一種背接觸晶硅電池IV測試裝置制造方法及圖紙

本技術公開了背接觸晶硅電池IV測試裝置，測試裝置包括測試光源、測試背板、探測單元，其中測試背板上設有與電池相匹配的定位區(qū)、位于定位區(qū)內的多個真空氣孔，電池吸附并定位在定位區(qū)內；電池的背面具有多條正極主柵和負極主柵，探測單元包括正電流探測導線、正電壓探測導線、負電流探測導線以及負電壓探測導線。本技術一方面采用導線式方式測試電池IV，能夠對正負極柵線實現(xiàn)精準全覆蓋，從而使得測試電性能的FF更加準確；另一方面電壓導線和電流導線之間互不相連，能夠避免產生電壓降現(xiàn)象，同時實現(xiàn)電池正面無遮擋，保證光源的透過率，進一步提高電性能測試的準確度；此外測試所需真空吸附力小，能夠避免電池片破碎。

【技術實現(xiàn)步驟摘要】

本技術屬于太陽能電池，具體涉及一種背接觸晶硅電池iv測試裝置。

技術介紹

1、在晶硅太陽能電池中，背接觸(back?contact)電池技術，即背接觸電池。背接觸電池技術將pn結和金屬接觸挪到電池背面，使得正面沒有任何的電極遮擋，電池吸收太陽光照射的面積更大，從而提高了電池的轉換效率，因此正面光照是背接觸電池能量的主要來源。背接觸電池又分為有主柵和無主柵類型，其中有主柵的背接觸電池，是將正負電極電流分別匯集到主要柵線上，再通過測試主要柵線的iv數據，從而得到有主柵背接觸電池的電性能。在測試背接觸電池的電性能時，由于其金屬電極的pn結交錯分布在電池背面，無法從正面判斷背接觸電池的電極是否與測試裝置接觸完好，這也給測試背接觸電池電性能帶來了嚴峻考驗，所以能夠準確測試背接觸電池的電性能對于背接觸電池的研發(fā)與量產是非常關鍵的。

2、目前，行業(yè)內針對背接觸電池的電性能測試，主要有兩種方案：一、將電池背面真空吸附固定在測試背板上，然后將多排探針組從電池背面升起與背接觸電池正負極接觸，從而測試背接觸電池電性能；二、將電池放置在測試背板上，電池正面壓一塊透明玻璃，然后將測試探針組從背板下方頂起，與背接觸電池正負極接觸，從而測試背接觸電池電性能。

3、然而，在實際測試過程中，現(xiàn)有的測試方案存在以下缺陷：

4、1)電池背面與探針接觸時，無法判斷電池與探針是否完全接觸且無偏差；

5、2)由于探針無法接觸全部柵線，所以采用探針組在測試電池電性能時，測試的ff偏低；

6、3)探針組中的電壓針和電流針連接在一起，會產生電壓降，導致電性能測試不準確；

7、4)采用探針的方式測試iv時，為了確保探針頂觸電池背面以獲取數據，需要用到的真空吸附力較大，容易導致電池片破碎；

8、5)方案二中，在電池上面壓一塊透明玻璃，會影響光源的透過率，將導致測試電性能不準確。

技術實現(xiàn)思路

1、本技術所要解決的技術問題是克服現(xiàn)有技術的不足，提供一種改進的背接觸晶硅電池iv測試裝置。

2、為解決上述技術問題，本技術采取的技術方案如下：

3、一種背接觸晶硅電池iv測試裝置，測試裝置包括測試光源、測試背板、探測單元，其中測試光源設置于測試背板的上方，測試背板的第一面上設有與電池相匹配的定位區(qū)、位于定位區(qū)內的多個真空氣孔，電池的背面與第一面相對，且通過真空氣孔吸附并定位在定位區(qū)內；電池的背面具有多條正極主柵和負極主柵，探測單元包括位于定位區(qū)內的正電流探測導線、正電壓探測導線、負電流探測導線以及負電壓探測導線，正電流探測導線和負電流探測導線分別有多根并對應覆蓋和接觸多條正極主柵和負極主柵；每根正電流探測導線上形成有第一開孔，正電壓探測導線對應穿插在每個第一開孔內并同步與對應的正極主柵接觸，其中正電壓探測導線和正電流探測導線互不相連；每根負電流探測導線上形成有第二開孔，負電壓探測導線對應穿插在每個第二開孔內并同步與對應的負極主柵接觸，其中負電壓探測導線和負電流探測導線互不相連。

4、根據本技術的一個具體實施和優(yōu)選方面，測試裝置還包括iv測試分析儀，所有正電流探測導線匯集于第一導線上，所有正電壓探測導線匯集于第二導線上，所有負電流探測導線匯集于第三導線上，所有負電壓探測導線匯集于第四導線上，其中第一導線、第二導線、第三導線以及第四導線分別連接至iv測試分析儀。在此，一共匯集了四條導線，分別為正電流、正電壓、負電流、負電壓導線，形成了四線法測試原理。

5、優(yōu)選地，各電壓探測導線和電流探測導線的材質采用金、銀或者銅。

6、優(yōu)選地，多根正電流探測導線和負電流探測導線并排間隔且錯位分布。正電流探測導線和負電流探測導線的數量根據實際電池上柵線的數量設置。

7、具體的，相鄰正電流探測導線和負電流探測導線的間距與相鄰正極主柵和負極主柵的間距相等。在此，電池放置并吸附到位后，可保證各電流探測導線與對應的主柵線精準接觸。

8、進一步的，每根正電流探測導線和負電流探測導線的寬度分別與對應的正極主柵和負極主柵的寬度相等。在此，保證數據獲取精準的基礎上，降低相鄰電流探測導線間相互干擾。

9、根據本技術的又一個具體實施和優(yōu)選方面，多個真空氣孔劃分為多組，其中每組真空氣孔對應均勻分布在每相鄰正電流探測導線和負電流探測導線之間。

10、優(yōu)選地，在正電流探測導線排列方向上，多組真空氣孔一一對應對齊設置。在此，有利于電池表面受力均勻，進一步降低電池形變或破碎的概率。

11、根據本技術的又一個具體實施和優(yōu)選方面，第一開孔有多個并沿著正電流探測導線長度方向間隔分布；第二開孔有多個并沿著負電流探測導線長度方向間隔分布。

12、優(yōu)選地，第一開孔和第二開孔均為矩形孔，且各正電壓探測導線和負電壓探測導線分別與對應的孔壁之間形成空隙。在此，進一步避免產出電壓降，使得電性能測試更為準確。

13、此外，定位單元包括固定連接在測試背板上并繞著電池周向分布的多個定位銷，且多個定位銷之間形成定位區(qū)。根據實際電池的尺寸，可自由調整定位銷在測試背板上的位置，以獲取不同大小的定位區(qū)。

14、由于以上技術方案的實施，本技術與現(xiàn)有技術相比具有如下優(yōu)點：

15、現(xiàn)有的電池iv測試裝置采用探針組進行測試，存在無法判斷電池與探針是否完全接觸且無偏差、測試的ff偏低、會產生電壓降并導致電性能測試不準確的缺陷，而且為了確保探針頂觸電池背面，需要很大的真空吸附力，容易導致電池片破碎，此外，在電池上面壓一塊透明玻璃，會影響光源的透過率，將導致測試電性能不準確；而本申請對背接觸晶硅電池iv測試裝置的結構進行整體設計，巧妙解決現(xiàn)有技術的不足和缺陷，采取該測試裝置后，將待測試的背接觸硅晶電池放置在測試背板上并定位在定位區(qū)內，多個真空氣孔同步工作并吸附電池，使得電池背面的各條正極主柵和負極主柵對應接觸并壓緊在各正電流探測導線和負電流探測導線上，打開測試光源以照射電池的正面，此時，各正電流探測導線和負電流探測導線能夠對應覆蓋各條正極主柵和負極主柵以獲取正負電流數據，且各正電壓探測導線和負電壓探測導線穿過正電流探測導線和負電流探測導線上的開孔并同步與對應的正極主柵和負極主柵接觸以獲取正負電壓數據，其中電壓探測導線和負電壓探測導線與正電流探測導線和負電流探測導線互不相連。因此，與現(xiàn)有技術相比，本技術一方面采用導線式方式測試電池iv，能夠對正負極柵線實現(xiàn)精準全覆蓋，從而使得測試電性能的ff更加準確；另一方面電壓導線和電流導線之間互不相連，能夠避免產生電壓降現(xiàn)象，同時實現(xiàn)電池正面無遮擋，保證光源的透過率，進一步提高電性能測試的準確度；此外測試所需真空吸附力小，能夠避免電池片破碎。

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【技術保護點】

1.一種背接觸晶硅電池IV測試裝置，其特征在于：所述測試裝置包括測試光源、測試背板、探測單元，其中所述測試光源設置于所述測試背板的上方，所述測試背板的第一面上設有與電池相匹配的定位區(qū)、位于所述定位區(qū)內的多個真空氣孔，所述電池的背面與所述第一面相對，且通過所述真空氣孔吸附并定位在所述定位區(qū)內；

2.根據權利要求1所述的背接觸晶硅電池IV測試裝置，其特征在于：所述測試裝置還包括IV測試分析儀，所有所述正電流探測導線匯集于第一導線上，所有所述正電壓探測導線匯集于第二導線上，所有所述負電流探測導線匯集于第三導線上，所有所述負電壓探測導線匯集于第四導線上，其中所述第一導線、第二導線、第三導線以及第四導線分別連接至所述IV測試分析儀；和/或，各電壓探測導線和電流探測導線的材質采用金、銀或者銅。

3.根據權利要求2所述的背接觸晶硅電池IV測試裝置，其特征在于：多根所述正電流探測導線和所述負電流探測導線并排間隔且錯位分布。

4.根據權利要求3所述的背接觸晶硅電池IV測試裝置，其特征在于：相鄰所述正電流探測導線和負電流探測導線的間距與相鄰正極主柵和負極主柵的間距相等。

5.根據權利要求3所述的背接觸晶硅電池IV測試裝置，其特征在于：每根所述正電流探測導線和負電流探測導線的寬度分別與對應的所述正極主柵和負極主柵的寬度相等。

6.根據權利要求3所述的背接觸晶硅電池IV測試裝置，其特征在于：多個所述真空氣孔劃分為多組，其中每組所述真空氣孔對應均勻分布在每相鄰所述正電流探測導線和負電流探測導線之間。

7.根據權利要求6所述的背接觸晶硅電池IV測試裝置，其特征在于：在所述正電流探測導線排列方向上，多組所述真空氣孔一一對應對齊設置。

8.根據權利要求1所述的背接觸晶硅電池IV測試裝置，其特征在于：所述第一開孔有多個并沿著所述正電流探測導線長度方向間隔分布；所述第二開孔有多個并沿著所述負電流探測導線長度方向間隔分布。

9.根據權利要求1或8所述的背接觸晶硅電池IV測試裝置，其特征在于：所述第一開孔和第二開孔均為矩形孔，且各所述正電壓探測導線和負電壓探測導線分別與對應的孔壁之間形成空隙。

10.根據權利要求1所述的背接觸晶硅電池IV測試裝置，其特征在于：所述測試背板上設有繞著所述電池周向分布的多個定位銷，且所述多個定位銷之間形成所述定位區(qū)。

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【技術特征摘要】

1.一種背接觸晶硅電池iv測試裝置，其特征在于：所述測試裝置包括測試光源、測試背板、探測單元，其中所述測試光源設置于所述測試背板的上方，所述測試背板的第一面上設有與電池相匹配的定位區(qū)、位于所述定位區(qū)內的多個真空氣孔，所述電池的背面與所述第一面相對，且通過所述真空氣孔吸附并定位在所述定位區(qū)內；

2.根據權利要求1所述的背接觸晶硅電池iv測試裝置，其特征在于：所述測試裝置還包括iv測試分析儀，所有所述正電流探測導線匯集于第一導線上，所有所述正電壓探測導線匯集于第二導線上，所有所述負電流探測導線匯集于第三導線上，所有所述負電壓探測導線匯集于第四導線上，其中所述第一導線、第二導線、第三導線以及第四導線分別連接至所述iv測試分析儀；和/或，各電壓探測導線和電流探測導線的材質采用金、銀或者銅。

3.根據權利要求2所述的背接觸晶硅電池iv測試裝置，其特征在于：多根所述正電流探測導線和所述負電流探測導線并排間隔且錯位分布。

4.根據權利要求3所述的背接觸晶硅電池iv測試裝置，其特征在于：相鄰所述正電流探測導線和負電流探測導線的間距與相鄰正極主柵和負極主柵的間距相等。

5.根據權...

【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：沈東東，陸俊宇，王熠恒，張穎，劉金鑫，葉歡，
申請(專利權)人：江蘇林洋太陽能有限公司，
類型：新型
國別省市：