【技術實現步驟摘要】
本公開涉及光電子器件頻率響應測量，更具體地，涉及一種光電探測器和電光強度調制器頻率響應的測量裝置和方法。
技術介紹
1、傳統用的電子器件由于電子速率的限制無法傳輸和處理更高頻率的信息，借助于光子技術大帶寬，高速率和抗電磁干擾等優勢，可以解決這些限制，光通信技術和微波光子技術應運而生。光通信技術是把要傳輸的信息調制到光載波上進行傳輸，然后借助于光纖進行傳輸，在接收端解調出原始信息。該技術具有通信容量大，傳輸距離遠等優勢，成為了現代通信的主流方式。微波光子技術是微波和光子學相結合的產物，采用光子學的理論和技術解決微波領域難以解決的電子學問題。微波光子技術主要包括微波毫米波信號的產生，傳輸以及處理。高速光調制技術和高速光檢測技術為以上技術的發展提供的技術基礎，隨著高速光通信技術及微波光子技術的不斷發展，對高速電光調制器和高速光電探測器的頻率響應的測試提出了更高的要求。
2、目前，傳統的光電探測器頻率響應的測試是通過扣除法和光外差的方法進行測試，扣除法是用微波源對直調激光器進行調制，然后掃描微波源產生掃頻邊帶，邊帶和載波在光電探測器表面拍頻產生微波信號，檢測微波信號的幅度可以得到光電探測器的頻率響應，直接調制扣除法存在以下不足。第一，由于激光器調制帶寬的限制，該方法的頻率響應測量范圍受限，不能滿足寬頻帶光電探測器頻率響應測量的需求。第二，該方法難以消除調制器對頻率響應測量的影響。光外差方法是一種有效的測量光電探測器頻率響應的方法，該方法利用兩個窄線寬激光器，產生兩束具有一定頻差的激光，一束激光波長固定，精細調諧另一束激光的波
技術實現思路
1、為解決現有技術中的至少一種技術問題，本公開提供一種光電探測器和電光強度調制器頻率響應的測量裝置和方法，該光電探測器和電光強度調制器頻率響應的測量裝置利用第一調制單元調制第一光信號，利用第二調制單元調制第二光信號，將第一光信號和第二光信號合束后得到第三光信號，利用電光強度調制器將掃頻微波電信號調制到第三光信號產生多個掃頻光邊帶信號，多個掃頻光邊帶信號之間互相拍頻產生頻率分量，測量頻率分量的功率并計算光電探測器在頻率分量的頻率響應得到光電探測器和電光強度調制器的頻率響應曲線，以實現同時測量光電探測器和電光強度調制器的頻率響應，避免在測量過程中兩者的頻率響應對彼此的影響。
2、本公開的實施例提供了一種光電探測器和電光強度調制器頻率響應的測量裝置，包括：激光器，被構造成產生光載波；第一耦合器，被構造成接收上述光載波并將上述光載波分為第一光信號和第二光信號；第一調制單元，被構造成接收上述第一光信號，經過調制后得到第一載波單邊帶光信號；第二調制單元，被構造成接收上述第二光信號，經過調制后得到第二載波單邊帶光信號；第二耦合器，被構造成將上述第一載波單邊帶光信號和上述第二載波單邊帶光信號合束得到第三光信號；電光強度調制器，被構造成將掃頻微波電信號調制到上述第三光信號上，產生多個掃頻光邊帶信號；光電探測器，被構造成將上述多個掃頻光邊帶信號之間互相拍頻產生頻率分量；以及頻譜分析儀，被構造成測量上述頻率分量的功率，計算上述光電探測器在上述頻率分量的頻率響應得到上述光電探測器的頻率響應曲線和上述電光強度調制器的頻率響應曲線。
3、根據本公開的一些實施例，上述第一調制單元被構造成將第一射頻電信號調制到上述第一光信號上得到上述第一載波單邊帶光信號；上述第二調制單元被構造成將第二射頻電信號調制到上述第一光信號上得到上述第二載波單邊帶光信號；其中，上述第一射頻電信號和上述第二射頻電信號為固定頻率的微波信號。
4、根據本公開的一些實施例，上述光電探測器和電光強度調制器頻率響應的測量裝置，還包括：固定頻率微波源，被構造成輸出固定頻率的微波信號；以及功分器，被構造成將上述固定頻率的微波信號分為上述第一射頻電信號和上述第二射頻電信號，上述第一射頻電信號和上述第二射頻電信號功率相等。
5、根據本公開的一些實施例，上述功分器與上述第一調制單元之間、上述功分器與上述第二調制單元之間分別設置有：90度電橋，被構造成使上述第一射頻電信號和上述第二射頻電信號分別分為兩路，一路相移為0度，另一路相移為90度。
6、根據本公開的一些實施例，上述光電探測器和電光強度調制器頻率響應的測量裝置，還包括：掃頻微波源，被構造成產生上述掃頻微波電信號。
7、根據本公開的一些實施例，上述光電探測器和電光強度調制器頻率響應的測量裝置，還包括：控制和數據采集單元，被構造成控制上述掃頻微波源產生上述掃頻微波電信號、掃描上述掃頻光邊帶信號并讀取上述頻率分量的功率。
8、根據本公開的一些實施例，上述光電探測器和電光強度調制器頻率響應的測量裝置，還包括：直流偏置電源，分別與上述第一調制單元、上述第二調制單元和上述電光強度調制器連接，上述直流偏置電源用于設置上述第一調制單元、上述第二調制單元、上述電光強度調制器的偏置點，以使上述第一載波單邊帶光信號、上述第二載波單邊帶光信號產生頻率偏移以及使上述掃頻光邊帶信號處于載波抑制光邊帶狀態。
9、根據本公開的一些實施例，一種光電探測器和電光強度調制器頻率響應測量方法，應用于上述任一所述的光電探測器和電光強度調制器頻率響應的測量裝置，上述光電探測器和電光強度調制器頻率響應測量方法包括：獲取光載波；將上述光載波分為第一光信號和第二光信號；將第一射頻電信號調制到上述第一光信號上，得到第一載波單邊帶光信號，將第二射頻電信號調制到上述第二光信號上，得到第二載波單邊帶光信號，上述第一射頻電信號和上述第二射頻電信號為固定頻率的微波信號；將上述第一載波單邊帶光信號與上述第二載波單邊帶光信號合束，得到第三光信號；將掃頻微波電信號調制到上述第三光信號上，產生多個掃頻光邊帶信號；將上述多個掃頻光邊帶信號輸入待測的光電探測器中，上述多個掃頻光邊帶信號之間互相拍頻產生頻率分量；測量上述頻率分量的功率并計算上述光電探測器在上述頻率分量的頻率響應得到上述光電探測器的頻率響應曲線。
10、根據本公開的一些實施例，上述將掃頻微波電信號調制到上述第三光信號上，產生多個掃頻光邊帶信號包括：將上述第三光信號輸入到待測的電光強度調制器中，將上述掃頻微波電信號調制到上述第三光信號上，產生多個掃頻光邊帶信號；其中，上述方法還包括：測量上述頻率分量的功率并計算上述電光強度調制器與上述掃頻微波電本文檔來自技高網...
【技術保護點】
1.一種光電探測器和電光強度調制器頻率響應的測量裝置，包括：
2.根據權利要求1所述的光電探測器和電光強度調制器頻率響應的測量裝置，其中，
3.根據權利要求1所述的光電探測器和電光強度調制器頻率響應的測量裝置，還包括：
4.根據權利要求1所述的光電探測器和電光強度調制器頻率響應的測量裝置，所述功分器與所述第一調制單元之間、所述功分器與所述第二調制單元之間分別設置有：
5.根據權利要求1所述的光電探測器和電光強度調制器頻率響應的測量裝置，還包括：
6.根據權利要求5所述的光電探測器和電光強度調制器頻率響應的測量裝置，還包括：
7.根據權利要求1所述的光電探測器和電光強度調制器頻率響應的測量裝置，還包括：
8.一種光電探測器和電光強度調制器頻率響應測量方法，應用于權利要求1至7任一所述的光電探測器和電光強度調制器頻率響應的測量裝置，所述光電探測器和電光強度調制器頻率響應測量方法包括：
9.根據權利要求8所述的光電探測器和電光強度調制器頻率響應測量方法，
10.根據權利要求8所述
...【技術特征摘要】
1.一種光電探測器和電光強度調制器頻率響應的測量裝置，包括：
2.根據權利要求1所述的光電探測器和電光強度調制器頻率響應的測量裝置，其中，
3.根據權利要求1所述的光電探測器和電光強度調制器頻率響應的測量裝置，還包括：
4.根據權利要求1所述的光電探測器和電光強度調制器頻率響應的測量裝置，所述功分器與所述第一調制單元之間、所述功分器與所述第二調制單元之間分別設置有：
5.根據權利要求1所述的光電探測器和電光強度調制器頻率響應的測量裝置，還包括：
6.根據權利要求5所述的光電探測器和電光強度調制器頻率響應的測量裝...
【專利技術屬性】
技術研發人員：焦明奇，姜宇軒，袁文洋，雷從彪，鐘光誠，謝亮，
申請(專利權)人：中國科學院半導體研究所，
類型：發明
國別省市：
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