【技術實現步驟摘要】
本申請涉及內存老化測試，特別是涉及一種內存老化測試方法和內存老化測試裝置。
技術介紹
1、內存是計算機、嵌入式系統、用戶設備等裝置的關鍵部件之一，它決定著上述裝置運行的穩定性，因此對內存進行測試非常必要。
2、高溫老化測試是內存測試的一環。目前，對內存進行高溫老化測試時，通常需要將內存放置于高溫箱中的測試板進行測試，高溫箱在一次作業中，箱內的所有內存接收到的測試指令之間的指令間隔時間均為一預設值，箱內的部分內存在上述指令間隔時間內需要花費更多的時間完成老化測試的不足。
技術實現思路
1、本申請提供一種內存老化測試方法、內存老化測試裝置。
2、本申請采用的一個技術方案是提供一種內存老化測試方法，方法包括：
3、在第一測試階段，調整每一測試指令之間的指令間隔時間；
4、獲取每一指令間隔時間內被測內存產生的功耗值；
5、將多個功耗值中最大功耗值對應的指令間隔時間作為第一測試階段之后的第二測試階段中的指令間隔時間。
6、其中，調整每一測試指令之間的指令間隔時間，包括：
7、比較當前指令間隔時間內被測內存產生的第一功耗值與上一指令間隔時間內被測內存產生的第二功耗值的大小；
8、響應于第一功耗值大于第二功耗值，且當前指令間隔時間小于上一指令間隔時間，按照第一調節幅度，調小當前指令間隔時間作為下一指令間隔時間；
9、響應于第一功耗值大于第二功耗值，且當前指令間隔時間大于上一指令間隔時間，按
10、響應于第一功耗值小于第二功耗值，根據當前指令間隔時間確定下一指令間隔時間。
11、其中，響應于第一功耗值小于第二功耗值，根據當前指令間隔時間確定下一指令間隔時間，包括：
12、響應于第一功耗值小于第二功耗值，利用當前指令間隔時間和第二調節幅度得到下一指令間隔時間，其中，下一指令間隔時間在上一指令間隔時間和當前指令間隔時間之間。
13、其中，第二調節幅度與第一功耗值連續小于第二功耗值的次數負相關。
14、其中，響應于第一功耗值大于第二功耗值，且當前指令間隔時間小于上一指令間隔時間，按照第一調節幅度，調小當前指令間隔時間作為下一指令間隔時間，包括：
15、響應于第一功耗值大于預設倍數的第二功耗值，且當前指令間隔時間小于上一指令間隔時間，按照第一調節幅度，調小當前指令間隔時間作為下一指令間隔時間；其中，預設倍數大于1；
16、響應于第一功耗值大于第二功耗值，且當前指令間隔時間大于上一指令間隔時間，按照第一調節幅度，調大當前指令間隔時間作為下一指令間隔時間，包括：
17、響應于第一功耗值大于預設倍數的第二功耗值，且當前指令間隔時間大于上一指令間隔時間，按照第一調節幅度，調大當前指令間隔時間作為下一指令間隔時間；
18、響應于第一功耗值小于第二功耗值，根據當前指令間隔時間確定下一指令間隔時間，包括：
19、響應于第一功耗值小于預設倍數的第二功耗值，根據當前指令間隔時間確定下一指令間隔時間。
20、其中，響應于第一功耗值小于第二功耗值，根據當前指令間隔時間確定下一指令間隔時間，包括：
21、響應于第一功耗值小于第二功耗值，將上一指令間隔時間作為下一指令間隔時間。
22、其中，獲取每一指令間隔時間內被測內存產生的功耗值，包括：
23、獲取每一指令間隔時間內被測內存的平均電流值；
24、根據每一平均電流值，得到每一指令間隔時間內被測內存產生的功耗值。
25、本申請采用的另一個技術方案是提供一種內存老化測試裝置，內存老化測試裝置包括控制設備，控制設備在對被測內存進行內存老化測試時，實現如上述的內存老化測試方法。
26、其中，控制設備包括：
27、主控設備；
28、至少一個內存老化單元，耦接主控設備，每一內存老化單元在對被測內存進行內存老化測試。
29、其中，每一內存老化單元中的被測內存為同一批次內存。
30、本申請的有益效果是：在第一測試階段調整指令間隔時間，獲取每一指令間隔時間內被測內存產生的功耗值，選取出多個功耗值中最大功耗值對應的指令間隔時間作為第一測試階段后的第二測試階段的指令間隔時間，通過確定出被測內存最大功耗值對應的指令間隔時間，使得在利用每一測試指令測試時，被測內存能夠以更佳的功耗進行高溫老化測試，提升老化測試的效果。
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1.一種內存老化測試方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，
3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述響應于所述第一功耗值小于所述第二功耗值，根據所述當前指令間隔時間確定下一指令間隔時間，包括：
4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述第二調節幅度與所述第一功耗值連續小于所述第二功耗值的次數負相關。
5.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述響應于所述第一功耗值大于所述第二功耗值，且所述當前指令間隔時間小于所述上一指令間隔時間，按照第一調節幅度，調小所述當前指令間隔時間作為下一指令間隔時間，包括：
6.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述響應于所述第一功耗值小于所述第二功耗值，根據所述當前指令間隔時間確定下一指令間隔時間，包括：
7.根據權利要求1-6任一項所述的方法，其特征在于，所述獲取每一指令間隔時間內被測內存產生的功耗值，包括：
8.一種內存老化測試裝置，其特征在于，所述內存老化測試裝置包括控制設備，所述控制設備在對被測內存進行內存老
9.根據權利要求8所述的內存老化測試裝置，其特征在于，所述控制設備包括：
10.根據權利要求9所述的內存老化測試裝置，其特征在于，每一內存老化單元中的被測內存為同一批次內存。
...【技術特征摘要】
1.一種內存老化測試方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，
3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述響應于所述第一功耗值小于所述第二功耗值，根據所述當前指令間隔時間確定下一指令間隔時間，包括：
4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述第二調節幅度與所述第一功耗值連續小于所述第二功耗值的次數負相關。
5.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述響應于所述第一功耗值大于所述第二功耗值，且所述當前指令間隔時間小于所述上一指令間隔時間，按照第一調節幅度，調小所述當前指令間隔時間作為下一指令間隔時間，包括：
6.根...
【專利技術屬性】
技術研發人員：寗樹梁，
申請(專利權)人：上海江波龍數字技術有限公司，
類型：發明
國別省市：
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