ＴＤ－ＳＣＤＭＡ射頻功放模塊通用測(cè)試盒制造技術(shù)

本發(fā)明專利技術(shù)公開了一種涉及ＴＤ－ＳＣＤＭＡ射頻功放模塊的通用測(cè)試盒，工作時(shí)通用測(cè)試盒（１０）通過(guò)外接測(cè)試接口板（２０）可方便的連接各種不同類型的ＴＤ－ＳＣＤＭＡ射頻功放模塊（３０），然后使用Ｗｈｉｔｅｂｏｘ（４０）里相應(yīng)的模塊控制指令就可以方便、快捷的實(shí)現(xiàn)對(duì)模塊的控制了。在需要同時(shí)研發(fā)或生產(chǎn)不同指標(biāo)要求的ＴＤ－ＳＣＤＭＡ射頻模塊（３０）越來(lái)越多時(shí)，采用通用測(cè)試盒（１０）能快捷的實(shí)現(xiàn)模塊切線、降低測(cè)試卡制造成本、縮短測(cè)試卡的開發(fā)時(shí)間，并便于測(cè)試卡的保存。

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種ＴＤ－ＳＣＤＭＡ射頻功放模塊通用測(cè)試盒，其特征在于：所述測(cè)試盒里的通用測(cè)試卡通過(guò)與不同的待測(cè)模塊連接，實(shí)現(xiàn)用一張測(cè)試卡測(cè)試不同類型的模塊，其中　　　　所述通用測(cè)試卡包括ＭＣＵ（３２０）、ＣＰＬＤ（３３０），所述通用測(cè)試卡的ＭＣＵ（３２０）負(fù)責(zé)與模塊和ＰＣ進(jìn)行通信、解析和執(zhí)行指令、向ＣＰＬＤ（３３０）下達(dá)指令；ＣＰＬＤ（３３０）負(fù)責(zé)控制模塊的邏輯狀態(tài)、產(chǎn)生采樣時(shí)鐘；ＭＣＵ（３２０）與ＣＰＬＤ（３３０）之間通過(guò)８位并行總線進(jìn)行通信，支持讀、寫操作；　　　　所述通用測(cè)試卡利用ＭＣＵ（３２０）內(nèi)部的ｆｌａｓｈ空間劃分出了區(qū)域來(lái)存放各種不同類型模塊的邏輯控制指令和產(chǎn)品信息。

【技術(shù)特征摘要】

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：黃文建，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：芯通科技成都有限公司，
類型：發(fā)明
國(guó)別省市：90[中國(guó)|成都]