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    化學機械拋光組合物及其在化學機械拋光中的應用制造技術

    技術編號:43743946 閱讀:5 留言:0更新日期:2024-12-20 13:04
    本發明專利技術屬于芯片制造技術領域,具體涉及化學機械拋光組合物及其在化學機械拋光中的應用。本發明專利技術所述納米復合磨料是化學機械拋光組合物的組成部分,其包括少層石墨包覆的納米級Al<subgt;2</subgt;O<subgt;3</subgt;磨料,納米復合磨料中C元素的質量分數不高于10wt.%。本發明專利技術采用兩步煅燒法制備出的少層石墨包覆的納米級Al<subgt;2</subgt;O<subgt;3</subgt;磨料,通過在磨料界面引入石墨層間范德華力,成功取代Al<subgt;2</subgt;O<subgt;3</subgt;顆粒間的共價化學鍵,在不加入分散劑和硅烷偶聯劑的條件下,也可實現磨料在拋光液中的均勻分散,降低拋光液的生產成本,并且本發明專利技術中磨料的均勻分散優勢不會隨拋光液pH值的變化而降低,均勻分散的磨料顆粒在拋光過程中能夠更有效地與晶圓表面接觸,提高粗拋效率。

    【技術實現步驟摘要】

    本專利技術涉及芯片制造,特別是涉及化學機械拋光組合物及其在化學機械拋光中的應用


    技術介紹

    1、碳化硅(sic)是一種寬禁帶半導體材料,憑借其卓越的物理和化學性質而在現代電子行業中占據重要地位。sic是一種環境友好的半導體材料,相對于硅,sic的生產和制造過程中不僅能夠減少對地球資源的依賴,還能降低環境污染與碳排放,sic的高熱導率、高擊穿電場強度、高飽和電子遷移率等特性,使其成為制造高性能功率器件和射頻(rf)器件的理想材料。這些優異的特性使得sic器件能夠在極端環境下(如高溫、高壓、高頻)穩定工作,廣泛應用于汽車電子、航空航天、光伏發電、智能電網、可再生能源系統等多個高科技領域。因此,生產出高質量、大尺寸的sic晶圓對于促進上述領域的技術革新與產業升級具有至關重要的意義。

    2、化學機械拋光(chemical?mechanical?polishing,?cmp)是一種將化學腐蝕與機械研磨完美結合的表面平坦化技術。其核心在于化學與機械作用的協同效應,通過拋光頭將晶圓緊壓在高速旋轉的拋光墊上,利用拋光墊表面的微絨毛和微小顆粒與晶圓表面產生摩擦,去除化學作用形成的氧化層,露出新表面,新表面又被化學氧化后再次被機械研磨,如此循環,最終將晶圓表面粗糙度降至納米級。cmp技術最早于1965年由monsanto公司提出,最初用于獲取高質量的玻璃表面。隨著半導體技術的發展,cmp技術在80年代中期開始得到大力探索,以滿足增大集成電路密度、只在較小器件結構和多層金屬全局平坦化的需要。由于晶體生長和切割等工藝導致晶圓表面不平整,cmp技術可以將其打磨平整,為光刻、刻蝕等后續工藝提供理想起始平面。平坦的晶圓表面有助于光刻膠均勻涂布,保證光刻圖形的分辨率和準確性,因此,作為半導體制造過程中的一項關鍵技術,cmp技術主要用于實現晶圓表面的超平坦化。cmp技術結合了化學作用和機械作用,通過拋光液中的化學試劑與晶圓表面發生化學反應,軟化或蝕刻表面材料,隨后通過拋光墊上的機械摩擦,將這些材料有效去除。這一過程能夠有效減少晶圓表面的粗糙度,提高表面的平整度,從而提升器件的性能和可靠性。

    3、對于8英寸sic晶圓的cmp工藝,目前市場上主要采用粗拋液和精拋液兩種不同的拋光液配方,其中粗拋液的配方主要為酸性kmno4溶液加上亞微米級別的α-al2o3磨料,這種組合可以在較短的時間內去除晶圓表面的較大缺陷,但存在拋光效果不穩定、環境污染、設備腐蝕、磨料團聚等問題;而精拋液則采用釩酸與納米硅溶膠的組合,旨在進一步提高晶圓表面的光潔度和平整度,以滿足更高精度的要求。然而,這一工藝流程復雜,涉及多次拋光,不僅降低了生產效率,增加了制造成本,還可能因多次拋光引入更多表面缺陷,影響成品率。

    4、為了確保晶圓表面的質量,特別是為了保護后續將要進行外延膜生長的硅面(si-face),目前采用的單片拋光工藝包括以下三個步驟:第一步:硅面粗拋。首先對晶圓的硅面進行粗拋處理,去除較大的表面缺陷,為后續步驟做好準備。第二步:碳面粗拋。然后對晶圓的碳面(c-face)進行粗拋處理,以確保雙面的均勻性和一致性,防止在后續的加工中因表面不平而導致的問題。第三步:硅面精拋。最后再次對硅面進行精拋處理,以達到最終的表面質量要求,確保表面光潔度和平整度符合標準。

    5、但是現有技術方案仍存在以下問題與不足:

    6、1)kmno4的不穩定性及其危害

    7、酸性kmno4雖然在氧化反應中表現出較高的活性,但由于其氧化性會隨ph值變化而顯著降低,導致拋光效果不穩定。此外,kmno4在使用過程中會產生有毒副產物,對環境和操作者的健康造成潛在威脅。因此,這種拋光液并不適合大規模推廣應用。

    8、2)設備壽命的影響

    9、kmno4的腐蝕性還會對拋光設備造成損害,縮短設備的使用壽命。這不僅增加了維護成本,還可能影響生產效率和晶圓的質量。長期使用kmno4可能會導致拋光墊和其他關鍵部件的過早磨損,從而影響整個生產流程的穩定性。

    10、3)磨料團聚問題

    11、亞微米級別的α-al2o3磨料在拋光液中容易團聚形成絮狀沉淀。這些團聚物在拋光過程中會對晶圓表面造成劃傷,嚴重影響晶圓的成品率和可靠性。團聚現象不僅降低了拋光效率,還可能導致晶圓表面出現瑕疵,進而影響最終產品的性能。

    12、4)生產效率和成本

    13、引入精拋工序雖然能夠提升晶圓表面的質量,但也帶來了生產效率的下降。每增加一個工序都會延長生產周期,增加時間和資源消耗。同時,精拋所需的材料也會增加制造成本,這對大規模生產和市場競爭不利。此外,多次拋光還可能引入更多的表面缺陷,從而進一步降低成品率,對大規模生產和市場競爭不利。

    14、有鑒于此,如何提供一種分散性良好、成本更低、生產效率更高的機械拋光液磨料成為本行業亟待解決的技術問題。


    技術實現思路

    1、鑒于上述問題,本專利技術的目的在于針對現有技術中存在的磨料團聚及kmno4的不穩定性及其危害等問題,而提供一種分散性好、成本低、生產效率高的納米復合磨料。該方案將顯著提升sic晶圓在cmp過程中的拋光效率與表面質量,降低制造成本,推動半導體制造技術的持續進步與產業升級。

    2、本專利技術的第二目的在于,提供一種所述納米復合磨料的制備方法。

    3、本專利技術的第三目的在于,提供一種化學機械拋光組合物。

    4、本專利技術的第四目的在于,提供一種所述化學機械拋光組合物的制備方法。

    5、為實現本專利技術的目的所采用的技術方案是:

    6、本專利技術提供了一種納米復合磨料,所述納米復合磨料包括少層石墨包覆的納米級al2o3磨料,所述納米復合磨料中c元素的質量分數不高于10wt.%。

    7、在上述技術方案中,所述納米復合磨料中c元素的質量分數為1wt.%-10wt.%。

    8、在上述技術方案中,所述納米復合磨料中c元素的質量分數為5wt.%-8wt.%。

    9、在上述技術方案中,所述納米級al2o3磨料的平均粒徑為50nm-100nm。

    10、本專利技術的第二方面,提供一種納米復合磨料的制備方法,包括以下步驟:

    11、步驟1,在真空氣氛中,對有機鋁鹽進行第一次煅燒,以使有機鋁鹽中的有機物分解形成納米碳網絡,有機鋁鹽分解得到的氧化鋁分散于納米碳網絡中,得到初始形態的復合磨料;

    12、步驟2,在空氣氛圍中,對初始形態的復合磨料進行第二次煅燒,以使納米碳網絡部分分解,得到所述納米復合磨料。

    13、在上述技術方案中,所述步驟1中第一次煅燒的溫度為700℃-1000℃,第一次煅燒的時間為20min-40min。

    14、在上述技術方案中,所述步驟2中第二次煅燒的溫度為450℃-600℃,第二次煅燒的時間為30min-40min。

    15、在上述技術方案中,所述有機鋁鹽為乳酸鋁、硬脂酸鋁、檸檬酸鋁或醋酸鋁中的一種或多種。

    16、本專利技術的第三方面,提供一本文檔來自技高網...

    【技術保護點】

    1.一種納米復合磨料,其特征在于,所述納米復合磨料包括少層石墨包覆的納米級Al2O3磨料,所述納米復合磨料中C元素的質量分數不高于10wt.%。

    2.根據權利要求1所述的納米復合磨料,其特征在于,所述納米復合磨料中C元素的質量分數為1wt.%-10wt.%。

    3.根據權利要求1所述的納米復合磨料,其特征在于,所述納米復合磨料中C元素的質量分數為5wt.%-8wt.%。

    4.根據權利要求1所述的納米復合磨料,其特征在于,所述納米級Al2O3磨料的平均粒徑為50-100nm。

    5.權利要求1-4任一項所述納米復合磨料的制備方法,其特征在于,包括以下步驟:

    6.根據權利要求5所述的納米復合磨料的制備方法,其特征在于,所述步驟1中第一次煅燒的溫度為700℃-1000℃,第一次煅燒的時間為20min-40min。

    7.根據權利要求5所述的納米復合磨料的制備方法,其特征在于,所述步驟2中第二次煅燒的溫度為450℃-600℃,第二次煅燒的時間為30min-40min。

    8.根據權利要求5所述的納米復合磨料的制備方法,其特征在于,所述有機鋁鹽為乳酸鋁、硬脂酸鋁、檸檬酸鋁或醋酸鋁中的一種或多種。

    9.一種化學機械拋光組合物,其特征在于,所述化學機械拋光組合物包括氧化劑、權利要求1-4任意一項所述的納米復合磨料或通過權利要求5-8任意一項所述制備方法制備的納米復合磨料、懸浮劑、pH調節劑和余量的溶劑。

    10.根據權利要求9所述的化學機械拋光組合物,其特征在于,所述化學機械拋光組合物包括5wt.%-7wt.%的納米復合磨料、1wt.%-3wt.%的氧化劑、0.5wt.%-2.5wt.%的pH調節劑、0.5wt.%-2wt.%的懸浮劑和余量的溶劑。

    11.根據權利要求9所述的化學機械拋光組合物,其特征在于,所述氧化劑為高鐵酸鉀。

    12.根據權利要求9所述的化學機械拋光組合物,其特征在于,所述化學機械拋光組合物的pH不低于10。

    13.根據權利要求9所述的化學機械拋光組合物,其特征在于,所述化學機械拋光組合物的pH值為10-12。

    14.根據權利要求9所述的化學機械拋光組合物,其特征在于,所述pH調節劑為乙二胺、乙醇胺或甜菜堿中的任意一種。

    15.根據權利要求9所述的化學機械拋光組合物,其特征在于,所述懸浮劑為水合硅酸鎂、聚丙烯酸溶液或脲改性聚氨酯溶液中的任意一種。

    16.根據權利要求9所述的化學機械拋光組合物,其特征在于,所述化學機械拋光組合物拋光硅面的去除速率大于4μm/h,拋光碳面的去除速率大于10μm/h。

    17.權利要求9-16任意一項所述化學機械拋光組合物的制備方法,其特征在于,包括以下步驟:將權利要求1-4任意一項所述的納米復合磨料或通過權利要求5-8任意一項所述制備方法制備的納米復合磨料與權利要求10所述的氧化劑、權利要求10所述的懸浮劑在溶劑中混合均勻后,加入權利要求10所述的pH調節劑調整pH值,然后進行分散后得到所述化學機械拋光組合物。

    18.根據權利要求17所述的化學機械拋光組合物的制備方法,其特征在于,所述化學機械拋光組合物的pH值為10-12。

    19.如權利要求17所述的化學機械拋光組合物的制備方法,其特征在于,所述分散的過程為球磨分散1h-3h,并進行超聲15min-45min。

    20.權利要求9-16任意一項所述的化學機械拋光組合物或權利要求17-19任一項所述制備方法制備得到的化學機械拋光組合物在SiC拋光中的應用。

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    【技術特征摘要】

    1.一種納米復合磨料,其特征在于,所述納米復合磨料包括少層石墨包覆的納米級al2o3磨料,所述納米復合磨料中c元素的質量分數不高于10wt.%。

    2.根據權利要求1所述的納米復合磨料,其特征在于,所述納米復合磨料中c元素的質量分數為1wt.%-10wt.%。

    3.根據權利要求1所述的納米復合磨料,其特征在于,所述納米復合磨料中c元素的質量分數為5wt.%-8wt.%。

    4.根據權利要求1所述的納米復合磨料,其特征在于,所述納米級al2o3磨料的平均粒徑為50-100nm。

    5.權利要求1-4任一項所述納米復合磨料的制備方法,其特征在于,包括以下步驟:

    6.根據權利要求5所述的納米復合磨料的制備方法,其特征在于,所述步驟1中第一次煅燒的溫度為700℃-1000℃,第一次煅燒的時間為20min-40min。

    7.根據權利要求5所述的納米復合磨料的制備方法,其特征在于,所述步驟2中第二次煅燒的溫度為450℃-600℃,第二次煅燒的時間為30min-40min。

    8.根據權利要求5所述的納米復合磨料的制備方法,其特征在于,所述有機鋁鹽為乳酸鋁、硬脂酸鋁、檸檬酸鋁或醋酸鋁中的一種或多種。

    9.一種化學機械拋光組合物,其特征在于,所述化學機械拋光組合物包括氧化劑、權利要求1-4任意一項所述的納米復合磨料或通過權利要求5-8任意一項所述制備方法制備的納米復合磨料、懸浮劑、ph調節劑和余量的溶劑。

    10.根據權利要求9所述的化學機械拋光組合物,其特征在于,所述化學機械拋光組合物包括5wt.%-7wt.%的納米復合磨料、1wt.%-3wt.%的氧化劑、0.5wt.%-2.5wt.%的ph調節劑、0.5wt.%-2wt.%的懸浮劑和余量的溶...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:方炳程金軍仝開宇陳佳蕊
    申請(專利權)人:華海清科股份有限公司
    類型:發明
    國別省市:

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