驅(qū)動模型包括性能標(biāo)準(zhǔn)Pc,包括但不限于dc電壓振蕩幅度和電機(jī)控制質(zhì)量,并且其中所述電機(jī)驅(qū)動模型(130,230)針對不同的系統(tǒng)條件、系統(tǒng)參數(shù)和系統(tǒng)輸入電源和負(fù)載進(jìn)行模擬,以根據(jù)減小的電容值連續(xù)評估這種性能標(biāo)準(zhǔn),并定義所述最小可接受電容Clim。

    6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,其中所述不同條件包括電網(wǎng)阻抗值Rdc(5)、Ldc(6),所述電網(wǎng)阻抗值在驅(qū)動模型中預(yù)定義或者由用戶預(yù)定義并且基于應(yīng)用負(fù)載分布和歷史。

    7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其中所述不同條件包括電網(wǎng)阻抗Rdc(5),Ldc(6),對應(yīng)于通常負(fù)載或最壞情況場景的電網(wǎng)阻抗Rdc(5),Ldc(6),具有最大額定電網(wǎng)阻抗和最大負(fù)載。

    8.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法,進(jìn)一步包括:

    9.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法,其中所述老化曲線Ccurve基于Ca(t)=eαt+β形式的電容器老化模型。

    10.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法,包括通過電容觀測器(400)進(jìn)一步跟蹤電容值Cactual,所述電容觀測器(400)在轉(zhuǎn)換器操作的瞬態(tài)條件期間被激活。

    11.根據(jù)權(quán)利要求2和10所述的方法,包括使用所述電容值Cactual與在曲線初始化(100)之后獲得的電容器曲線Ccurve的電容器Cageing的比較來計算所述電容器的溫度。

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    【技術(shù)特征摘要】

    1.一種通過確定轉(zhuǎn)換器(1)的dc鏈路電容器(3)的電容c的最小值clim來估計dc鏈路電容器(3)的剩余使用壽命的方法,在該最小值clim下,轉(zhuǎn)換器的性能被認(rèn)為是不足的,該方法包括:

    2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,包括在初始化階段期間通過所述dc鏈路電容器(3)的估計值的電容計算來初始化(100,110)所述老化曲線,以提供所述老化曲線ccurve的初始部分,并且使用所述電容器的老化特性來計算所述老化曲線ccurve的剩余部分。

    3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其中所述電容計算包括:

    4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其中通過已知函數(shù)ploss=f(pout)來識別ploss。

    5.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法,其中所述電機(jī)驅(qū)動模型包括性能標(biāo)準(zhǔn)pc,包括但不限于dc電壓振蕩幅度和電機(jī)控制質(zhì)量,并且其中所述電機(jī)驅(qū)動模型(130,230)針對不同的系統(tǒng)條件、系統(tǒng)參數(shù)和系統(tǒng)輸入電源和負(fù)載進(jìn)行模擬,以根據(jù)減小的電容值連續(xù)評估這種性能標(biāo)準(zhǔn),并定義所述最小可接受電容clim。

    【專利技術(shù)屬性】
    技術(shù)研發(fā)人員:A·杜特雷M·科泰奇
    申請(專利權(quán))人:施耐德東芝換流器歐洲公司
    類型:發(fā)明
    國別省市:

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