【技術實現步驟摘要】
本專利技術屬于顯示面板設計，具體涉及一種改善市場不良的顯示面板及其設計方法。
技術介紹
1、在顯示面板上，quick?pad是lcd行業內使用quick點燈(導通)方式的扎針區域(測試點)，通過該區域ct1加電，從而實現導通測試。而在設計完成之后ct1?pad(測試點)不再起任何作用。根據客戶反饋，目前與液晶屏黑屏、畫面異常相關的主要原因是ct1測試點的腐蝕導致線路燒傷觸發顯示面板黑屏。
2、隨著市場不良越來越受客戶關注，如何減少市場不良已經越發重要。目前市場不良品仍存在較多的ct1?pad腐蝕產品；如何確保ct1?pad不會腐蝕、或腐蝕后不會延伸至內部金屬成為難點。
技術實現思路
1、為了解決現有技術中存在的上述問題，本專利技術提供了一種改善市場不良的顯示面板及其設計方法。本專利技術要解決的技術問題通過以下技術方案實現：
2、第一方面，本專利技術提供了一種改善市場不良的顯示面板的設計方法，包括：
3、確定顯示區域和ct1測試點之間的連接線所在位置；
4、按照所述連接線所在位置，在所述ct1測試點與顯示區域的每條連接線之間設置一個防腐蝕開關；
5、在測試完成后，利用所述防腐蝕開關斷開所述ct1測試點與所述顯示區域之間的連接線。
6、可選的，所述防腐蝕開關為tft管，所述tft管的漏極連接在靠近顯示區域一端的連接線上，源極連接在靠近ct1測試點一端的連接線上。
7、可選的，全部tft管的柵極分別引出，
8、可選的，所述ct1測試點是多個，每個ct1測試點與顯示區域之間存在一條連接線，連接線之間設置有絕緣層或半導體層。
9、可選的，與ct1測試點連接的連接線分為兩組，兩組之間交替放置，每組連接線的長度相同，不同組的連接線長度不同。
10、第二方面，本專利技術提供了一種改善市場不良的顯示面板，在所述顯示面板的顯示區域與ct1測試點的每條連接線之間設置有一個用于導通和斷開所述連接線的防腐蝕開關。
11、可選的，腐蝕開關為tft管，所述tft管的漏極連接在靠近顯示區域一端的連接線上，源極連接在靠近ct1測試點一端的連接線上。
12、可選的，全部tft管的柵極分別引出，并連接至一條公共的控制信號線上，該控制信號線通過導電層連接至控制信號的輸入點，通過所述ct1測試點點燈block的扎針的方式，將控制防腐蝕tft管導通或者關斷的控制信號從所述輸入點輸入，從而為tft管的柵極提供控制電壓。
13、可選的，所述ct1測試點是多個，每個ct1測試點與顯示區域之間存在一條連接線，連接線之間設置有絕緣層或半導體層。
14、可選的，與ct1測試點連接的連接線分為兩組，兩組之間交替放置，每組連接線的長度相同，不同組的連接線長度不同。
15、有益效果：
16、本專利技術提供了一種改善市場不良的顯示面板及其設計方法，通過確定顯示區域和ct1測試點之間的連接線所在位置；按照連接線所在位置，在所述ct1測試點與顯示區域的每條連接線之間設置一個防腐蝕開關；在測試完成后，利用防腐蝕開關斷開所述ct1測試點與所述顯示區域之間的連接線。本專利技術利用防腐蝕開關可以阻斷腐蝕的特點，即便ct1測試點、線路發生腐蝕，腐蝕至防腐蝕開關處將無法繼續向面板內部顯示區域延伸，從而避免lcd面板的顯示品位出現異常，有效降低產品的vlrr和frr不良率。
17、以下將結合附圖及實施例對本專利技術做進一步詳細說明。
本文檔來自技高網...【技術保護點】
1.一種改善市場不良的顯示面板的設計方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的改善市場不良的顯示面板的設計方法，其特征在于，所述防腐蝕開關為TFT管，所述TFT管的漏極連接在靠近顯示區域一端的連接線上，源極連接在靠近CT1測試點一端的連接線上。
3.根據權利要求2所述的改善市場不良的顯示面板的設計方法，其特征在于，全部TFT管的柵極分別引出，并連接至一條公共的控制信號線上，該控制信號線通過導電層連接至控制信號的輸入點，通過所述CT1測試點點燈BLOCK的扎針的方式，將控制防腐蝕TFT管導通或者關斷的控制信號從所述輸入點輸入，從而為TFT管的柵極提供控制電壓。
4.根據權利要求1所述的改善市場不良的顯示面板的設計方法，其特征在于，所述CT1測試點是多個，每個CT1測試點與顯示區域之間存在一條連接線，連接線之間設置有絕緣層或半導體層。
5.根據權利要求1所述的改善市場不良的顯示面板的設計方法，其特征在于，與CT1測試點連接的連接線分為兩組，兩組之間交替放置，每組連接線的長度相同，不同組的連接線長度不同。
6.一種改善
7.根據權利要求6所述的改善市場不良的顯示面板，其特征在于，所述防腐蝕開關為TFT管，所述TFT管的漏極連接在靠近顯示區域一端的連接線上，源極連接在靠近CT1測試點一端的連接線上。
8.根據權利要求7所述的改善市場不良的顯示面板，其特征在于，全部TFT管的柵極分別引出，并連接至一條公共的控制信號線上，該控制信號線通過導電層連接至控制信號的輸入點，通過所述CT1測試點點燈BLOCK的扎針的方式，將控制防腐蝕TFT管導通或者關斷的控制信號從所述輸入點輸入，從而為TFT管的柵極提供控制電壓。
9.根據權利要求6所述的改善市場不良的顯示面板，其特征在于，所述CT1測試點是多個，每個CT1測試點與顯示區域之間存在一條連接線，連接線之間設置有絕緣層或半導體層。
10.根據權利要求6所述的改善市場不良的顯示面板，其特征在于，與CT1測試點連接的連接線分為兩組，兩組之間交替放置，每組連接線的長度相同，不同組的連接線長度不同。
...【技術特征摘要】
1.一種改善市場不良的顯示面板的設計方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的改善市場不良的顯示面板的設計方法，其特征在于，所述防腐蝕開關為tft管，所述tft管的漏極連接在靠近顯示區域一端的連接線上，源極連接在靠近ct1測試點一端的連接線上。
3.根據權利要求2所述的改善市場不良的顯示面板的設計方法，其特征在于，全部tft管的柵極分別引出，并連接至一條公共的控制信號線上，該控制信號線通過導電層連接至控制信號的輸入點，通過所述ct1測試點點燈block的扎針的方式，將控制防腐蝕tft管導通或者關斷的控制信號從所述輸入點輸入，從而為tft管的柵極提供控制電壓。
4.根據權利要求1所述的改善市場不良的顯示面板的設計方法，其特征在于，所述ct1測試點是多個，每個ct1測試點與顯示區域之間存在一條連接線，連接線之間設置有絕緣層或半導體層。
5.根據權利要求1所述的改善市場不良的顯示面板的設計方法，其特征在于，與ct1測試點連接的連接線分為兩組，兩組之間交替放置，每組連接線的長度相同，不同組的連接線長度不同。
6.一種改善市場不...
【專利技術屬性】
技術研發人員：趙青青，
申請(專利權)人：咸陽彩虹光電科技有限公司，
類型：發明
國別省市：
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