一種快速插拔測試用轉接器制造技術

本實用新型專利技術公開了一種快速插拔測試用轉接器，包括外導體以及與外導體一端的內孔過盈配合的彈性套管，絕緣介質壓接固定在外導體內孔的臺階面與彈性套管的內端面之間，中心導體固定設置于絕緣介質的中心孔中，外導體、彈性套管、絕緣介質和中心導體同軸，所述彈性套管的外端部開設有多道軸向的通槽。測試前將該產品插至被測產品的端口上，彈性套管可自行與被測產品端口外導體將電性能連通，待測試完畢后直接拔下，平均一只轉接器插入、拔出只需要３秒。經驗證，本實用新型專利技術測試用轉接器的測試效率是普通轉接器的４至６倍。（*該技術在2019年保護過期，可自由使用*）

【技術實現步驟摘要】

本技術涉及一種快速插拔測試用轉接器。技術背景目前，在對生產多端口同軸產品進行電性能指標測試時，為保護測試標準件通常 采用前端安裝轉接器的方法保護測試標準件，而使用的測試標準件普遍采用螺紋連接的方 法實現固定。如圖4所示，具體是測試前將螺套旋至被測產品的端口上，待測試完畢后再將 螺套旋下，平均一只轉接器安裝、旋下需要30秒。且普通轉接器在結構的設計上極為不合 理，其一在信號由空氣介質進入聚四氟乙烯介質時缺少適當的阻抗補償；其二 兩絕緣介 質之間留有一定的距離(L)，但是受產品體積的限制，距離有限，信號在其內部容易產生諧 振；其三外導體采用螺紋連接器方式，受機加工限制，形位誤差與尺寸誤差較大，且易松 動；綜合以上可以知道普通轉接器存在有兩大弊端一是使用繁瑣，對測試效率產生負面 影響；二是連接器電性能指標差，對測試準確度與精度產生負面影響；三是機械性能不穩 定，對使用壽命產生負面影響。
技術實現思路
為克服現有技術的缺陷，本技術的目的在于提供一種結構簡單而精確、機械 性能穩定、電氣性能優越、能反復使用、可快速插拔、適合于大批量生產的測試用轉接器，既 能采用無須使用螺套螺紋安裝的方式，又能高精度、高準確性、高效率對產品實現電性能檢 測，適用于SMA型、N型等射頻同軸器件測試使用。本技術解決技術問題采用如下技術方案一種快速插拔測試用轉接器，包括外導體以及與外導體一端的內孔過盈配合的彈 性套管，絕緣介質壓接固定在外導體內孔的臺階面與彈性套管的內端面之間，中心導體固 定設置于絕緣介質的中心孔中，外導體、彈性套管、絕緣介質和中心導體同軸，所述彈性套 管的外端部開設有多道軸向的通槽。本技術的結構特點也在于所述絕緣介質為兩段式結構，兩段絕緣介質的對接端端部的中心孔均為臺階孔， 兩臺階孔對接時形成向絕緣介質本體內徑向延伸的凹槽，所述凹槽與中心導體外壁設置的 凸臺相匹配以形成中心導體在絕緣介質中心孔內的軸向限位。處于絕緣介質中心孔內的中心導體的外壁設置有避免中心導體在絕緣介質中心 孔內周向轉動的滾紋。所述兩段絕緣介質的外端部均設置有補償環。與已有技術相比，本技術有益效果體現在本技術轉接器結構簡單而精 確、機械性能穩定、電氣性能優越、能反復使用、可快速插拔、適合于大批量生產時的測試使 用的測試用轉接器。既能采用無須使用螺套螺紋安裝的方式，又能高精度、高準確性、高效 率對產品實現電性能檢測。測試前將該產品插至被測產品的端口上，彈性套管可自行與被測產品端口外導體將電性能連通，待測試完畢后直接拔下，平均一只轉接器插入、拔出只需 要3秒。經驗證，本技術測試用轉接器的測試效率是普通轉接器的4至6倍。在兩段絕緣介質的外端部分別設置有補償環，且該補償環不但作為阻抗補償使 用，而且作為一種混合介質使用；兩段絕緣介質對接在對中心導體進行固定時，兩絕緣介質 之間的間隙為零，避免信號在其內部產生諧振。附圖說明圖1為本技術轉接器的裝配結構示意圖。圖2為現有轉接器的裝配結構示意圖。圖3為本技術轉接器測試時裝配結構示意圖。圖4為現有轉接器測試時裝配結構示意圖。圖中標號1中心導體，Ia凸臺，Ib滾紋，2絕緣介質，2a補償環，3外導體，4彈性套管，4a通槽。以下通過具體實施方式，并結合附圖對本技術作進一步說明。具體實施方式實施例結合圖1、3，本實施例的快速插拔測試用轉接器，包括外導體3以及與外 導體一端的內孔過盈配合的彈性套管4，絕緣介質2壓接固定在外導體內孔的臺階面與彈 性套管的內端面之間，中心導體1固定設置于絕緣介質的中心孔中，外導體、彈性套管、絕 緣介質和中心導體同軸，所述彈性套管的外端部開設有六道軸向的通槽4a，六道通槽在彈 性套管外端部的圓周方向上等分分布。結合圖3，使用時彈性套管的外端部可自行與被測產 品端口外的導體將電性能連通。具體設置中，結合圖1，絕緣介質2為兩段結構，兩段絕緣介質的對接端端部的中 心孔均為臺階孔，兩臺階孔對接時形成向絕緣介質本體內徑向延伸的凹槽，所述凹槽與中 心導體外壁設置的凸臺Ia相匹配以形成中心導體1在絕緣介質中心孔內的軸向限位。為 避免中心導體在絕緣介質中心孔內轉動，處于絕緣介質中心孔內的中心導體的外壁設置有 滾紋lb。兩段絕緣介質的外端部均設置有補償環2a，該補償環2a不但作為阻抗補償使用， 且作為一種混合介質使用；兩段絕緣介質對接在對中心導體進行固定時，兩絕緣介質之間 的間隙為零，避免信號在其內部產生諧振。外導體3為一整體結構，使用時只要在測試前將該產品插至被測產品的端口上， 彈性套管4可自行與被測產品端口外導體將電性能連通，待測試完畢后直接拔下即可完成 一次產品測試，如此循環進行下次測試。權利要求一種快速插拔測試用轉接器，其特征是包括外導體(3)以及與外導體一端的內孔過盈配合的彈性套管(4)，絕緣介質(2)壓接固定在外導體內孔的臺階面與彈性套管的內端面之間，中心導體(1)固定設置于絕緣介質的中心孔中，外導體、彈性套管、絕緣介質和中心導體同軸，所述彈性套管的外端部開設有多道軸向的通槽(4a)。2.根據權利要求1所述的一種快速插拔測試用轉接器，其特征在于，所述絕緣介質(2) 為兩段，兩段絕緣介質的對接端端部的中心孔均為臺階孔，兩臺階孔對接時形成向絕緣介 質本體內徑向延伸的凹槽，所述凹槽與中心導體外壁設置的凸臺(Ia)相匹配以形成中心 導體在絕緣介質中心孔內的軸向限位。3.根據權利要求1所述的一種快速插拔測試用轉接器，其特征在于，處于絕緣介質中 心孔內的中心導體的外壁設置有避免中心導體在絕緣介質中心孔內周向轉動的滾紋(Ib)。4.根據權利要求2所述的一種快速插拔測試用轉接器，其特征是所述兩段絕緣介質的 外端部均設置有補償環(2a)。專利摘要本技術公開了一種快速插拔測試用轉接器，包括外導體以及與外導體一端的內孔過盈配合的彈性套管，絕緣介質壓接固定在外導體內孔的臺階面與彈性套管的內端面之間，中心導體固定設置于絕緣介質的中心孔中，外導體、彈性套管、絕緣介質和中心導體同軸，所述彈性套管的外端部開設有多道軸向的通槽。測試前將該產品插至被測產品的端口上，彈性套管可自行與被測產品端口外導體將電性能連通，待測試完畢后直接拔下，平均一只轉接器插入、拔出只需要3秒。經驗證，本技術測試用轉接器的測試效率是普通轉接器的4至6倍。文檔編號H01R13/627GK201656187SQ20092029960公開日2010年11月24日 申請日期2009年12月25日 優先權日2009年12月25日專利技術者張祝松, 齊磊 申請人:合肥佰特微波技術有限公司本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種快速插拔測試用轉接器，其特征是包括外導體（３）以及與外導體一端的內孔過盈配合的彈性套管（４），絕緣介質（２）壓接固定在外導體內孔的臺階面與彈性套管的內端面之間，中心導體（１）固定設置于絕緣介質的中心孔中，外導體、彈性套管、絕緣介質和中心導體同軸，所述彈性套管的外端部開設有多道軸向的通槽（４ａ）。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：張祝松，齊磊，
申請(專利權)人：合肥佰特微波技術有限公司，
類型：實用新型
國別省市：34[]