【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
本申請涉及按鍵檢測，具體而言，涉及一種基于電容和電阻的按鍵檢測電路和按鍵檢測方法。
技術(shù)介紹
1、在相關(guān)技術(shù)中，芯片在進行按鍵輸入設(shè)計時，通常會將一個按鍵對應一個芯片引腳。如圖1所示，當一個按鍵對應一個芯片引腳時，為了對按鍵的按鍵狀態(tài)進行檢測，檢測電路會對對應的芯片引腳施加一個弱電流上拉，若按鍵處于未按下狀態(tài)，對應的芯片引腳會被拉至電源電壓，若按鍵處于按下狀態(tài)，對應的芯片引腳會被按鍵對應的電阻拉至地，通過檢測芯片引腳在施加弱電流上拉時的電壓，即可檢測該芯片引腳對應按鍵的按鍵狀態(tài)。
2、雖然相關(guān)技術(shù)中的檢測電路能夠?qū)Π存I的按鍵狀態(tài)進行檢測，但是當芯片需要與較多按鍵連接時，會相應的增加較多的芯片引腳，大量的芯片引腳會增加芯片成本。
技術(shù)實現(xiàn)思路
1、本申請實施例至少提供一種基于電容和電阻的按鍵檢測電路和按鍵檢測方法，通過上述電路，能夠在實現(xiàn)多個按鍵的按鍵狀態(tài)的準確檢測的前提下，使得多個按鍵能夠共用一個芯片引腳，從而避免了額外增加的芯片引腳帶來的成本。
2、第一方面，本申請?zhí)峁┝艘环N基于電容和電阻的按鍵檢測電路，包括第一待檢測按鍵、第二待檢測按鍵、第一電阻、第一電容、按鍵測試芯片和控制器；
3、第一待檢測按鍵和第一電阻串聯(lián)組成第一待檢測基本單元，第二待檢測按鍵和所述第一電容串聯(lián)組成第二待檢測基本單元；
4、按鍵測試芯片包括第一芯片引腳，第一待檢測基本單元和第二待檢測基本單元分別與第一芯片引腳連接；
5、按鍵測試芯片包括復位模塊、
6、控制器用于控制復位模塊將第一芯片引腳復位至電源電壓，控制電流控制模塊對第一芯片引腳放電，在第一時間控制比較鎖存模塊進行比較并在第二時間控制比較鎖存模塊進行比較，以便生成并鎖存比較鎖存結(jié)果，獲取比較鎖存結(jié)果，并根據(jù)比較鎖存結(jié)果確定第一待檢測按鍵和第二待檢測按鍵分別對應的按鍵狀態(tài)。
7、第二方面，本申請還提供了一種基于按鍵檢測電路的按鍵檢測方法，包括：
8、控制復位模塊將第一芯片引腳復位至電源電壓；
9、控制電流控制模塊對第一芯片引腳放電；
10、在第一時間控制比較鎖存模塊進行比較并在第二時間控制比較鎖存模塊進行比較，以便生成并鎖存比較鎖存結(jié)果；
11、獲取比較鎖存結(jié)果，并根據(jù)比較鎖存結(jié)果確定第一待檢測按鍵和第二待檢測按鍵分別對應的按鍵狀態(tài)。
12、綜上所述，本申請?zhí)峁┝艘环N基于電容和電阻的按鍵檢測電路和按鍵檢測方法，該電路包括第一待檢測按鍵、第二待檢測按鍵、第一電阻、第一電容、按鍵測試芯片和控制器；第一待檢測按鍵和第一電阻串聯(lián)組成第一待檢測基本單元，第二待檢測按鍵和第一電容串聯(lián)組成第二待檢測基本單元；按鍵測試芯片包括第一芯片引腳，第一待檢測基本單元和第二待檢測基本單元分別與第一芯片引腳連接；按鍵測試芯片包括復位模塊、電流控制模塊和比較鎖存模塊，復位模塊與第一芯片引腳連接，電流控制模塊與第一芯片引腳連接，比較鎖存模塊與第一芯片引腳連接，復位模塊用于將第一芯片引腳復位至電源電壓，電流控制模塊用于對第一芯片引腳放電至地，比較鎖存模塊用于將在第一時間從第一芯片引腳獲取的第一時間電壓分別與第一參考電壓和第二參考電壓進行比較，以及將在第二時間從第一芯片引腳獲取的第二時間電壓分別與第一參考電壓和第二參考電壓進行比較，生成并鎖存比較鎖存結(jié)果，第一時間和第二時間為第一芯片引腳放電至地過程中的不同時間，第一參考電壓和第二參考電壓不同；控制器用于控制復位模塊將第一芯片引腳復位至電源電壓，控制電流控制模塊對第一芯片引腳放電，在第一時間控制比較鎖存模塊進行比較并在第二時間控制比較鎖存模塊進行比較，以便生成并鎖存比較鎖存結(jié)果，獲取比較鎖存結(jié)果，并根據(jù)比較鎖存結(jié)果確定第一待檢測按鍵和第二待檢測按鍵分別對應的按鍵狀態(tài)。在上述電路中，第一待檢測按鍵和第二待檢測按鍵能夠均與按鍵測試芯片的一個芯片引腳連接，通過電容的充放電特性能夠?qū)Φ谝淮龣z測按鍵和第二待檢測按鍵的按鍵狀態(tài)均進行檢測。也就是說，通過上述電路能夠在實現(xiàn)多個按鍵的按鍵狀態(tài)的準確檢測的前提下，使得多個按鍵能夠共用一個芯片引腳，從而避免了額外增加的芯片引腳帶來的成本。
13、本申請的其他優(yōu)點將結(jié)合以下的說明和附圖進行更詳細的解說。
14、應當理解，上述說明僅是本申請技術(shù)方案的概述，以便能夠總體了解本申請的技術(shù)手段，進而依照說明書的內(nèi)容予以實施。為了讓本申請的上述和其它目的、特征及優(yōu)點能夠更明顯易懂，以下特舉例說明本申請的具體實施方式。
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1.一種基于電容和電阻的按鍵檢測電路，其特征在于，所述電路包括第一待檢測按鍵、第二待檢測按鍵、第一電阻、第一電容、按鍵測試芯片和控制器；
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路，其特征在于，所述比較鎖存模塊包括第一比較鎖存器和第二比較鎖存器，所述第一比較鎖存器用于將在第一時間從所述第一芯片引腳獲取的第一時間電壓與所述第一參考電壓進行比較，以及將在第二時間從所述第一芯片引腳獲取的第二時間電壓與所述第一參考電壓進行比較，所述第二比較鎖存器用于將在第一時間從所述第一芯片引腳獲取的第一時間電壓與所述第二參考電壓進行比較，以及將在第二時間從所述第一芯片引腳獲取的第二時間電壓與所述第二參考電壓進行比較，所述第一比較鎖存器兩次比較和所述第二比較鎖存器兩次比較后生成并鎖存比較鎖存結(jié)果。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路，其特征在于，所述比較鎖存模塊包括單個比較鎖存器，所述單個比較鎖存器用于將在第一時間從所述第一芯片引腳獲取的第一時間電壓分別與所述第一參考電壓和所述第二參考電壓進行比較，以及將在第二時間從所述第一芯片引腳獲取的第二時間電壓分別與所述第一參考電壓和所述第二參考電壓進行比較，
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路，其特征在于，所述第一待檢測按鍵的一端連接電源，所述第一待檢測按鍵的另一端與所述第一電阻的一端連接，所述第一電阻的另一端與所述第一芯片引腳連接；
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路，其特征在于，所述第一電阻的一端連接至電源，所述第一電阻的另一端與所述第一待檢測按鍵的一端連接，所述第一待檢測按鍵的另一端與所述第一芯片引腳連接；
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路，其特征在于，所述第一參考電壓和所述第二參考電壓滿足下述公式：
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路，其特征在于，所述第一時間和所述第二時間之間的間隔時長不小于所述第一電容的充放電所需時長。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路，其特征在于，所述電路包括第三待檢測按鍵、第四待檢測按鍵、第五待檢測按鍵、第六待檢測按鍵、第二電阻、第三電阻、第二電容、第三電容、鼠標芯片和控制器：
9.一種基于權(quán)利要求1-8任一所述的按鍵檢測電路的按鍵檢測方法，其特征在于，所述方法包括：
...【技術(shù)特征摘要】
1.一種基于電容和電阻的按鍵檢測電路，其特征在于，所述電路包括第一待檢測按鍵、第二待檢測按鍵、第一電阻、第一電容、按鍵測試芯片和控制器；
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路，其特征在于，所述比較鎖存模塊包括第一比較鎖存器和第二比較鎖存器，所述第一比較鎖存器用于將在第一時間從所述第一芯片引腳獲取的第一時間電壓與所述第一參考電壓進行比較，以及將在第二時間從所述第一芯片引腳獲取的第二時間電壓與所述第一參考電壓進行比較，所述第二比較鎖存器用于將在第一時間從所述第一芯片引腳獲取的第一時間電壓與所述第二參考電壓進行比較，以及將在第二時間從所述第一芯片引腳獲取的第二時間電壓與所述第二參考電壓進行比較，所述第一比較鎖存器兩次比較和所述第二比較鎖存器兩次比較后生成并鎖存比較鎖存結(jié)果。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路，其特征在于，所述比較鎖存模塊包括單個比較鎖存器，所述單個比較鎖存器用于將在第一時間從所述第一芯片引腳獲取的第一時間電壓分別與所述第一參考電壓和所述第二參考電壓進行比較，以及將在第二時間從所述第一芯片引腳獲取的第二時間電壓分別與所述第一參考電壓和所述第二...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：黃福軍，李志謙，楊磊，
申請(專利權(quán))人：天津希格瑪微電子技術(shù)有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
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