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    一種直流電阻加熱器及SiC單晶生長(zhǎng)裝置制造方法及圖紙

    技術(shù)編號(hào):42163987 閱讀:20 留言:0更新日期:2024-07-27 00:12
    本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N直流電阻加熱器及SiC單晶生長(zhǎng)裝置,直流電阻加熱器包括底部發(fā)熱體及中部發(fā)熱體;底部發(fā)熱體用于加熱坩堝內(nèi)物料裝填區(qū)底部的物料,中部發(fā)熱體用于加熱坩堝內(nèi)物料裝填區(qū)中上部的物料,且中上部物料的中部發(fā)熱體沿軸向單位長(zhǎng)度的發(fā)熱量大于底部發(fā)熱體沿軸向單位長(zhǎng)度的發(fā)熱量,如此,可以在物料的底部與中上部之間形成軸向溫度梯度,使得底部物料的溫度低于中上部物料的溫度,底部分解的SiC氣相組分在上升過(guò)程中不會(huì)在溫度較高的物料表面結(jié)晶,而是直接進(jìn)入生長(zhǎng)腔體內(nèi),并通過(guò)擴(kuò)散或?qū)α髟谧丫辖Y(jié)晶,提高了晶體的生長(zhǎng)速度,且有助于4H?SiC晶型的穩(wěn)定。

    【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

    本專利技術(shù)屬于晶體生長(zhǎng)領(lǐng)域,具體涉及一種直流電阻加熱器及sic單晶生長(zhǎng)裝置。


    技術(shù)介紹

    1、碳化硅(sic)是第三代半導(dǎo)體材料的典型代表,由于其具有優(yōu)異的綜合性能,且基于sic的器件能在高溫、高壓、強(qiáng)輻射的極端環(huán)境下工作,因而,碳化硅在電力電子和微波通信領(lǐng)域具有廣闊的應(yīng)用前景。

    2、物理氣相傳輸法(physical?vapor?transport-pvt)是目前生長(zhǎng)sic晶體的主流方法,所生長(zhǎng)的4h-sic單晶有n型和半絕緣型。其中,n型sic單晶襯底主要用于制備高功率電力電子器件,半絕緣sic單晶襯底主要用于制備高功率微波器件。

    3、隨著單晶生長(zhǎng)技術(shù)的進(jìn)步,sic單晶襯底直徑逐年擴(kuò)大,從最初的2英寸到現(xiàn)在的8英寸單晶襯底。目前在sic襯底市場(chǎng)上,6英寸仍然是主流的sic單晶襯底直徑,且大多數(shù)sic單晶生長(zhǎng)爐為感應(yīng)加熱爐。8英寸sic單晶由于尺寸超大,如果還采用感應(yīng)加熱爐生長(zhǎng),所獲得的單晶熱應(yīng)力非常大,缺陷密度不容易控制,因此生長(zhǎng)8英寸sic單晶應(yīng)優(yōu)選電阻加熱單晶爐。

    4、傳統(tǒng)的直流電阻加熱器的形狀如圖1所示,其結(jié)構(gòu)類似于豎直方向的柵欄。從圖1可以看出:對(duì)加熱器通以直流電后,加熱器發(fā)焦耳熱,并通過(guò)輻射將熱量傳輸?shù)絪ic單晶生長(zhǎng)的坩堝外圓柱面上及上下蓋表面上。從圖1還可以看出:加熱器所產(chǎn)生的焦耳熱在豎直方向是比較均勻的,因此傳統(tǒng)的直流電阻加熱所產(chǎn)生的坩堝中的熱場(chǎng)的軸向溫度梯度比較小;過(guò)小的軸向溫度梯度對(duì)sic單晶生長(zhǎng)有以下不利的影響:

    5、由于加熱器的底部延伸到坩堝的底部下方,因而,加熱器輻射的熱量不僅傳輸?shù)桔釄宓膫?cè)面,也傳輸?shù)桔釄宓牡撞?,這就導(dǎo)致sic多晶料中,高溫區(qū)始終在料的底部,料表面溫度相對(duì)較低。底部分解的sic氣相組分常常在料的表面結(jié)晶,導(dǎo)致料的表面向上隆起;如此,一方面降低了生長(zhǎng)腔體內(nèi)sic氣相組分的濃度,拖慢了晶體生長(zhǎng)速度;另一方面降低了sic氣相組分的溫度,進(jìn)而減少了氣相組分中的碳/硅比,這對(duì)于4h-sic的晶型穩(wěn)定性是不利的。


    技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

    1、為了解決傳統(tǒng)直流電阻加熱器軸向溫度梯度較小,影響sic單晶生長(zhǎng)的技術(shù)問(wèn)題,本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N直流電阻加熱器及sic單晶生長(zhǎng)裝置。

    2、本申請(qǐng)的技術(shù)解決方案如下:

    3、本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N直流電阻加熱器,沿所述直流電阻加熱器的軸向,所述直流電阻加熱器包括底部發(fā)熱體及中部發(fā)熱體;

    4、其中,底部發(fā)熱體用于加熱坩堝內(nèi)物料裝填區(qū)底部的物料,所述中部發(fā)熱體用于加熱坩堝內(nèi)物料裝填區(qū)中上部的物料;

    5、沿所述第一方向,所述中部發(fā)熱體單位長(zhǎng)度所能夠產(chǎn)生的熱量大于所述底部發(fā)熱體單位長(zhǎng)度所能夠產(chǎn)生的熱量。

    6、在一種設(shè)計(jì)方式中,沿所述直流電阻加熱器的軸向,所述直流電阻加熱器包括頂部發(fā)熱體,所述頂部發(fā)熱體位于所述中部發(fā)熱體遠(yuǎn)離所述底部發(fā)熱體的一端;所述頂部發(fā)熱體用于加熱晶體生長(zhǎng)區(qū);

    7、沿所述直流電阻加熱器的軸向,所述頂部發(fā)熱體單位長(zhǎng)度所能夠產(chǎn)生的熱量小于中部發(fā)熱體單位長(zhǎng)度所能夠產(chǎn)生的熱量,且小于底部發(fā)熱體單位長(zhǎng)度所能夠產(chǎn)生的熱量。

    8、在一種設(shè)計(jì)方式中,沿所述直流電阻加熱器的軸向,所述中部發(fā)熱體單位長(zhǎng)度的電阻值大于所述底部發(fā)熱體單位長(zhǎng)度的電阻值,所述底部發(fā)熱體單位長(zhǎng)度的電阻值大于頂部發(fā)熱體單位長(zhǎng)度的電阻值。

    9、在一種設(shè)計(jì)方式中,所述底部發(fā)熱體、中部發(fā)熱體及頂部發(fā)熱體為一體結(jié)構(gòu);

    10、沿所述第一方向,所述直流電阻加熱器包括多個(gè)電阻層;

    11、其中,用于加熱坩堝底部物料的多個(gè)所述電阻層屬于所述底部發(fā)熱體,所述底部發(fā)熱體的多個(gè)電阻層的層間距為d1;

    12、用于加熱坩堝中上部物料的多個(gè)所述電阻層屬于所述中部發(fā)熱體,所述中部發(fā)熱體的多個(gè)電阻層的層間距為d2;

    13、用于加熱晶體生長(zhǎng)區(qū)的多個(gè)所述電阻層屬于所述頂部發(fā)熱體,所述頂部發(fā)熱體所對(duì)應(yīng)的多個(gè)電阻層的層間距為d3;

    14、d2<d1<d3。

    15、在一種設(shè)計(jì)方式中,所述直流電阻加熱器包括個(gè)n個(gè)電阻單元及至少一個(gè)連接電阻,n個(gè)電阻單元沿圓周方向排布,形成能夠容納坩堝的圓筒狀結(jié)構(gòu),n為大于等于2的自然數(shù);

    16、沿所述第一方向,所述電阻單元包括多個(gè)疊層設(shè)置的子電阻層及多個(gè)層間電阻,同一個(gè)電阻單元中相鄰兩層所述子電阻層之間通過(guò)所述層間電阻首尾相串聯(lián);

    17、所述連接電阻用于將n個(gè)電阻單元線性串聯(lián)。

    18、在一種設(shè)計(jì)方式中,所述電阻單元的數(shù)量為兩個(gè),所述連接電阻的數(shù)量為一個(gè);

    19、沿第一方向,所述連接電阻位于兩個(gè)所述電阻單元的一端。

    20、在一種設(shè)計(jì)方式中,所述連接電阻為圓環(huán)狀電阻。

    21、在一種設(shè)計(jì)方式中,所述連接電阻位于所述電阻單元的頂部發(fā)熱體的一端。

    22、在一種設(shè)計(jì)方式中,所述連接電阻為帶有缺口的圓環(huán)狀電阻,沿電流的流動(dòng)方向,所述連接電阻的一端與一個(gè)所述電阻單元連接,所述連接電阻的另一端與另一個(gè)所述電阻單元連接。

    23、在一種設(shè)計(jì)方式中,所述直流電阻加熱器包括兩個(gè)電阻單元、正極連接電阻及負(fù)極連接電阻,兩個(gè)所述電阻單元相對(duì)設(shè)置形成能夠容納坩堝的圓筒狀結(jié)構(gòu);

    24、沿所述第一方向,所述電阻單元包括多個(gè)疊層設(shè)置的子電阻層及多個(gè)層間電阻,同一個(gè)電阻單元中相鄰兩層子電阻層之間通過(guò)所述層間電阻首尾相串聯(lián);

    25、兩個(gè)所述電阻單元通過(guò)所述正極連接電阻及負(fù)極連接電阻相并聯(lián)。

    26、在一種設(shè)計(jì)方式中,沿所述第一方向,兩個(gè)所述電阻單元的正極位于所述直流電阻加熱器的兩端,兩個(gè)所述電阻單元的負(fù)極位于所述直流電阻加熱器的兩端;

    27、沿圓周方向,所述正極連接電阻及負(fù)極連接電阻位于兩個(gè)所述電阻單元之間的不同間隙中,

    28、沿所述第一方向,所述正極連接電阻的一端與一個(gè)所述電阻單元的正極連接,所述正極連接電阻的另一端與另一個(gè)所述電阻單元的正極連接;所述負(fù)極連接電阻的一端與一個(gè)所述電阻單元的負(fù)極連接,所述負(fù)極連接電阻的另一端與另一個(gè)所述電阻單元的負(fù)極連接。

    29、在一種設(shè)計(jì)方式中,所述直流電阻加熱器包括第一輸入電極和第二輸入電極;

    30、所述第一輸入電極與所述正極連接電阻電連接,所述第二輸入電極與所述負(fù)極連接電阻電連接;

    31、所述第一輸入電極和第二輸入電極位于兩個(gè)所述電阻單元所形成的圓筒狀結(jié)構(gòu)的內(nèi)側(cè),且位于所述底部發(fā)熱體的底端。基于同一專利技術(shù)構(gòu)思,本申請(qǐng)還提供一種sic單晶生長(zhǎng)裝置,包括上述任一所述的直流電阻加熱器,還包括:

    32、坩堝,所述坩堝包括由底部、側(cè)壁及上蓋圍成的腔體;所述腔體靠近底部的部分為物料裝填區(qū),所述腔體靠近上蓋的部分為晶體生長(zhǎng)區(qū);

    33、籽晶托,所述籽晶托位于所述晶體生長(zhǎng)區(qū),且設(shè)置于所述上蓋的內(nèi)側(cè),用于安裝籽晶;

    34、所述底部發(fā)熱體位于所述坩堝的底部外周;

    35、所述中部發(fā)熱體主要位于所述坩堝的物料裝填本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...

    【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】

    1.一種直流電阻加熱器,其特征在于,沿第一方向,所述直流電阻加熱器(1)包括底部發(fā)熱體(11)及中部發(fā)熱體(12);所述第一方向?yàn)樗鲋绷麟娮杓訜崞?1)的軸向;

    2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的直流電阻加熱器,其特征在于,沿所述第一方向,所述直流電阻加熱器包括頂部發(fā)熱體(13),所述頂部發(fā)熱體(13)位于所述中部發(fā)熱體(12)遠(yuǎn)離所述底部發(fā)熱體(11)的一端;所述頂部發(fā)熱體(13)用于加熱晶體生長(zhǎng)區(qū)(2B);

    3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的直流電阻加熱器,其特征在于,沿所述第一方向,所述中部發(fā)熱體(12)單位長(zhǎng)度的電阻值大于所述底部發(fā)熱體(11)單位長(zhǎng)度的電阻值,所述底部發(fā)熱體(11)單位長(zhǎng)度的電阻值大于頂部發(fā)熱體(13)單位長(zhǎng)度的電阻值。

    4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的直流電阻加熱器,其特征在于,所述底部發(fā)熱體(11)、中部發(fā)熱體(12)及頂部發(fā)熱體(13)為一體結(jié)構(gòu);

    5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的直流電阻加熱器,其特征在于,

    6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的直流電阻加熱器,其特征在于,所述電阻單元(1A)的數(shù)量為兩個(gè),所述連接電阻(1B)的數(shù)量為一個(gè);

    7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的直流電阻加熱器,其特征在于,所述連接電阻(1B)為圓環(huán)狀電阻;所述連接電阻(1B)位于所述電阻單元(1A)的頂部發(fā)熱體(13)的一端。

    8.根據(jù)權(quán)利要求4所述的直流電阻加熱器,其特征在于,

    9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的直流電阻加熱器,其特征在于,

    10.一種SiC單晶生長(zhǎng)裝置,其特征在,包括權(quán)利要求1至9任一所述的直流電阻加熱器(1),還包括:

    ...

    【技術(shù)特征摘要】

    1.一種直流電阻加熱器,其特征在于,沿第一方向,所述直流電阻加熱器(1)包括底部發(fā)熱體(11)及中部發(fā)熱體(12);所述第一方向?yàn)樗鲋绷麟娮杓訜崞?1)的軸向;

    2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的直流電阻加熱器,其特征在于,沿所述第一方向,所述直流電阻加熱器包括頂部發(fā)熱體(13),所述頂部發(fā)熱體(13)位于所述中部發(fā)熱體(12)遠(yuǎn)離所述底部發(fā)熱體(11)的一端;所述頂部發(fā)熱體(13)用于加熱晶體生長(zhǎng)區(qū)(2b);

    3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的直流電阻加熱器,其特征在于,沿所述第一方向,所述中部發(fā)熱體(12)單位長(zhǎng)度的電阻值大于所述底部發(fā)熱體(11)單位長(zhǎng)度的電阻值,所述底部發(fā)熱體(11)單位長(zhǎng)度的電阻值大于頂部發(fā)熱體(13)單位長(zhǎng)度的電阻值。

    4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的直流電阻加...

    【專利技術(shù)屬性】
    技術(shù)研發(fā)人員:于國(guó)建,請(qǐng)求不公布姓名,徐南,
    申請(qǐng)(專利權(quán))人:廣州南砂晶圓半導(dǎo)體技術(shù)有限公司,
    類型:發(fā)明
    國(guó)別省市:

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