【技術實現步驟摘要】
本專利技術屬于閃存測試，具體涉及一種閃存的性能測試方法、裝置、電子設備及計算機程序產品。
技術介紹
1、閃存顆粒，作為現代數據存儲的核心組件，其性能穩定與否直接關系到數據存儲的可靠性和安全性，且隨著科技的進步，閃存顆粒的類型也不斷增多，從早期的slc（單層單元）到mlc（多層單元），再到現在的tlc（三層單元），其存儲容量不斷提升，但與此同時，其性能與可靠性受溫度影響的問題也日益凸顯。
2、在現有技術中，閃存顆粒的結構設計主要圍繞提升存儲容量、讀寫速度以及耐久性等方面展開，然而，在實際應用中，由于閃存顆粒的材料特性和工作原理的限制，其在極端溫度環境下往往會出現性能下降的問題；同時，現有產品（如各類閃存盤、固態硬盤等）在應用范圍上已經相當廣泛，從個人消費電子產品到工業控制、航空航天等領域都有涉及，因此，隨著應用領域的拓展，尤其是在一些極端溫度環境下（如極地科研、深海探測等），對閃存顆粒的性能要求也越來越高，且相關數據表明，當環境溫度超出閃存顆粒的正常工作范圍時，其讀寫速度可能會下降高達50%以上，數據保持力也可能大打折扣，尤其是在極端低溫或高溫環境下，閃存顆粒的故障率會顯著增加，從而會嚴重影響數據存儲的可靠性。
3、但是，現有的大多數評估方法僅關注閃存顆粒在常溫下的性能表現，而忽略了閃存顆粒在極端溫度條件下的應用情況，因此，這導致了許多閃存顆粒在實際應用中，尤其是在極端溫度環境下，性能會出現嚴重下降，甚至會出現數據丟失；基于此，現有技術在對閃存顆粒的寬溫應用能力評估方面存在諸多不足，亟需一種更為準確、全面的
技術實現思路
1、本專利技術的目的是提供一種閃存的性能測試方法、裝置、電子設備及計算機程序產品，用以解決現有技術在常溫下進行閃存顆粒性能測試所導致的測試結果不全面和不準確的問題。
2、為了實現上述目的，本專利技術采用以下技術方案：
3、第一方面，提供了一種閃存的性能測試方法，包括：
4、獲取目標閃存在指定溫度下的第一讀寫測試數據，在至少一個第一溫度數據下的第二讀寫測試數據，以及在至少一個第二溫度數據下的第三讀寫測試數據，其中，任一第一溫度數據包括第一寫入溫度和第一讀取溫度，任一第二溫度數據包括第二寫入溫度和第二讀取溫度，所述第一寫入溫度大于所述第一讀取溫度，所述第二寫入溫度小于所述第二讀取溫度，所述第一寫入溫度和所述第二讀取溫度均高于第一預設溫度，所述第一讀取溫度和所述第二寫入溫度均低于第二預設溫度，所述第一預設溫度高于所述第二預設溫度，且所述指定溫度處于所述第二預設溫度與所述第一預設溫度之間；
5、基于所述第一讀寫測試數據，確定出所述目標閃存在指定溫度下的第一性能測試結果；
6、根據各個第二讀寫測試數據，得出目標閃存在各個第一溫度數據下的第二性能測試結果，以及根據各個第三讀寫測試數據，得出目標閃存在各個第二溫度數據下的第三性能測試結果；
7、利用所述第一性能測試結果和各個第二性能測試結果，得出所述目標閃存在各個第一溫度數據下的讀寫性能，相比于在所述指定溫度下的讀寫性能的第一變化數據，以及利用所述第一性能測試結果和各個第三性能測試結果，得出所述目標閃存在各個第二溫度數據下的讀寫性能，相比于在所述指定溫度下的讀寫性能的第二變化數據；
8、依據所述第一性能測試結果、各個第二性能測試結果、各個第三性能測試結果、各個第一變化數據以及各個第二變化數據，得出所述目標閃存的綜合性能測試結果。
9、基于上述公開的內容，本專利技術在進行閃存顆粒的性能測試時，獲取了其在不同溫度條件下的測試數據，其中，前述測試數據包括在指定溫度下的第一讀寫測試數據（即在常溫下的測試數據），在至少一個第一溫度數據下的第二讀寫測試數據，以及在至少一個第二溫度數據下的第三讀寫測試數據；具體的，第一溫度數據和第二溫度數據均包括寫入溫度和讀取溫度，但第一溫度數據中的寫入溫度大于讀取溫度，第二溫度數據中的寫入溫度小于讀取溫度，且第一溫度數據中的寫入溫度和第二溫度數據中的讀取溫度均大于第一預設溫度，而第一溫度數據中的讀取溫度和第二溫度數據中的寫入溫度則均低于第二預設溫度（第一預設溫度大于第二預設溫度）；如此，本專利技術除了獲取常溫條件下的測試數據之外，還相當于獲取了多組高溫寫低溫讀的測試數據和多組低溫寫高溫讀的測試數據；而后，則可根據不同溫度條件下的測試數據，來得出目標閃存在不同溫度條件下的性能測試結果，以及根據不同溫度條件下的性能測試結果，來得出目標閃存在高低溫環境下工作時，與常溫環境下工作時的性能變化數據；最后，則可根據前述不同溫度條件下的測試數據和性能變化數據，來得出目標閃存的綜合性能測試結果。
10、通過上述設計，本專利技術依據閃存在常溫下的性能測試數據，以及在多個高低溫環境下的性能測試數據，來得出其在不同溫度條件下的性能測試結果，并將其在不同高低溫環境中的性能測試結果，與其在常溫下的性能測試結果進行橫向對比，從而得出相應的性能變化數據；最后，則可根據前述性能變化數據和不同溫度下的性能測試結果，來得出閃存的綜合性能測試結果；由此，本專利技術根據閃存在常溫以及多個高低溫環境下的性能測試數據，來得出閃存的綜合性能，相比于傳統技術，能夠準確全面地分析出閃存的本身能力以及對寬溫環境的適應能力，從而可提高對閃存測試的全面性和準確性，因此，非常適用于大規模應用與推廣。
11、在一個可能的設計中，獲取目標閃存在指定溫度下的第一讀寫測試數據，包括：
12、在所述指定溫度下，對所述目標閃存進行擦除處理和寫入處理，以得到所述目標閃存中每個區塊的塊擦除時延、每個區塊中各個頁的頁編程時延以及寫入數據后的目標閃存；
13、對所述寫入數據后的目標閃存進行數據讀取處理，以在數據讀取處理后，得到所述目標閃存中各個區塊內的每個頁的頁讀取時延和原始比特錯誤率；
14、利用所述目標閃存中每個區塊的塊擦除時延、每個區塊中各個頁的頁編程時延、頁讀取時延和原始比特錯誤率，組成所述第一讀寫測試數據。
15、在一個可能的設計中，在所述指定溫度下，對所述目標閃存進行擦除處理和寫入處理，以得到所述目標閃存中每個區塊的塊擦除時延、每個區塊中各個頁的頁編程時延以及寫入數據后的目標閃存，包括：
16、在所述指定溫度下，對所述目標閃存中的第i個區塊進行塊擦除處理，以在塊擦除處理后，得到所述第i個區塊的塊擦除時延；
17、在所述第i個區塊進行塊擦除處理后，對所述第i個區塊中的第j個頁進行編程處理，以得到所述第j個頁的頁編程時延；
18、將j自加1，并重新對第i個區塊中的第j個頁進行編程處理，直至j等于m時，得到第i個區塊中的每個頁的頁編程時延，其中，j的初始值為1，且m為第i個區塊內的頁總數；
19、將i自加1，并重新對所述目標閃存中的第i個區塊進行塊擦除處理，直至i等于n時，得到所述寫入數據后的目標閃存，以及所述目標閃存中每個區塊的塊擦除時延和每個區塊中各個頁的頁編程時延，其中本文檔來自技高網...
【技術保護點】
1.一種閃存的性能測試方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，獲取目標閃存在指定溫度下的第一讀寫測試數據，包括：
3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，在所述指定溫度下，對所述目標閃存進行擦除處理和寫入處理，以得到所述目標閃存中每個區塊的塊擦除時延、每個區塊中各個頁的頁編程時延以及寫入數據后的目標閃存，包括：
4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一讀寫測試數據包括所述目標閃存中的每個區塊在所述指定溫度下的塊擦除時延，以及每個區塊中的各個頁在所述指定溫度下的頁編程時延、頁讀取時延和原始比特錯誤率；
5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一性能測試結果包括所述目標閃存在所述指定溫度下的塊擦除時延均值、編程時延均值、讀取時延均值和原始比特錯誤率均值，任一第二性能測試結果包括所述目標閃存在目標溫度數據下的塊擦除時延均值、編程時延均值、讀取時延均值和原始比特錯誤率均值，且所述目標溫度數據為所述任一第二性能測試結果對應的第一溫度數據；
6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所
7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述目標閃存在任一第一溫度數據下的讀寫性能，相比于在所述指定溫度下的讀寫性能的第一變化數據包括：塊擦除時延變化值、編程時延變化值、讀取時延變化值以及比特錯誤率變化值；
8.一種閃存的性能測試裝置，其特征在于，包括：
9.一種電子設備，其特征在于，包括：依次通信相連的存儲器、處理器和收發器，其中，所述存儲器用于存儲計算機程序，所述收發器用于收發消息，所述處理器用于讀取所述計算機程序，執行如權利要求1～7任意一項所述的閃存的性能測試方法。
10.一種包含指令的計算機程序產品，其特征在于，當指令在計算機上運行時，使計算機執行如權利要求1～7任意一項所述的閃存的性能測試方法。
...【技術特征摘要】
1.一種閃存的性能測試方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，獲取目標閃存在指定溫度下的第一讀寫測試數據，包括：
3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，在所述指定溫度下，對所述目標閃存進行擦除處理和寫入處理，以得到所述目標閃存中每個區塊的塊擦除時延、每個區塊中各個頁的頁編程時延以及寫入數據后的目標閃存，包括：
4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一讀寫測試數據包括所述目標閃存中的每個區塊在所述指定溫度下的塊擦除時延，以及每個區塊中的各個頁在所述指定溫度下的頁編程時延、頁讀取時延和原始比特錯誤率；
5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一性能測試結果包括所述目標閃存在所述指定溫度下的塊擦除時延均值、編程時延均值、讀取時延均值和原始比特錯誤率均值，任一第二性能測試結果包括所述目標閃存在目標溫度數據下的塊擦除時延均值、編程時延均值、讀取時延均值和原始比特錯誤率均值，且所述目標溫度數據為所述任一第二性能測試結果對應的第一溫度數據；
6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一性能測試結...
【專利技術屬性】
技術研發人員：邱杰，黃鐘輝，蔣葉蘭，劉海川，鄒飛，黃澤誠，劉健鵬，汪少國，
申請(專利權)人：四川云海芯科微電子科技有限公司，
類型：發明
國別省市：
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