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    一種NTC熱敏電阻測(cè)試方法、系統(tǒng)和存儲(chǔ)介質(zhì)技術(shù)方案

    技術(shù)編號(hào):43036265 閱讀:11 留言:0更新日期:2024-10-18 17:39
    本發(fā)明專利技術(shù)提供了一種NTC熱敏電阻測(cè)試方法、系統(tǒng)和存儲(chǔ)介質(zhì),包括:采集導(dǎo)通電平數(shù)據(jù),判斷被測(cè)試的NTC熱敏電阻是否已接入測(cè)試回路;獲取預(yù)設(shè)的NTC溫度控制數(shù)據(jù),根據(jù)所述NTC溫度控制數(shù)據(jù)驅(qū)使NTC熱敏電阻的溫度值發(fā)生變化;執(zhí)行溫度特性測(cè)試程序,判斷所述NTC熱敏電阻的溫度特性是否合格;執(zhí)行響應(yīng)時(shí)間測(cè)試程序,判斷所述NTC熱敏電阻的響應(yīng)時(shí)間是否合格;執(zhí)行穩(wěn)定性測(cè)試程序,判斷所述NTC熱敏電阻的穩(wěn)定性是否合格。通過(guò)導(dǎo)通電平判斷NTC熱敏電阻接入測(cè)試回路后,控制NTC熱敏電阻在特定的時(shí)間點(diǎn)達(dá)到特定的溫度值,然后進(jìn)行溫度特性測(cè)試、響應(yīng)時(shí)間測(cè)試和穩(wěn)定性測(cè)試,對(duì)NTC熱敏電阻進(jìn)行全面分析和深度評(píng)估,進(jìn)而準(zhǔn)確評(píng)判NTC熱敏電阻的綜合性能。

    【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

    本專利技術(shù)涉及電子元件檢測(cè),涉及一種用于在生產(chǎn)制造ntc熱敏電阻過(guò)程中對(duì)其性能進(jìn)行全面分析和深度評(píng)估的測(cè)試方法、系統(tǒng)和存儲(chǔ)介質(zhì)。


    技術(shù)介紹

    1、熱敏電阻是一種傳感器電阻,其電阻值隨著溫度的變化而改變。按照溫度系數(shù)不同分為正溫度系數(shù)熱敏電阻(ptc?thermistor,即positive?temperature?coefficientthermistor)和負(fù)溫度系數(shù)熱敏電阻(ntc?thermistor,即negative?temperaturecoefficient?thermistor)。正溫度系數(shù)熱敏電阻器的電阻值隨溫度的升高而增大,負(fù)溫度系數(shù)熱敏電阻器的電阻值隨溫度的升高而減小。本技術(shù)方案適用于負(fù)溫度系數(shù)熱敏電阻。

    2、在電氣領(lǐng)域,ntc熱敏電阻應(yīng)用非常廣泛,抑制沖擊電流便是其中一個(gè)重要應(yīng)用。電路在接通大型感性負(fù)載時(shí)出現(xiàn)大的過(guò)電流沖擊,這個(gè)過(guò)電流也叫沖擊電流,接入ntc熱敏電阻能有效抑制沖擊電流。在日常應(yīng)用中,對(duì)ntc熱敏電阻各方面參數(shù)有嚴(yán)格要求,因此在生產(chǎn)制造ntc熱敏電阻過(guò)程中需要對(duì)其性能進(jìn)行全面檢測(cè)。現(xiàn)有技術(shù)的檢測(cè)方法多為將ntc熱敏電阻置于恒溫容器中,通過(guò)改變溫度并測(cè)量對(duì)應(yīng)阻值評(píng)估其性能,測(cè)試方法片面、評(píng)價(jià)體系單一,難以評(píng)估ntc熱敏電阻在極端電路環(huán)境下的表現(xiàn)。


    技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

    1、本專利技術(shù)要解決的技術(shù)問(wèn)題在于,針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的上述缺陷,提供一種ntc熱敏電阻測(cè)試方法、系統(tǒng)和存儲(chǔ)介質(zhì),能夠生產(chǎn)制造ntc熱敏電阻時(shí)對(duì)其進(jìn)行性能測(cè)試,通過(guò)數(shù)據(jù)集采、分析對(duì)ntc熱敏電阻進(jìn)行全面分析和深度評(píng)估,進(jìn)而準(zhǔn)確評(píng)判ntc熱敏電阻的綜合性能。

    2、本專利技術(shù)解決技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案如下:

    3、一種ntc熱敏電阻測(cè)試方法,所述方法基于溫度控制元件、溫度采集元件、電阻測(cè)試元件、計(jì)時(shí)元件和ntc熱敏電阻,所述溫度控制元件用于控制所述ntc熱敏電阻的溫度,所述溫度采集元件用于采集所述ntc熱敏電阻的溫度值,所述電阻測(cè)試元件用于測(cè)試所述ntc熱敏電阻的電阻值,所述計(jì)時(shí)元件用于記錄測(cè)試過(guò)程的時(shí)間點(diǎn),所述方法包括以下步驟:

    4、s1.采集導(dǎo)通電平數(shù)據(jù),根據(jù)導(dǎo)通電平數(shù)據(jù)判斷被測(cè)試的ntc熱敏電阻是否已接入測(cè)試回路;當(dāng)導(dǎo)通電平數(shù)據(jù)顯示被測(cè)試的ntc熱敏電阻已接入測(cè)試回路則執(zhí)行下一測(cè)試步驟,當(dāng)導(dǎo)通電平數(shù)據(jù)顯示被測(cè)試的ntc熱敏電阻未接入測(cè)試回路則輸出未導(dǎo)通提示并終止測(cè)試;

    5、s2.獲取預(yù)設(shè)的ntc溫度控制數(shù)據(jù),所述ntc溫度控制數(shù)據(jù)包括多組相互對(duì)應(yīng)的時(shí)間點(diǎn)和溫度值,根據(jù)所述ntc溫度控制數(shù)據(jù)驅(qū)使ntc熱敏電阻的溫度值發(fā)生變化,控制所述ntc熱敏電阻在特定的時(shí)間點(diǎn)達(dá)到特定的溫度值;

    6、s3.執(zhí)行溫度特性測(cè)試程序;輸出控制信號(hào)實(shí)時(shí)采集所述ntc熱敏電阻的實(shí)際溫度值,同步采集所述ntc熱敏電阻的實(shí)際電阻值,根據(jù)所述ntc熱敏電阻的實(shí)際溫度值和實(shí)際電阻值,繪制實(shí)際溫度-電阻特性曲線;獲取預(yù)設(shè)的理想溫度-電阻特性曲線,通過(guò)對(duì)比理想溫度-電阻特性曲線和實(shí)際溫度-電阻特性曲線進(jìn)行溫度特性測(cè)試,判斷所述ntc熱敏電阻的溫度特性是否合格,輸出溫度特性測(cè)試結(jié)果;

    7、s4.執(zhí)行響應(yīng)時(shí)間測(cè)試程序,判斷所述ntc熱敏電阻的響應(yīng)時(shí)間是否合格,輸出響應(yīng)時(shí)間測(cè)試結(jié)果;

    8、s5.執(zhí)行穩(wěn)定性測(cè)試程序,判斷所述ntc熱敏電阻的穩(wěn)定性是否合格,輸出穩(wěn)定性測(cè)試結(jié)果。

    9、與現(xiàn)有技術(shù)相比,本技術(shù)方案的有益效果是:通過(guò)導(dǎo)通電平判斷ntc熱敏電阻接入測(cè)試回路后,控制ntc熱敏電阻在特定的時(shí)間點(diǎn)達(dá)到特定的溫度值,然后進(jìn)行溫度特性測(cè)試、響應(yīng)時(shí)間測(cè)試和穩(wěn)定性測(cè)試,對(duì)ntc熱敏電阻進(jìn)行全面分析和深度評(píng)估,進(jìn)而準(zhǔn)確評(píng)判ntc熱敏電阻的綜合性能。

    10、進(jìn)一步地,所述方法還基于pid控制器,所述pid控制器分別與所述溫度控制元件、所述溫度采集元件、所述電阻測(cè)試元件、所述計(jì)時(shí)元件和所述ntc熱敏電阻電性連接,所述步驟s2具體包括以下步驟:

    11、s201.根據(jù)ntc溫度控制數(shù)據(jù),獲取所述ntc熱敏電阻的多個(gè)時(shí)間點(diǎn)和多個(gè)溫度值,多個(gè)時(shí)間點(diǎn)和多個(gè)溫度值一一對(duì)應(yīng);

    12、s202.記錄溫度控制起始時(shí)間和溫度控制當(dāng)前時(shí)間,并進(jìn)一步確定所述ntc熱敏電阻在當(dāng)前階段所要到達(dá)的溫度值;

    13、s203.在確保pid控制器分別與溫度控制元件、溫度采集元件、電阻測(cè)試元件、計(jì)時(shí)元件和ntc熱敏電阻電性連接時(shí),獲取pid控制器中預(yù)設(shè)的比例積分微分控制參數(shù),所述比例積分微分控制參數(shù)具體包括比例控制增益kp、積分控制增益ki和微分控制增益kd;

    14、s204.采集ntc熱敏電阻當(dāng)前階段的溫度值,并記錄溫度控制的時(shí)間點(diǎn);

    15、s205.根據(jù)ntc熱敏電阻的當(dāng)前階段所要到達(dá)的溫度值,和與當(dāng)前階段所要到達(dá)的溫度值所對(duì)應(yīng)的時(shí)間點(diǎn),結(jié)合比例控制增益kp、積分控制增益ki和微分控制增益kd,基于以下控制參數(shù)向溫度控制元件輸出控制信息,以ntc熱敏電阻的溫度值進(jìn)行閉環(huán)控制:

    16、u(k)=u(k-1)+kp·[e(k)-e(k-1)]+ki·e(k)+kd·[e(k)-2e(k-1)+e(k-2)],其中,u(k)是在第k個(gè)采樣時(shí)刻的控制輸出,e(k)是在第k個(gè)采樣時(shí)刻的設(shè)定值與反饋值的偏差。

    17、采用上述方案的有益效果是:ntc溫度控制數(shù)據(jù)顯示了ntc熱敏電阻在升溫過(guò)程中某個(gè)時(shí)間點(diǎn)應(yīng)該到達(dá)哪個(gè)溫度值,是理想升溫曲線,嚴(yán)格根據(jù)升溫曲線控制ntc熱敏電阻的溫度值和電阻值,能夠確保測(cè)試安全性;而在對(duì)ntc熱敏電阻進(jìn)行溫度控制過(guò)程中通過(guò)pid進(jìn)行閉環(huán)控制,能夠確保ntc熱敏精確到達(dá)某個(gè)預(yù)設(shè)溫度值,有效提高測(cè)試準(zhǔn)確性。

    18、進(jìn)一步地,所述步驟s3具體包括以下步驟:

    19、s301.采集得到多組實(shí)際溫度值和實(shí)際電阻值,將所提取到的實(shí)際溫度值和實(shí)際電阻值一一配對(duì),得到溫度電阻配對(duì)數(shù)列;

    20、s302.基于擬合函數(shù)rt=r0exp(b(1/t-1/t0))進(jìn)行曲線擬合,其中rt是在溫度t下的電阻,r0是在參考溫度t0下的電阻,b是材料常數(shù);

    21、s303.定義誤差函數(shù)為其中rpred是根據(jù)擬合函數(shù)rt計(jì)算出的預(yù)測(cè)電阻值,robs為實(shí)際電阻值;

    22、s304.通過(guò)迭代運(yùn)算以最小化誤差函數(shù)e,計(jì)算得到參考溫度t0下的電阻r0和材料常數(shù)b的具體值;

    23、s305.根據(jù)參考溫度t0下的電阻r0和材料常數(shù)b的具體值,結(jié)合溫度電阻配對(duì)數(shù)列,在選定的溫度范圍內(nèi)繪制擬合曲線,得到實(shí)際溫度-電阻特性曲線;

    24、s306.計(jì)算相同溫度值上的實(shí)際電阻值和理想電阻值的絕對(duì)偏差、計(jì)算實(shí)際溫度-電阻特性曲線和理想溫度-電阻特性曲線在多個(gè)相同溫度值上的關(guān)鍵點(diǎn)曲率,基于所述絕對(duì)偏差和所述關(guān)鍵點(diǎn)曲率,判斷所述ntc熱敏電阻的溫度特性是否合格;

    25、s307.輸出溫度特性測(cè)試結(jié)果。

    26、采用上述方案的有益效果是:在對(duì)ntc熱敏電阻進(jìn)行溫度特性測(cè)試過(guò)程本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...

    【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】

    1.一種NTC熱敏電阻測(cè)試方法,其特征在于,所述方法基于溫度控制元件、溫度采集元件、電阻測(cè)試元件、計(jì)時(shí)元件和NTC熱敏電阻,所述溫度控制元件用于控制所述NTC熱敏電阻的溫度,所述溫度采集元件用于采集所述NTC熱敏電阻的溫度值,所述電阻測(cè)試元件用于測(cè)試所述NTC熱敏電阻的電阻值,所述計(jì)時(shí)元件用于記錄測(cè)試過(guò)程的時(shí)間點(diǎn),所述方法包括以下步驟:

    2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種NTC熱敏電阻測(cè)試方法,其特征在于,所述方法還基于PID控制器,所述PID控制器分別與所述溫度控制元件、所述溫度采集元件、所述電阻測(cè)試元件、所述計(jì)時(shí)元件和所述NTC熱敏電阻電性連接,所述步驟S2具體包括以下步驟:

    3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種NTC熱敏電阻測(cè)試方法,其特征在于,所述步驟S3具體包括以下步驟:

    4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種NTC熱敏電阻測(cè)試方法,其特征在于,所述步驟S4具體包括以下步驟:

    5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種NTC熱敏電阻測(cè)試方法,其特征在于,所述步驟S5具體包括以下步驟:

    6.一種NTC熱敏電阻測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述系統(tǒng)基于溫度控制元件、溫度采集元件、電阻測(cè)試元件、計(jì)時(shí)元件和NTC熱敏電阻,所述溫度控制元件用于控制所述NTC熱敏電阻的溫度,所述溫度采集元件用于采集所述NTC熱敏電阻的溫度值,所述電阻測(cè)試元件用于測(cè)試所述NTC熱敏電阻的電阻值,所述計(jì)時(shí)元件用于記錄測(cè)試過(guò)程的時(shí)間點(diǎn),所述系統(tǒng)包括:

    7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種NTC熱敏電阻測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述系統(tǒng)還基于PID控制器,所述PID控制器分別與所述溫度控制元件、所述溫度采集元件、所述電阻測(cè)試元件、所述計(jì)時(shí)元件和所述NTC熱敏電阻電性連接,所述溫度控制模塊包括:

    8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種NTC熱敏電阻測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述溫度特性測(cè)試模塊包括:

    9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種NTC熱敏電阻測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述響應(yīng)時(shí)間測(cè)試模塊包括:

    10.一種存儲(chǔ)介質(zhì),其特征在于,所述存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,所述的計(jì)算機(jī)程序包括程序指令,當(dāng)所述程序指令被處理器執(zhí)行時(shí),處理器執(zhí)行權(quán)利要求1-5中任一項(xiàng)所述的NTC熱敏電阻測(cè)試方法。

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    【技術(shù)特征摘要】

    1.一種ntc熱敏電阻測(cè)試方法,其特征在于,所述方法基于溫度控制元件、溫度采集元件、電阻測(cè)試元件、計(jì)時(shí)元件和ntc熱敏電阻,所述溫度控制元件用于控制所述ntc熱敏電阻的溫度,所述溫度采集元件用于采集所述ntc熱敏電阻的溫度值,所述電阻測(cè)試元件用于測(cè)試所述ntc熱敏電阻的電阻值,所述計(jì)時(shí)元件用于記錄測(cè)試過(guò)程的時(shí)間點(diǎn),所述方法包括以下步驟:

    2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種ntc熱敏電阻測(cè)試方法,其特征在于,所述方法還基于pid控制器,所述pid控制器分別與所述溫度控制元件、所述溫度采集元件、所述電阻測(cè)試元件、所述計(jì)時(shí)元件和所述ntc熱敏電阻電性連接,所述步驟s2具體包括以下步驟:

    3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種ntc熱敏電阻測(cè)試方法,其特征在于,所述步驟s3具體包括以下步驟:

    4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種ntc熱敏電阻測(cè)試方法,其特征在于,所述步驟s4具體包括以下步驟:

    5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種ntc熱敏電阻測(cè)試方法,其特征在于,所述步驟s5具體包括以下步驟:

    6.一種ntc熱敏電阻測(cè)試...

    【專利技術(shù)屬性】
    技術(shù)研發(fā)人員:吳金榮譚禮旗覃才寬
    申請(qǐng)(專利權(quán))人:溧陽(yáng)壹連電子有限公司
    類型:發(fā)明
    國(guó)別省市:

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