【技術實現步驟摘要】
本技術涉及硅片及電池片檢測，尤其涉及一種硅片檢測儀器。
技術介紹
1、生產的硅片需要進行數量統計，目前，生產過程主要依靠人工去數花籃里面硅片數量。
2、由于硅片相當薄且易碎，靠人工拿著手電筒讀數不方便，統計耗時耗力，浪費上下料時間，且計數不準確，容易造成誤判錯判；此外，人手誤觸容易給硅片造成劃傷、臟污甚至損壞，導致破片率較高。
3、因此，有必要提供一種硅片檢測儀器，幫助提升檢測效率與檢測結果的可靠性。
技術實現思路
1、本技術所要解決的技術問題在于，如何提升硅片檢測效率與檢測結果的可靠性。
2、為解決上述技術問題，本技術提供了一種硅片檢測儀器，用于對花籃內排列插接的硅片進行檢測，所述花籃設有兩兩相對設置的插槽，相對的兩個插槽與第一平面平行，用于與所述硅片的兩端對應插接，其中，檢測儀器包括第一滑軌、設于所述第一滑軌上的第一光電傳感器，以及驅動件，
3、所述第一滑軌的延伸方向與所述花籃內硅片的排列方向平行；
4、所述第一光電傳感器發射的光束與所述第一平面平行；
5、所述驅動件用于驅動所述第一光電傳感器沿所述第一滑軌移動
6、作為上述方案的改進，還包括第二滑軌和第二光電傳感器，所述第二光電傳感器設于所述第二滑軌上；
7、所述第一光電傳感器、所述第二光電傳感器發射的光束均位于相對兩個插槽之間，且均處于與所述第一平面平行的平面上；
8、所述驅動件用于驅動所述第一光電傳感器及所述第二光電
9、作為上述方案的改進，所述光電傳感器的光束發射方向均與所述插槽的延伸方向平行。
10、作為上述方案的改進，還包括定位座，所述定位座上設有定位板，所述定位板用于限定花籃的放置位置。
11、作為上述方案的改進，所述定位板呈l形。
12、作為上述方案的改進，所述第一光電傳感器、所述第二光電傳感器均為漫反射型光電開關。
13、作為上述方案的改進，所述第一光電傳感器、所述第二光電傳感器均為對射型光電開關；
14、所述第一光電傳感器包括第一發射光電傳感器，以及設于所述第一發射光電傳感器的光束發射方向上的第一接收光電傳感器，所述第一發射光電傳感器和所述第一接收光電傳感器分設于所述花籃相對兩側的所述第一滑軌上；
15、所述第二光電傳感器包括第二發射光電傳感器，以及設于所述第二發射光電傳感器的光束發射方向上的第二接收光電傳感器，所述第二發射光電傳感器和所述第二接收光電傳感器分設于所述花籃相對兩側的所述第二滑軌上；
16、所述第一發射光電傳感器、所述第一接收光電傳感器、所述第二發射光電傳感器和所述第二接收光電傳感器同步移動。
17、作為上述方案的改進，還包括顯示器和信號處理單元，所述信號處理單元與所述第一光電傳感器、所述第二光電傳感器及顯示器連接，所述信號處理單元用于處理來自于所述第一光電傳感器、所述第二光電傳感器形成的脈沖信號，且將處理結果顯示在顯示器上。
18、作為上述方案的改進，還包括支撐桿，所述支撐桿與定位座固定，所述第一滑軌固定設置在所述支撐桿上。
19、作為上述方案的改進，所述花籃設有插放口，所述第一光電傳感器與所述插放口相對設置，且所述花籃背離所述插放口的一側與所述定位板抵接。
20、實施本技術，具有如下有益效果：
21、本技術公開了一種硅片檢測儀器，當需要檢測花籃中的硅片時，將花籃放置在該檢測儀器上，使花籃內硅片的排列方向與第一滑軌的延伸方向平行；驅動件驅動第一光電傳感器沿第一滑軌移動，可以掃過花籃中的各硅片，實現計數；
22、此外，通過將裝有硅片的花籃放在檢測儀器中，通過驅動件驅動第一滑軌上的第一光電傳感器、第二滑軌上的第二光電傳感器沿著花籃內硅片的排列方向同步移動，第一光電傳感器、第二光電傳感器發射的光束與第一平面平行，且沿花籃內硅片的排列方向掃過，通過第一光電傳感器、第二光電傳感器發射的光束被阻擋的情況(光信號)，對掃過的硅片進行計數，以及判斷硅片插放位置是否正確；
23、本技術的硅片檢測儀結構簡單，成本低。
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1.一種硅片檢測儀器，用于對花籃內排列插接的硅片進行檢測，所述花籃設有兩兩相對設置的插槽，相對的兩個插槽與第一平面平行，用于與所述硅片的兩端對應插接，其特征在于，檢測儀器包括第一滑軌、設于所述第一滑軌上的第一光電傳感器，以及驅動件，
2.如權利要求1所述的硅片檢測儀器，其特征在于，還包括第二滑軌和第二光電傳感器，所述第二光電傳感器設于所述第二滑軌上；
3.如權利要求2所述的硅片檢測儀器，其特征在于，所述第一光電傳感器、所述第二光電傳感器的光束發射方向均與所述插槽的延伸方向平行。
4.如權利要求1所述的硅片檢測儀器，其特征在于，還包括定位座，所述定位座上設有定位板，所述定位板用于限定花籃的放置位置。
5.如權利要求4所述的硅片檢測儀器，其特征在于，所述定位板呈L形。
6.如權利要求2所述的硅片檢測儀器，其特征在于，所述第一光電傳感器、所述第二光電傳感器均為漫反射型光電開關。
7.如權利要求2所述的硅片檢測儀器，其特征在于，所述第一光電傳感器、所述第二光電傳感器均為對射型光電開關；
8.如權利要求2所
9.如權利要求4所述的硅片檢測儀器，其特征在于，還包括支撐桿，所述支撐桿與定位座固定，所述第一滑軌固定設置在所述支撐桿上。
10.如權利要求4所述的硅片檢測儀器，其特征在于，所述花籃設有插放口，所述第一光電傳感器與所述插放口相對設置，且所述花籃背離所述插放口的一側與所述定位板抵接。
...【技術特征摘要】
1.一種硅片檢測儀器，用于對花籃內排列插接的硅片進行檢測，所述花籃設有兩兩相對設置的插槽，相對的兩個插槽與第一平面平行，用于與所述硅片的兩端對應插接，其特征在于，檢測儀器包括第一滑軌、設于所述第一滑軌上的第一光電傳感器，以及驅動件，
2.如權利要求1所述的硅片檢測儀器，其特征在于，還包括第二滑軌和第二光電傳感器，所述第二光電傳感器設于所述第二滑軌上；
3.如權利要求2所述的硅片檢測儀器，其特征在于，所述第一光電傳感器、所述第二光電傳感器的光束發射方向均與所述插槽的延伸方向平行。
4.如權利要求1所述的硅片檢測儀器，其特征在于，還包括定位座，所述定位座上設有定位板，所述定位板用于限定花籃的放置位置。
5.如權利要求4所述的硅片檢測儀器，其特征在于，所述定位板呈l形。
6.如權利要求2所述的硅片檢測儀器，其...
【專利技術屬性】
技術研發人員：吳奇隆，梁躍，王永謙，陳剛，
申請(專利權)人：浙江愛旭太陽能科技有限公司，
類型：新型
國別省市：
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