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    一種PLC功能測試設(shè)備及測試方法技術(shù)

    技術(shù)編號:43393161 閱讀:15 留言:0更新日期:2024-11-19 18:08
    本發(fā)明專利技術(shù)屬于PLC功能測試技術(shù)領(lǐng)域,具體的說是一種PLC功能測試設(shè)備及測試方法,包括沖擊測試裝置和安裝在沖擊測試裝置一側(cè)的電流電壓監(jiān)測裝置,沖擊測試裝置的外側(cè)設(shè)置有電壓跌落模擬裝置和老化裝置,沖擊測試裝置的上部位置活動安裝有升降板,PLC本體活動安裝在升降板的下側(cè),沖擊測試裝置的兩側(cè)內(nèi)壁活動安裝有多個阻礙板,通過多次水平狀態(tài)下的PLC本體與阻礙板進(jìn)行接觸碰撞,來監(jiān)測PLC本體設(shè)置在設(shè)備內(nèi)部時受到磕碰情況下的電流電壓數(shù)據(jù),而且這個監(jiān)測是處于PLC本體老化以及電壓下降的情況下,通過極端情況下對于PLC本體的功能性測試,來確認(rèn)PLC本體是否合格,這種測試下的PLC合格性更具有真實(shí)性。

    【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

    本專利技術(shù)屬于plc功能測試領(lǐng)域,具體的說是一種plc功能測試設(shè)備及測試方法。


    技術(shù)介紹

    1、plc(可編程邏輯控制器)功能測試是指對plc進(jìn)行各種測試,以驗(yàn)證其運(yùn)行和功能是否符合預(yù)期的要求,plc的功能測試通常是在模擬現(xiàn)實(shí)環(huán)境中正常使用的前提下,而現(xiàn)實(shí)環(huán)境中plc的老化、供給電壓的下降以及plc受到外部沖擊等情況均會影響plc的功能,所以在plc真正實(shí)裝前需要模擬這些因素對plc功能進(jìn)行測試。

    2、公開號為cn110609224a的一項(xiàng)專利文件公開了一種plc測試裝置及方法,包括框架及加熱組件、組裝測試組件;加熱組件用于向測試的plc提供熱氣流;組裝測試組件包括底板、模塊上平臺、夾持裝置及探針組件,探針組件包括輸入探針組件、輸出探針組件,本專利技術(shù)自動化程度較高,能夠在對plc進(jìn)行老化后直接進(jìn)行測試;而且本專利技術(shù)能對多種plc進(jìn)行老化和測試,降低多種plc老化測試的設(shè)備成本。

    3、上述技術(shù)方案中通過加熱和加大電流的手段讓plc加速老化,然后對老化后的plc進(jìn)行電流及電壓的監(jiān)測來完成功能檢測,但在實(shí)際工況下,很多時候正常老化的plc還會受到電壓下降以及外部受到?jīng)_擊的情況,所以對老化的plc在電壓下降或受到外部沖擊情況下的功能性檢測也是必要的,而且在某些情況下,老化的plc會同時受到電壓下降以及跌落時外部沖擊的影響,為了保證plc的正常使用,需要plc在多種因素同時發(fā)生的情況下進(jìn)行功能檢測。

    4、為此,本專利技術(shù)提供一種plc功能測試設(shè)備及測試方法。


    技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路</b>

    1、為了彌補(bǔ)現(xiàn)有技術(shù)的不足,解決
    技術(shù)介紹
    中所提出的至少一個技術(shù)問題。

    2、本專利技術(shù)解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:本專利技術(shù)所述的一種plc功能測試設(shè)備,包括沖擊測試裝置和安裝在沖擊測試裝置一側(cè)的電流電壓監(jiān)測裝置,所述沖擊測試裝置的外側(cè)設(shè)置有電壓跌落模擬裝置和老化裝置,所述沖擊測試裝置用于放置plc本體,老化裝置包括加熱組件、電源開關(guān)以及電流限制器,所述老化裝置用于對plc本體進(jìn)行老化;

    3、所述電壓跌落模擬裝置包括電源模塊、電壓跌落模擬控制器、負(fù)載模塊、測量監(jiān)控模塊以及溫度監(jiān)測模塊,所述電流電壓監(jiān)測裝置用于監(jiān)測plc本體的電流及電壓,所述電壓跌落模擬裝置用于模擬電力系統(tǒng)中發(fā)生的電壓下降情況;

    4、所述沖擊測試裝置的上部位置活動安裝有升降板,所述plc本體活動安裝在升降板的下側(cè),所述沖擊測試裝置的兩側(cè)內(nèi)壁活動安裝有多個阻礙板,所述電壓跌落模擬裝置、電流電壓監(jiān)測裝置和老化裝置通過連接探頭與plc本體電性連接。

    5、優(yōu)選的,沖擊測試裝置包括基座板以及固定設(shè)置在基座板上側(cè)的兩個導(dǎo)軌板以及四個導(dǎo)柱,所述沖擊測試裝置還包括固定安裝在兩個導(dǎo)軌板上側(cè)的頂板,所述導(dǎo)軌板的內(nèi)部開設(shè)有十字豎槽。

    6、優(yōu)選的,十字豎槽的內(nèi)部活動安裝有滑動板,滑動板朝向沖擊測試裝置中心位置的一側(cè)固定安裝有多個u型條,所述阻礙板嵌入在u型條內(nèi)部,所述阻礙板的長度長與u型條的長度。

    7、優(yōu)選的,頂板內(nèi)部安裝有多個升降組件,所述升降組件包括固定安裝的第一電機(jī)和固定安裝在第一電機(jī)輸出軸上的第一收卷輪,所述第一收卷輪的外側(cè)環(huán)繞安裝有金屬絲線,多個所述的金屬絲線一端與升降板上側(cè)固定連接。

    8、優(yōu)選的,升降板的內(nèi)部活動安裝有電性驅(qū)動組件,所述plc本體的上側(cè)設(shè)置有夾持組件,所述夾持組件包括條形外殼以及活動設(shè)置在條形外殼內(nèi)部的調(diào)節(jié)柱,所述條形外殼的下側(cè)活動安裝有兩個移動夾持板。

    9、優(yōu)選的,調(diào)節(jié)柱的一端固定安裝有正向螺旋絲桿,所述調(diào)節(jié)柱的另一端固定安裝有反向螺旋絲桿,一組所述的移動夾持板上部與正向螺旋絲桿螺旋連接,另一組所述的移動夾持板上部與反向螺旋絲桿螺旋連接,所述移動夾持板的下側(cè)固定安裝有紅外感應(yīng)器。

    10、優(yōu)選的,電性驅(qū)動組件的兩側(cè)收卷設(shè)置有第一收卷繩和第二收卷繩,所述第一收卷繩和第二收卷繩的一端與條形外殼上側(cè)固定連接,升降板的內(nèi)部開設(shè)有構(gòu)件槽、限位條槽和弧形槽,所述構(gòu)件槽、限位條槽和弧形槽相連通,所述第一收卷繩和第二收卷繩設(shè)置在限位條槽和弧形槽內(nèi)部。

    11、優(yōu)選的,電性驅(qū)動組件包括固定安裝在構(gòu)件槽內(nèi)部的第二電機(jī),所述第二電機(jī)下側(cè)通過輸出軸連接有第一齒輪,所述第一齒輪的外側(cè)設(shè)置有第二齒輪和第三齒輪,所述第二齒輪的下側(cè)固定連接有第二收卷輪,所述第三齒輪的下側(cè)固定連接有第三收卷輪,所述第一收卷繩收卷在第三收卷輪外側(cè),所述第二收卷繩收卷在第二收卷輪外側(cè),所述第二收卷輪、第三收卷輪通過軸活動安裝在構(gòu)件槽內(nèi)部。

    12、一種plc功能的測試方法,該方法采用了上述所述的一種plc功能測試設(shè)備,包括以下步驟:

    13、步驟一:準(zhǔn)備工作:準(zhǔn)備plc本體,通過夾持組件夾持住plc本體,讓plc本體處于升降板的正下方位置;

    14、步驟二:老化測試:讓老化裝置與plc本體電性連接,plc本體被加速老化,老化后的plc本體正常工作,通過電流電壓監(jiān)測裝置與這個時候的plc本體電性連接,監(jiān)測plc本體的電流電壓是否變化,觀察老化后的plc本體是否在穩(wěn)定工作;

    15、步驟三:老化后電壓下降測試:老化裝置與plc本體不再電性連接,讓電流電壓監(jiān)測裝置和電壓跌落模擬裝置同時與plc本體電性連接,電壓跌落模擬裝置用于模擬電力系統(tǒng)中的電壓下降情況,電流電壓監(jiān)測裝置測試電壓下降情況下plc本體的輸出電流以及電壓,觀察此時的plc本體是否在穩(wěn)定工作;

    16、步驟四:老化后沖擊測試;在上述步驟中plc本體已經(jīng)被老化,通過沖擊測試裝置中升降板的升降來帶動plc本體的升降,讓plc本體與阻礙板接觸碰撞,來測試?yán)匣髉lc本體受到碰撞時電壓及電流的輸出情況,這個輸出情況由電流電壓監(jiān)測裝置進(jìn)行監(jiān)測;

    17、步驟五:電壓下降、老化后沖擊測試:讓老化后的plc本體同時與電流電壓監(jiān)測裝置、電壓跌落模擬裝置電性連接,且這個時候沖擊測試裝置進(jìn)行沖擊測試,在沖擊測試的過程中,通過電流電壓監(jiān)測裝置進(jìn)行電流電壓監(jiān)測。

    18、優(yōu)選的,所述步驟二進(jìn)行時,老化裝置中的加熱組件輸出40℃-60℃的氣流到plc本體內(nèi)部,電源開關(guān)以及電流限制器將輸出到plc本體的電流增大10%-50%;

    19、所述電壓跌落模擬裝置將電壓下降到plc本體額定電壓的80%-90%。

    20、本專利技術(shù)的有益效果如下:

    21、1.本專利技術(shù)所述的一種plc功能測試設(shè)備及測試方法,通過在plc本體處于快速老化的前提下,再讓plc本體處于這種電壓下降的情況下,這個時候再次通過電流電壓監(jiān)測裝置來監(jiān)測plc本體的電流電壓,再一次完成plc的功能測試,看看生產(chǎn)的plc是否能在這兩個因素下正常使用,提高測試的全面性。

    22、2.本專利技術(shù)所述的一種plc功能測試設(shè)備及測試方法,通過電驅(qū)動升降板升降,讓升降板可以帶動設(shè)置在升降板下方的plc本體進(jìn)行升降,升降板帶動plc本體下降,plc本體在下降的過程中會與阻礙板發(fā)生碰撞,在這個情況下,plc本體內(nèi)部電子元件的松動會對本文檔來自技高網(wǎng)...

    【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】

    1.一種PLC功能測試設(shè)備,包括沖擊測試裝置(3)和安裝在沖擊測試裝置(3)一側(cè)的電流電壓監(jiān)測裝置(2),其特征在于:所述沖擊測試裝置(3)的外側(cè)設(shè)置有電壓跌落模擬裝置(4)和老化裝置(5),所述沖擊測試裝置(3)用于放置PLC本體(1),老化裝置(5)包括加熱組件(51)、電源開關(guān)(52)以及電流限制器(53),所述老化裝置(5)用于對PLC本體(1)進(jìn)行老化;

    2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種PLC功能測試設(shè)備,其特征在于:所述沖擊測試裝置(3)包括基座板(31)以及固定設(shè)置在基座板(31)上側(cè)的兩個導(dǎo)軌板(32)以及四個導(dǎo)柱(33),所述沖擊測試裝置(3)還包括固定安裝在兩個導(dǎo)軌板(32)上側(cè)的頂板(34),所述導(dǎo)軌板(32)的內(nèi)部開設(shè)有十字豎槽(35)。

    3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種PLC功能測試設(shè)備,其特征在于:所述十字豎槽(35)的內(nèi)部活動安裝有滑動板(351),滑動板(351)朝向沖擊測試裝置(3)中心位置的一側(cè)固定安裝有多個U型條(352),所述阻礙板(7)嵌入在U型條(352)內(nèi)部,所述阻礙板(7)的長度長與U型條(352)的長度。

    <p>4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種PLC功能測試設(shè)備,其特征在于:所述頂板(34)內(nèi)部安裝有多個升降組件(36),所述升降組件(36)包括固定安裝的第一電機(jī)(361)和固定安裝在第一電機(jī)(361)輸出軸上的第一收卷輪(362),所述第一收卷輪(362)的外側(cè)環(huán)繞安裝有金屬絲線(363),多個所述的金屬絲線(363)一端與升降板(6)上側(cè)固定連接。

    5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種PLC功能測試設(shè)備,其特征在于:所述升降板(6)的內(nèi)部活動安裝有電性驅(qū)動組件(8),所述PLC本體(1)的上側(cè)設(shè)置有夾持組件(9),所述夾持組件(9)包括條形外殼(92)以及活動設(shè)置在條形外殼(92)內(nèi)部的調(diào)節(jié)柱(91),所述條形外殼(92)的下側(cè)活動安裝有兩個移動夾持板(93)。

    6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種PLC功能測試設(shè)備,其特征在于:所述電性驅(qū)動組件(8)的兩側(cè)收卷設(shè)置有第一收卷繩(81)和第二收卷繩(82),所述第一收卷繩(81)和第二收卷繩(82)的一端與條形外殼(92)上側(cè)固定連接,調(diào)節(jié)柱(91)的一端固定安裝有正向螺旋絲桿(911),所述調(diào)節(jié)柱(91)的另一端固定安裝有反向螺旋絲桿(912),一組所述的移動夾持板(93)上部與正向螺旋絲桿(911)螺旋連接,另一組所述的移動夾持板(93)上部與反向螺旋絲桿(912)螺旋連接,所述移動夾持板(93)的下側(cè)固定安裝有紅外感應(yīng)器(931)。

    7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種PLC功能測試設(shè)備,其特征在于:所述升降板(6)的內(nèi)部開設(shè)有構(gòu)件槽(61)、限位條槽(62)和弧形槽(63),所述構(gòu)件槽(61)、限位條槽(62)和弧形槽(63)相連通,所述第一收卷繩(81)和第二收卷繩(82)設(shè)置在限位條槽(62)和弧形槽(63)內(nèi)部。

    8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種PLC功能測試設(shè)備,其特征在于:所述電性驅(qū)動組件(8)包括固定安裝在構(gòu)件槽(61)內(nèi)部的第二電機(jī)(83),所述第二電機(jī)(83)下側(cè)通過輸出軸連接有第一齒輪(84),所述第一齒輪(84)的外側(cè)設(shè)置有第二齒輪(85)和第三齒輪(87),所述第二齒輪(85)的下側(cè)固定連接有第二收卷輪(86),所述第三齒輪(87)的下側(cè)固定連接有第三收卷輪(88),所述第一收卷繩(81)收卷在第三收卷輪(88)外側(cè),所述第二收卷繩(82)收卷在第二收卷輪(86)外側(cè),所述第二收卷輪(86)、第三收卷輪(88)通過軸活動安裝在構(gòu)件槽(61)內(nèi)部。

    9.一種PLC功能的測試方法,該方法采用了權(quán)利要求1-8任一項(xiàng)所述的一種PLC功能測試設(shè)備,其特征在于:包括以下步驟:

    10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的一種PLC功能的測試方法,其特征在于:所述步驟二進(jìn)行時,老化裝置(5)中的加熱組件(51)輸出40℃-60℃的氣流到PLC本體(1)內(nèi)部,電源開關(guān)(52)以及電流限制器(53)將輸出到PLC本體(1)的電流增大10%-50%;所述電壓跌落模擬裝置(4)將電壓下降到PLC本體(1)額定電壓的80%-90%。

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    【技術(shù)特征摘要】

    1.一種plc功能測試設(shè)備,包括沖擊測試裝置(3)和安裝在沖擊測試裝置(3)一側(cè)的電流電壓監(jiān)測裝置(2),其特征在于:所述沖擊測試裝置(3)的外側(cè)設(shè)置有電壓跌落模擬裝置(4)和老化裝置(5),所述沖擊測試裝置(3)用于放置plc本體(1),老化裝置(5)包括加熱組件(51)、電源開關(guān)(52)以及電流限制器(53),所述老化裝置(5)用于對plc本體(1)進(jìn)行老化;

    2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種plc功能測試設(shè)備,其特征在于:所述沖擊測試裝置(3)包括基座板(31)以及固定設(shè)置在基座板(31)上側(cè)的兩個導(dǎo)軌板(32)以及四個導(dǎo)柱(33),所述沖擊測試裝置(3)還包括固定安裝在兩個導(dǎo)軌板(32)上側(cè)的頂板(34),所述導(dǎo)軌板(32)的內(nèi)部開設(shè)有十字豎槽(35)。

    3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種plc功能測試設(shè)備,其特征在于:所述十字豎槽(35)的內(nèi)部活動安裝有滑動板(351),滑動板(351)朝向沖擊測試裝置(3)中心位置的一側(cè)固定安裝有多個u型條(352),所述阻礙板(7)嵌入在u型條(352)內(nèi)部,所述阻礙板(7)的長度長與u型條(352)的長度。

    4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種plc功能測試設(shè)備,其特征在于:所述頂板(34)內(nèi)部安裝有多個升降組件(36),所述升降組件(36)包括固定安裝的第一電機(jī)(361)和固定安裝在第一電機(jī)(361)輸出軸上的第一收卷輪(362),所述第一收卷輪(362)的外側(cè)環(huán)繞安裝有金屬絲線(363),多個所述的金屬絲線(363)一端與升降板(6)上側(cè)固定連接。

    5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種plc功能測試設(shè)備,其特征在于:所述升降板(6)的內(nèi)部活動安裝有電性驅(qū)動組件(8),所述plc本體(1)的上側(cè)設(shè)置有夾持組件(9),所述夾持組件(9)包括條形外殼(92)以及活動設(shè)置在條形外殼(92)內(nèi)部的調(diào)節(jié)柱(91),所述條形外殼(92)的下側(cè)活動安裝有兩個移動夾持板(93)。

    6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種plc功能測試設(shè)備,其特征在于:所述電性驅(qū)動組件(8)的兩側(cè)收卷設(shè)置...

    【專利技術(shù)屬性】
    技術(shù)研發(fā)人員:饒思忠
    申請(專利權(quán))人:東莞市木鳥自動化有限公司
    類型:發(fā)明
    國別省市:

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