【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
本申請涉及老化測試，特別是涉及一種存儲裝置的老化測試方法和老化測試設(shè)備。
技術(shù)介紹
1、存儲設(shè)備是計算機、嵌入式系統(tǒng)、用戶設(shè)備等裝置的關(guān)鍵部件之一，它決定著上述裝置運行的穩(wěn)定性，因此對存儲設(shè)備進行測試非常必要。
2、老化測試是存儲設(shè)備測試的一環(huán)。目前，對不同存儲顆粒的存儲設(shè)備或不同批次的存儲設(shè)備進行老化測試之前，需要測試人員費時在老化測試設(shè)備的固件中調(diào)整老化測試流程以及老化測試的溫度，大幅增加了測試時長。如此曠日費時的測試方式不符合現(xiàn)今對高效率生產(chǎn)制作的需求。
技術(shù)實現(xiàn)思路
1、本申請?zhí)峁┐鎯ρb置的老化測試方法和老化測試設(shè)備。
2、本申請采用的一個技術(shù)方案是提供一種存儲裝置的老化測試方法，方法包括：
3、獲取被測存儲裝置的閃存顆粒類型；
4、利用閃存顆粒類型從配置文件中獲取對應(yīng)的測試參數(shù)；
5、基于測試參數(shù)形成對應(yīng)的老化測試程序；
6、利用老化測試程序?qū)Ρ粶y存儲裝置進行老化測試。
7、其中，測試參數(shù)至少包括測試類型，閃存顆粒類型包括slc顆粒和非slc顆粒；測試類型包括讀取、編程、擦除中的一種或多種；
8、利用老化測試程序?qū)Ρ粶y存儲裝置進行老化測試，包括：
9、響應(yīng)于閃存顆粒類型為slc顆粒，對被測存儲裝置進行編程及擦除測試和/或低格測試，低格測試包括對被測存儲裝置進行擦除、編程和讀取測試。
10、其中，利用老化測試程序?qū)Ρ粶y存儲裝置進行老化測試，還包括：
...【技術(shù)保護點】
1.一種存儲裝置的老化測試方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的老化測試方法，其特征在于，所述測試參數(shù)至少包括測試類型，所述閃存顆粒類型包括SLC顆粒和非SLC顆粒；所述測試類型包括讀取、編程、擦除中的一種或多種；
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的老化測試方法，其特征在于，
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的老化測試方法，其特征在于，
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的老化測試方法，其特征在于，所述利用所述老化測試程序?qū)λ霰粶y存儲裝置進行老化測試，包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的老化測試方法，其特征在于，
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的老化測試方法，其特征在于，
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的老化測試方法，其特征在于，
9.一種存儲裝置的老化測試設(shè)備，其特征在于，所述存儲裝置的老化測試設(shè)備包括主控設(shè)備和至少一個被測存儲裝置；
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的老化測試設(shè)備，其特征在于，所述老化測試設(shè)備中的每一批次的所述被測存儲裝置為同一技術(shù)規(guī)格的存儲裝置。
【技術(shù)特征摘要】
1.一種存儲裝置的老化測試方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的老化測試方法，其特征在于，所述測試參數(shù)至少包括測試類型，所述閃存顆粒類型包括slc顆粒和非slc顆粒；所述測試類型包括讀取、編程、擦除中的一種或多種；
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的老化測試方法，其特征在于，
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的老化測試方法，其特征在于，
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的老化測試方法，其特征在于，所述利用所述老化測試程序?qū)λ霰粶y存儲...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：蔣業(yè)尚，鐘澤群，張嘎，
申請(專利權(quán))人：上海江波龍數(shù)字技術(shù)有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
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