【技術實現步驟摘要】
【國外來華專利技術】
本專利技術涉及用于測定被測定物的特性的測定用探頭。
技術介紹
1、以往，在電子構件、電子設備的制造現場，在制造中的產品、已完成的產品的高頻特性等的測定中使用測定用探頭。在專利文獻1中公開了這樣的測定用探頭(靜電對策型探頭)。圖13表示專利文獻1中公開的測定用探頭1000。
2、測定用探頭1000具備外部導體101和內部導體102。外部導體101與內部導體102之間通過電介質層109而絕緣。
3、外部導體101具備外部導體主體151和蓋體152。在外部導體主體151的一方的端部的外周面形成有外螺紋部140。蓋體152是具備一對開口的筒狀，在一方的開口的內周面形成有內螺紋部141。外部導體101通過使外螺紋部140與內螺紋部141旋合，而使外部導體主體151和蓋體152一體化。
4、內部導體102具備接觸銷106和連接導體130。接觸銷106具備銷主體121和插座122。接觸銷106的插座122被保持在電介質層109的貫通孔111內。銷主體121形成為能夠相對于插座122抽出插入。
5、在蓋體152形成有銷突出孔144。接觸銷106的銷主體121隔著絕緣體層145從銷突出孔144向外部導出。在接觸銷106形成有防脫的卡止片124。
6、專利文獻1：日本特開2001-305159號公報
7、測定用探頭1000由上述構造構成，因此只能具備一根銷主體121。
8、另外，測定用探頭1000在接觸銷106的銷主體121壞了的情況下，能夠將銷主體121從插座12
9、另外，測定用探頭1000在使蓋體152旋轉，使外螺紋部140與內螺紋部141旋合，使蓋體152和外部導體主體151一體化時，銷主體121旋轉，銷主體121、絕緣體層145有可能會損壞。同樣地，在使蓋體152朝反向旋轉，使外螺紋部140與內螺紋部141的旋合解除，使蓋體152與外部導體主體151分離時，銷主體121旋轉，銷主體121、絕緣體層145有可能會損壞。
技術實現思路
1、因此，本專利技術的目的在于提供一種能夠具備多個銷的測定用探頭。
2、另外，本專利技術的目的在于提供一種在以銷為開始的構成元件破損、發生故障的情況下，能夠容易地僅更換該構成元件的測定用探頭。
3、另外，本專利技術的目的在于提供一種在被測定物的種類、構造發生變化的情況下，能夠容易地改變銷的配置、根數、銷彼此之間的間距等的測定用探頭。
4、另外，本專利技術的目的在于提供一種在制造時、維護時，銷等不易損壞的測定用探頭。
5、本專利技術的一個實施方式所涉及的測定用探頭具備：筒狀的殼體，具有一對開口，且具有內周面及外周面；至少一根銷，由金屬構成；外部柱塞，保持銷；以及筒狀的固定部件，具有一對開口，且具有內周面及外周面，并用于將外部柱塞固定于殼體，在外部柱塞形成有第一卡止部，在固定部件形成有第二卡止部，在使第一卡止部和第二卡止部卡止的狀態下，將外部柱塞的至少一部分收容在固定部件的內部，使固定部件旋轉，通過固定部件將外部柱塞固定于殼體。
6、本專利技術的一個實施方式所涉及的測定用探頭能夠具備多個銷。即，能夠使多個銷保持于外部柱塞。
7、另外，本專利技術的一個實施方式所涉及的測定用探頭在構成元件破損、發生故障的情況下，能夠容易地僅更換該構成元件。
8、另外，本專利技術的一個實施方式所涉及的測定用探頭在被測定對象物的種類、構造發生變化的情況下，能夠容易地改變銷的配置、根數、銷彼此之間的間距等。
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1.一種測定用探頭，其中，具備：
2.根據權利要求1所述的測定用探頭，其中，
3.根據權利要求1所述的測定用探頭，其中，
4.根據權利要求3所述的測定用探頭，其中，
5.根據權利要求1所述的測定用探頭，其中，
6.根據權利要求5所述的測定用探頭，其中，
7.根據權利要求1所述的測定用探頭，其中，
8.根據權利要求1～7中任一項所述的測定用探頭，其中，
9.根據權利要求8所述的測定用探頭，其中，
10.根據權利要求1～9中任一項所述的測定用探頭，其中，
11.根據權利要求10所述的測定用探頭，其中，
12.根據權利要求1～11中任一項所述的測定用探頭，其中，
13.根據權利要求12所述的測定用探頭，其中，
14.根據權利要求13所述的測定用探頭，其中，
15.根據權利要求14所述的測定用探頭，其中，具備：
16.根據權利要求15所述的測定用探頭，其中，
17.根據權利要求1～16中任一項所述的
18.根據權利要求1～16中任一項所述的測定用探頭，其中，
19.根據權利要求17或18所述的測定用探頭，其中，
...【技術特征摘要】
【國外來華專利技術】
1.一種測定用探頭，其中，具備：
2.根據權利要求1所述的測定用探頭，其中，
3.根據權利要求1所述的測定用探頭，其中，
4.根據權利要求3所述的測定用探頭，其中，
5.根據權利要求1所述的測定用探頭，其中，
6.根據權利要求5所述的測定用探頭，其中，
7.根據權利要求1所述的測定用探頭，其中，
8.根據權利要求1～7中任一項所述的測定用探頭，其中，
9.根據權利要求8所述的測定用探頭，其中，
10.根據權利要求1～9中任一項所述的測定用探頭，其中，
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