【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本技術(shù)涉及斷路器試驗(yàn)設(shè)備的，具體涉及一種測(cè)試電阻插接裝置和斷路器試驗(yàn)系統(tǒng)。
技術(shù)介紹
1、斷路器導(dǎo)電回路電阻采用直流壓降法測(cè)量，試驗(yàn)電流不低于100a，接線采用電壓表內(nèi)接法。相關(guān)技術(shù)中，測(cè)量斷路器回路電阻時(shí)，需要利用線夾夾住測(cè)量斷路器梅花觸頭觸片進(jìn)行測(cè)試。由于試驗(yàn)電流大，為減少接觸電阻、增大載流量、加強(qiáng)散熱，試驗(yàn)線夾通常需制作得較大且導(dǎo)致其重量也較重，并且梅花觸頭的梅花觸片間距較小，使試驗(yàn)線夾與梅花觸頭的電流極以及電壓極的連接不牢固，因此容易造成接觸不良，影響試驗(yàn)的測(cè)量結(jié)果。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本技術(shù)旨在至少在一定程度上解決相關(guān)技術(shù)中的技術(shù)問題之一。
2、為此，本技術(shù)實(shí)施例提出一種測(cè)試電阻插接裝置，該測(cè)試電阻插接裝置與梅花觸頭之間連接的穩(wěn)定性較強(qiáng)。
3、本技術(shù)實(shí)施例還提供了一種斷路器試驗(yàn)系統(tǒng)，該斷路器試驗(yàn)系統(tǒng)具有上述實(shí)施例的測(cè)試電阻插接裝置。
4、根據(jù)本技術(shù)實(shí)施例的測(cè)試電阻插接裝置包括：第一插接件和第二插接件，所述第一插接部包括電壓極接觸部和第一導(dǎo)線連接部，所述電壓極接觸部與所述第一導(dǎo)線連接部相連，所述電壓極接觸部用于插接在電壓極中，所述第二插接部包括電流極接觸部和第二導(dǎo)線連接部，所述電流極接觸部與所述第二導(dǎo)線連接部相連，所述電流極接觸部用于插接在電流極中，所述電壓極接觸部和所述電流接觸部在第一方向上相對(duì)；絕緣部，所述絕緣部連接在所述第一插接件和所述第二插接件之間，以使所述第一插接件和所述第二插接件之間絕緣。
5、本技術(shù)實(shí)施例的測(cè)試電
6、由此，本技術(shù)實(shí)施例的測(cè)試電阻插接裝置與梅花觸頭之間連接地穩(wěn)定性較強(qiáng)。
7、在一些實(shí)施例中，所述電壓極接觸部呈圓柱狀；和/或，所述電流極接觸部呈圓柱狀。
8、在一些實(shí)施例中，所述電壓極接觸部包括第一段和第二段，所述第一段與所述第二段相連，所述第一段在第一方向上相對(duì)第二段遠(yuǎn)離所述電流極接觸部，所述第一段的橫截面積在第一方向上由第一段指向第二段的方向上減小，所述第二段的橫截面積在第一方向上不變。
9、在一些實(shí)施例中，所述第二段的徑向尺寸為35mm-40mm。
10、在一些實(shí)施例中，第二插接件包括在第一方向上貫穿其的第一通孔，所述第一導(dǎo)線連接部呈柱狀，所述第一導(dǎo)線連接部包括在第一方向上相對(duì)的第一端和第二端，所述第一端與所述電壓極接觸部相連，所述第二端穿過所述第一通孔且伸出所述第一通孔，以便導(dǎo)線與所述第一導(dǎo)線連接部接觸。
11、在一些實(shí)施例中，所述測(cè)試電阻插接裝置進(jìn)一步包括：第一接線柱和第一螺母，所述第二端的端面上設(shè)有第一沉孔，所述第一接線柱的一部分插接在所述第一沉孔中，所述第一接線柱的另一部分上設(shè)有第一外螺紋，所述第一螺母的內(nèi)周面上設(shè)有與第一外螺紋配合的第一內(nèi)螺紋，以使所述第一螺母能夠與所述第一接線柱配合。
12、在一些實(shí)施例中，所述測(cè)試電阻插接裝置進(jìn)一步包括：第二接線柱和第二螺母，所述第二導(dǎo)線連接部在第一方向上遠(yuǎn)離所述電壓極接觸部一端的表面上設(shè)有第二沉孔，所述第二接線柱的一部分插接在所述第二沉孔中，所述第二接線柱的另一部分上設(shè)有第二外螺紋，所述第二螺母的內(nèi)周面上設(shè)有與第二外螺紋配合的第二內(nèi)螺紋，以使所述第二螺母能夠與所述第二接線柱配合；第三接線柱和第三螺母，所述第二導(dǎo)線連接部在第一方向上遠(yuǎn)離所述電壓極接觸部一端的表面上設(shè)有第三沉孔，所述第三接線柱的一部分插接在所述第三沉孔中，所述第三接線柱的另一部分上設(shè)有第三外螺紋，所述第三螺母的內(nèi)周面上設(shè)有與第三外螺紋配合的第三內(nèi)螺紋，以使所述第三螺母能夠與所述第三接線柱配合，所述第二沉孔和所述第三沉孔在第二方向上間隔開，所述第二方向垂直于第一方向。
13、在一些實(shí)施例中，所述絕緣部包括：第一環(huán)形絕緣套和第二環(huán)形絕緣套，所述第一環(huán)形絕緣套和所述第二環(huán)形絕緣套在第一方向上相對(duì)，所述第一環(huán)形絕緣套套設(shè)在所述第一導(dǎo)線連接部上，所述第一環(huán)形絕緣套的內(nèi)周面與所述第一導(dǎo)線連接部的外周面相接觸，所述第一環(huán)形絕緣套的外周面與所述第一通孔的內(nèi)壁面相接觸，所述第二環(huán)形絕緣套套設(shè)在所述第一導(dǎo)線連接部上，且所述第二環(huán)形絕緣套的一端與所述電壓極接觸部相接觸，所述第二環(huán)形絕緣套的另一端與所述電流極接觸部相接觸。
14、本技術(shù)實(shí)施例的斷路器試驗(yàn)系統(tǒng)包括：測(cè)試電阻插接裝置，所述測(cè)試電阻插接裝置為上述任一實(shí)施例所述的測(cè)試電阻插接裝置；第一導(dǎo)線和第二導(dǎo)線，所述第一導(dǎo)線與所述電壓極接觸部相連，所述第二導(dǎo)線與所述電流極接觸部相連。
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1.一種測(cè)試電阻插接裝置，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試電阻插接裝置，其特征在于，所述電壓極接觸部呈圓柱狀；和/或，所述電流極接觸部呈圓柱狀。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試電阻插接裝置，其特征在于，所述電壓極接觸部包括第一段和第二段，所述第一段與所述第二段相連，所述第一段在第一方向上相對(duì)第二段遠(yuǎn)離所述電流極接觸部，所述第一段的橫截面積在第一方向上由第一段指向第二段的方向上減小，所述第二段的橫截面積在第一方向上不變。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測(cè)試電阻插接裝置，其特征在于，所述第二段的徑向尺寸為35mm-40mm。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試電阻插接裝置，其特征在于，第二插接件包括在第一方向上貫穿其的第一通孔，所述第一導(dǎo)線連接部呈柱狀，所述第一導(dǎo)線連接部包括在第一方向上相對(duì)的第一端和第二端，所述第一端與所述電壓極接觸部相連，所述第二端穿過所述第一通孔且伸出所述第一通孔，以便導(dǎo)線與所述第一導(dǎo)線連接部接觸。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測(cè)試電阻插接裝置，其特征在于，進(jìn)一步包括：第一接線柱和第一螺母，所述第二端的端
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試電阻插接裝置，其特征在于，進(jìn)一步包括：第二接線柱和第二螺母，所述第二導(dǎo)線連接部在第一方向上遠(yuǎn)離所述電壓極接觸部一端的表面上設(shè)有第二沉孔，所述第二接線柱的一部分插接在所述第二沉孔中，所述第二接線柱的另一部分上設(shè)有第二外螺紋，所述第二螺母的內(nèi)周面上設(shè)有與第二外螺紋配合的第二內(nèi)螺紋，以使所述第二螺母能夠與所述第二接線柱配合；
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測(cè)試電阻插接裝置，其特征在于，所述絕緣部包括：第一環(huán)形絕緣套和第二環(huán)形絕緣套，所述第一環(huán)形絕緣套和所述第二環(huán)形絕緣套在第一方向上相對(duì)，所述第一環(huán)形絕緣套套設(shè)在所述第一導(dǎo)線連接部上，所述第一環(huán)形絕緣套的內(nèi)周面與所述第一導(dǎo)線連接部的外周面相接觸，所述第一環(huán)形絕緣套的外周面與所述第一通孔的內(nèi)壁面相接觸，所述第二環(huán)形絕緣套套設(shè)在所述第一導(dǎo)線連接部上，且所述第二環(huán)形絕緣套的一端與所述電壓極接觸部相接觸，所述第二環(huán)形絕緣套的另一端與所述電流極接觸部相接觸。
9.一種斷路器試驗(yàn)系統(tǒng)，其特征在于，包括：
...【技術(shù)特征摘要】
1.一種測(cè)試電阻插接裝置，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試電阻插接裝置，其特征在于，所述電壓極接觸部呈圓柱狀；和/或，所述電流極接觸部呈圓柱狀。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試電阻插接裝置，其特征在于，所述電壓極接觸部包括第一段和第二段，所述第一段與所述第二段相連，所述第一段在第一方向上相對(duì)第二段遠(yuǎn)離所述電流極接觸部，所述第一段的橫截面積在第一方向上由第一段指向第二段的方向上減小，所述第二段的橫截面積在第一方向上不變。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測(cè)試電阻插接裝置，其特征在于，所述第二段的徑向尺寸為35mm-40mm。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試電阻插接裝置，其特征在于，第二插接件包括在第一方向上貫穿其的第一通孔，所述第一導(dǎo)線連接部呈柱狀，所述第一導(dǎo)線連接部包括在第一方向上相對(duì)的第一端和第二端，所述第一端與所述電壓極接觸部相連，所述第二端穿過所述第一通孔且伸出所述第一通孔，以便導(dǎo)線與所述第一導(dǎo)線連接部接觸。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測(cè)試電阻插接裝置，其特征在于，進(jìn)一步包括：第一接線柱和第一螺母，所述第二端的端面上設(shè)有第一沉孔，所述第一接線柱的一部分插接在所述第一沉...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：李發(fā)榮，李紅，權(quán)緯太，代文龍，陳恒江，皮躍銀，王遠(yuǎn)洪，龔登位，張鶴鳴，趙曉嘉，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：華能瀾滄江水電股份有限公司，
類型：新型
國別省市：
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