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    適于嵌入式集成電路測試的數字程控電源及供電測試方法技術

    技術編號:43602170 閱讀:13 留言:0更新日期:2024-12-11 14:50
    本發明專利技術涉及一種適于嵌入式集成電路測試的數字程控電源及供電測試方法。其包括:基準電壓生成單元,程控產生可調的測試基準電壓;低壓差穩壓LDO單元,接收基準電壓生成單元加載的測試基準電壓,并基于所述測試基準電壓向所連接的待測電路DUT提供目標測試電壓;隔離采樣反饋單元,用于對加載到待測電路DUT電源端的目標測試電壓采樣,并將采樣生成的測試采樣電壓負反饋至低壓差穩壓LDO單元,以使得低壓差穩壓LDO單元在測試采樣電壓下向待測電路DUT提供穩定的目標測試電壓,其中,對目標測試電壓采樣時,目標測試電壓與測試采樣電壓間相互隔離。本發明專利技術可滿足嵌入式集成電路的測試需求,降低測試成本,提高測試的精度以及可控性。

    【技術實現步驟摘要】

    本專利技術涉及一種數字程控電源及供電測試方法,尤其是一種適于嵌入式集成電路測試的數字程控電源及供電測試方法


    技術介紹

    1、集成電路測試中,電源是不可或缺的模塊之一。對于集成電路內的電源,一般需要電源可輸出穩定、精確、并且可編程輸出電壓,同時還需要能精確測試流經待測電路(device?under?test,dut)的電流。

    2、對上述提到的測試需求,目前,可基于集成電路自動測試設備ate中的器件電源(device?power?supply,dps)板實現,可具備優異的性能指標,但缺點是:dps板一般都是集成于集成電路自動測試設備ate的機箱中,體積較大,價格昂貴,板卡接口都是定制的,協議也不公開,因此,dps板不利于集成到嵌入式測試系統中,也不利于大批量多工位(multi-site)的測試生產。

    3、在目前的集成電路測試生產中,一些大批量出貨產品對于測試成本比較敏感,較高的測試費用會直接影響產品利潤,而基于mcu、fpga等嵌入式的定制測試系統,具備成本低廉、易于批量制作和使用的特點,能極大降低測試成本、提高測試產能;但是一般的嵌入式定制測試系統中的電源較為簡單,會存在如下的不足:

    4、1)、電源不能程控,當需要多個測試電壓時,一般使用lm1117類似傳統穩壓電路,手工調節電位器設置多路電壓,測試過程中,再通過繼電器來切換測試所需電壓。當產線更換測試其它產品時,所需測試電壓不同,維護人員可能會忘記調節測試電壓,造成被測產品dut過壓損壞、或者達不到測試所需電壓范圍而使的不良品流出,甚至造成嚴重質量事故。

    5、2)、電源輸出精度差,lm1117類似傳統穩壓電路,手工調節電位器設置多路電壓一段時間后,電位器的觸點位置會因振動、碰撞等發生輕微位移,或者意外碰到調節端子,都會導致lm1117輸出電壓變化。此外,電位器溫漂也較大,也會導致輸出電壓偏移。

    6、3)、lm1117類似傳統穩壓電路,不能測試流經dut的電流,需要額外的外圍電路才能實現。

    7、4)、lm1117類似傳統穩壓電路年代較遠,技術上相對落后,性能指標如線性調整率(lnr)、負載調整率(ldr)、電源抑制比(psrr)、輸出噪聲等關鍵參數都比較差,當被測電路對于噪聲比較敏感、電源電壓精度要求較高的時,用此類傳統穩壓電路供電會極大影響被測電路的測試良率。

    8、5)、lm1117類似傳統穩壓電路,不能監測輸出電壓,當輸出電壓異常時,不能輸出報警信息。

    9、綜上,目前的嵌入式測試電源,還無法滿足對集成電路測試的需求。


    技術實現思路

    1、本專利技術的目的是克服現有技術中存在的不足,提供一種適于嵌入式集成電路測試的數字程控電源及供電測試方法,其可滿足嵌入式集成電路的測試需求,降低測試成本,提高測試的精度以及可控性。

    2、按照本專利技術提供的技術方案,一種適于嵌入式集成電路測試的數字程控電源,所述數字程控電源包括:

    3、基準電壓生成單元,程控產生可調的測試基準電壓,并將所產生的測試基準電壓加載到低壓差穩壓ldo單元;

    4、低壓差穩壓ldo單元,與基準電壓生成單元以及待測電路dut適配連接,接收基準電壓生成單元加載的測試基準電壓,并基于所述測試基準電壓向所連接的待測電路dut提供目標測試電壓;

    5、隔離采樣反饋單元,與待測電路dut以及低壓差穩壓ldo單元適配連接,用于對加載到待測電路dut電源端的目標測試電壓采樣,并將采樣生成的測試采樣電壓負反饋至低壓差穩壓ldo單元,以使得低壓差穩壓ldo單元在測試采樣電壓下向待測電路dut提供穩定的目標測試電壓,其中,

    6、對目標測試電壓采樣時,目標測試電壓與測試采樣電壓間相互隔離。

    7、對目標測試電壓采樣時,將隔離采樣反饋單元與待測電路dut電源端的連接狀態配置處于近端采樣連接狀態或遠端采樣連接狀態,其中,

    8、將隔離采樣反饋單元與待測電路dut電源端的連接狀態配置為遠端采樣連接狀態時,所述隔離采樣反饋單元直接對待測電路dut電源端的目標測試電壓進行電壓采樣;

    9、將隔離采樣反饋單元與待測電路dut電源端的連接狀態配置為近端采樣連接狀態時,所述隔離采樣反饋單元至少通過電壓采樣電阻對待測電路dut電源端的目標測試電壓進行電壓采樣。

    10、所述隔離采樣反饋單元包括單位增益隔離緩沖器以及與單位增益隔離緩沖器輸入端適配連接的電壓采樣連接單元,其中,

    11、單位增益隔離緩沖器的輸入端通過電壓采樣連接單元與待測電路dut的電源端適配連接,以利用電壓采樣連接單元對待測電路dut電源端的目標測試電壓進行電壓采樣,并將生成的測試采樣電壓加載到單位增益隔離緩沖器;

    12、單位增益隔離緩沖器的輸出端與低壓差穩壓ldo單元適配連接,通過單位增益隔離緩沖器將測試采樣電壓反饋至低壓差穩壓ldo單元;

    13、電壓采樣連接單元包括電壓采樣第一連接支路和/或電壓采樣第二連接支路,其中,電壓采樣電阻位于電壓采樣第一連接支路內;

    14、將隔離采樣反饋單元與待測電路dut電源端的連接狀態配置為近端采樣連接狀態時,配置電壓采樣第一連接支路與待測電路dut的電源端連接,以使得待測電路dut的電源端通過電壓采樣電阻與單位增益隔離緩沖器的輸入端連接;

    15、將隔離采樣反饋單元與待測電路dut電源端的連接狀態配置為遠端采樣連接狀態時,至少配置電壓采樣第二連接支路與待測電路dut的電源端連接,以使得待測電路dut的電源端與單位增益隔離緩沖器的輸入端直接連接。

    16、所述低壓差穩壓ldo單元包括低壓差穩壓ldo芯片,其中,

    17、低壓差穩壓ldo芯片通過電壓調節網絡與基準電壓生成單元以及隔離采樣反饋單元適配連接;

    18、所述電壓調節網絡包括電壓調節第一電阻以及電壓調節第二電阻,其中,電壓調節第一電阻的第一端、電壓調節第二電阻的第一端均與低壓差穩壓ldo芯片的fb端連接;

    19、電壓調節第一電阻的第二端與隔離采樣反饋單元的輸出端連接;

    20、電壓調節第二電阻的第二端以及低壓差穩壓ldo芯片的gnd端均與基準電壓生成電源的輸出端連接,以將測試基準電壓加載到低壓差穩壓ldo芯片的gnd端,并通過電壓調節第二電阻的第二端加載到低壓差穩壓ldo芯片的fb端;

    21、低壓差穩壓ldo芯片將低壓差穩壓ldo芯片gnd端的端位電壓與測試基準電壓疊加,以生成目標測試電壓,并將生成的目標測試電壓加載到待測電路dut的電源端。

    22、所述基準電壓生成單元包括電壓輸出型dac單元、電壓基準單元以及嵌入式單元,其中,

    23、電壓基準單元提供電壓輸出型dac單元工作所需的供電基準電壓;

    24、電壓基準單元包括依次連接的低噪聲ldo芯片、同相放大器單元以及一階濾波電路,其中,同相放大器將低噪聲ldo芯片輸出的2.5v電壓放大至5v,利用一階濾波電路對同相本文檔來自技高網...

    【技術保護點】

    1.一種適于嵌入式集成電路測試的數字程控電源,其特征是,所述數字程控電源包括:

    2.根據權利要求1所述的適于嵌入式集成電路測試的數字程控電源,其特征是:對目標測試電壓采樣時,將隔離采樣反饋單元與待測電路DUT電源端的連接狀態配置處于近端采樣連接狀態或遠端采樣連接狀態,其中,

    3.根據權利要求2所述的適于嵌入式集成電路測試的數字程控電源,其特征是:所述隔離采樣反饋單元包括單位增益隔離緩沖器以及與單位增益隔離緩沖器輸入端適配連接的電壓采樣連接單元,其中,

    4.根據權利要求1至3任一項所述的適于嵌入式集成電路測試的數字程控電源,其特征是:所述低壓差穩壓LDO單元包括低壓差穩壓LDO芯片,其中,

    5.根據權利要求1至3任一項所述的適于嵌入式集成電路測試的數字程控電源,其特征是:所述數字程控電源還包括用于對流經待測電路DUT電流測量的測試電流測量單元,其中,

    6.根據權利要求5所述的適于嵌入式集成電路測試的數字程控電源,其特征是:在電流采樣電阻網絡內,將串接在低壓差穩壓LDO單元的輸出端與待測電路DUT電源端之間的電流采樣電阻配置作為常連電流采樣電阻,將其余的電流采樣電阻配置作為可選電流采樣電阻,其中,

    7.根據權利要求5所述的適于嵌入式集成電路測試的數字程控電源,其特征是:所述測試電流處理單元包括儀表放大器以及與所述儀表放大器適配連接的嵌入式單元,其中,

    8.根據權利要求7所述的適于嵌入式集成電路測試的數字程控電源,其特征是:所述儀表放大器還與待測電路DUT的電源端連接,其中,

    9.根據權利要求8所述的適于嵌入式集成電路測試的數字程控電源,其特征是:所述儀表放大器還通過自動關斷電路與待測電路DUT以及低壓差穩壓LDO單元的輸出端適配連接,其中,

    10.一種適于嵌入式集成電路測試的供電測試方法,其特征是,對任一待測電路DUT,采用權利要求1~9任一項所述的數字程控電源提供目標測試電壓,以在所述目標測試電壓下對所述待測電路DUT進行電流測試。

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    【技術特征摘要】

    1.一種適于嵌入式集成電路測試的數字程控電源,其特征是,所述數字程控電源包括:

    2.根據權利要求1所述的適于嵌入式集成電路測試的數字程控電源,其特征是:對目標測試電壓采樣時,將隔離采樣反饋單元與待測電路dut電源端的連接狀態配置處于近端采樣連接狀態或遠端采樣連接狀態,其中,

    3.根據權利要求2所述的適于嵌入式集成電路測試的數字程控電源,其特征是:所述隔離采樣反饋單元包括單位增益隔離緩沖器以及與單位增益隔離緩沖器輸入端適配連接的電壓采樣連接單元,其中,

    4.根據權利要求1至3任一項所述的適于嵌入式集成電路測試的數字程控電源,其特征是:所述低壓差穩壓ldo單元包括低壓差穩壓ldo芯片,其中,

    5.根據權利要求1至3任一項所述的適于嵌入式集成電路測試的數字程控電源,其特征是:所述數字程控電源還包括用于對流經待測電路dut電流測量的測試電流測量單元,其中,

    6.根據權利要求5所述的適于嵌入式集成電路測試的數字程控電源,其...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:王美娟王兵汪芳陸小杰張雨欣
    申請(專利權)人:無錫力芯微電子股份有限公司
    類型:發明
    國別省市:

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