【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)實(shí)施例涉及芯片反向工程，尤其涉及一種芯片版圖布線的分析方法和裝置。
技術(shù)介紹
1、集成電路的反向設(shè)計(jì)是指對(duì)已經(jīng)制造完成的芯片或集成電路進(jìn)行逆向分析和研究，以獲取其內(nèi)部結(jié)構(gòu)、功能和設(shè)計(jì)信息的過程。對(duì)芯片布線數(shù)據(jù)的逆向分析屬于集成電路反向設(shè)計(jì)重要的一環(huán)。
2、簡(jiǎn)單的布線僅由水平線和豎直線構(gòu)成，隨著芯片設(shè)計(jì)需求和布線技術(shù)的發(fā)展，會(huì)存在傾斜布線的情況。反向設(shè)計(jì)學(xué)習(xí)芯片圖像布線過程中傾斜布線傾斜的角度和方向并不固定，傳統(tǒng)的圖像骨架識(shí)別僅能輔助實(shí)現(xiàn)水平線和豎直線的布線識(shí)別，從而無法實(shí)現(xiàn)對(duì)傾斜布線的準(zhǔn)確搜尋和逆向設(shè)計(jì)，正負(fù)樣本的強(qiáng)不均衡性也無法直接應(yīng)用神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行語(yǔ)義分割的訓(xùn)練推理，特殊布線類型的查詢成為了部分芯片布線特征反向設(shè)計(jì)中的一個(gè)重大挑戰(zhàn)。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、為了解決現(xiàn)有技術(shù)中的問題，本專利技術(shù)提供一種芯片版圖布線的分析方法和裝置，以實(shí)現(xiàn)對(duì)芯片中不同程度的傾斜線進(jìn)行有效的分析。
2、第一方面，本專利技術(shù)還提供一種芯片版圖布線的分析方法，包括：
3、s1、根據(jù)項(xiàng)目類型在原始芯片圖像上進(jìn)行數(shù)據(jù)標(biāo)注；
4、s2、將標(biāo)注數(shù)據(jù)、待訓(xùn)練的芯片圖像以及在芯片圖像上提取到的骨架圖像作為輸入對(duì)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型進(jìn)行訓(xùn)練，以得到訓(xùn)練后的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型；
5、s3、將原始芯片圖像和對(duì)應(yīng)的骨架圖像作為輸入進(jìn)行神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型推理，以得到原始芯片圖像的布線分析結(jié)果。
6、可選的，在所述s3之后還包括：
7、s4、以圖像連通域內(nèi)部像素
8、可選的，所述s1具體包括：
9、采用與原始芯片圖像中相同寬度的方式在原始芯片圖像上進(jìn)行粗標(biāo)注；
10、利用骨架提取算法提取原始芯片圖像的骨架圖像，將粗標(biāo)注數(shù)據(jù)與骨架圖像的交集作為標(biāo)注數(shù)據(jù)。
11、可選的，在s2中計(jì)算神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型的損失時(shí)，根據(jù)骨架圖像計(jì)算骨架位置索引下的損失值。
12、可選的，在所述s3中，將訓(xùn)練后的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的推理結(jié)果與所述骨架圖像的交集作為待分析芯片圖像的布線分析結(jié)果。
13、第二方面，本專利技術(shù)還提供一種芯片版圖布線的分析裝置，包括：
14、標(biāo)注模塊，用于根據(jù)項(xiàng)目類型在原始芯片圖像上進(jìn)行數(shù)據(jù)標(biāo)注；
15、訓(xùn)練模塊，用于將標(biāo)注數(shù)據(jù)、待訓(xùn)練的芯片圖像以及在芯片圖像上提取到的骨架圖像作為輸入對(duì)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型進(jìn)行訓(xùn)練，以得到訓(xùn)練后的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型；
16、推理模塊，用于將原始芯片圖像和對(duì)應(yīng)的骨架圖像作為輸入進(jìn)行神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型推理，以得到原始芯片圖像的布線分析結(jié)果。
17、可選的，該裝置還包括篩選模塊，用于：
18、以圖像連通域內(nèi)部像素?cái)?shù)量為限制條件對(duì)所述布線分析結(jié)果進(jìn)行篩選，以得到篩選后的布線分析結(jié)果。
19、本專利技術(shù)的技術(shù)方案，通過簡(jiǎn)化數(shù)據(jù)的標(biāo)注過程，并基于先驗(yàn)知識(shí)來解決了正負(fù)樣本不均衡問題，提供了一種芯片圖像布線逆向分析方法。該方法可以實(shí)現(xiàn)正負(fù)樣本不均衡、傾斜布線在不同傾斜角度下的精準(zhǔn)識(shí)別，實(shí)現(xiàn)了芯片布線特征反向設(shè)計(jì)中部分特殊布線類型的學(xué)習(xí)。
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1.一種芯片版圖布線的分析方法，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在所述S3之后還包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述S1具體包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在S2中計(jì)算神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型的損失時(shí)，根據(jù)骨架圖像計(jì)算骨架位置索引下的損失值。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在所述S3中，將訓(xùn)練后的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的推理結(jié)果與所述骨架圖像的交集作為待分析芯片圖像的布線分析結(jié)果。
6.一種芯片版圖布線的分析裝置，其特征在于，包括：
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，還包括篩選模塊，用于：
【技術(shù)特征摘要】
1.一種芯片版圖布線的分析方法，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在所述s3之后還包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述s1具體包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在s2中計(jì)算神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型的損失時(shí)，根據(jù)骨架圖像計(jì)算骨架位...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：孫業(yè)旺，鄧辰峰，吳歈，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：蘇州芯聯(lián)成軟件有限公司，
類型：發(fā)明
國(guó)別省市：
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