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    用于減少測試時間的編程及擦除偏置的方法技術
    
                            
    技術編號：43328961 閱讀：13 留言：0更新日期：2024-11-15 20:26
    
                        
    
                        
    
                            
                            本發明專利技術公開了用于減少測試時間的編程及擦除偏置的方法，屬于存儲器與感測技術領域。本發明專利技術改變了逐個執行的編程及擦除方式，而是在執行一個命令時，在芯片上按照算法圖執行所設計的內部算法來找到編程及擦除驗證水平選項；自動執行編程及擦除操作，從最低的柵極偏置水平開始執行編程及擦除驗證，如果失敗，則一直執行到最后一個循環計數的編程及擦除操作，逐步提高編程及擦除驗證柵極水平，直到編程及擦除驗證通過，自動重復進行以找到合適的偏置水平，然后通過內部算法自動進行互補金屬氧化物半導體單元陣列編程操作，將前面找到的編程及擦除驗證柵極偏置水平存儲在互補金屬氧化物半導體單元陣列中，從而實現通過一次設置節約時間。
    
                            
                            
    


    
                            

                            
    【技術實現步驟摘要】
    
                                
    本專利技術涉及存儲器與感測，具體為用于減少測試時間的編程及擦除偏置的方法。

    技術介紹
    1、編程偏置是指在存儲器中寫入數據的過程；編程通常通過應用高電壓將電荷注入存儲單元，從而改變其狀態；擦除偏置是指清除存儲單元中數據的過程，即將存儲單元恢復到初始狀態。
    2、到目前為止，在利用編程及擦除驗證水平來確定驗證偏置時，需要反復用外部偏置對單元柵極施加的方法來制作閾值電壓曲線，用戶確認偏置值后再進行設置，這種序列需要大量時間和工程師的努力；為了找到現有的編程驗證/讀取偏置水平，如果手動進行測試，會嚴重消耗測試時間，這直接導致產品開發成本增加；由于這種測試成本的增加，每個芯片的進行都面臨很多困難，多個芯片使用同一個驗證選項，最終導致余量損失。

    技術實現思路
    1、本專利技術的目的在于提供用于減少測試時間的編程及擦除偏置的方法，以解決上述
    技術介紹
    中提出的問題。
    2、為了解決上述技術問題，本專利技術提供如下技術方案：用于減少測試時間的編程及擦除偏置的方法，該方法包括以下步驟：
    3、s1、構建存儲器框架，進行初始化設置；
    4、s2、輸入測試命令進行測試；
    5、s3、按照用戶指定初始值的偏置水平進行編程及擦除驗證并通過感測放大器判定是否通過；
    6、s4、進行模塊檢查和操作，檢查是否為最后一個模塊，如果是則確認操作模式進行操作，設置操作驗證區域的地址和計數器值，自動進行正常操作；
    7、s5、檢查操作狀態值，確認操作結束；</p>
    8、s6、失敗處理和循環；
    9、s7、非易失性數據存儲；
    10、s8、測試結果輸出。
    11、在步驟s1中，
    12、所述初始化設置是按照特定的測試模式開始序列執行，初始選擇最低柵極偏置水平的選項；
    13、所述框架具體為：
    14、該框架包括一個控制器、一個選項計數器、一個地址計數器、模擬塊、x解碼區域、頁緩沖區、單元格陳列區域、編程選項格和擦除選項格；
    15、所述控制器的輸出端分別與所述選項計數器、所述地址計數器和所述模擬器的輸入端相連接；所述選項計數器的輸出端與所述頁緩沖區的輸入端相連接；所述地址計數器和所述模擬塊的輸出端與所述x解碼區域的輸入端相連接；所述頁緩沖區、單元格陳列、編程選項格和擦除選項格位于存儲器的同一個存儲單元，自上而之下依次是頁緩沖區、單元格陳列區域、編程選項格和擦除選項格。
    16、所述控制器用于管理和控制存儲器的整體操作，包括數據讀寫、編程、擦除和驗證；執行內部算法和邏輯，確保各項操作的順利進行；監控和調整各個模塊的狀態，提供控制信號。
    17、所述選項計數器用于記錄和管理編程及擦除操作的嘗試次數，在驗證失敗后，增加和調整計數值以便進行重試；所述地址計數器用于管理和生成存儲單元的地址，包括塊地址、頁地址和單元地址，增加和減少地址值，以便在不同的存儲單元之間進行操作；在多塊和多頁操作時，自動更新地址以確保操作的連續性和正確性。
    18、所述模擬塊用于生成和調整操作所需的電壓和電流信號，包括編程電壓和擦除電壓；提供必要的模擬信號，與控制器和其他模塊協作，優化信號質量和操作效果。
    19、所述x解碼區域用于解碼地址計數器生成的地址信號，將其轉換為存儲單元的物理地址；控制和管理存儲單元陣列的訪問路徑，確保數據能夠正確地讀寫到指定的單元；在編程和擦除操作中，提供必要的地址選擇信號。
    20、所述頁緩沖區用于臨時存儲從單元格陣列讀取和將要寫入到單元格陣列的數據；提供數據的快速存取，提高數據傳輸的效率和可靠性；在編程和讀取操作中，充當數據的緩存，確保操作的連續性和穩定性。
    21、所述單元格陳列區域存儲數據，由多個存儲單元組成，包含整個存儲器的存儲單元陣列，是數據存儲和操作的主要區域；在編程和擦除操作中，直接參與數據的寫入和清除。
    22、所述編程選項格用于存儲和管理編程操作的參數和設置，包括編程電壓和編程時間；提供編程操作所需的選項和控制信號，確保編程操作的準確性和成功率；在編程過程中，與控制器和模擬塊協作，優化編程條件；所述擦除選項格用于存儲和管理擦除操作的參數和設置，包括擦除電壓和擦除時間；提供擦除操作所需的選項和控制信號，確保擦除操作的有效性和安全性；在擦除過程中，與控制器和模擬塊協作，優化擦除條件。
    23、在步驟s2中，
    24、按照特定的測試模式開始執行；選擇最低柵極偏置水平的選項；插入與本次測試模式相關的測試命令以執行內部算法；
    25、所述內部算法具體包括以下步驟：
    26、s10-1、以設置的最差柵極偏置水平進行編程及擦除驗證；
    27、s10-2、如果驗證失敗，則檢查是否進行了最后的編程及擦除操作；
    28、s10-3、如果進行到最后一個循環，則檢查是否是最后的編程及擦除驗證柵極偏置選項，如果不是，則增加柵極偏置水平；最后的循環次數根據規格中的編程及擦除時間和其循環一次的時間來確定；
    29、s10-4、在編程及擦除驗證柵極偏置水平后增加內部計數器，表示選項值；之后對內部互補金屬氧化物半導體cam單元陣列進行編程；
    30、s10-5、再次進行驗證，如果通過則檢查是否是最后塊，如果不是最后塊，則增加下一個頁面和塊地址，然后進行重新驗證；此時編程及擦除驗證水平從上個循環塊的柵極偏置水平的增加值開始進行；
    31、s10-6、完成對最后一個塊的確認后，檢查是否是互補金屬氧化物半導體單元編程模式，如果是編程模式，則自動設置進入互補金屬氧化物半導體單元陣列地址和數據，然后進行互補金屬氧化物半導體單元編程以對互補金屬氧化物半導體單元陣列進行編程；如果這部分是與擦除驗證相關的模式，則在進入擦除驗證選項的互補金屬氧化物半導體單元陣列地址上進行編程，完成選項設置后結束此測試序列；
    32、s10-7、測試序列結束后用戶通過外部焊盤讀取此選項值，查看測試結果；
    33、所述增加柵極偏置每次執行增加的大小為0.1mv。
    34、與現有技術相比，本專利技術所達到的有益效果是：
    35、1.本專利技術為了減少這種測試時間，在編程及擦除驗證時自動從設計設置的最糟糕的值開始自動逐階段更新柵極偏置進行施加，從而找到合適的偏置水平，并將該值無需其他額外操作自動在互補金屬氧化物半導體單元陣列中進行編程，是一種一次完成設置而不會有時間損失的方法；
    36、2.本專利技術提高了測試結果的實時性，如果算法以失敗結束，則在狀態值上輸出為失敗，以便用戶能夠容易地掌握測試結果；
    37、3.本專利技術通過在芯片內部添加了優化算法，可以自動找到偏置水平，并能夠自動進行程序設置，從而減少測試時間，降低測試成本，由于減少了測試時間，可以找到每個芯片的編程及擦除驗證選項并按芯片進行設置，由此，通過讓每個芯片具有各自合適的選項，有助于確保整體的驗證余量。
    本文檔來自技高網...
                            
    
                            
    【技術保護點】
    
                                
    1.用于減少測試時間的編程及擦除偏置的方法，其特征在于：該方法包括以下步驟：
    2.根據權利要求6所述的用于減少測試時間的編程及擦除偏置的方法，其特征在于：在步驟S1中，
    3.根據權利要求2所述的用于減少測試時間的編程及擦除偏置的方法，其特征在于：所述控制器用于管理和控制存儲器的整體操作，包括數據讀寫、編程、擦除和驗證；執行內部算法和邏輯，確保各項操作的順利進行；監控和調整各個模塊的狀態，提供控制信號。
    4.根據權利要求2所述的用于減少測試時間的編程及擦除偏置的方法，其特征在于：所述選項計數器用于記錄和管理編程及擦除操作的嘗試次數，在驗證失敗后，增加和調整計數值以便進行重試；所述地址計數器用于管理和生成存儲單元的地址，包括塊地址、頁地址和單元地址，增加和減少地址值，以便在不同的存儲單元之間進行操作；在多塊和多頁操作時，自動更新地址以確保操作的連續性和正確性。
    5.根據權利要求2所述的用于減少測試時間的編程及擦除偏置的方法，其特征在于：所述模擬塊用于生成和調整操作所需的電壓和電流信號，包括編程電壓和擦除電壓；提供必要的模擬信號，與控制器和其他模塊協作，優化信號質量和操作效果。
    6.根據權利要求2所述的用于減少測試時間的編程及擦除偏置的方法，其特征在于：所述X解碼區域用于解碼地址計數器生成的地址信號，將其轉換為存儲單元的物理地址；控制和管理存儲單元陣列的訪問路徑，確保數據能夠正確地讀寫到指定的單元；在編程和擦除操作中，提供必要的地址選擇信號。
    7.根據權利要求2所述的用于減少測試時間的編程及擦除偏置的方法，其特征在于：所述頁緩沖區用于臨時存儲從單元格陣列讀取和將要寫入到單元格陣列的數據；提供數據的快速存取，提高數據傳輸的效率和可靠性；在編程和讀取操作中，充當數據的緩存，確保操作的連續性和穩定性。
    8.根據權利要求2所述的用于減少測試時間的編程及擦除偏置的方法，其特征在于：所述單元格陳列區域存儲數據，由多個存儲單元組成，包含整個存儲器的存儲單元陣列，是數據存儲和操作的主要區域；在編程和擦除操作中，直接參與數據的寫入和清除。
    9.根據權利要求2所述的用于減少測試時間的編程及擦除偏置的方法，其特征在于：所述編程選項格用于存儲和管理編程操作的參數和設置，包括編程電壓和編程時間；提供編程操作所需的選項和控制信號，確保編程操作的準確性和成功率；在編程過程中，與控制器和模擬塊協作，優化編程條件；所述擦除選項格用于存儲和管理擦除操作的參數和設置，包括擦除電壓和擦除時間；提供擦除操作所需的選項和控制信號，確保擦除操作的有效性和安全性；在擦除過程中，與控制器和模擬塊協作，優化擦除條件。
    10.根據權利要求1所述的用于減少測試時間的編程及擦除偏置的方法，其特征在于：在步驟S2中，
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    【技術特征摘要】
    
                                
    1.用于減少測試時間的編程及擦除偏置的方法，其特征在于：該方法包括以下步驟：
    2.根據權利要求6所述的用于減少測試時間的編程及擦除偏置的方法，其特征在于：在步驟s1中，
    3.根據權利要求2所述的用于減少測試時間的編程及擦除偏置的方法，其特征在于：所述控制器用于管理和控制存儲器的整體操作，包括數據讀寫、編程、擦除和驗證；執行內部算法和邏輯，確保各項操作的順利進行；監控和調整各個模塊的狀態，提供控制信號。
    4.根據權利要求2所述的用于減少測試時間的編程及擦除偏置的方法，其特征在于：所述選項計數器用于記錄和管理編程及擦除操作的嘗試次數，在驗證失敗后，增加和調整計數值以便進行重試；所述地址計數器用于管理和生成存儲單元的地址，包括塊地址、頁地址和單元地址，增加和減少地址值，以便在不同的存儲單元之間進行操作；在多塊和多頁操作時，自動更新地址以確保操作的連續性和正確性。
    5.根據權利要求2所述的用于減少測試時間的編程及擦除偏置的方法，其特征在于：所述模擬塊用于生成和調整操作所需的電壓和電流信號，包括編程電壓和擦除電壓；提供必要的模擬信號，與控制器和其他模塊協作，優化信號質量和操作效果。
    6.根據權利要求2所述的用于減少測試時間的編程及擦除偏置的方法，其特征在于：所述x解碼區域用于解碼地址計數器生成的地址信號，將其轉換為存儲單元的物理地址...
                            
    
                            
    【專利技術屬性】
    
                                技術研發人員：鄭載憲，王永成，毛文銘，
    
        申請(專利權)人：江蘇揚賀揚微電子科技有限公司，
    
        類型：發明
    
        國別省市：
    
                            
    
                            
                        
    
                    
    
                    
                    
                     
                
    
                
                
    
                    
    
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