【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及智慧測控領域，尤其涉及一種觸控顯示屏的電磁干擾檢測方法、裝置、設備及存儲介質。
技術介紹
1、在現代科技快速發展的環境下，觸控顯示屏作為人機交互的重要界面之一，在消費電子、工業控制和醫療設備等領域廣泛應用。然而，觸控顯示屏的性能容易受到周圍環境中電磁干擾的影響，這些干擾可能導致觸控精度下降、觸控延遲增加以及誤觸率上升，直接影響到用戶體驗和設備的可靠性。
2、現有的觸控顯示屏電磁干擾檢測技術主要集中在減少干擾對顯示內容和信號傳輸的影響，而對于觸控性能的干擾監測和補償仍然相對不足。目前的方法缺乏針對不同電磁干擾類型的全面評估機制，無法有效地預測和補償干擾條件下的觸控性能變化。此外，現有的研究大多數停留在定性分析或局部干預階段，缺乏整體性的系統分析和優化策略，無法有效應對復雜多變的現實應用場景中的電磁干擾問題。因此，需要開展更深入的研究，建立全面的觸控性能評估體系和智能化的干擾監測與補償技術，以提升觸控顯示屏在各種環境條件下的穩定性和可靠性。
技術實現思路
1、本專利技術提供了一種觸控顯示屏的電磁干擾檢測方法、裝置、設備及存儲介質。
2、本專利技術第一方面提供了一種觸控顯示屏的電磁干擾檢測方法，所述觸控顯示屏的電磁干擾檢測方法包括：
3、預設若干種電磁干擾信號類型，計算每種電磁干擾信號類型的干擾強度指數；所述每種電磁干擾信號類型對應不同的電磁強度、頻率范圍和持續時間；
4、根據預設的電磁干擾信號類型，依次對所述觸控顯示屏進行干
5、基于預設的回歸算法，得到所述干擾強度指數與所述觸控性能指標的第一映射關系；
6、實時監測觸控顯示屏的環境電磁干擾，得到當前電磁干擾數據，并根據所述第一映射關系，預測所述觸控顯示屏的當前觸控性能指標；
7、根據所述當前觸控性能指標，對所述觸控顯示屏進行反補償。
8、可選的，在本專利技術第一方面的第一種實現方式中，所述預設若干種電磁干擾信號類型，計算每種電磁干擾信號類型的干擾強度指數；所述每種電磁干擾信號類型對應不同的電磁強度、頻率范圍和持續時間，包括：
9、預設所述電磁干擾信號的干擾參數；
10、所述干擾參數包括：干擾功率、干擾頻率和干擾持續時間；
11、根據所述干擾參數計算所述干擾強度指數；
12、所述干擾強度指數的計算公式為：
13、；
14、其中是干擾強度指數；是干擾功率；f是干擾頻率；t是干擾持續時間；、、和是調整因子，用于平衡各干擾參數在干擾強度指數中的相對重要性。
15、可選的，在本專利技術第一方面的第二種實現方式中，所述根據預設的電磁干擾信號類型，依次對所述觸控顯示屏進行干擾觸控測試，得到所述觸控顯示屏在每種干擾強度指數下，對應的觸控性能指標，包括：
16、所述觸控性能指標包括：觸控延遲、誤觸率和觸控精度；
17、在每種所述電磁干擾類型下，按照預設的觸控點坐標、觸控持續時間和滑動路徑的進行所述干擾觸控測試；
18、記錄從用戶觸控動作到系統響應的時間差，得到所述觸控延遲；
19、統計在每種所述電磁干擾類型下，所述觸控顯示屏誤識別的觸控次數與總觸控次數的比例，計算所述誤觸率；
20、計算在每種所述干擾強度指數下所述觸控顯示屏的實際觸控坐標與目標觸控坐標的平均坐標偏差，評估所述觸控精度；
21、根據所述觸控顯示屏的觸控延遲、誤觸率和觸控精度，生成所述觸控性能指標。
22、可選的，在本專利技術第一方面的第三種實現方式中，所述計算所述觸控顯示屏的實際觸控坐標與目標觸控坐標的平均坐標偏差，評估所述觸控精度，包括：
23、檢測并記錄每次觸控測試實際觸控到的坐標，得到實際觸控坐標；
24、預設每次觸控測試的目標觸控坐標；
25、計算所有觸控測試在x軸上的平均偏差以及在y軸上的平均偏差；
26、通過歐幾里得距離公式，計算平均坐標偏差；
27、所述歐幾里得距離公式為：；
28、其中，為對應第j次觸控測試的干擾強度指數下的平均坐標偏差；
29、根據所述平均坐標偏差，比較預設的閾值，評估所述觸控顯示屏在各干擾強度指數下，對應的觸控精度。
30、可選的，在本專利技術第一方面的第四種實現方式中，所述基于預設的回歸算法，得到所述干擾強度指數與所述觸控性能指標的第一映射關系，包括：
31、將所述干擾強度指數與所述觸控性能指標輸入預設的回歸算法；
32、所述回歸算法的表達式為：
33、；
34、其中，a是特征變量，即干擾強度指數；b是目標變量，即觸控性能指標；截距項；是斜率系數；是誤差項，表示不可觀測的隨機擾動；
35、基于最小二乘法對所述干擾強度指數和所述觸控性能指標進行擬合，計算所述截距項和所述斜率系數，得到所述第一映射關系；
36、所述截距項和所述斜率系數基于最小二乘法的計算式為：
37、；；
38、其中，和分別是特征變量a和目標變量b的平均值。
39、可選的，在本專利技術第一方面的第五種實現方式中，所述實時監測觸控顯示屏的環境電磁干擾，得到當前電磁干擾數據，并根據所述第一映射關系，預測所述觸控顯示屏的當前觸控性能指標，包括：
40、通過內置的傳感器，實時監測觸控顯示屏的環境電磁干擾，獲取所述環境電磁干擾的電磁強度、頻率范圍和持續時間；
41、根據所述環境電磁干擾的電磁強度、頻率范圍和持續時間，基于所述干擾強度指數的計算公式，計算當前干擾強度指數；
42、將所述當前干擾強度指數輸入預設所述回歸算法，根據所述第一映射關系，預測所述觸控顯示屏的當前觸控性能指標。
43、可選的，在本專利技術第一方面的第六種實現方式中，所述根據所述當前觸控性能指標，對所述觸控顯示屏進行反補償，包括：
44、根據所述觸控顯示屏的當前觸控性能指標，基于第一映射關系，預測當前的觸控延遲、當前的誤觸率和當前的觸控精度；
45、將所述當前的觸控延遲，與無干擾條件下所述觸控顯示屏的平均觸控延遲做差，得到延遲差；
46、根據所述延遲差，對所述觸控顯示屏的采樣頻率進行反補償調節；若延遲差越大，則對應調節更高的采樣頻率；
47、將所述當前的誤觸率，與無干擾條件下所述觸控顯示屏的平均誤觸率做差，得到誤觸水平；
48、根據所述誤觸水平，對所述觸控顯示屏的靈敏度進行反補償調節；誤觸水平越高，則對應調節更低的靈敏度；
49、根據所述當前的觸控精度，匹配當前的平均坐標偏差；
50、將當前檢測到的實際觸控的坐標減去當前的平均坐標偏差，得到當前的優化坐標；
5本文檔來自技高網...
【技術保護點】
1.一種觸控顯示屏的電磁干擾檢測方法，其特征在于，所述觸控顯示屏的抗擾檢測方法包括：
2.根據權利要求1所述的觸控顯示屏的電磁干擾檢測方法，其特征在于，所述預設若干種電磁干擾信號類型，計算每種電磁干擾信號類型的干擾強度指數；所述每種電磁干擾信號類型對應不同的電磁強度、頻率范圍和持續時間，包括：
3.根據權利要求2所述的觸控顯示屏的電磁干擾檢測方法，其特征在于，所述根據預設的電磁干擾信號類型，依次對所述觸控顯示屏進行干擾觸控測試，得到所述觸控顯示屏在每種干擾強度指數下，對應的觸控性能指標，包括：
4.根據權利要求3所述的觸控顯示屏的電磁干擾檢測方法，其特征在于，所述計算所述觸控顯示屏的實際觸控坐標與目標觸控坐標的平均坐標偏差，評估所述觸控精度，包括：
5.根據權利要求4所述的觸控顯示屏的電磁干擾檢測方法，其特征在于，所述基于預設的回歸算法，得到所述干擾強度指數與所述觸控性能指標的第一映射關系，包括：
6.根據權利要求5所述的觸控顯示屏的電磁干擾檢測方法，其特征在于，所述實時監測觸控顯示屏的環境電磁干擾，得到當前電磁干擾數據
7.根據權利要求6所述的觸控顯示屏的電磁干擾檢測方法，其特征在于，所述根據所述當前觸控性能指標，對所述觸控顯示屏進行反補償，包括：
8.一種觸控顯示屏的電磁干擾檢測裝置，其特征在于，所述觸控顯示屏的電磁干擾檢測裝置包括：
9.一種觸控顯示屏的電磁干擾檢測設備，其特征在于，所述觸控顯示屏的電磁干擾檢測設備包括：存儲器和至少一個處理器，所述存儲器中存儲有指令；
10.一種計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質上存儲有指令，其特征在于，所述指令被處理器執行時實現如權利要求1-7中任一項所述的觸控顯示屏的電磁干擾檢測方法。
...【技術特征摘要】
1.一種觸控顯示屏的電磁干擾檢測方法，其特征在于，所述觸控顯示屏的抗擾檢測方法包括：
2.根據權利要求1所述的觸控顯示屏的電磁干擾檢測方法，其特征在于，所述預設若干種電磁干擾信號類型，計算每種電磁干擾信號類型的干擾強度指數；所述每種電磁干擾信號類型對應不同的電磁強度、頻率范圍和持續時間，包括：
3.根據權利要求2所述的觸控顯示屏的電磁干擾檢測方法，其特征在于，所述根據預設的電磁干擾信號類型，依次對所述觸控顯示屏進行干擾觸控測試，得到所述觸控顯示屏在每種干擾強度指數下，對應的觸控性能指標，包括：
4.根據權利要求3所述的觸控顯示屏的電磁干擾檢測方法，其特征在于，所述計算所述觸控顯示屏的實際觸控坐標與目標觸控坐標的平均坐標偏差，評估所述觸控精度，包括：
5.根據權利要求4所述的觸控顯示屏的電磁干擾檢測方法，其特征在于，所述基于預設的回歸算法，得到所述干擾強度指數與所...
【專利技術屬性】
技術研發人員：陳星豪，陳志飛，劉明來，
申請(專利權)人：深圳市瑞桔電子有限公司，
類型：發明
國別省市：
還沒有人留言評論。發表了對其他瀏覽者有用的留言會獲得科技券。