【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及一種外部源組件和相關聯的部件，包括用于電阻溫度檢測器的透鏡組件和外殼。
技術介紹
1、氣相色譜(gc)是公知的分析分離技術。包含固定相的柱設置在gc烘箱中。樣品與流動相(載氣)一起被引入柱中，并且由gc烘箱加熱。樣品與柱中的固定相相互作用，并且樣品的成分以不同的速率從柱的端部洗脫，這取決于它們的化學和物理性質以及與固定相的親和性。例如，流動相可包括惰性或非反應性氣體，諸如氦氣或氮氣。
2、眾所周知，gc烘箱與質譜儀(ms)——即所謂的gc/ms系統布置結構——接口連接，以用于分析樣品的分離成分。
3、一般而言，質譜儀包括離子源、質量分析儀和檢測器。存在不同類型的離子源。本說明書中所述的類型的質譜儀的離子源包括內部源組件和外部源組件。來自gc的樣品的進入成分(gc洗脫液)首先被引入內部源組件中。在這里，它們在與由一根或多根燈絲發射的電子碰撞后通過離子源電離，并且然后被朝向外部源組件發射，該外部源組件引導離子朝向質譜儀的分析儀和檢測器通過一系列離子透鏡(提取透鏡堆疊)。提取透鏡組大致被固定到分析儀外殼。在使用中，內部源組件與外部源組件緊密配合。
4、內部源可采用多種類型的離子源中的一種，包括電子電離(ei)和化學電離(ci)。樣品從氣相色譜柱進入離子源中，進入與一根或多根燈絲相鄰的內部源外殼的體積。由(多根)燈絲發射的電子與用于使它們電離的樣品分子相互作用。帶電推斥極然后朝向外部源組件的透鏡堆疊推斥離子。
5、本文中所公開的本專利技術的方面大致涉及對外部源組件的各種部件的
6、質譜儀是高度靈敏和準確的設備，并且需要定期維護和清潔，以保持其最佳操作條件。如果維護中的至少一些可以由實驗技術人員在現場使用常規工具(如果有的話)執行，則這是有益的。希望確保維護盡可簡單，從而減少出錯的機會，最小化設備的停機時間，并且確保質譜儀在重新組裝時有效操作。
技術實現思路
1、因此，本專利技術的一個方面提供了一種用于質譜儀的外部源的透鏡組件，該組件包括：
2、外殼；
3、多個透鏡元件，每個透鏡元件都包括徑向延伸的導電凸起，透鏡元件線性設置在外殼中，使得凸起彼此對準；以及
4、接口連接器，該接口連接器具有多個插座，該插座用于將凸起容納在其中，并且在凸起和插座之間形成電連接。
5、在至少一個實施例中，外殼是基本上圓柱形的。
6、在至少一個實施例中，外殼由電絕緣材料組成。
7、在至少一個實施例中，外殼由陶瓷或工程聚合物組成。
8、在至少一個實施例中，外殼由peek、氧化鋁、氧化鋯、macor、shapel、zerodur、ultem和vespel組成。
9、在至少一個實施例中，外殼包括狹槽，該狹槽縱向延伸，用于在組裝期間滑動地容納每個透鏡元件的凸起。
10、在至少一個實施例中，透鏡元件是靜電的。
11、在至少一個實施例中，至少第一透鏡元件保持在與第二透鏡元件不同的電勢下。
12、在至少一個實施例中，透鏡元件至少部分由金屬或金屬合金組成。
13、在至少一個實施例中，接口連接器是基本上平面的，并且大致垂直于凸起的軸線設置。
14、在至少一個實施例中，接口連接器是pcb。
15、在至少一個實施例中，pcb至少部分由陶瓷或羅杰斯4000系列層壓板中的一者組成。
16、在至少一個實施例中，接口連接器包括兩個板，這些板被夾在一起以限定插座來容納凸起。
17、在至少一個實施例中，接口連接器的平面與凸起平行。
18、在至少一個實施例中，透鏡組件進一步包括多個間隔件，每個間隔件在外殼中設置在一對相鄰的透鏡元件之間。
19、在至少一個實施例中，間隔件由基本上隔熱和/或電絕緣的材料形成。
20、在至少一個實施例中，透鏡元件和/或間隔件中的至少一者包括相對的軸向面，每個面都設置有鍵接凸起和鍵接凹槽中的一者，以與相鄰的透鏡元件和/或間隔件上的對應鍵接凹槽或鍵接凸起接合。
21、在至少一個實施例中，鍵接凸起和/或鍵接凹槽被獨特地定位在每個透鏡元件和/或間隔件中。
22、在至少一個實施例中，透鏡元件和/或間隔件只可以以單一取向和順序容納在外殼中。
23、在至少一個實施例中，外殼包括至少一個定位凸起，并且接口面板包括用于容納定位凸起的對準孔。
24、在至少一個實施例中，透鏡組件進一步包括用于選擇性地加熱透鏡元件中的一個或多個的至少一個加熱器。
25、在至少一個實施例中，透鏡組件進一步包括與每個透鏡元件相關聯的至少一個加熱器，以選擇性地加熱相關聯的透鏡元件。
26、在至少一個實施例中，透鏡組件進一步包括源塊。
27、在至少一個實施例中，透鏡組件進一步包括與源塊相關聯的加熱器。
28、在至少一個實施例中，源塊的表面的至少一部分被涂覆。
29、在至少一個實施例中，涂層是陽極化鋁、氮化鈦和類金剛石碳(dlc)中的一種。
30、在至少一個實施例中，透鏡組件進一步包括設置在源塊和外殼之間的絕緣體。
31、在至少一個實施例中，絕緣體至少部分由peek、氧化鋁、氧化鋯、macor、shapel、zerodur、ultem和vespel組成。
32、在至少一個實施例中，透鏡組件進一步包括蓋，該蓋至少部分地容納接口連接器。
33、在至少一個實施例中，蓋由peek形成。
34、在至少一個實施例中，接口連接器用單個螺釘可移除地固定到外殼。
35、在至少一個實施例中，透鏡元件或間隔件包括軸向延伸的凸臺，該軸向延伸的凸臺被配置成容納在間隔件或透鏡元件中的另一者中的對應孔中，以在透鏡元件和間隔件之間提供軸向對準。
36、在至少一個實施例中，透鏡元件和/或間隔件包括鍵接凸起和對應的對準狹槽。
37、在至少一個實施例中，透鏡組件進一步包括至少一個軛底座，該軛底座用于將至少一個磁性元件容納在其上。
38、在至少一個實施例中，所述至少一個軛底座可固定到透鏡元件中的一個。
39、在至少一個實施例中，透鏡組件進一步包括接線器。
40、在至少一個實施例中，接線器在第一端處連接到接口連接器，并且在第二端處連接到至少一個連接器，以用于與透鏡組件的部件通信。
41、在本專利技術的另一個方面中，提供了一種質譜儀，該質譜儀包括具有電插座接口的外殼，進一步包括體現本專利技術的透鏡組件，進一步包括連接在質譜儀外殼上的電插座接口和透鏡組件的接口連接器之間的連接器引線。
42、在本專利技術的另一個方面中，提供了一種用于質譜儀的外部源的透鏡組件，該組件包括：
【技術保護點】
1.一種用于質譜儀的外部源的透鏡組件，該組件包括：
2.根據權利要求1所述的透鏡組件，其中，數對互補的鍵接特征對透鏡組件是獨特的。
3.根據權利要求1或2所述的透鏡組件，其中，透鏡元件和間隔件只可在預定的單一配置中彼此配合。
4.根據權利要求1或2所述的透鏡組件，其中，透鏡元件和間隔件中的一個或多個被彩色編碼和/或設置有數字和/或字母標記。
5.根據權利要求1或2所述的透鏡組件，還包括外殼，其中，所述多個透鏡元件和間隔件線性設置在所述外殼中。
6.根據權利要求1或2所述的透鏡組件，其中，所述間隔件由基本上隔熱和/或電絕緣的材料形成。
【技術特征摘要】
1.一種用于質譜儀的外部源的透鏡組件，該組件包括：
2.根據權利要求1所述的透鏡組件，其中，數對互補的鍵接特征對透鏡組件是獨特的。
3.根據權利要求1或2所述的透鏡組件，其中，透鏡元件和間隔件只可在預定的單一配置中彼此配合。
4.根據權利要求1或2所述的透鏡組件，...
【專利技術屬性】
技術研發人員：A·布斯，A·蔡，C·陳，M·道伯，J·吳，W·吳，D·王，R·蒂爾德斯利沃斯特，A·蘭甘，S·羅查，
申請(專利權)人：英國質譜公司，
類型：發明
國別省市：
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