System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和長度必須引用該字符串內(nèi)的位置。 參數(shù)名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind()
【技術實現(xiàn)步驟摘要】
本申請實施例涉及電路模件測試,尤其涉及一種電路模件測試方法、裝置及設備。
技術介紹
1、在某些特殊領域使用的電路模件要求其必須具備高可靠性,模擬其工作過程并測試其性能指標是保證電路模件可靠性的關鍵環(huán)節(jié)。采用自動測試設備對被測的電路模件進行測試,不僅能減少測試時間成本,還能提高測試數(shù)據(jù)的可靠性、一致性。現(xiàn)有的自動化測試設備、測試軟件大都基于產(chǎn)品整機系統(tǒng)進行設計、開發(fā),針對組成整機系統(tǒng)的電路模件的自動化測試設備較少,導致電路模件的測試難度大。
技術實現(xiàn)思路
1、為解決現(xiàn)有技術沒有針對組成整機系統(tǒng)的電路模件的自動化測試的問題,以及電路模件測試沒有考慮測試軟件與測試模塊之間的通信特點,導致能夠自動化獲取的測試數(shù)據(jù)不夠全面,自動化測試的通用性較低的問題,本申請實施例提供了一種電路模件測試方法、裝置及設備。
2、根據(jù)本申請實施例的第一方面,提供一種電路模件測試方法,應用于測試設備,所述測試設備用于對所述電路模件的目標指標進行測試,所述電路模件測試方法包括:
3、發(fā)送第一測試指令至第一測試模塊,在所述第一測試模塊執(zhí)行所述第一測試指令指示的動作后,從所述第一測試模塊獲取第一測試數(shù)據(jù);
4、發(fā)送第二測試指令至第二測試模塊,在所述第二測試模塊執(zhí)行所述第二測試指令指示的動作后,從通信模塊獲取第二測試數(shù)據(jù),其中所述通信模塊與所述第二測試模塊通信連接;
5、根據(jù)所述第一測試數(shù)據(jù)和所述第二測試數(shù)據(jù)確定所述目標指標對應的測試值;
6、基于所述測試值與所
7、可選的,所述從通信模塊獲取第二測試數(shù)據(jù),包括;
8、等待所述通信模塊回傳所述第二測試數(shù)據(jù)。
9、可選的,所述電路模件測試方法包括:
10、在第一階段或第四階段執(zhí)行所述發(fā)送所述第一測試指令至第一測試模塊的步驟,在第二階段或第五階段執(zhí)行所述發(fā)送所述第二測試指令至第二測試模塊的步驟,在第三階段或第六階段執(zhí)行所述等待所述通信模塊回傳所述第二測試數(shù)據(jù)的步驟。
11、可選的,所述根據(jù)所述第一測試數(shù)據(jù)和所述第二測試數(shù)據(jù)確定所述目標指標對應的測試值,包括:
12、根據(jù)所述目標指標對應的組合方式對所述第一測試數(shù)據(jù)與所述第二測試數(shù)據(jù)進行組合,得到所述目標指標對應的測試值。
13、可選的,在對所述第一測試數(shù)據(jù)與所述第二測試數(shù)據(jù)進行組合之前,所述電路模件測試方法還包括:
14、根據(jù)所述通信模塊對應的通信協(xié)議對所述第一測試數(shù)據(jù)和/或所述第二測試數(shù)據(jù)進行校驗。
15、可選的,在對所述第一測試數(shù)據(jù)與所述第二測試數(shù)據(jù)進行組合之前,所述電路模件測試方法還包括:
16、對所述第一測試數(shù)據(jù)和/或所述第二測試數(shù)據(jù)進行目標字節(jié)的提取。
17、可選的,在對所述第一測試數(shù)據(jù)與所述第二測試數(shù)據(jù)進行組合之前,所述電路模件測試方法還包括:
18、根據(jù)所述目標指標對應的單位對所述第一測試數(shù)據(jù)和/或所述第二測試數(shù)據(jù)進行轉(zhuǎn)換。
19、可選的,在發(fā)送測試指令至測試模塊之前,所述電路模件測試方法還包括:
20、獲取測試人員制作的測試流程文件,從所述測試流程文件中讀取測試指令,其中,所述測試指令包括所述第一測試指令和所述第二測試指令。
21、根據(jù)本申請實施例的第二方面,提供一種電路模件測試裝置,所述電路模件測試裝置包括:
22、第一獲取模塊,用于發(fā)送第一測試指令至第一測試模塊,在所述第一測試模塊執(zhí)行所述第一測試指令指示的動作后,從所述第一測試模塊獲取第一測試數(shù)據(jù);
23、第二獲取模塊,用于發(fā)送第二測試指令至第二測試模塊,在所述第二測試模塊執(zhí)行所述第二測試指令指示的動作后,從通信模塊獲取第二測試數(shù)據(jù),其中所述通信模塊與所述第二測試模塊通信連接;
24、第一確定模塊,用于根據(jù)所述第一測試數(shù)據(jù)和所述第二測試數(shù)據(jù)確定所述目標指標對應的測試值;
25、第二確定模塊,用于基于所述測試值與所述目標指標對應的理論值的比較結(jié)果,確定所述電路模件是否測試合格。
26、可選的,所述第二獲取模塊從通信模塊獲取第二測試數(shù)據(jù),包括;
27、所述第二獲取模塊等待所述通信模塊回傳所述第二測試數(shù)據(jù)。
28、可選的,所述第一獲取模塊用于在第一階段或第四階段執(zhí)行所述發(fā)送所述第一測試指令至第一測試模塊的步驟;
29、所述第二獲取模塊用于在第二階段或第五階段執(zhí)行所述發(fā)送所述第二測試指令至第二測試模塊的步驟,在第三階段或第六階段執(zhí)行所述等待所述通信模塊回傳所述第二測試數(shù)據(jù)的步驟。
30、可選的,所述第一確定模塊用于根據(jù)所述目標指標對應的組合方式對所述第一測試數(shù)據(jù)與所述第二測試數(shù)據(jù)進行組合,得到所述目標指標對應的測試值。
31、可選的,所述電路模件測試裝置還包括:
32、校驗模塊,用于在對所述第一測試數(shù)據(jù)與所述第二測試數(shù)據(jù)進行組合之前,根據(jù)所述通信模塊對應的通信協(xié)議對所述第一測試數(shù)據(jù)和/或所述第二測試數(shù)據(jù)進行校驗。
33、可選的,所述電路模件測試裝置還包括:
34、提取模塊,用于在對所述第一測試數(shù)據(jù)與所述第二測試數(shù)據(jù)進行組合之前,對所述第一測試數(shù)據(jù)和/或所述第二測試數(shù)據(jù)進行目標字節(jié)的提取。
35、可選的,所述電路模件測試裝置還包括:
36、轉(zhuǎn)換模塊,用于在對所述第一測試數(shù)據(jù)與所述第二測試數(shù)據(jù)進行組合之前,根據(jù)所述目標指標對應的單位對所述第一測試數(shù)據(jù)和/或所述第二測試數(shù)據(jù)進行轉(zhuǎn)換。
37、可選的,所述電路模件測試裝置還包括:
38、第三獲取模塊,用于在發(fā)送測試指令至測試模塊之前,獲取測試人員制作的測試流程文件,從所述測試流程文件中讀取測試指令,其中,所述測試指令包括所述第一測試指令和所述第二測試指令。
39、根據(jù)本申請實施例的第三方面,提供一種電路模件測試設備,包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序,其中,所述處理器執(zhí)行所述程序時實現(xiàn)上述第一方面提供的任一種電路模件測試方法。
40、本申請?zhí)峁┑募夹g方案可以包括以下有益效果:
41、本申請通過發(fā)送第一測試指令至第一測試模塊,在所述第一測試模塊執(zhí)行所述第一測試指令指示的動作后,從所述第一測試模塊獲取第一測試數(shù)據(jù);通過發(fā)送第二測試指令至第二測試模塊,在所述第二測試模塊執(zhí)行所述第二測試指令指示的動作后,從通信模塊獲取第二測試數(shù)據(jù),其中所述通信模塊與所述第二測試模塊通信連接;根據(jù)所述第一測試數(shù)據(jù)和所述第二測試數(shù)據(jù)確定所述目標指標對應的測試值;基于所述測試值與所述目標指標對應的理論值的比較結(jié)果,確定所述電路模件是否測試合格。本申請能夠自動化獲取兩種類型的數(shù)據(jù),第一類是基于測試軟件與測試模塊直接通信,直接從測試模塊獲取的第一測試數(shù)據(jù),第二類是基于測試軟件與測試模塊間接通信,從與測試模塊本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術保護點】
1.一種電路模件測試方法,其特征在于,應用于測試設備,所述測試設備用于對所述電路模件的目標指標進行測試,所述電路模件測試方法包括:
2.根據(jù)權利要求1所述的電路模件測試方法,其特征在于,所述從通信模塊獲取第二測試數(shù)據(jù),包括;
3.根據(jù)權利要求2所述的電路模件測試方法,其特征在于,所述電路模件測試方法包括:
4.根據(jù)權利要求1所述的電路模件測試方法,其特征在于,所述根據(jù)所述第一測試數(shù)據(jù)和所述第二測試數(shù)據(jù)確定所述目標指標對應的測試值,包括:
5.根據(jù)權利要求4所述的電路模件測試方法,其特征在于,在對所述第一測試數(shù)據(jù)與所述第二測試數(shù)據(jù)進行組合之前,所述電路模件測試方法還包括:
6.根據(jù)權利要求4所述的電路模件測試方法,其特征在于,在對所述第一測試數(shù)據(jù)與所述第二測試數(shù)據(jù)進行組合之前,所述電路模件測試方法還包括:
7.根據(jù)權利要求4所述的電路模件測試方法,其特征在于,在對所述第一測試數(shù)據(jù)與所述第二測試數(shù)據(jù)進行組合之前,所述電路模件測試方法還包括:
8.根據(jù)權利要求1-7任一項所述的電路模件測試方法,其特征在
9.一種電路模件測試裝置,其特征在于,所述電路模件測試裝置包括:
10.一種電路模件測試設備,包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序,其中,所述處理器執(zhí)行所述程序時實現(xiàn)如權利要求1-8任一項所述的電路模件測試方法。
...【技術特征摘要】
1.一種電路模件測試方法,其特征在于,應用于測試設備,所述測試設備用于對所述電路模件的目標指標進行測試,所述電路模件測試方法包括:
2.根據(jù)權利要求1所述的電路模件測試方法,其特征在于,所述從通信模塊獲取第二測試數(shù)據(jù),包括;
3.根據(jù)權利要求2所述的電路模件測試方法,其特征在于,所述電路模件測試方法包括:
4.根據(jù)權利要求1所述的電路模件測試方法,其特征在于,所述根據(jù)所述第一測試數(shù)據(jù)和所述第二測試數(shù)據(jù)確定所述目標指標對應的測試值,包括:
5.根據(jù)權利要求4所述的電路模件測試方法,其特征在于,在對所述第一測試數(shù)據(jù)與所述第二測試數(shù)據(jù)進行組合之前,所述電路模件測試方法還包括:
6.根據(jù)權利要求4所述的...
【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員:趙楊梅,蘇璟,田謹曉,劉帥,熊天華,
申請(專利權)人:北京航天新立科技有限公司,
類型:發(fā)明
國別省市:
還沒有人留言評論。發(fā)表了對其他瀏覽者有用的留言會獲得科技券。