【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及芯片檢測，特別是一種芯片檢測數據的存儲方法、設備、裝置和存儲介質。
技術介紹
1、芯片的質量檢測和性能檢測在芯片制造過程中起著至關重要的作用，可以保證芯片的質量和性能符合要求，提高產品的可靠性和穩定性。在芯片制造過程中，每個芯片都可能需要進行數十甚至上百項的檢測。考慮到大規模生產和測試，產生的數據量會非常龐大。這些檢測數據涉及到芯片的設計、制造和性能等方面的敏感信息。泄露這些數據可能導致知識產權泄露、產品仿制或者其他安全問題，因此需要嚴格保護。
2、由于數據量大且涉及敏感數據，對于芯片制造商來說，確保這些檢測數據的安全性、完整性和隱私保護至關重要。
技術實現思路
1、本專利技術實施例要解決的技術問題在于，提供一種芯片檢測數據的存儲方法，以解決現有技術中無法確保檢測數據的安全性、完整性和隱私保護的問題。
2、本專利技術公開了芯片檢測數據的存儲方法，包括：
3、對目標芯片進行引腳焊接質量檢測和功能性能檢測，獲取檢測數據；
4、將所述檢測數據分為多個數據塊，分別存儲于多個存儲節點上；
5、對每個所述存儲節點上的數據庫進行冗余備份；
6、通過一致性哈希算法確保各個所述存儲節點之間的一致性，并平衡各個所述存儲節點的存儲負載；
7、其中，在傳輸所述檢測數據時，采用端到端加密方法。
8、可選地，所述對目標芯片進行引腳焊接質量檢測的步驟，包括：
9、將所述目標芯片的引腳根據功能
10、在所述目標芯片的任意地址寫入測試數據，并讀取所述測試數據，根據讀取的結果分別檢測所述控制組、所述高低位組、所述數據組和所述地址組的焊接質量。
11、可選地，所述根據讀取的結果分別檢測所述控制組、所述高低位組、所述數據組和所述地址組的焊接質量的步驟，包括：
12、如果所述讀取的結果均為0或者均為1，則判定所述控制組的焊接質量不良；
13、比較所述讀取的結果與所述測試數據的高位字節和低位字節是否一致，如果兩者在所述高位字節和/或所述低位字節不一致，則判定所述高低位組的焊接質量不良；
14、通過所述數據組中的每一個引腳執行所述寫入測試數據，并讀取所述測試數據的步驟，如果出現所述讀取的結果與所述測試數據不一致，則判定所述數據組的焊接質量不良；
15、在寫入所述測試數據時檢測寫入操作的成功率，如果所述成功率低于預設閾值，則判定所述地址組的焊接質量不良。
16、可選地，所述對目標芯片進行功能性能檢測的步驟，包括：
17、獲取輸入輸出檢測文件，基于所述輸入輸出檢測文件獲取所述目標芯片的型號和所述目標芯片的每個引腳的輸入輸出特征曲線；
18、根據所述輸入輸出特征曲線生成測試電壓值和/或測試電流值；
19、依次向所述目標芯片每個引腳輸入模擬電平，讀取所述目標芯片的實際輸出電壓值和/或實際輸出電流值；
20、將所述測試電壓值和/或所述測試電流值與所述實際輸出電壓值和/或所述實際輸出電流值進行比較，獲取功能性能檢測結果。
21、可選地，所述根據所述輸入輸出特征曲線生成測試電壓值和/或測試電流值的步驟，包括：
22、解析所述輸入輸出特征曲線的結構和單位，獲取所述輸入輸出特征曲線描述的電氣特性，采用數學方法將所述輸入輸出特征曲線上的點對應為所述測試電壓值和/或所述測試電流值。
23、可選地，所述將所述檢測數據分為多個數據塊的步驟，包括：
24、根據引腳類型和分片規則將所述檢測數據分為多個所述數據塊，并分別存儲到對應的存儲節點。
25、可選地，所述在傳輸所述檢測數據時，采用端到端加密方法的步驟，包括：
26、為不同用戶和系統設置不同的訪問權限，以確保只有授權用戶可以訪問所述檢測數據；
27、記錄數據訪問和操作的審計日志，以便追蹤數據的使用情況和發現潛在的安全問題。
28、本專利技術還公開了一種芯片檢測數據的存儲裝置，包括：
29、獲取模塊，用于對目標芯片進行引腳焊接質量檢測和功能性能檢測，獲取檢測數據；
30、存儲模塊，用于將所述檢測數據分為多個數據塊，分別存儲于多個存儲節點上；
31、備份模塊，用于對每個所述存儲節點上的數據庫進行冗余備份；
32、平衡模塊，用于通過一致性哈希算法確保各個所述存儲節點之間的一致性，并平衡各個所述存儲節點的存儲負載；
33、加密模塊，用于在傳輸所述檢測數據時，采用端到端加密方法。
34、本專利技術還公開了一種智能設備，包括存儲器和處理器，所述存儲器存儲有計算機程序，所述計算機程序被所述處理器執行時，使得所述處理器執行如上所述方法的步驟。
35、本專利技術還公開了一種計算機可讀存儲介質，存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時，使得所述處理器執行如上所述方法的步驟。與現有技術相比，本專利技術實施例提供的芯片檢測數據的存儲方法的有益效果在于：
36、通過將檢測數據分塊并存儲在多個存儲節點上，可以實現數據的分布式存儲和管理，提高數據的安全性和可靠性，同時也能夠提升數據的訪問效率和處理性能。通過對每個存儲節點上的數據庫進行冗余備份，可以提高數據的安全性和可靠性，降低數據丟失的風險，并確保在意外情況下能夠快速恢復數據。通過一致性哈希算法，可以確保各個存儲節點之間的數據一致性，并有效地平衡存儲節點的負載，從而提高分布式存儲系統的性能和可靠性，采用端到端加密方法能夠確保數據傳輸的安全性和可靠性。
本文檔來自技高網...【技術保護點】
1.一種芯片檢測數據的存儲方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的芯片檢測數據的存儲方法，其特征在于，所述對目標芯片進行引腳焊接質量檢測的步驟，包括：
3.根據權利要求2所述的芯片檢測數據的存儲方法，其特征在于，所述根據讀取的結果分別檢測所述控制組、所述高低位組、所述數據組和所述地址組的焊接質量的步驟，包括：
4.根據權利要求1所述的芯片檢測數據的存儲方法，其特征在于，所述對目標芯片進行功能性能檢測的步驟，包括：
5.根據權利要求4所述的芯片檢測數據的存儲方法，其特征在于，所述根據所述輸入輸出特征曲線生成測試電壓值和/或測試電流值的步驟，包括：
6.根據權利要求1所述的芯片檢測數據的存儲方法，其特征在于，所述將所述檢測數據分為多個數據塊的步驟，包括：
7.根據權利要求1所述的芯片檢測數據的存儲方法，其特征在于，所述在傳輸所述檢測數據時，采用端到端加密方法的步驟，包括：
8.一種芯片檢測數據的存儲裝置，其特征在于，包括：
9.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，存儲有計算機程序
10.一種智能設備，其特征在于，包括多個待匹配電源，還包括存儲器和處理器，所述存儲器存儲有計算機程序，所述計算機程序被所述處理器執行時，使得所述處理器執行如權利要求1至7中任一項所述方法的步驟。
...【技術特征摘要】
1.一種芯片檢測數據的存儲方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的芯片檢測數據的存儲方法，其特征在于，所述對目標芯片進行引腳焊接質量檢測的步驟，包括：
3.根據權利要求2所述的芯片檢測數據的存儲方法，其特征在于，所述根據讀取的結果分別檢測所述控制組、所述高低位組、所述數據組和所述地址組的焊接質量的步驟，包括：
4.根據權利要求1所述的芯片檢測數據的存儲方法，其特征在于，所述對目標芯片進行功能性能檢測的步驟，包括：
5.根據權利要求4所述的芯片檢測數據的存儲方法，其特征在于，所述根據所述輸入輸出特征曲線生成測試電壓值和/或測試電流值的步驟，包括：
6.根據權利要求1所述的...
【專利技術屬性】
技術研發人員：梁聰元，羅文欣，
申請(專利權)人：深圳市浩寶技術有限公司，
類型：發明
國別省市：
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