【技術實現步驟摘要】
本技術屬于晶體生長觀察,具體涉及一種導光成像裝置及液相法碳化硅單晶爐。
技術介紹
1、碳化硅(sic)作為重要的第三代半導體材料,具有熱導率高、功率大、耐高溫、抗輻射等優異的性能,主要應用于智能電網、電動汽車、高速列車、先進雷達等領域,是各個國家優先發展的重要材料。
2、新型的液相法碳化硅單晶制備技術,能克服傳統氣相法(pvt法)制備的碳化硅襯底位錯密度高的缺點,獲得更高質量sic單晶襯底。目前對液相法碳化硅單晶生長技術的研究正成為熱點。
3、液相法生長sic晶體時,將硅和助溶劑裝入石墨坩堝中加熱熔化,硅溶液溶解石墨中的碳形成含碳的硅溶液,再sic籽晶浸入溶液中,使得籽晶附近過冷獲得碳過飽和狀態,碳析出在籽晶上外延生長sic單晶。常規的tssg法單晶生長設備在爐蓋設置有ccd相機用于監控爐內單晶生長情況,其成像光線由單晶生長區域上方的保溫氈上開一個通孔透光,ccd相機鏡頭需與通孔和所需觀察區域成一條直線,這種方式下,相機位置和角度可調整范圍很小,一方面可觀察視角小,很難觀察到整個生長區域的情況,生長表面出現變化時難以察覺,監控效果不理想;另一方面,保溫氈上所開通孔需要的孔徑較大,會導致溶液表面散熱降溫,造成結晶或生長界面的溫度梯度加大影響到單晶生長。
4、因此,基于上述技術問題需要設計一種新的導光成像裝置及液相法碳化硅單晶爐。
技術實現思路
1、本技術的目的是提供一種導光成像裝置及液相法碳化硅單晶爐,以解決晶體生長過程中實時觀察監控的技術問題。<
...【技術保護點】
1.一種導光成像裝置,其特征在于,包括:
2.如權利要求1所述的導光成像裝置,其特征在于:
3.如權利要求2所述的導光成像裝置,其特征在于:
4.如權利要求2所述的導光成像裝置,其特征在于:
5.如權利要求2所述的導光成像裝置,其特征在于:
6.一種采用如權利要求1所述導光成像裝置的液相法碳化硅單晶爐,其特征在于,包括:
7.如權利要求6所述的液相法碳化硅單晶爐,其特征在于:
8.如權利要求7所述的液相法碳化硅單晶爐,其特征在于:
9.如權利要求8所述的液相法碳化硅單晶爐,其特征在于:
10.如權利要求8所述的液相法碳化硅單晶爐,其特征在于:
【技術特征摘要】
1.一種導光成像裝置,其特征在于,包括:
2.如權利要求1所述的導光成像裝置,其特征在于:
3.如權利要求2所述的導光成像裝置,其特征在于:
4.如權利要求2所述的導光成像裝置,其特征在于:
5.如權利要求2所述的導光成像裝置,其特征在于:
6.一種采用如權利要求1所...
【專利技術屬性】
技術研發人員:柯尊斌,王晗,陸敏,
申請(專利權)人:常州臻晶半導體有限公司,
類型:新型
國別省市:
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