【技術實現步驟摘要】
本申請屬于電子測試相關，具體涉及一種測試板卡電源紋波的夾具。
技術介紹
1、在電子器件的設計和制造過程中，電源紋波和噪聲是影響電路性能和穩定性的關鍵因素，因此為了確保電子器件在合適的工作環境下運行，對電源紋波和噪聲的測試成為電路調試過程中的必要環節。傳統的電源紋波測試方法中，示波器的接地方式常通過帶有長接地引線的示波器探針進行，這種方式容易形成較大的接地回路，從而引入空間中的電磁波干擾，導致紋波和噪聲測試值增大，影響測量的準確性。
2、現有技術在板卡的電源紋波測試中存在的測試精度受限的技術問題。
3、申請內容
4、本申請提供了一種測試板卡電源紋波的夾具，解決了現有技術在板卡的電源紋波測試中存在的測試精度受限的技術問題，達到了通過減少接地回路，實現精確測量電源紋波的技術效果。
5、為了解決上述問題，本申請提供了一種測試板卡電源紋波的夾具，包括：表筆主體、bnc射頻線纜、接地線，所述bnc射頻線纜與表筆主體通過第一焊點進行焊接，所述接地線與所述表筆主體通過第二焊點進行焊接。
6、優選的，所述表筆主體包括：第一表筆筆尖，所述第一表筆筆尖通過上板表筆筆尖安裝槽固定于上板主體中，具有第一端和第二端，其中，所述第一端用于與待測電源連接，所述第二端用于連接所述bnc射頻線纜；第二表筆筆尖，所述第二表筆筆尖通過下板表筆筆尖安裝槽固定于下板主體中，具有第三端和第四端，其中，所述第三端用于與所述待測電源連接，所述第四端用于連接所述接地線；接地線線槽，所述接地線線槽用于穿過上板主體和下板主體
7、優選的，當所述上板限位柱與所述下板限位柱安裝在一起時，所述下板限位柱與所述上板限位柱間隙配合，控制所述第一表筆筆尖和所述第二表筆筆尖之間的距離為限位距離。
8、優選的，所述bnc射頻線纜包括同軸射頻線外絕緣層、同軸射頻線金屬屏蔽網、同軸射頻線絕緣層和同軸射頻線內導體；將所述第一表筆筆尖與所述同軸射頻線內導體在所述上板主體的第一焊點進行焊接，執行所述bnc射頻線纜與所述第一表筆筆尖的連接。
9、優選的，將所述第二表筆筆尖與所述接地線在所述下板主體的第二焊點進行焊接，執行所述接地線與所述第二表筆筆尖的連接。
10、優選的，所述第一表筆筆尖與所述第二表筆筆尖的布設方式為對稱平行設置。
11、優選的，所述上板主體的第一外部結構與所述下板主體的第二外部結構相同。
12、優選的，所述第一表筆筆尖和所述第二表筆筆尖均為低阻金屬片。
13、本申請中的上述一個或多個技術方案，至少具有如下一種或多種技術效果：
14、本申請提供了一種測試板卡電源紋波的夾具，包括：表筆主體、bnc射頻線纜、接地線，bnc射頻線纜與表筆主體通過第一焊點進行焊接，接地線與表筆主體通過第二焊點進行焊接。解決了現有技術在板卡的電源紋波測試中存在的測試精度受限的技術問題，達到了通過減少接地回路，實現精確測量電源紋波的技術效果。
技術實現思路
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1.一種測試板卡電源紋波的夾具，其特征在于，包括：表筆主體、BNC射頻線纜、接地線，所述BNC射頻線纜與表筆主體通過第一焊點進行焊接，所述接地線與所述表筆主體通過第二焊點進行焊接。
2.如權利要求1所述的夾具，其特征在于，所述表筆主體包括：
3.如權利要求2所述的夾具，其特征在于，當所述上板限位柱與所述下板限位柱安裝在一起時，所述下板限位柱與所述上板限位柱間隙配合，控制所述第一表筆筆尖和所述第二表筆筆尖之間的距離為限位距離。
4.如權利要求2所述的夾具，其特征在于，所述BNC射頻線纜包括同軸射頻線外絕緣層、同軸射頻線金屬屏蔽網、同軸射頻線絕緣層和同軸射頻線內導體；
5.如權利要求2所述的夾具，其特征在于，將所述第二表筆筆尖與所述接地線在所述下板主體的第二焊點進行焊接，執行所述接地線與所述第二表筆筆尖的連接。
6.如權利要求2所述的夾具，其特征在于，所述第一表筆筆尖與所述第二表筆筆尖的布設方式為對稱平行設置。
7.如權利要求2所述的夾具，其特征在于，所述上板主體的第一外部結構與所述下板主體的第二外部結構相同。<...
【技術特征摘要】
1.一種測試板卡電源紋波的夾具，其特征在于，包括：表筆主體、bnc射頻線纜、接地線，所述bnc射頻線纜與表筆主體通過第一焊點進行焊接，所述接地線與所述表筆主體通過第二焊點進行焊接。
2.如權利要求1所述的夾具，其特征在于，所述表筆主體包括：
3.如權利要求2所述的夾具，其特征在于，當所述上板限位柱與所述下板限位柱安裝在一起時，所述下板限位柱與所述上板限位柱間隙配合，控制所述第一表筆筆尖和所述第二表筆筆尖之間的距離為限位距離。
4.如權利要求2所述的夾具，其特征在于，所述bnc射頻線纜包括同軸射頻線外絕緣層、...
【專利技術屬性】
技術研發人員：王鑫，
申請(專利權)人：聯想長風科技北京有限公司，
類型：發明
國別省市：
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