【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及電子產品生產制造，特別是涉及一種磁鐵推拉力檢測設備。
技術介紹
1、電子產品在生產過程中需要裝配磁鐵等磁性部件，為了保證電子產品的質量，需要對產品進行推拉力測試。現有檢測方式存在成本較高、效率低下、檢測良品率不穩定等缺陷，無法滿足t槽倒扣等復雜的磁鐵推拉力檢測需求。因此，有必要提供一種檢測成本低、檢測效率高、檢測精度高的磁鐵推拉力檢測設備是十分必要的。
技術實現思路
1、本專利技術的目的是解決上述問題，提供一種磁鐵推拉力檢測設備，所述檢測設備檢測效率高、檢測精度高、檢測良品穩定性好、降低了磁鐵推拉力檢測的人工成本。
2、為了解決上述技術問題，本專利技術采用的技術方案，如下所述：
3、一種磁鐵推拉力檢測設備，其包括操作平臺，以及設于所述操作平臺上的定位裝置和檢測裝置，所述檢測裝置設于所述定位裝置的一側；所述定位裝置將產品定位并移載至與所述檢測裝置對應處，所述檢測裝置對產品上的磁鐵進行檢測；所述定位裝置包括定位治具，以及用于驅動所述定位治具沿y向移動的第一驅動組件；所述檢測裝置包括與所述定位治具對應設置的檢測頭以及用于驅動所述檢測沿x向和z向移動的第二驅動組件和第三驅動組件。
4、優選地，所述定位治具包括第一定位板以及連接于所述第一定位板上的定位機構、真空吸盤和y向側推機構；所述定位機構至少包括分別設于所述第一定位板邊沿區域上的側推機構、旋轉下壓機構和定位塊；所述真空吸盤設于所述側推機構、旋轉下壓機構和所述定位塊圍成的區域內；所述y向側
5、優選地，所述側推機構包括第一推塊以及用于驅動所述第一推塊向內移動的第四驅動組件，所述第一推塊設于所述第一定位板上方，所述第四驅動組件設于所述第一定位板下方。
6、優選地，所述旋轉下壓機構包括設于所述第一定位板上方的壓塊以及用于驅動所述壓塊沿xy圍成平面旋轉和/或沿z向移動的第五驅動件。
7、優選地，所述y向側推機構包括第二推塊、第二支撐體、設于所述第二支撐體上并用于驅動所述第二推塊沿y向移動的第六驅動組件以及用于檢測所述第二推塊是否移動到位的第一檢測件；所述第二推塊穿過所述第一定位板設置。
8、優選地，所述第一定位板上設有若干限位銷，以及用于檢測所述第一定位板上是否有產品的感應件，所述感應件設于所述側推機構、旋轉下壓機構以及所述定位塊圍成區域內。
9、優選地，所述定位治具還包括平行設于所述第一定位板下方的第二定位板，以及垂直設于所述第一定位板和所述第二定位板之間的側板；所述第一定位板、第二定位板與所述側板共同形成容置空間，所述容置空間對由所述第一定位板向下延伸的部件進行收容。
10、優選地，所述第一驅動組件包括沿y向設于所述操作平臺上的第一驅動件以及滑動配合連接于所述第一驅動件的第一平臺，所述第一平臺由所述第一驅動件驅動，所述定位治具設于所述第一平臺上。
11、優選地，所述檢測頭連接于所述第三驅動組件上，所述第三驅動組件連接于所述第二驅動組件上；所述檢測頭包括連接于所述第三驅動組件的連接板、設于所述連接板上的安裝板以及設于所述安裝板底面上的掃碼頭、磁鐵定位調節塊以及磁鐵檢測組件；所述磁鐵定位調節塊設于所述磁鐵檢測組件的轉角區域上；所述磁鐵檢測組件包括連接于所述安裝板上的推拉力計以及設于所述推拉力計底部的磁鐵連接塊。
12、優選地，所述第二驅動組件包括與所述第一驅動組件垂直設置的支撐架、沿x向設于所述支撐架上的第二驅動件以及在所述第二驅動件驅下沿x向移動的第一移動平臺；所述第三驅動組件連接于所述第一移動平臺上，所述第三驅動組件包括第三驅動件以及在所述第三驅動件的驅動下沿z向移動的第二移動平臺；所述檢測頭設于所述第二移動平臺上。
13、本專利技術產生的有益效果至少包括：
14、本專利技術所述半自動高精度磁鐵推拉力檢測設備包括定位機構和檢測機構，所述定位機構將產品定位在定位治具后，所述定位治具將產品移載至與檢測機構對應處，由所述檢測機構對產品上的磁鐵進行推拉力檢測；所述定位機構對產品進行精準定位使得檢測機構能夠與產品上的磁鐵進行精準對位，保證了磁鐵推拉力檢測的準確性、提升了檢測效率、促進了推拉力檢測的標準化，通過自動檢測的方式代替人工檢測、節省了人工成本。
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1.一種磁鐵推拉力檢測設備，其特征在于：包括操作平臺，以及設于所述操作平臺上的定位裝置和檢測裝置，所述檢測裝置設于所述定位裝置的一側；所述定位裝置將產品定位并移載至與所述檢測裝置對應處，所述檢測裝置對產品上的磁鐵進行檢測；所述定位裝置包括定位治具，以及用于驅動所述定位治具沿Y向移動的第一驅動組件；所述檢測裝置包括與所述定位治具對應設置的檢測頭以及用于驅動所述檢測沿X向和Z向移動的第二驅動組件和第三驅動組件。
2.根據權利要求1所述的磁鐵推拉力檢測設備，其特征在于：所述定位治具包括第一定位板以及連接于所述第一定位板上的定位機構、真空吸盤和Y向側推機構；所述定位機構至少包括分別設于所述第一定位板邊沿區域上的側推機構、旋轉下壓機構和定位塊；所述真空吸盤設于所述側推機構、旋轉下壓機構和所述定位塊圍成的區域內；所述Y向側推機構設于所述第一定位板的中心區域。
3.根據權利要求2所述的磁鐵推拉力檢測設備，其特征在于：所述側推機構包括第一推塊以及用于驅動所述第一推塊向內移動的第四驅動組件，所述第一推塊設于所述第一定位板上方，所述第四驅動組件設于所述第一定位板下方。
...【技術特征摘要】
1.一種磁鐵推拉力檢測設備，其特征在于：包括操作平臺，以及設于所述操作平臺上的定位裝置和檢測裝置，所述檢測裝置設于所述定位裝置的一側；所述定位裝置將產品定位并移載至與所述檢測裝置對應處，所述檢測裝置對產品上的磁鐵進行檢測；所述定位裝置包括定位治具，以及用于驅動所述定位治具沿y向移動的第一驅動組件；所述檢測裝置包括與所述定位治具對應設置的檢測頭以及用于驅動所述檢測沿x向和z向移動的第二驅動組件和第三驅動組件。
2.根據權利要求1所述的磁鐵推拉力檢測設備，其特征在于：所述定位治具包括第一定位板以及連接于所述第一定位板上的定位機構、真空吸盤和y向側推機構；所述定位機構至少包括分別設于所述第一定位板邊沿區域上的側推機構、旋轉下壓機構和定位塊；所述真空吸盤設于所述側推機構、旋轉下壓機構和所述定位塊圍成的區域內；所述y向側推機構設于所述第一定位板的中心區域。
3.根據權利要求2所述的磁鐵推拉力檢測設備，其特征在于：所述側推機構包括第一推塊以及用于驅動所述第一推塊向內移動的第四驅動組件，所述第一推塊設于所述第一定位板上方，所述第四驅動組件設于所述第一定位板下方。
4.根據權利要求2所述的磁鐵推拉力檢測設備，其特征在于：所述旋轉下壓機構包括設于所述第一定位板上方的壓塊以及用于驅動所述壓塊沿xy圍成平面旋轉和/或沿z向移動的第五驅動件。
5.根據權利要求2所述的磁鐵推拉力檢測設備，其特征在于：所述y向側推機構包括第二推塊、第二支撐體、設于所述第二支撐體上并用于驅動所述第二推塊沿y向移動的第六驅動組件以及用于檢測所述第二推塊是否移動到位的第一檢測件；所述第二推塊穿過所述第一定位板設置。
6.根據權利要求2所述的磁鐵推拉力檢...
【專利技術屬性】
技術研發人員：吳錦，楊洪春，李朦，唐紅雙，陳桂陽，
申請(專利權)人：東莞市安美泰技術有限公司，
類型：發明
國別省市：
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