【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及芯片測試，特別涉及一種高效的多芯片同時測試裝置。
技術介紹
1、在整個生產制程中，須確保cmos芯片無電性功能性不良與partical及刮傷等外觀不良；芯片來料之后到ccm完成組裝之前，并無制程對其良品率進行全檢，只能到芯片+lens+vcm完成組裝后才能檢測cmos芯片各項性能是否完好。
2、通過lens鏡頭在測試時生成產品圖像，通過生成產品圖像，判斷產品上是否有有缺陷。如果將每pcscmos芯片單獨從料盤中取出進行測試全檢，時間與人力消耗都將是巨大，檢測效率低，而且人工取放料，容易劃傷芯片，使得cmos芯片外觀不良風險大大增加。
技術實現思路
1、本專利技術的目的在于針對現有技術的缺陷和不足，提供一種高效的多芯片同時測試裝置。
2、為實現上述目的，本專利技術采用的技術方案是：
3、本專利技術所述的一種高效的多芯片同時測試裝置，它包括有機架和測試裝置；所述機架上設置有用于將載有芯片的料盤送入到測試裝置下方的料盤輸送線；所述測試裝置包括有lens固定板、與料盤配對使用的產品測試治具和均布在lens固定板上的多個lens鏡頭；所述lens固定板上方設置有固定在機架上的光源。
4、進一步地，所述測試裝置還包括有豎直角度調節組件；所述豎直角度調節組件上連接有水平角度調節組件；所述水平角度調節組件連接在lens固定板上。
5、進一步地，所述豎直角度調節組件包括有豎直調節底座和固定在水平角度調節組件上的豎直擺塊；豎直擺
6、所述豎直調節底座的頂表面上設置有與弧形導向槽相匹配的弧形滑塊；所述弧形滑塊滑動連接在弧形導向槽；所述豎直擺塊的側表面開設有與弧形導向槽相接通的第二螺紋孔；第二螺紋孔內螺紋連接有抵緊在豎直調節底座上的第二鎖緊螺栓；所述弧形滑塊的內部轉動連接有蝸桿；所述弧形導向槽的表面上設置有與蝸桿相嚙合的多個齒牙；所述齒牙沿弧形導向槽的圓弧方向排。
7、進一步地，所述豎直角度調節組件的數量為兩個；兩個弧形導向槽的軸心均與水平面相互平行設置；兩個弧形導向槽的軸心之間呈相互垂直設置。
8、進一步地，所述豎直角度調節組件上設置有升降微調組件；所述升降微調組件包括有上升降座和微調升降座；所述上升降座滑動連接在微調升降座上；所述上升降座上沿高度方向開設有上升降座條形孔；所述微調升降座上螺紋連接有第三鎖緊螺栓；所述第三鎖緊螺栓穿過上升降座條形孔后螺紋連接在微調升降座上；所述第三鎖緊螺栓的頭部壓緊在上升降座上；所述微調升降座上轉動連接有擺桿；所述微調升降座上固定有第二微分頭；所述擺桿的兩端分別抵緊在第二微分頭的測量桿和上升降座的底部。
9、進一步地，所述機架上固定有頂部治具壓板；所述產品測試治具設置在頂部治具壓板的正下方；所述料盤輸送線包括有兩條相互平行的輸送線；兩條輸送線之間設置有用于帶動頂部治具壓板做升降運動的治具抬升組件。
10、進一步地，所述產品測試治具包括有料盤定位框、固定在治具抬升組件上的治具底板、固定在治具底板上的治具本體；所述治具本體上固定有多條導向銷；料盤定位框滑動連接在導向銷上；所述料盤定位框與治具本體之間連接有彈簧。
11、進一步地，所述料盤輸送線還包括有兩個調節固定架；兩個調節固定架之間固定有輸送線導向軸；所述輸送線上均固定有輸送線固定架；所述輸送線固定架上固定有與輸送線導向軸滑動連接的調節導向套；所述輸送線固定架上均固定有調節絲桿螺母；所述調節固定架上轉動連接有雙向絲桿；兩個調節絲桿螺母分別螺紋連接在雙向絲桿的兩段螺紋上；輸送線固定架上固定有與輸送線導向軸滑動連接的調節導向套。
12、進一步地，所述雙向絲桿上固定有調節手輪.
13、進一步地，所述機架上固定有激光測量儀組件；所述激光測量儀組件包括有第二測量儀固定板、測量儀固定座、固定在機架上的第一測量儀固定板、連接在第一測量儀固定板與第二測量儀固定板之間的橫移直線模組、連接在第二測量儀固定板與測量儀固定座之間的縱移直線模組；所述測量儀固定座上固定有激光測量儀本體。
14、采用上述結構后，本專利技術有益效果為：本專利技術所述的一種高效的多芯片同時測試裝置，在使用本專利技術時，料盤放入到料盤輸送線中，料盤輸送線將料盤輸送至測試裝置后，通過產品測試治具進行對料盤定位，料盤脫離料盤輸送線，并使各個lens鏡頭分別與料盤上對應的鏡頭同軸對準，利用產品測試治具將料盤中的芯片接通電路；通過多個lens鏡頭獲取芯片表面的圖像傳輸到計算機后與標準圖像進行對比，進行批量判斷芯片是否為良品，另外增加光源使得lens鏡頭的成像更加清晰。該結構能夠使得芯片批量自動上料和自動檢測，降低勞動強度，提高檢測效率，降低芯片檢測時上下料被劃傷的風險，通過多個lens鏡頭同步獲取多個芯片的圖像進行判斷，提高檢測的效率。
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1.一種高效的多芯片同時測試裝置，其特征在于：它包括有機架（K）和測試裝置；所述機架（K）上設置有用于將載有芯片的料盤送入到測試裝置下方的料盤輸送線（J）；所述測試裝置包括有LENS固定板（G）、與料盤配對使用的產品測試治具（I）和均布在LENS固定板（G）上的多個LENS鏡頭（H）；所述LENS固定板（G）上方設置有固定在機架（K）上的光源（L）。
2.根據權利要求1所述的一種高效的多芯片同時測試裝置，其特征在于：所述測試裝置還包括有豎直角度調節組件（B）；所述豎直角度調節組件（B）上連接有水平角度調節組件（A）；所述水平角度調節組件（A）連接在LENS固定板（G）上。
3.根據權利要求2所述的一種高效的多芯片同時測試裝置，其特征在于：所述豎直角度調節組件（B）包括有豎直調節底座（B6）和固定在水平角度調節組件（A）上的豎直擺塊（B1）；豎直擺塊（B1）正對豎直調節底座（B6）的一側設置有弧形導向槽（B101）；所述弧形導向槽（B101）的軸心呈水平設置；
4.根據權利要求3所述的一種高效的多芯片同時測試裝置，其特征在于：所述豎直角度調節組件
5.根據權利要求2所述的一種高效的多芯片同時測試裝置，其特征在于：所述豎直角度調節組件（B）上設置有升降微調組件（C）；所述升降微調組件（C）包括有上升降座（C1）和微調升降座（C6）；所述上升降座（C1）滑動連接在微調升降座（C6）上；所述上升降座（C1）上沿高度方向開設有上升降座條形孔（C5）；所述微調升降座（C6）上螺紋連接有第三鎖緊螺栓（C4）；所述第三鎖緊螺栓（C4）穿過上升降座條形孔（C5）后螺紋連接在微調升降座（C6）上；所述第三鎖緊螺栓（C4）的頭部壓緊在上升降座（C1）上；所述微調升降座（C6）上轉動連接有擺桿（C2）；所述微調升降座（C6）上固定有第二微分頭（C3）；所述擺桿（C2）的兩端分別抵緊在第二微分頭（C3）的測量桿和上升降座（C1）的底部。
6.根據權利要求1所述的一種高效的多芯片同時測試裝置，其特征在于：所述機架（K）上固定有頂部治具壓板（N）；所述產品測試治具（I）設置在頂部治具壓板（N）的正下方；所述料盤輸送線（J）包括有兩條相互平行的輸送線（J4）；兩條輸送線（J4）之間設置有用于帶動頂部治具壓板（N）做升降運動的治具抬升組件（M）。
7.根據權利要求1所述的一種高效的多芯片同時測試裝置，其特征在于：所述產品測試治具（I）包括有料盤定位框（I2）、固定在治具抬升組件（M）上的治具底板（I1）、固定在治具底板（I1）上的治具本體（I3）；所述治具本體（I3）上固定有多條導向銷（I4）；料盤定位框（I2）滑動連接在導向銷（I4）上；所述料盤定位框（I2）與治具本體（I3）之間連接有彈簧（I5）。
8.根據權利要求6所述的一種高效的多芯片同時測試裝置，其特征在于：所述料盤輸送線（J）還包括有兩個調節固定架（J1）；兩個調節固定架（J1）之間固定有輸送線導向軸（J3）；所述輸送線（J4）上均固定有輸送線固定架（J2）；所述輸送線固定架（J2）上固定有與輸送線導向軸（J3）滑動連接的調節導向套（8）；所述輸送線固定架（J2）上均固定有調節絲桿螺母（J7）；所述調節固定架（J1）上轉動連接有雙向絲桿（J5）；兩個調節絲桿螺母（J7）分別螺紋連接在雙向絲桿（J5）的兩段螺紋上；輸送線固定架（J2）上固定有與輸送線導向軸（J3）滑動連接的調節導向套（J8）。
9.根據權利要求8所述的一種高效的多芯片同時測試裝置，其特征在于：所述雙向絲桿（J5）上固定有調節手輪（J6）。
10.根據權利要求1所述的一種高效的多芯片同時測試裝置，其特征在于：所述機架（K）上固定有激光測量儀組件（P）；所述激光測量儀組件（P）包括有第二測量儀固定板（P2）、測量儀固定座（P5）、固定在機架（K）上的第一測量儀固定板（P1）、連接在第一測量儀固定板（P1）與第二測量儀固定板（P2）之間的橫移直線模組（P3）、連接在第二測量儀固定板（P2）與測量儀固定座（P5）之間的縱移直線模組（P4）；所述測量儀固定座（P5）上固定有激光測量儀本體（P6）。
...【技術特征摘要】
1.一種高效的多芯片同時測試裝置，其特征在于：它包括有機架（k）和測試裝置；所述機架（k）上設置有用于將載有芯片的料盤送入到測試裝置下方的料盤輸送線（j）；所述測試裝置包括有lens固定板（g）、與料盤配對使用的產品測試治具（i）和均布在lens固定板（g）上的多個lens鏡頭（h）；所述lens固定板（g）上方設置有固定在機架（k）上的光源（l）。
2.根據權利要求1所述的一種高效的多芯片同時測試裝置，其特征在于：所述測試裝置還包括有豎直角度調節組件（b）；所述豎直角度調節組件（b）上連接有水平角度調節組件（a）；所述水平角度調節組件（a）連接在lens固定板（g）上。
3.根據權利要求2所述的一種高效的多芯片同時測試裝置，其特征在于：所述豎直角度調節組件（b）包括有豎直調節底座（b6）和固定在水平角度調節組件（a）上的豎直擺塊（b1）；豎直擺塊（b1）正對豎直調節底座（b6）的一側設置有弧形導向槽（b101）；所述弧形導向槽（b101）的軸心呈水平設置；
4.根據權利要求3所述的一種高效的多芯片同時測試裝置，其特征在于：所述豎直角度調節組件（b）的數量為兩個；兩個弧形導向槽（b101）的軸心均與水平面相互平行設置；兩個弧形導向槽（b101）的軸心之間呈相互垂直設置。
5.根據權利要求2所述的一種高效的多芯片同時測試裝置，其特征在于：所述豎直角度調節組件（b）上設置有升降微調組件（c）；所述升降微調組件（c）包括有上升降座（c1）和微調升降座（c6）；所述上升降座（c1）滑動連接在微調升降座（c6）上；所述上升降座（c1）上沿高度方向開設有上升降座條形孔（c5）；所述微調升降座（c6）上螺紋連接有第三鎖緊螺栓（c4）；所述第三鎖緊螺栓（c4）穿過上升降座條形孔（c5）后螺紋連接在微調升降座（c6）上；所述第三鎖緊螺栓（c4）的頭部壓緊在上升降座（c1）上；所述微調升降座（c6）上轉動連接有擺桿（c2）；所述微調升降座（c6）上固定有第二微分頭（c3）；所述擺桿（c2）的兩端分別抵緊在第二微分頭（c3）的測量桿和上升降座（c1）的底部。
6.根據權利...
【專利技術屬性】
技術研發人員：陳俊安，劉濤，何偉福，
申請(專利權)人：廣東涌固科技有限公司，
類型：發明
國別省市：
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