【技術實現步驟摘要】
本申請涉及電子電路領域，尤其涉及一種帶隙基準電路的校準方法、裝置、存儲介質和電子設備。
技術介紹
1、帶隙基準電路是每個芯片都必須有的模塊，在高精度的測量芯片中高精度的帶隙基準電路是必不可少的一個模塊，測量芯片為了保證在整個溫度范圍-40℃-125℃內的測量精度維持在一個很高的水平，為測量提供基準電壓的帶隙基準電路在整個溫度范圍-40℃-125℃內溫漂要求較小，為此帶隙基準電路都需要在不同溫度下進行校準。
2、帶隙基準電路的校準包括溫度曲率的校準和輸出電壓值的校準，而溫度曲率的校準通常不僅僅會影響帶隙輸出電壓的溫度曲率特性，還會影響帶隙輸出電壓的絕對值，所以帶隙基準電路的校準需要先進行溫度曲率校準，然后再進行輸出電壓絕對值的校準。
3、然而，帶隙基準電路的校準需要先進行溫度曲率的校準，溫度曲率的校準需要在-40℃、25℃和125℃下分別進行，并且需要將-40℃、25℃和125℃下曲率校準信息的所有編碼對應的輸出電壓都保存，然后再繪制輸出電壓隨溫度變化的曲率曲線，然后再從這些曲率曲線中選擇滿足溫度系數要求的曲率校準編碼。溫度曲率的校準完成后再進行電壓值的校準，電壓值的校準同樣需要在曲率校準信息的固定編碼下的-40℃、25℃和125℃下分別進行，同樣需要將-40℃、25℃和125℃下電壓校準信息的所有編碼對應的輸出電壓都保存，然后再繪制輸出電壓隨電壓校準信息的編碼變化的電壓曲線，然后再從這些電壓曲線中選擇滿足電壓精度的電壓校準編碼。
4、明顯的，現有校準方案需要帶隙基準電路在不同溫度下測量多次，導
技術實現思路
1、本申請提供了一種帶隙基準電路的校準方法、裝置、存儲介質和電子設備，目的在于提高帶隙基準電路的校準效率。
2、為了實現上述目的，本申請提供了以下技術方案：
3、一種帶隙基準電路的校準方法，包括：
4、獲得多個測試溫度的測試次序；
5、確定目標電路在第一溫度下的第一測試結果；所述第一溫度為測試次序最早的測試溫度；所述第一測試結果包括多個測試參數在所述第一溫度下所對應的第一輸出電壓值；所述測試參數包括曲率校準編碼和電壓校準編碼；
6、根據所述第一測試結果，從多個所述測試參數中，獲得第一集合；所述第一集合包括所對應的第一輸出電壓值滿足預設閾值，且曲率校準編碼不同的多個測試參數；
7、確定所述目標電路在第二溫度下的第二測試結果；所述第二溫度的測試次序晚于所述第一溫度；所述第二測試結果包括所述第一集合中每個測試參數在所述第二溫度下所對應的第二輸出電壓值；
8、根據所述第二測試結果，從所述第一集合所示各個測試參數中，獲得第二集合；所述第二集合包括所對應的第二輸出電壓值滿足所述預設閾值的測試參數；
9、基于所述第二集合中校準精度最高的測試參數，確定為所述目標電路的校準參數；所述校準精度基于所述測試參數在不同測試溫度下所對應的輸出電壓值所確定。
10、可選的，根據所述第一測試結果，從多個所述測試參數中，獲得第一集合，包括：
11、從包含同一曲率校準編碼的n個測試參數中，確定符合第一條件的第一測試參數；n表征所述電壓校準編碼的總數；所述第一條件為：所對應的第一輸出電壓值與標定值的差異為最小；
12、從確定得到的m個所述第一測試參數中，確定符合第二條件的第二測試參數；m表征所述電壓校準編碼的總數；所述第二條件為：所對應的第一輸出電壓值滿足預設閾值；
13、基于確定得到的多個所述第二測試參數，生成第一集合。
14、可選的，基于所述第二集合中校準精度最高的測試參數，確定為所述目標電路的校準參數，包括：
15、如果多個測試溫度的數量為3個，確定所述目標電路在第三溫度下的第三測試結果；所述第三溫度的測試次序晚于所述第二溫度；所述第三測試結果包括所述第二集合中每個測試參數在所述第三溫度下所對應的第三輸出電壓值；
16、根據所述第三測試結果，從所述第二集合所示各個測試參數中，獲得第三集合；所述第三集合包括所對應的第三輸出電壓值滿足所述預設閾值的測試參數；
17、基于所述第三集合中校準精度最高的測試參數，確定為所述目標電路的校準參數。
18、可選的，基于所述第三集合中校準精度最高的測試參數，確定為所述目標電路的校準參數，包括：
19、基于所述第三集合中每個測試參數所對應的第一輸出電壓值、第二輸出電壓值以及第三輸出電壓值，結合多個所述測試溫度，確定所述第三集合中每個測試參數所匹配的映射關系；所述映射關系表征同一測試參數下輸出電壓值與測試溫度的關聯關系；
20、基于所述第三集合中每個測試參數所匹配的映射關系，確定所述第三集合中每個測試參數的校準精度；
21、從所述第三集合所示每個測試參數中，篩選校準精度最高的測試參數，確定為所述目標電路的校準參數。
22、可選的，基于所述第三集合中校準精度最高的測試參數，確定為所述目標電路的校準參數，包括：
23、如果多個測試溫度的數量為k個，且k為大于3的整數，確定所述目標電路在第s次測試溫度下的第s個測試結果；其中，s為整數且s＝4,…,k；所述第s次測試溫度所參與的測試參數，基于所述目標電路在第s-1次測試溫度下的第s-1個測試結果所確定；第3次測試溫度為所述第三溫度；第3個測試結果為所述第三測試結果；
24、從第k個測試結果所示多個測試參數中，篩選校準精度最高的測試參數，確定為所述目標電路的校準參數。
25、可選的，基于所述目標電路在第s-1次測試溫度下的第s-1個測試結果，確定所述第s次測試溫度所參與的測試參數，包括：
26、確定所述目標電路在第s-1次測試溫度下的第s-1個測試結果；所述第s-1個測試結果包括所述第三集合中的部分測試參數在所述第s-1個測試溫度下所對應的輸出電壓值；
27、根據所述第s-1個測試結果，從所述第三集合的部分測試參數中，確定滿足預設要求的目標測試參數；所述預設要求為：所述目標測試參數在所述第s-1次測試溫度下所對應的輸出電壓值，符合所述預設閾值；
28、基于所述目標測試參數，確定為所述第s次測試溫度所參與的測試參數。
29、可選的，所述第s次測試溫度所參與的測試參數的總數，小于或等于所述第s-1次測試溫度所參與的測試參數的總數。
30、一種帶隙基準電路的校準裝置，包括：
31、次序確定單元，用于獲得多個測試溫度的測試次序；
32、初始測試單元，用于確定目標電路在第一溫度下的第一測試結果；所述第一溫度為測試次序最早的測試溫度；所述第一測試結果包括多個測試參數在所述第一溫度下所對應的第一輸出電壓值；所述測試參數包括曲率校準編碼和電壓校準編碼；
33、初始篩選單元，用于根據所述第一測試結果，從多個本文檔來自技高網...
【技術保護點】
1.一種帶隙基準電路的校準方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述第一測試結果，從多個所述測試參數中，獲得第一集合，包括：
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述第二集合中校準精度最高的測試參數，確定為所述目標電路的校準參數，包括：
4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，基于所述第三集合中校準精度最高的測試參數，確定為所述目標電路的校準參數，包括：
5.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，基于所述第三集合中校準精度最高的測試參數，確定為所述目標電路的校準參數，包括：
6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，基于所述目標電路在第s-1次測試溫度下的第s-1個測試結果，確定所述第s次測試溫度所參與的測試參數，包括：
7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述第s次測試溫度所參與的測試參數的總數，小于或等于所述第s-1次測試溫度所參與的測試參數的總數。
8.一種帶隙基準電路的校準裝置，其特征在于，包括：
9.一種存儲介質，其特征在于
10.一種電子設備，其特征在于，包括：處理器、存儲器和總線；所述處理器與所述存儲器通過所述總線連接；
...【技術特征摘要】
1.一種帶隙基準電路的校準方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述第一測試結果，從多個所述測試參數中，獲得第一集合，包括：
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述第二集合中校準精度最高的測試參數，確定為所述目標電路的校準參數，包括：
4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，基于所述第三集合中校準精度最高的測試參數，確定為所述目標電路的校準參數，包括：
5.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，基于所述第三集合中校準精度最高的測試參數，確定為所述目標電路的校準參數，包括：
6.根據權利要求5所述的...
【專利技術屬性】
技術研發人員：孫占杰，趙輝，
申請(專利權)人：國民技術股份有限公司，
類型：發明
國別省市：
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