【技術實現步驟摘要】
本申請涉及光模塊測試，具體而言，涉及一種光模塊傳纖性能的測試系統和測試方法。
技術介紹
1、光模塊按照相同的生產方式生產出來，但是因為器件材料密度、尺寸及組裝時不可避免的一些誤差因素，每個光模塊并不一定滿足遠距離光纖傳輸的要求。所以，光模塊在生產完成之后，需要進行遠距離的傳纖測試。
2、目前，對于光模塊的傳纖測試，都是以標準的驅動參數驅動光模塊工作，然后進行遠距離的傳纖測試。該傳纖測試方法一方面會導致光模塊的不良率增加，另一方面還會因為對光模塊的最佳傳輸能力估計錯誤，而難以對光模塊進行準確的質量分級。
3、目前光模塊傳纖測試的準確性不高，無法準確的分辨出光模塊的遠距離傳輸性能。
技術實現思路
1、本申請的內容部分用于以簡要的形式介紹構思，這些構思將在后面的具體實施方式部分被詳細描述。本申請的內容部分并不旨在標識要求保護的技術方案的關鍵特征或必要特征，也不旨在用于限制所要求的保護的技術方案的范圍。
2、作為本申請的第一個方面，為了解決光模塊傳纖測試準確性低的技術問題，本申請提供了一種光模塊傳纖性能的測試系統，包括：
3、測試模塊，用于給待測光模塊提供工作環境；
4、環境模塊，與測試模塊連接，用于提供傳纖測試環境；
5、接收模塊，與環境模塊連接；
6、誤碼儀，分別與測試模塊和接收模塊信號連接，用于測試接收模塊接收的光信號的誤碼率；
7、控制模塊，分別與測試模塊、環境模塊、接收模塊，以及誤碼儀
8、控制模塊控制測試模塊調整對待測光模塊的工作電壓和imod參數，直至誤碼儀監測到誤碼率至預設范圍，將此時的工作電壓和imod參數作為最佳工作參數；
9、在進行傳纖測試時，控制模塊控制測試模塊以最佳工作參數驅動待測光模塊工作，對待測光模塊的靈敏度進行檢測。
10、本申請所提供的技術方案中，在進行靈敏度測試之前，先利用測試模塊對待測光模塊的工作參數進行調整，得到測試模塊的最佳工作參數。在進行傳纖測試時，利用最佳工作參數驅動光模塊工作，對光模塊進行靈敏度的測試，所以能夠準確的對待測光模塊的性能進行評價，準確的對光模塊進行分級。
11、在對光模塊進行傳纖測試時，一般需要設置多種不同的傳纖測試環境。以準確的對光模塊進行評級，為此，在實踐中，會設置多套不同的測試設備，用于提供多種測試環境，如此會導致測試時間長，并且需要多個盈余的測試設備。針對這一問題，本申請提供了如下技術方案：
12、環境模塊包括開關單元、與開關單元相連的傳纖單元；
13、開關單元分別與測試模塊和控制模塊信號連接，傳纖單元與接收模塊信號連接，傳纖單元包括若干個并聯的測試光路；
14、其中，控制模塊控制開關單元以使得測試模塊產生的光信號通過不同的測試光路發送至接收模塊。
15、進一步的，測試光路包括40km的光纖線路和80km的光纖線路。
16、進一步的，開關單元包括輸入部和輸出部；
17、其中，輸入部包括輸入端口、第一連接入口、第二連接入口；
18、輸出部包括輸出端口、第一連接出口、第二連接出口；
19、控制模塊控制輸入端口連接至第一連接入口或連接至第二連接入口，輸入端口連接至測試模塊；
20、控制模塊控制輸出端口連接至第一連接出口或連接至第二連接出口，輸出端口連接至接收模塊；
21、第一連接入口和第一連接出口分別連接至其中一條測試光路的兩端；
22、第二連接入口和第二連接出口分別連接至另一條測試光路的兩端。
23、本申請所提供的技術方案中，利用開關單元和傳纖單元，在傳纖單元內布置多個測試光路，完成對光模塊不同傳纖距離的測試，進而減少測試光模塊時，更換測試設備的步驟，提高了測試效率，并縮小了多個測試設備所占據的空間。
24、進一步的，測試模塊還連接有光功率計。
25、光功率計連接至測試模塊和連接模塊，能夠用于測試接收模塊接收到的光信號的變化，進而用于靈敏度測試。
26、進一步的，所述測試系統還包括光衰減器，光衰減器分別與環境模塊和接收模塊信號連接。
27、光衰減器能夠調整進入rosa端的光功率值的大小，使其滿足零誤碼或者5e~5誤碼的傳纖指標。
28、本申請的有益效果在于：通過對多通道光開關的設計應用，滿足多種距離的傳纖測試方案，可普遍應用于多種傳纖類型的測試項目中，解決了因傳輸距離或設備差異導致的工位搭建復雜繁瑣的問題。并能夠提高工作效率，降低傳纖測試的成本。
29、作為本申請的第二個方面，本申請提供了一種光模塊傳纖性能的測試方法，采用前述的光模塊傳纖性能的測試系統進行光模塊傳纖性能測試：
30、所述的測試方法包括如下步驟：
31、步驟1：控制模塊控制測試模塊調整對待測光模塊的工作電壓和imod參數，直至誤碼儀監測到誤碼率至預設范圍，以得到待測光模塊的最佳工作參數；
32、步驟2：控制模塊控制測試模塊以最佳工作參數驅動待測光模塊工作，對待測光模塊的靈敏度進行檢測；
33、步驟3：根據待測光模塊的靈敏度，判斷光模塊的傳纖性能。
34、本申請所提供的技術方案中，會預先得到待測光模塊的最佳工作參數，再用最佳工作參數驅動待測光模塊進行后續的測試，所以能夠準確的衡量出待測光模塊的性能。
35、進一步的，步驟1包括如下步驟：
36、步驟11：控制模塊設置初始化參數，控制模塊將初始化參數發送至測試模塊，測試模塊用初始化參數驅動待測光模塊發射光信號，光信號經過環境模塊、至接收模塊，誤碼儀用于測試接收模塊接收的信號的誤碼率；
37、步驟12：控制模塊調整光衰減器的衰減值，以將誤碼率調整至9e~6~1e~7的范圍內；
38、其中，9e~6表示每傳輸一百萬比特會有9個比特出錯；
39、1e~7表示，每傳輸一千萬比特會有1個比特出錯；
40、步驟13：控制模塊以步進方式對待測光模塊的工作電壓進行調整，以將誤碼率調整至最佳范圍內；將誤碼率調整至最佳范圍內的電壓作為最佳工作參數；
41、步驟14：控制模塊以步進方式對待測光模塊的imod進行調整，以將誤碼率調整至最佳范圍內；將誤碼率調整至最佳范圍內的電壓作為最佳工作參數。
42、本申請所提供的技術方案中，采用步進的方式對待測光模塊的工作參數進行測試，能夠找到待測光模塊的最佳工作參數。用最佳工作參數驅動待測光模塊工作能夠讓待測光模塊以最好的工作性能進行測試，準確的對待測光模塊進行評級。
43、步驟2包括如下步驟：
44、步驟21：控制模塊將最佳工作參數發送至測試模塊，測試模塊用最佳工作參數驅動待測光模塊發射光信號；
45、步驟22：控制模塊控制開關單元，以使得光信號選擇一條測試光路發送至光衰減器本文檔來自技高網...
【技術保護點】
1.一種光模塊傳纖性能的測試系統，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的光模塊傳纖性能的測試系統，其特征在于：環境模塊包括開關單元、與開關單元相連的傳纖單元；
3.根據權利要求2所述的光模塊傳纖性能的測試系統，其特征在于：測試光路包括40km的光纖線路和80km的光纖線路。
4.根據權利要求2所述的光模塊傳纖性能的測試系統，其特征在于：開關單元包括輸入部和輸出部；
5.根據權利要求1所述的光模塊傳纖性能的測試系統，其特征在于：測試模塊還連接有光功率計。
6.根據權利要求1所述的光模塊傳纖性能的測試系統，其特征在于：所述測試系統還包括光衰減器，光衰減器分別與環境模塊和接收模塊信號連接。
7.一種光模塊傳纖性能的測試方法，采用權利要求1~6中任一項所述的光模塊傳纖性能的測試系統進行光模塊傳纖性能測試：
8.根據權利要求7所述的光模塊傳纖性能的測試方法，其特征在于：步驟1包括如下步驟：
9.根據權利要求7所述的光模塊傳纖性能的測試方法，其特征在于：步驟2包括如下步驟：
【技術特征摘要】
1.一種光模塊傳纖性能的測試系統，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的光模塊傳纖性能的測試系統，其特征在于：環境模塊包括開關單元、與開關單元相連的傳纖單元；
3.根據權利要求2所述的光模塊傳纖性能的測試系統，其特征在于：測試光路包括40km的光纖線路和80km的光纖線路。
4.根據權利要求2所述的光模塊傳纖性能的測試系統，其特征在于：開關單元包括輸入部和輸出部；
5.根據權利要求1所述的光模塊傳纖性能的測試系統，其特征在于：測試...
【專利技術屬性】
技術研發人員：劉偉，姚娜，王丹，熊偉霖，李惠敏，
申請(專利權)人：成都光創聯科技有限公司，
類型：發明
國別省市：
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