【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及機械設備，尤其是一種電子元件測試裝置。
技術介紹
1、氣體傳感器由有孔探頭和無孔探頭組裝，為了有效檢測到冷媒的電信號，需要常溫下將無冷媒條件下的輸出電壓控制在1v～3v的范圍內，這就需要挑選特性一樣的ntc熱敏電阻以適配有孔探頭和無孔探頭，為此，為此，需要對ntc熱敏電阻進行分選。
技術實現思路
1、本專利技術的目的在于提供一種電子元件測試裝置，能夠對電子元件自動分選。
2、本專利技術的目的通過以下技術方案來實現：
3、一種電子元件測試裝置，包括分選機構，所述分選機構包括抓手機構、擺料件、載具以及吸料組件，所述載具包括承載件和擋持件，所述擋持件可拆卸連接于所述承載件，所述擺料件具有第一凹槽和第二凹槽，所述第一凹槽用于放置所述承載件，所述第二凹槽用于放置所述擋持件，
4、所述吸料組件包括吸嘴、吸嘴驅動組件以及第一驅動部件，所述吸嘴連接于所述吸嘴驅動組件，所述吸嘴驅動組件用于控制所述吸嘴沿所述電子元件測試裝置的高度方向移動，所述吸嘴驅動組件與所述第一驅動部件連接，所述抓手機構用于將所述擋持件放入所述第二凹槽。
5、本專利技術提供的電子元件測試裝置，承載件位于第一凹槽，抓手機構將擋持件放置于第二凹槽，吸嘴驅動組件控制吸嘴從承載件吸取電子元件，第一驅動部件控制吸嘴平移，實現對電子元件進行自動分選。
【技術保護點】
1.一種電子元件測試裝置，其特征在于，包括分選機構(30)，所述分選機構(30)包括抓手機構(6)、擺料件(301)、載具(20)以及吸料組件(302)，所述載具包括承載件(201)和擋持件(202)，所述擋持件(202)可拆卸連接于所述承載件(201)，所述擺料件(301)具有第一凹槽(3011)和第二凹槽(3012)，所述第一凹槽(3011)用于放置所述承載件(201)，所述第二凹槽(3012)用于放置所述擋持件(202)，
2.如權利要求1所述的電子元件測試裝置，其特征在于，所述擺料件(301)為一體件，所述第一凹槽(3011)相對所述第二凹槽(3012)靠近所述吸料組件(302)，所述第一凹槽(3011)以及所述第二凹槽(3012)均自所述擺料件(301)的表面向內凹設而成。
3.如權利要求2所述的電子元件測試裝置，其特征在于，所述電子元件測試裝置還包括第二驅動部件(40)，所述擺料件(301)連接于所述第二驅動部件(40)，所述第二驅動部件(40)用于控制所述擺料件(301)沿所述電子元件測試裝置的寬度方向(W)移動，所述第一凹槽(3011)和所
4.如權利要求3所述的電子元件測試裝置，其特征在于，所述承載件(201)具有多個容置槽(2011)，所述容置槽(2011)用于放置所述電子元件，所述擋持件(202)用于接觸所述載具(20)的所述容置槽(2011)的開口端，
5.如權利要求4所述的電子元件測試裝置，其特征在于，所述抓手機構(6)包括抓手(61)、夾持驅動部件(62)以及升降驅動組件(64)，所述抓手(61)連接于所述夾持驅動部件(62)，所述夾持驅動部件(62)連接于所述升降驅動組件(64)，所述電子元件測試裝置包括第一平移驅動件(65)，所述升降驅動組件(64)連接于第一平移驅動件(65)，所述第一平移驅動件(65)用于控制所述抓手(61)沿所述電子元件測試裝置的長度方向(L)移動。
6.如權利要求5所述的電子元件測試裝置，其特征在于，所述抓手(61)包括兩個夾持部件(611)，所述夾持部件(611)設有第一凸起(6111)和第二凸起(6112)，所述承載件(201)和所述擋持件(202)均具有對接孔(203)，所述抓手(61)具有第一夾持狀態和第二夾持狀態，
7.如權利要求1所述的電子元件測試裝置，其特征在于，所述電子元件測試裝置包括烘干機(60)，所述烘干機(60)包括機箱(601)和加熱組件(602)，所述機箱(601)包括第一主體部(6011)、第二主體部(6012)和凹部(6013)，所述凹部(6013)連接所述第一主體部(6011)和所述第二主體部(6012)，所述加熱組件(602)設于所述第一主體部(6011)，所述第一主體部(6011)具有第一風口(601a)，所述第二主體部(6012)具有第二風口(601b)，所述第一風口(601a)與所述第二風口(601b)相對，所述凹部(6013)具有的腔體連通所述第一主體部(6011)的腔體和所述第二主體部(6012)的腔體，
8.如權利要求7所述的電子元件測試裝置，其特征在于，所述電子元件測試裝置包括導向座(701)、導向軌(702)和底板(703)，所述擺料件(301)連接于所述導向座(701)，所述導向軌(702)連接于底板(703)，所述導向座(701)可滑動連接于所述底板(703)，所述烘干機(60)的所述凹部(6013)收納于所述底板(703)與所述導向座(701)和所述擺料件(301)共同圍成的空間。
9.如權利要求1所述的電子元件測試裝置，其特征在于，所述吸嘴驅動組件包括吸嘴驅動件(3022)、第一固定座(3023)和第二固定座(3024)，所述吸嘴驅動件(3022)連接于所述第一固定座(3023)，所述吸嘴(3021)連接于所述第二固定座(3024)，所述第二固定座(3024)連接于所述吸嘴驅動件(3022)，所述第一固定座(3023)連接于所述第一驅動部件(50)。
10.如權利要求1所述的電子元件測試裝置，其特征在于，所述分選機構(30)具有第一狀態和第二狀態，
...【技術特征摘要】
1.一種電子元件測試裝置，其特征在于，包括分選機構(30)，所述分選機構(30)包括抓手機構(6)、擺料件(301)、載具(20)以及吸料組件(302)，所述載具包括承載件(201)和擋持件(202)，所述擋持件(202)可拆卸連接于所述承載件(201)，所述擺料件(301)具有第一凹槽(3011)和第二凹槽(3012)，所述第一凹槽(3011)用于放置所述承載件(201)，所述第二凹槽(3012)用于放置所述擋持件(202)，
2.如權利要求1所述的電子元件測試裝置，其特征在于，所述擺料件(301)為一體件，所述第一凹槽(3011)相對所述第二凹槽(3012)靠近所述吸料組件(302)，所述第一凹槽(3011)以及所述第二凹槽(3012)均自所述擺料件(301)的表面向內凹設而成。
3.如權利要求2所述的電子元件測試裝置，其特征在于，所述電子元件測試裝置還包括第二驅動部件(40)，所述擺料件(301)連接于所述第二驅動部件(40)，所述第二驅動部件(40)用于控制所述擺料件(301)沿所述電子元件測試裝置的寬度方向(w)移動，所述第一凹槽(3011)和所述第二凹槽(3012)沿所述寬度方向(w)排布于所述擺料件(301)。
4.如權利要求3所述的電子元件測試裝置，其特征在于，所述承載件(201)具有多個容置槽(2011)，所述容置槽(2011)用于放置所述電子元件，所述擋持件(202)用于接觸所述載具(20)的所述容置槽(2011)的開口端，
5.如權利要求4所述的電子元件測試裝置，其特征在于，所述抓手機構(6)包括抓手(61)、夾持驅動部件(62)以及升降驅動組件(64)，所述抓手(61)連接于所述夾持驅動部件(62)，所述夾持驅動部件(62)連接于所述升降驅動組件(64)，所述電子元件測試裝置包括第一平移驅動件(65)，所述升降驅動組件(64)連接于第一平移驅動件(65)，所述第一平移驅動件(65)用于控制所述抓手(61)沿所述電子元件測試裝置的長度方向(l)移動。
6.如權利要求5所述的電子元件測試裝置...
【專利技術屬性】
技術研發人員：請求不公布姓名，請求不公布姓名，請求不公布姓名，請求不公布姓名，請求不公布姓名，
申請(專利權)人：浙江三花智能控制股份有限公司，
類型：發明
國別省市：
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