【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及雷達偵察，具體涉及一種自適應測量雷達掃描周期的方法和雷達偵察裝置。
技術介紹
1、在對機械掃描雷達進行欺騙干擾的時候需要偵察到雷達主瓣位置，才能達到最好的干擾效果。一般在做欺騙干擾時會通過控制發射功率衰減的方式，但是這種方式較為粗暴，并且需要根據不同的場景進行調試，非常耗費時間。
2、在上述背景條件下，通常用偵察設備接收到的信號功率表示脈沖信號的幅度。所截獲的脈沖信號功率由雷達信號功率及形狀、傳播距離、掃描方式、輻射源工作狀態等因素決定。根據雷達接收到的幅度和信號到達時間所繪制成的二維圖即為雷達方向圖，使用求解自相關系數的方法可以得到雷達方向圖的規律，如附圖1所示，進而判斷出雷達主瓣的位置。
3、在現代電磁戰中，雷達會采用不同的pri(脈沖重復時間)調制來實現不同的功能，常見的pri調制類型有恒定、抖動、參差、滑變、駐留切換等。pri的變化會導致接收機截獲的pa(幅度)序列的采樣率不一致，不便于pa序列的處理，所以在估計掃描周期之前先對pa序列進行重采樣，使其采樣率一致。
4、以toa(脈沖到達時間)序列中最短的pri作為采樣間隔是一個簡便的方法，但是這樣采樣后的數據量很大，而且當出現虛假脈沖和漏脈沖時，最短pri的估計會出現嚴重的錯誤。不同的pri調制類型序列需要采用不同的采樣間隔，如pri恒定和pri抖動信號以pri均值作為采樣間隔，而pri參差信號則以pri參差值中最小的pri作為采樣間隔。
技術實現思路
1、技術目的：針對上
2、技術方案：為實現上述技術目的，本專利技術采用了如下技術方案：
3、一種自適應測量雷達掃描周期的方法，包括步驟：
4、s1、收集預設時長的脈沖幅度信號即pa信號，構成pa序列，所述pa信號通過對接收到的雷達信號采樣獲得；
5、s2、對所述pa序列進行脈沖重復間隔pri分析，確定采樣率tp；
6、s3、使用所述采樣率tp對收集的pa序列進行重采樣，得到重采樣序列{x}；
7、s4、計算所述重采樣序列{x}的歸一化自相關系數，得到自相關系數序列{rxx}；
8、s5、搜尋自相關系數序列{rxx}的第一個非零的極大值，第一非零的極大值在自相關系數序列{rxx}中的序號為ld；
9、s6、根據所述序號ld和所述采樣率tp，計算得到雷達的掃描周期ta。
10、優選地，所述步驟s3中，重采樣時，采用最鄰點插值方法對收集的pa序列進行插值，對于相鄰沒有脈沖幅度信號的采樣點采用置零的方法進行插值。
11、優選地，所述步驟s4中，通過式(1)計算歸一化自相關系數：
12、
13、其中，l為延遲變量，w為偵察窗的窗長，n＝0,1,…,n-1，n為重采樣序列{x}的長度，x[n]表示重采樣序列{x}中的第n個數據；
14、所述步驟s6中，通過式(2)計算掃描周期ta：
15、ta＝ld·tp????(2)
16、其中，tp采樣率，ld為第一非零的極大值在自相關系數序列{rxx}中的序號。
17、優選地，所述方法還包括步驟：
18、s0、判斷偵察窗是否打開，若已打開，則進入步驟s0′，否則等待偵察窗打開；
19、s0′、加載小周期的相關參數，包括第一開始時間參數winstart′、第一結束時間參數winend′、第一窗長w′，winstart′<winend′；
20、順序執行步驟s2至s6，且在執行步驟s6時，判斷計算得到的掃描周期ta是否在設置的[winstart′,winend′]范圍內，若是，則說明計算得到的掃描周期ta正確，結束流程，若不是，則進入步驟s0″；
21、s0″、加載中周期的相關參數，包括第二開始時間參數winstart″、第二結束時間參數winend″、第二窗長w″，winstart″<winend″；
22、順序執行步驟s2至s6，且在執行步驟s6時，判斷計算得到的掃描周期ta是否在設置的[winstart″,winend″]范圍內，若是，則說明計算得到的掃描周期ta正確，結束流程，若不是，則進入步驟s0″′；
23、s0″′、加載大周期的相關參數，包括第三開始時間參數winstart″′、第三結束時間參數winend″′、第三窗長w″，winstart″′<winend″′；
24、順序執行步驟s2至s6，且在執行步驟s6時，判斷計算得到的掃描周期ta是否在設置的[winstart″′,winend″′]范圍內，若是，則說明計算得到的掃描周期ta正確，結束流程，若不是，則返回步驟s0′，重新循環。
25、優選地，所述方法還包括步驟：
26、s00、判斷偵察窗是否打開，若已打開，則進入步驟s00′，否則等待偵察窗打開；
27、s00′、判斷掃描周期模式，選擇預先設置一個模式，即：小周期模式、中周期模式和大周期模式，進入步驟s00″；
28、s00″，加載所選模式的相關參數，包括開始時間參數winstart、結束時間參數winend、窗長w，winstart<winend，然后順序執行步驟s2至s6，在步驟s6中，計算得到掃描周期ta。
29、優選地，所述方法還包括步驟：
30、s00、判斷偵察窗是否打開，若已打開，則進入步驟s00′，否則等待偵察窗打開；
31、s00′、判斷掃描周期模式，選擇預先設置的一個模式，即：小周期模式、中周期模式和大周期模式，進入步驟s00″；
32、s00″，加載所選模式的相關參數，包括開始時間參數winstart、結束時間參數winend、窗長w，winstart<winend；
33、順序執行步驟s2至s6，且在執行步驟s6時，判斷計算得到的掃描周期ta是否在設置的[winstart,winend]范圍內，若是，則說明計算得到的掃描周期ta正確，結束流程，若不是，則返回步驟s00，重新循環。
34、一種雷達偵察裝置，包括：
35、pa序列獲取模塊，用于收集預設時長的脈沖幅度信號即pa信號，構成pa序列，所述pa信號通過對接收到的雷達信號采樣獲得；
36、pri分析模塊，用于對所述pa序列進行脈沖重復間隔pri分析，確定采樣率tp；
37、重采樣模塊，用于使用所述采樣率tp對收集的pa序列進行重采樣，得到重采樣序列{x}；
38、自相關系數計算模塊，用于計算所述重采樣序列{x}的歸一化自相關系數，得到自相關系數序列{rxx}；
39、非零極大值搜尋模塊，用于搜尋自本文檔來自技高網...
【技術保護點】
1.一種自適應測量雷達掃描周期的方法，其特征在于，包括步驟：
2.根據權利要求1所述的一種自適應測量雷達掃描周期的方法，其特征在于：所述步驟S3中，重采樣時，采用最鄰點插值方法對收集的PA序列進行插值，對于相鄰沒有脈沖幅度信號的采樣點采用置零的方法進行插值。
3.根據權利要求1所述的一種自適應測量雷達掃描周期的方法，其特征在于：所述步驟S4中，通過式(1)計算歸一化自相關系數：
4.根據權利要求1所述的一種自適應測量雷達掃描周期的方法，其特征在于，包括步驟：
5.根據權利要求1所述的一種自適應測量雷達掃描周期的方法，其特征在于，包括步驟：
6.一種雷達偵察裝置，其特征在于，包括：
7.根據權利要求6所述的一種雷達偵察裝置，其特征在于：所述重采樣模塊中，重采樣時，采用最鄰點插值方法對收集的PA序列進行插值，對于相鄰沒有脈沖幅度信號的采樣點采用置零的方法進行插值；
8.根據權利要求6所述的一種雷達偵察裝置，其特征在于，還包括：
9.根據權利要求6所述的一種雷達偵察裝置，其特征在于，還包括：
...【技術特征摘要】
1.一種自適應測量雷達掃描周期的方法，其特征在于，包括步驟：
2.根據權利要求1所述的一種自適應測量雷達掃描周期的方法，其特征在于：所述步驟s3中，重采樣時，采用最鄰點插值方法對收集的pa序列進行插值，對于相鄰沒有脈沖幅度信號的采樣點采用置零的方法進行插值。
3.根據權利要求1所述的一種自適應測量雷達掃描周期的方法，其特征在于：所述步驟s4中，通過式(1)計算歸一化自相關系數：
4.根據權利要求1所述的一種自適應測量雷達掃描周期的方法，其特征在于，包括步驟：...
【專利技術屬性】
技術研發人員：胡乾亮，張堪振，江磊，李晃，
申請(專利權)人：揚州宇安電子科技股份有限公司，
類型：發明
國別省市：
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