【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及libs技術，特別涉及基于libs技術的元素檢測方法。
技術介紹
1、libs技術是利用激光作為光源進行樣品激發，獲取樣品中元素的光譜從而進行樣品分析的一種發射光譜分析方法，該方法需要將激光通過擴束和聚焦后將激光能量聚焦到樣品表面，以便獲取高能光譜，聚焦效果的好壞直接影響了光譜的信號高低和性能，從而影響到libs光譜儀的分析效果。
2、現有技術采用的解決方案為：
3、1.通過平面定位，將樣品平放到平面上進行定點激發。在工廠的在線分析系統中，平面定位是很難實現的。
4、2.采用高精度的測距系統，如激光測距儀等，用來進行距離測量，確保精度要求。這種方案不僅成本高，對于傾斜面的處理也比較復雜。
技術實現思路
1、為解決上述現有技術方案中的不足，本專利技術提供了一種基于libs技術的元素檢測方法。
2、本專利技術的目的是通過以下技術方案實現的：
3、一種基于libs技術的元素檢測方法，所述基于libs技術的元素檢測方法為：
4、（a1）將樣品掃描軌跡分段，使得每個分段為直線狀；
5、（a2）與每個分段li對應地，按照步長調整出光單元和樣品間的距離hi，獲得分段內每個激發點對應的數據組(iij,hij)，iij是激發點處獲得的光譜信號，hij是激發點處出光單元和樣品間的距離，i=1,2…m，j=1,2…n，m、n均是大于2的整數；所述出光單元包括會聚透鏡，所述距離hi包含會聚透鏡的焦距值；>
6、根據n個數據組(iij,hij)，獲得與該分段li對應的最優距離hi0，與最優距離hi0對應的光譜信號ii0最大；
7、（a3）將出光單元和樣品間距離調整為hi0，并掃描，獲得與分段li對應地光譜信號ii；
8、（a4）根據每個分段的光譜信號ii獲得最優光強i；
9、（a5）利用所述最優光強i獲得元素含量。
10、與現有技術相比，本專利技術具有的有益效果為：
11、1.方案簡單：
12、無需高精度測距儀就能實現高精度樣品分析，成本更低，結構更簡單；
13、2.準確度高；
14、采用分段激發，并獲得每個分段的最佳距離，進而得出每個分段準確的最強光譜信號，性能更好，效果更優；
15、在空間內實現域性光譜的統計分析，自動剔除異常光譜，分析性能更好，重復性更好更穩定。
本文檔來自技高網...【技術保護點】
1.一種基于LIBS技術的元素檢測方法，所述基于LIBS技術的元素檢測方法包括以下步驟：
2.根據權利要求1所述的基于LIBS技術的元素檢測方法，其特征在于，獲得最優距離hi0的方式為：
3.根據權利要求2所述的基于LIBS技術的元素檢測方法，其特征在于，獲得最優光強I的方式為：
4.根據權利要求3所述的基于LIBS技術的元素檢測方法，其特征在于，判斷前P個分段的光譜信號Ii是否滿足：，i=1,2…P；
5.根據權利要求1所述的基于LIBS技術的元素檢測方法，其特征在于，所述掃描軌跡是直線或曲線。
【技術特征摘要】
1.一種基于libs技術的元素檢測方法，所述基于libs技術的元素檢測方法包括以下步驟：
2.根據權利要求1所述的基于libs技術的元素檢測方法，其特征在于，獲得最優距離hi0的方式為：
3.根據權利要求2所述的基于libs技術的元素檢測方法，其特征在...
【專利技術屬性】
技術研發人員：王慶祥，喻正寧，許大衛，朱鵬程，方成，朱銘，徐桔紅，何俊興，羅正生，周逸群，沈松松，
申請(專利權)人：杭州譜育科技發展有限公司，
類型：發明
國別省市：
還沒有人留言評論。發表了對其他瀏覽者有用的留言會獲得科技券。