【技術實現步驟摘要】
本申請涉及工業檢測，特別是涉及一種表面缺陷檢測裝置。
技術介紹
1、高反光表面是指反射系數高，接近于鏡面反射效果的一類表面，例如車身漆面、不銹鋼面板等。在工業檢測領域中，高反光表面由于易產生高光干擾，難以對其進行缺陷檢測。目前，高反光缺陷檢測裝置各個組件相互分散，使裝置結構復雜，空間利用率低，難以實現集成。
技術實現思路
1、基于此，有必要針對高反光缺陷檢測裝置各個組件相互分散，使裝置結構復雜，空間利用率低，難以實現集成的問題，提供一種表面缺陷檢測裝置。
2、一種表面缺陷檢測裝置，包括：
3、殼體、控制組件、漫反射光源組件、圖像采集組件以及圖像處理組件；
4、所述殼體具有容納腔以及與所述容納腔連通的開口；
5、所述控制組件位于所述容納腔中；
6、所述漫反射光源組件封蓋部分所述開口，并與所述控制組件電性連接；
7、所述圖像采集組件位于所述容納腔中且部分位于所述開口外，并與所述漫反射光源組件電性連接；
8、所述圖像處理組件位于所述容納腔中，并與所述圖像采集組件電性連接；
9、所述漫反射光源組件被配置為在所述控制組件的控制下，在待測物的表面投影圖案，所述圖像采集組件被配置為在所述漫反射光源組件的觸發下，采集經所述表面的圖像，所述圖像處理組件被配置為解析所述圖像采集組件采集的所述圖像，以獲取所述表面的三維信息。
10、在其中一個實施例中，所述殼體包括相連接的第一殼體和第二殼體，所述第
11、所述控制組件位于所述第一容納腔；
12、所述漫反射光源組件封蓋于所述第一開口；
13、所述圖像采集組件位于所述第二容納腔中且部分位于所述第二開口外；
14、所述圖像處理組件位于所述第一容納腔中；
15、其中，所述容納腔包括所述第一容納腔與所述第二容納腔，所述開口包括所述第一開口與所述第二開口。
16、在其中一個實施例中，所述第一容納腔包括沿第二方向依次排列的多個子腔，所述控制組件與所述圖像處理組件分別位于不同的兩個所述子腔中，所述第二方向與所述第一方向相交。
17、在其中一個實施例中，沿所述第一殼體的高度方向上，所述第二殼體位于所述第一殼體的頂部，和/或，所述第一開口和所述第二開口位于所述第一殼體和所述第二殼體的同側。
18、在其中一個實施例中，所述第一殼體或第二殼體上設有第一接口，所述第一接口設于靠近所述圖像采集組件的一側，所述第一接口與所述漫反射光源組件電性連接，所述圖像采集組件通過第一連接器與所述第一接口電性連接；和/或，
19、所述第一殼體或第二殼體上設有第二接口，所述第二接口設于靠近所述圖像采集組件的一側，所述第二接口與所述圖像處理組件電性連接，所述圖像采集組件通過第二連接器與所述第二接口電性連接。
20、在其中一個實施例中，所述漫反射光源組件包括電性連接的圖案存儲單元、圖案顯示單元以及相機觸發單元，所述圖案顯示單元與所述控制組件電性連接，所述相機觸發單元與所述圖像采集組件電性連接。
21、在其中一個實施例中，所述圖像采集組件包括電性連接的相機、圖像預處理單元以及圖像傳輸單元，所述相機與所述漫反射光源組件電性連接，所述相機部分位于所述開口外，所述圖像傳輸單元與所述圖像處理組件電性連接，所述圖像預處理單元以及所述圖像傳輸單元位于所述容納腔中。
22、在其中一個實施例中，所述圖像處理組件包括電性連接的圖像解碼單元以及三維處理單元，所述圖像解碼單元與所述圖像采集組件電性連接，所述圖像解碼單元及所述三維處理單元均位于所述容納腔中。
23、在其中一個實施例中，所述圖像采集組件與所述漫反射光源組件之間呈角度設置，且兩者之間的夾角記為θ，其中，40o≤θ≤50o。
24、在其中一個實施例中，所述表面缺陷檢測裝置還包括支架，所述支架封蓋于所述開口，所述支架朝遠離所述殼體的方向凸出以形成傾斜部，所述傾斜部與所述漫反射光源組件之間呈角度設置，所述傾斜部上設有與所述開口連通的安裝通孔，所述圖像采集組件至少部分伸出所述開口，并穿設抵接于所述安裝通孔的孔壁，以使所述圖像采集組件與所述漫反射光源組件呈角度設置。
25、本申請提供的表面缺陷檢測裝置至少具有如下技術效果：將控制組件、漫反射光源組件、圖像采集組件以及圖像處理組件均集成在殼體中，能夠減少表面缺陷檢測裝置的連接和布線，降低故障和失效風險，提高各組件之間的響應速度和傳輸效率，減少延遲和數據傳輸的損耗，簡化整體結構，使表面缺陷檢測裝置結構更加緊湊，提高空間利用率。
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1.一種表面缺陷檢測裝置，其特征在于，包括：殼體、控制組件、漫反射光源組件、圖像采集組件以及圖像處理組件；
2.根據權利要求1所述的表面缺陷檢測裝置，其特征在于，所述殼體包括相連接的第一殼體和第二殼體，所述第一殼體具有第一容納腔以及與所述第一容納腔連通的第一開口，所述第二殼體具有第二容納腔以及與所述第二容納腔連通的第二開口，所述第一容納腔和所述第二容納腔沿第一方向依次排列；
3.根據權利要求2所述的表面缺陷檢測裝置，其特征在于，所述第一容納腔包括沿第二方向依次排列的多個子腔，所述控制組件與所述圖像處理組件分別位于不同的兩個所述子腔中，所述第二方向與所述第一方向相交。
4.根據權利要求2所述的表面缺陷檢測裝置，其特征在于，沿所述第一殼體的高度方向上，所述第二殼體位于所述第一殼體的頂部，和/或，所述第一開口和所述第二開口位于所述第一殼體和所述第二殼體的同側。
5.根據權利要求2所述的表面缺陷檢測裝置，其特征在于，所述第一殼體或第二殼體上設有第一接口，所述第一接口設于靠近所述圖像采集組件的一側，所述第一接口與所述漫反射光源組件電性連接，所
6.根據權利要求1至5任一項所述的表面缺陷檢測裝置，其特征在于，所述漫反射光源組件包括電性連接的圖案存儲單元、圖案顯示單元以及相機觸發單元，所述圖案顯示單元與所述控制組件電性連接，所述相機觸發單元與所述圖像采集組件電性連接。
7.根據權利要求1至5任一項所述的表面缺陷檢測裝置，其特征在于，所述圖像采集組件包括電性連接的相機、圖像預處理單元以及圖像傳輸單元，所述相機與所述漫反射光源組件電性連接，所述相機部分位于所述開口外，所述圖像傳輸單元與所述圖像處理組件電性連接，所述圖像預處理單元以及所述圖像傳輸單元位于所述容納腔中。
8.根據權利要求1至5任一項所述的表面缺陷檢測裝置，其特征在于，所述圖像處理組件包括電性連接的圖像解碼單元以及三維處理單元，所述圖像解碼單元與所述圖像采集組件電性連接，所述圖像解碼單元及所述三維處理單元均位于所述容納腔中。
9.根據權利要求1至5任一項所述的表面缺陷檢測裝置，其特征在于，所述圖像采集組件與所述漫反射光源組件之間呈角度設置，且兩者之間的夾角記為θ，其中，40o≤θ≤50o。
10.根據權利要求1至5任一項所述的表面缺陷檢測裝置，其特征在于，所述表面缺陷檢測裝置還包括支架，所述支架封蓋于所述開口，所述支架朝遠離所述殼體的方向凸出以形成傾斜部，所述傾斜部與所述漫反射光源組件之間呈角度設置，所述傾斜部上設有與所述開口連通的安裝通孔，所述圖像采集組件至少部分伸出所述開口，并穿設抵接于所述安裝通孔的孔壁，以使所述圖像采集組件與所述漫反射光源組件呈角度設置。
...【技術特征摘要】
1.一種表面缺陷檢測裝置，其特征在于，包括：殼體、控制組件、漫反射光源組件、圖像采集組件以及圖像處理組件；
2.根據權利要求1所述的表面缺陷檢測裝置，其特征在于，所述殼體包括相連接的第一殼體和第二殼體，所述第一殼體具有第一容納腔以及與所述第一容納腔連通的第一開口，所述第二殼體具有第二容納腔以及與所述第二容納腔連通的第二開口，所述第一容納腔和所述第二容納腔沿第一方向依次排列；
3.根據權利要求2所述的表面缺陷檢測裝置，其特征在于，所述第一容納腔包括沿第二方向依次排列的多個子腔，所述控制組件與所述圖像處理組件分別位于不同的兩個所述子腔中，所述第二方向與所述第一方向相交。
4.根據權利要求2所述的表面缺陷檢測裝置，其特征在于，沿所述第一殼體的高度方向上，所述第二殼體位于所述第一殼體的頂部，和/或，所述第一開口和所述第二開口位于所述第一殼體和所述第二殼體的同側。
5.根據權利要求2所述的表面缺陷檢測裝置，其特征在于，所述第一殼體或第二殼體上設有第一接口，所述第一接口設于靠近所述圖像采集組件的一側，所述第一接口與所述漫反射光源組件電性連接，所述圖像采集組件通過第一連接器與所述第一接口電性連接；和/或，
6.根據權利要求1至5任一項所述的表面缺陷檢測裝置，其特征在于，所述漫反射光源組件包括電性連接的圖案存儲單元、圖案顯示單元以及相機觸發單元...
【專利技術屬性】
技術研發人員：葛俊輝，沈小龍，劉學文，鄧文平，
申請(專利權)人：湖南視比特機器人有限公司，
類型：新型
國別省市：
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