【技術實現步驟摘要】
【國外來華專利技術】
本說明書總體涉及x射線掃描系統，更具體地，涉及單獨準直器或多個準直器中的每個準直器相對于多個檢測器元件中的相關檢測器元件的定位和定向。
技術介紹
1、為了產生射線照相圖像，除了對所產生的x射線束敏感的檢測器陣列之外，還需要用于產生x射線束的x射線輻射源。在透射掃描系統中，需要成像的物體穿過輻射源和檢測器陣列之間，并衰減x射線束，在檢測器陣列上觀察到的信號中產生對比。在該簡單模型中的所有點處，都會出現散射的x射線，這對于這種形式的透射成像是不期望的。散射的x射線會產生背景噪聲，這會使檢測器陣列上的真實x射線信號失真，并降低成像所需的對比度。散射減少是通過使用準直來實現的，準直可以各種方式來實現，以遮擋輻射源處的部分x射線束或屏蔽部分檢測系統，從而防止散射光子到達檢測器。
2、如圖1a所示，為了便于機械操作，大規(guī)模掃描系統通常具有布置成倒置l形的多個檢測器，其中檢測器105豎直布置，檢測器110水平布置。x射線源102被定位和準直成使得它可以產生入射在豎直檢測器105和水平檢測器110上的扇形束112。在豎直和水平檢測器裝置內，如圖1b所示，每個單獨的檢測器或多個單獨的檢測器115定位成使得其直接指向x射線源102。檢測器115可以在檢測器殼體(例如豎直檢測器殼體120)的范圍內形成交錯或鋸齒形布置。
3、然而，前述豎直檢測器裝置105和水平檢測器裝置110充滿了發(fā)生在每個單獨的檢測器單元115和檢測器殼體120之間的散射，如圖1c所示，其中示出了入射x射線束112的散射光子125可能采用的散射路徑。這里，每
4、因此，需要對檢測器陣列中的每個檢測器進行目標準直，以防止散射的x射線光子進入檢測器。
技術實現思路
1、結合系統、工具和方法描述和說明了以下實施例及其各方面，這些實施例和方面是示例性和說明性的，而不是限制范圍。本申請公開了許多實施例。
2、本說明書公開了一種適于檢測從輻射源發(fā)射的輻射的檢測器陣列，包括：封裝在殼體中的多個檢測器元件，其中殼體具有至少第一壁和與第一壁相距預定距離定位的第二相對壁，其中第一壁面向輻射源，其中多個檢測器元件中的每個的前側基本面向第一壁，并且其中多個檢測器元件中的每個的后側基本面向第二相對壁；以及多個準直器，其中多個準直器中的每個位于多個檢測器元件中的一個的后面，使得多個檢測器元件中的所述一個位于多個準直器中的所述每個和第一壁之間，并且使得多個準直器中的所述每個從多個檢測器元件中的所述一個的后側延伸到殼體的第二側附近的位置。
3、可選地，多個準直器中的每個從多個檢測器元件中的所述一個的后側延伸，以物理接觸殼體的第二側。
4、可選地，多個檢測器元件中的每個具有長度，其中多個準直器中的每個位于處于多個檢測器元件中的相應一個的長度的一半處的點處。
5、可選地，多個檢測器元件的每個準直器垂直于多個檢測器元件中的相應一個的后側定向。
6、可選地，多個準直器中的每個具有寬度，其中從輻射源發(fā)射的輻射是具有厚度的x射線束，其中，所述寬度在x射線束的所述厚度的10％至100％的范圍內。
7、可選地，多個準直器中的每個具有在2mm至5mm的范圍內的寬度。
8、本說明書還公開了一種用于掃描物體的檢測系統，包括：x射線源，其配置成產生投射到物體上的x射線束；檢測器陣列，其適于接收透射通過物體的x射線束，其中檢測器陣列包括封裝在殼體中的多個檢測器元件，其中殼體具有至少第一側和與第一側相距第一距離定位的第二相對側，其中多個檢測器元件中的每個位于第一側和第二相對側之間，使得每個檢測器的前側定位成以相對于前側的中心垂直的角度接收x射線束；以及多個準直器，其中多個準直器中的每個位于多個檢測器元件中的一個的后面，并且其中多個準直器中的每個垂直于多個檢測器元件中的相應一個的后側定向。
9、可選地，多個檢測器元件布置成鋸齒形布置。
10、可選地，多個檢測器元件中的每個基本朝向x射線源傾斜，用于限制x射線束的視差檢測。
11、可選地，多個檢測器元件中的每個基本朝向x射線源傾斜，使得多個檢測器元件中的每個的中心軸線直接與x射線源對準。
12、可選地，多個檢測器元件中的每個與第二相對側分開第二距離。可選地，多個準直器中的每個具有等于所述第二距離的50％至99％的長度。可選地，多個準直器中的每個具有基本等于第二距離的長度。可選地，多個準直器中的每個具有等于所述第二距離的80％至100％的長度。
13、可選地，多個檢測器元件中的每個具有長度，并且多個準直器中的每個位于處于多個檢測器元件中的相應一個的長度的40％至60％的范圍內的點處。
14、可選地，多個檢測器元件中的每個具有長度，并且多個準直器中的每個位于處于多個檢測器元件中的相應一個的長度的48％至52％的范圍內的點處。
15、可選地，多個準直器中的每個位于距離多個檢測器元件中的相應一個的后側中心10mm至0mm的范圍內。
16、可選地，x射線束是具有第一寬度的扇形束，其中多個準直器中的每個具有適于覆蓋第一寬度的50％至100％的第二寬度。
17、可選地，多個準直器中的每個具有3mm的厚度。
18、可選地，多個準直器中的每個具有在1.5mm至4.5mm的范圍內的厚度。
19、本說明書還公開了一種用于感測來自被輻射束掃描的物體的輻射的檢測器，其中輻射束由x射線輻射源產生，該檢測器包括：封裝在殼體中的多個檢測器元件，其中殼體的第一側面向輻射源，殼體的第二側與第一側相對，其中多個檢測器元件中的每個具有第三側和與第三側相對的第四側，并且其中垂直于第三側的第一軸線基本指向輻射源；以及多個準直器，其中多個準直器中的每個具有多個檢測器元件中的相關檢測器元件，其中多個準直器中的每個具有覆蓋相關檢測器元件的第四側和殼體的第二側之間的距離的全部或大部分的長度。
20、可選地，多個準直器中的每個具有面向相關檢測器元件的第四側的表面，其中該表面的第二法線也基本指向輻射源。可選地，第一和第二法線基本平行。可選地，第一法線和本文檔來自技高網...
【技術保護點】
1.一種適于檢測從輻射源發(fā)射的輻射的檢測器陣列，包括：
2.根據權利要求1所述的檢測器陣列，其中，所述多個準直器中的每個從多個檢測器元件中的所述一個的后側延伸，以物理接觸所述殼體的第二側。
3.根據權利要求1所述的檢測器陣列，其中，所述多個檢測器元件中的每個具有長度，并且其中，所述多個準直器中的每個位于處于多個檢測器元件中的相應一個的長度的一半處的點處。
4.根據權利要求1所述的檢測器陣列，其中，所述多個檢測器元件的每個準直器垂直于多個檢測器元件中的相應一個的后側定向。
5.根據權利要求1所述的檢測器陣列，其中，所述多個準直器中的每個具有寬度，其中，從所述輻射源發(fā)射的輻射是具有厚度的X射線束，并且其中，所述寬度在X射線束的所述厚度的10％到100％的范圍內。
6.根據權利要求1所述的檢測器裝置，其中，所述多個準直器中的每個具有在2mm到5mm的范圍內的寬度。
7.一種用于掃描物體的檢測系統，包括：
8.根據權利要求7所述的檢測系統，其中，所述多個檢測器元件布置成鋸齒形布置。
9.根據權
10.根據權利要求7所述的檢測系統，其中，所述多個檢測器元件中的每個基本朝向所述X射線源傾斜，使得多個檢測器元件中的每個的中心軸線直接與X射線源對準。
11.根據權利要求7所述的檢測系統，其中，所述多個檢測器元件中的每個與所述第二相對側隔開第二距離。
12.根據權利要求11所述的檢測系統，其中，所述多個準直器中的每個具有等于所述第二距離的50％至99％的長度。
13.根據權利要求11所述的檢測系統，其中，所述多個準直器中的每個具有基本等于所述第二距離的長度。
14.根據權利要求11所述的檢測系統，其中，所述多個準直器中的每個具有等于所述第二距離的80％至100％的長度。
15.根據權利要求7所述的檢測系統，其中，所述多個檢測器元件中的每個具有長度，并且其中，所述多個準直器中的每個位于處于多個檢測器元件中的相應一個的長度的40％至60％的范圍內的點處。
16.根據權利要求7所述的檢測系統，其中，所述多個檢測器元件中的每個具有長度，并且其中，所述多個準直器中的每個位于處于多個檢測器元件中的相應一個的長度的48％至52％的范圍內的點處。
17.根據權利要求7所述的檢測系統，其中，所述多個準直器中的每個位于距離所述多個檢測器元件中的相應一個的后側中心10mm至0mm的范圍內。
18.根據權利要求7所述的檢測系統，其中，所述X射線束是具有第一寬度的扇形束，并且其中，所述多個準直器中的每個具有適于覆蓋第一寬度的50％至100％的第二寬度。
19.根據權利要求7所述的檢測系統，其中，所述多個準直器中的每個具有3mm的厚度。
20.根據權利要求7所述的檢測系統，其中，所述多個準直器中的每個具有在1.5mm至4.5mm的范圍內的厚度。
...【技術特征摘要】
【國外來華專利技術】
1.一種適于檢測從輻射源發(fā)射的輻射的檢測器陣列，包括：
2.根據權利要求1所述的檢測器陣列，其中，所述多個準直器中的每個從多個檢測器元件中的所述一個的后側延伸，以物理接觸所述殼體的第二側。
3.根據權利要求1所述的檢測器陣列，其中，所述多個檢測器元件中的每個具有長度，并且其中，所述多個準直器中的每個位于處于多個檢測器元件中的相應一個的長度的一半處的點處。
4.根據權利要求1所述的檢測器陣列，其中，所述多個檢測器元件的每個準直器垂直于多個檢測器元件中的相應一個的后側定向。
5.根據權利要求1所述的檢測器陣列，其中，所述多個準直器中的每個具有寬度，其中，從所述輻射源發(fā)射的輻射是具有厚度的x射線束，并且其中，所述寬度在x射線束的所述厚度的10％到100％的范圍內。
6.根據權利要求1所述的檢測器裝置，其中，所述多個準直器中的每個具有在2mm到5mm的范圍內的寬度。
7.一種用于掃描物體的檢測系統，包括：
8.根據權利要求7所述的檢測系統，其中，所述多個檢測器元件布置成鋸齒形布置。
9.根據權利要求7所述的檢測系統，其中，所述多個檢測器元件中的每個基本朝向所述x射線源傾斜，用于限制所述x射線束的視差檢測。
10.根據權利要求7所述的檢測系統，其中，所述多個檢測器元件中的每個基本朝向所述x射線源傾斜，使得多個檢測器元件中的每個的中心軸線直接與x射線源對準。
11.根據權利要求7所述的檢測系統，其中，所述多個檢測器...
【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：J·奧利爾，
申請(專利權)人：拉皮斯坎控股公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
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