【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及光學鍍膜，具體是涉及一種光學鍍膜元件透、反射率測試系統及方法。
技術介紹
1、光學鍍膜技術廣泛應用于各行各業中，從精密光學設備、顯示器設備到日常生活中的光學薄膜應用，比方說，平時戴的眼鏡、數碼相機、各式家電用品，或者是鈔票上的防偽技術，皆能被稱之為光學薄膜技術應用或者其技術上的延伸，倘若沒有光學薄膜技術作為發展基礎，近代光電、通訊或是激光技術將無法進展，這顯示出光學薄膜技術研究發展的重要性。
2、目前對于光學鍍膜元件的透、反射率測試還存在著無法對光學膜的光學特性進行準確分析，無法選取出特定波長的光線對光學鍍膜元件進行測試，無法根據光學膜和未鍍膜元件的基礎性能對光學鍍膜元件的光學性能進行預測，無法對光學鍍膜元件測試數據進行準確分析、評估的問題。
技術實現思路
1、為解決上述技術問題，提供一種光學鍍膜元件透、反射率測試系統及方法，本技術方案解決了上述
技術介紹
中提出的無法對光學膜的光學特性進行準確分析，無法選取出特定波長的光線對光學鍍膜元件進行測試，無法根據光學膜和未鍍膜元件的基礎性能對光學鍍膜元件的光學性能進行預測，無法對光學鍍膜元件測試數據進行準確分析、評估的問題。
2、為達到以上目的，本專利技術采用的技術方案為：
3、一種光學鍍膜元件透、反射率測試方法，包括：
4、獲取光學鍍膜元件信息，所述光學鍍膜元件信息包括光學膜信息和未鍍膜元件信息；
5、對光學膜進行光學測試，獲取光學膜透過曲線；
6、根據光
7、基于光學膜特征波長信息，對光學膜進行光學檢測，獲取光學膜特征數據集；
8、基于透過光線強度分析，獲取未鍍膜元件的透過率，所述未鍍膜元件的透過率為光學膜特征波長下的透過率；
9、根據未鍍膜元件的透過率，獲取未鍍膜元件光學性能數據；
10、根據光學膜特征數據集和未鍍膜元件光學性能數據，獲取光學膜光學性能數據，所述光學膜光學性能數據為對未鍍膜元件進行鍍膜后的光學膜光學性能特征信息；
11、根據光學膜光學性能數據和未鍍膜元件光學性能數據，獲取光學鍍膜元件性能信息。
12、優選的，所述根據光學膜透過曲線，獲取光學膜特征波長信息，具體包括：
13、根據光學膜透過曲線，獲取透過曲線極值信息，所述透過曲線極值信息包括透過曲線極值點坐標信息；
14、其中，所述透過曲線極值點坐標的橫坐標為光線波長，縱坐標為光線波長下對應的光學膜透過率；
15、根據透過曲線極值信息，獲取光線波長下對應的折射率；
16、根據光線波長下對應的折射率，對透過曲線極值點進行篩選，獲取透過曲線極值特征點信息；
17、根據透過曲線極值特征點信息，獲取光學膜特征波長信息；
18、所述光線波長下對應的折射率計算公式為：
19、
20、式中，為第x個透過曲線極值點的光學膜透過率，為光程差，為第x個透過曲線極值點的折射率，為光學膜的厚度，為第x個透過曲線極值點的光線波長。
21、優選的，所述根據透過曲線極值特征點信息，獲取光學膜特征波長信息，具體包括：
22、對光學膜進行折射率基礎測試，將入射光線以垂直于光學膜表面的角度射入光學膜，獲取光學膜折射測試數據，所述光學膜折射測試數據包括光學膜折射角數據和光線波長數據；
23、其中，入射光線的波長與透過曲線極值點的光線波長相同；
24、根據光學膜折射測試數據，獲取光學膜基礎折射率：
25、
26、式中，為第x個透過曲線極值點的光學膜基礎折射率，為空氣折射率，為光學膜折射角；
27、根據透過曲線極值點的折射率和光學膜基礎折射率，獲取光學鍍膜折射差異系數：
28、
29、基于光學膜分析需求，獲取光學鍍膜折射差異系數閾值；
30、根據光學鍍膜折射差異系數和光學鍍膜折射差異系數閾值，判斷透過曲線極值點是否符合分析需求；
31、其中，若透過曲線極值點的光學鍍膜折射差異系數超出光學鍍膜折射差異系數閾值，則該透過曲線極值點的不可用；
32、若透過曲線極值點的光學鍍膜折射差異系數未超出光學鍍膜折射差異系數閾值，則該透過曲線極值點的可用，即該透過曲線極值點為透過曲線極值特征點，獲取透過曲線極值特征點信息；
33、根據透過曲線極值特征點信息，獲取光學膜特征波長信息，所述光學膜特征波長信息為透過曲線極值特征點對應的光線波長。
34、優選的，所述根據未鍍膜元件的透過率，獲取未鍍膜元件光學性能數據，具體包括：
35、根據未鍍膜元件信息，獲取未鍍膜元件材料信息和未鍍膜元件參數信息；
36、根據未鍍膜元件材料信息和未鍍膜元件參數信息，獲取未鍍膜元件透過曲線信息；
37、根據光學膜特征波長信息和未鍍膜元件透過曲線信息，獲取未鍍膜元件的透過率，，其中表示未鍍膜元件透過曲線中與第n個光學膜特征波長相對應的透過率；
38、根據未鍍膜元件的透過率，獲取未鍍膜元件反射率：
39、
40、式中，表示第y個光學膜特征波長下的未鍍膜元件反射率，表示第y個光學膜特征波長下未鍍膜元件的透過率，n為光學膜特征波長總數目；
41、根據未鍍膜元件反射率，獲取未鍍膜元件折射率：
42、
43、式中，表示第y個光學膜特征波長下的未鍍膜元件折射率；
44、根據未鍍膜元件反射率和未鍍膜元件折射率，獲取未鍍膜元件光學性能數據。
45、優選的，所述根據光學膜特征數據集和未鍍膜元件光學性能數據，獲取光學膜光學性能數據，具體包括：
46、根據光學膜特征波長信息和光學膜透過曲線，建立光學膜特征數據集d，即：
47、
48、式中，為第n個光學膜特征波長，為第n個光學膜特征波長下的光學膜折射率，為光學膜透過曲線中與第n個光學膜特征波長相對應的光學膜透過率；
49、根據光學膜特征數據集和未鍍膜元件光學性能數據，獲取光學膜鍍膜反射率，所述光學膜鍍膜反射率表示對未鍍膜元件進行光學鍍膜后光學膜的反射率；
50、根據光學膜鍍膜反射率和光學膜透過率，獲取光學膜光學性能數據；
51、其中，光學膜鍍膜反射率的計算公式為：
52、
53、式中，為第y個光學膜特征波長下的光學膜鍍膜反射率，i為虛數單位，為空氣折射率，為第y個光學膜特征波長下的光學膜折射率，表示第y個光學膜特征波長下的未鍍膜元件折射率，為光學膜的厚度，為第y個光學膜特征波長。
54、優選的，所述根據光學膜光學性能數據和未鍍膜元件光學性能數據，獲取光學鍍膜元件性能信息，具體包括：
55、根據光學膜光學性能數據和未鍍膜元件光學性能數據，獲取光學鍍膜元件基礎性能信息，所述光本文檔來自技高網...
【技術保護點】
1.一種光學鍍膜元件透、反射率測試方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的一種光學鍍膜元件透、反射率測試方法，其特征在于，所述根據光學膜透過曲線，獲取光學膜特征波長信息，具體包括：
3.根據權利要求2所述的一種光學鍍膜元件透、反射率測試方法，其特征在于，所述根據透過曲線極值特征點信息，獲取光學膜特征波長信息，具體包括：
4.根據權利要求1所述的一種光學鍍膜元件透、反射率測試方法，其特征在于，所述根據未鍍膜元件的透過率，獲取未鍍膜元件光學性能數據，具體包括：
5.根據權利要求1所述的一種光學鍍膜元件透、反射率測試方法，其特征在于，所述根據光學膜特征數據集和未鍍膜元件光學性能數據，獲取光學膜光學性能數據，具體包括：
6.根據權利要求1所述的一種光學鍍膜元件透、反射率測試方法，其特征在于，所述根據光學膜光學性能數據和未鍍膜元件光學性能數據，獲取光學鍍膜元件性能信息，具體包括：
7.一種光學鍍膜元件透、反射率測試系統，用于實現如權利要求1-6任一項所述的測試方法，其特征在于，包括：
8.根據權利
9.根據權利要求7所述的一種光學鍍膜元件透、反射率測試系統，其特征在于，所述信息獲取模塊，具體包括：
10.根據權利要求7所述的一種光學鍍膜元件透、反射率測試系統，其特征在于，所述計算模塊，具體包括：
...【技術特征摘要】
1.一種光學鍍膜元件透、反射率測試方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的一種光學鍍膜元件透、反射率測試方法，其特征在于，所述根據光學膜透過曲線，獲取光學膜特征波長信息，具體包括：
3.根據權利要求2所述的一種光學鍍膜元件透、反射率測試方法，其特征在于，所述根據透過曲線極值特征點信息，獲取光學膜特征波長信息，具體包括：
4.根據權利要求1所述的一種光學鍍膜元件透、反射率測試方法，其特征在于，所述根據未鍍膜元件的透過率，獲取未鍍膜元件光學性能數據，具體包括：
5.根據權利要求1所述的一種光學鍍膜元件透、反射率測試方法，其特征在于，所述根據光學膜特征數據集和未鍍膜元件光學性能數據，獲取光學膜光...
【專利技術屬性】
技術研發人員：李勤剛，李奕祥，張鶴，李子未，
申請(專利權)人：聯合光科技北京有限公司，
類型：發明
國別省市：
還沒有人留言評論。發表了對其他瀏覽者有用的留言會獲得科技券。