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    射頻接收機系統觸發延時測試方法、裝置和電子設備制造方法及圖紙

    技術編號:42718673 閱讀:13 留言:0更新日期:2024-09-13 12:07
    本發明專利技術提供了一種射頻接收機系統觸發延時測試方法、裝置和電子設備,涉及通信的技術領域,包括:構建一組采樣率為第一采樣率的目標IQ信號,目標IQ信號的前N位為標記信號,標記信號的電平固定,且標記信號與目標IQ信號的第N+1位信號的電平不同;控制射頻發射機以第一采樣率發射由目標IQ信號合成的射頻信號,同時伴隨發射觸發信號;配置射頻接收機的觸發功能,以使其接收觸發信號,并基于第二采樣率對射頻信號進行采樣,得到射頻采樣信號;根據第一采樣率、第二采樣率、射頻信號中標記信號的位數和射頻采樣信號中標記信號的實際位數,計算射頻接收機的觸發延時。通過該方法可測量射頻接收機的觸發延時,且相對傳統方法提高了測試效率。

    【技術實現步驟摘要】

    本專利技術涉及通信的,尤其是涉及一種射頻接收機系統觸發延時測試方法、裝置和電子設備


    技術介紹

    1、射頻接收機是通信系統中最后重要的環節之一,是接收5g、4g、藍牙等無線信號的關鍵設備,主要用于將無線模擬信號轉化為數字信號以便于對無線通信信號進行解調。但如果射頻接收機系統的觸發延時過長,則會導致adc(analog-to-digital?converter,模數轉換器)采樣5g?nr(new?radio,新無線通信網絡)信號時缺少5g信號關鍵的頭部信息,從而導致解調失敗,其中,觸發延時表示射頻接收機接收到觸發信號的時間與射頻接收機開始接收射頻信號的時間之間的時間差。為解決這一問題,則需要測試出射頻接收機系統觸發延時具體時長,進而減少設計接收機時的系統觸發延時。

    2、現有技術中,如圖1所示,可以在硬件底層寄存器中對射頻接收的觸發信號和射頻信號同時進行adc采樣,然后導出數據比對兩路信號采樣開始時間的時間差,以獲得系統觸發延時,但由于操作寄存器端口會引發接收機的一系列故障,所以上述方法只在研發階段適用,且測試效率較低。非研發階段,用戶無法直接操作寄存器對接收機接收到的觸發信號進行adc采樣,因為接收機接收到的觸發信號屬于接收機功能的一部分,對于用戶并沒有adc采樣的輸出端口,用戶只能對射頻信號進行adc采樣,導致用戶無法測量觸發延時。因此,如何測試射頻接收機系統觸發延時是現有技術中亟需解決的技術問題。


    技術實現思路

    1、本專利技術的目的在于提供一種射頻接收機系統觸發延時測試方法、裝置和電子設備,以實現自動化測量射頻接收機系統觸發延時的目的,并提高了射頻接收機系統觸發延時的測試效率。

    2、第一方面,本專利技術提供一種射頻接收機系統觸發延時測試方法,包括以下步驟:步驟s102,構建一組采樣率為第一采樣率的目標iq信號;其中,目標iq信號的前n位為標記信號,標記信號的電平固定,且標記信號與目標iq信號的第n+1位信號的電平不同;步驟s104,控制射頻發射機以第一采樣率發射由目標iq信號合成的射頻信號;其中,射頻發射機在發射射頻信號時伴隨發射觸發信號;步驟s106,配置射頻接收機的觸發功能,以使射頻接收機接收到觸發信號后,觸發基于第二采樣率對射頻信號進行采樣,得到射頻采樣信號;其中,第二采樣率小于或等于第一采樣率;步驟s108,基于第一采樣率、第二采樣率、射頻信號中標記信號的位數和射頻采樣信號中標記信號的實際位數,計算射頻接收機的觸發延時。

    3、在可選的實施方式中,基于第一采樣率、第二采樣率、射頻信號中標記信號的位數和射頻采樣信號中標記信號的實際位數,計算射頻接收機的觸發延時,包括:基于第一采樣率、第二采樣率和射頻信號中標記信號的位數,計算射頻采樣信號中標記信號的理論位數;基于射頻采樣信號中標記信號的理論位數和射頻采樣信號中標記信號的實際位數,計算射頻采樣信號中標記信號的缺失位數;基于射頻采樣信號中標記信號的缺失位數和第二采樣率,計算射頻接收機的觸發延時。

    4、在可選的實施方式中,在計算射頻接收機的觸發延時之后,還包括:調整射頻信號和第二采樣率之后,重復執行上述步驟,以得到射頻接收機的觸發延時的集合;基于觸發延時的集合確定射頻接收機的觸發延時波動范圍。

    5、在可選的實施方式中,射頻發射機和射頻接收機的時鐘信號同步。

    6、在可選的實施方式中,目標iq信號的第n+1位信號之后為正弦波或余弦波。

    7、在可選的實施方式中,第一采樣率為第二采樣率的整數倍。

    8、在可選的實施方式中,射頻接收機的觸發延時通過以下算式確定:;其中,表示觸發延時,表示射頻信號中標記信號的位數,表示第一采樣率,表示第二采樣率,表示射頻采樣信號中標記信號的實際位數。

    9、第二方面,本專利技術提供一種射頻接收機系統觸發延時測試裝置,包括:構建模塊,用于構建一組采樣率為第一采樣率的目標iq信號;其中,目標iq信號的前n位為標記信號,標記信號的電平固定,且標記信號與目標iq信號的第n+1位信號的電平不同;控制模塊,用于控制射頻發射機以第一采樣率發射由目標iq信號合成的射頻信號;其中,射頻發射機在發射射頻信號時伴隨發射觸發信號;配置模塊,用于配置射頻接收機的觸發功能,以使射頻接收機接收到觸發信號后,觸發基于第二采樣率對射頻信號進行采樣,得到射頻采樣信號;其中,第二采樣率小于或等于第一采樣率;計算模塊,用于基于第一采樣率、第二采樣率、射頻信號中標記信號的位數和射頻采樣信號中標記信號的實際位數,計算射頻接收機的觸發延時。

    10、第三方面,本專利技術提供一種電子設備,包括存儲器、處理器,所述存儲器上存儲有可在所述處理器上運行的計算機程序,所述處理器執行所述計算機程序時實現前述實施方式中任一項所述的射頻接收機系統觸發延時測試方法的步驟。

    11、第四方面,本專利技術提供一種計算機可讀存儲介質,所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機指令,所述計算機指令被處理器執行時實現前述實施方式中任一項所述的射頻接收機系統觸發延時測試方法。

    12、本專利技術提供了一種射頻接收機系統觸發延時測試方法,該方法首先構建出一組采樣率為第一采樣率的目標iq信號,其中,目標iq信號的前n位為標記信號,標記信號的電平固定,且標記信號與目標iq信號的第n+1位信號的電平不同,然后控制射頻發射機以第一采樣率發射由目標iq信號合成的射頻信號,同時伴隨發射觸發信號,接下來,配置射頻接收機的觸發功能,以使射頻接收機接收到觸發信號后,觸發基于第二采樣率對射頻信號進行采樣,得到射頻采樣信號。最后根據第一采樣率、第二采樣率、射頻信號中標記信號的位數和射頻采樣信號中標記信號的實際位數,計算射頻接收機的觸發延時。與傳統操作硬件底層寄存器對觸發信號進行采樣的方法相比,該方法可以實現自動化測量射頻接收機系統觸發延時的目的,且操作難度低,有效地提高了射頻接收機系統觸發延時的測試效率。

    本文檔來自技高網...

    【技術保護點】

    1.一種射頻接收機系統觸發延時測試方法,其特征在于,包括以下步驟:

    2.根據權利要求1所述的射頻接收機系統觸發延時測試方法,其特征在于,基于所述第一采樣率、所述第二采樣率、所述射頻信號中標記信號的位數和所述射頻采樣信號中標記信號的實際位數,計算所述射頻接收機的觸發延時,包括:

    3.根據權利要求1所述的射頻接收機系統觸發延時測試方法,其特征在于,在計算所述射頻接收機的觸發延時之后,還包括:

    4.根據權利要求1所述的射頻接收機系統觸發延時測試方法,其特征在于,所述射頻發射機和所述射頻接收機的時鐘信號同步。

    5.根據權利要求1所述的射頻接收機系統觸發延時測試方法,其特征在于,所述目標IQ信號的第N+1位信號之后為正弦波或余弦波。

    6.根據權利要求1所述的射頻接收機系統觸發延時測試方法,其特征在于,所述第一采樣率為所述第二采樣率的整數倍。

    7.根據權利要求2所述的射頻接收機系統觸發延時測試方法,其特征在于,所述射頻接收機的觸發延時通過以下算式確定:;其中,表示所述觸發延時,表示所述射頻信號中標記信號的位數,表示所述第一采樣率,表示所述第二采樣率,表示所述射頻采樣信號中標記信號的實際位數。

    8.一種射頻接收機系統觸發延時測試裝置,其特征在于,包括:

    9.一種電子設備,包括存儲器、處理器,所述存儲器上存儲有可在所述處理器上運行的計算機程序,其特征在于,所述處理器執行所述計算機程序時實現權利要求1至7中任一項所述的射頻接收機系統觸發延時測試方法的步驟。

    10.一種計算機可讀存儲介質,其特征在于,所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機指令,所述計算機指令被處理器執行時實現權利要求1至7中任一項所述的射頻接收機系統觸發延時測試方法。

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    【技術特征摘要】

    1.一種射頻接收機系統觸發延時測試方法,其特征在于,包括以下步驟:

    2.根據權利要求1所述的射頻接收機系統觸發延時測試方法,其特征在于,基于所述第一采樣率、所述第二采樣率、所述射頻信號中標記信號的位數和所述射頻采樣信號中標記信號的實際位數,計算所述射頻接收機的觸發延時,包括:

    3.根據權利要求1所述的射頻接收機系統觸發延時測試方法,其特征在于,在計算所述射頻接收機的觸發延時之后,還包括:

    4.根據權利要求1所述的射頻接收機系統觸發延時測試方法,其特征在于,所述射頻發射機和所述射頻接收機的時鐘信號同步。

    5.根據權利要求1所述的射頻接收機系統觸發延時測試方法,其特征在于,所述目標iq信號的第n+1位信號之后為正弦波或余弦波。

    6.根據權利要求1所述的射頻接收機系統觸發延時測試方法,其特征在于,所述第一采樣...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:殷爭光王文斌牛冠群樂磊張熠
    申請(專利權)人:蘇州賽邁測控技術有限公司
    類型:發明
    國別省市:

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